一种液晶穿刺检测设备及其检测方法与流程

本发明涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种液晶穿刺检测设备及其检测方法。

背景技术：

随着液晶显示高分辨率的极速发展以及窄边框的市场需求的加深，封框胶的宽度越来越窄，为了提高透过率，负性液晶也越来越多的使用到液晶显示产品中，而液晶穿刺也成为了液晶显示产品中不可避免的问题。

在液晶面板中，穿刺发生50％以上有断胶漏液晶的风险；穿刺发生50％以内，封框胶的粘附力会降低，导致两个基板分离(peeloff)，最终导致显示不良。

目前，为了避免出现peeloff的风险，通常是使用专用的显微镜观察面板(panel)进行液晶穿刺监控。每个班组抽检一个qpanel(一个qpanel包括50个singlepanel)进行监控，每个qpanel监控需要花费30min～60min。这样的监控方式对于液晶穿刺可以起到监控作用，但是由于检测数量较少，自动化程度低，不具代表性，且每次检测需要专用显微镜及工程师长时间的对应，造成人力和财力的浪费。

技术实现要素：

本发明提供了一种液晶穿刺检测设备，以解决现有技术中对液晶穿刺检测耗时长、自动化程度低的问题。

一方面，本发明提供一种液晶穿刺检测设备，包括：

落射光源，用于提供入射至所述液晶面板的入射光线；

成像装置，用于接收来自所述液晶面板的反射光线，所述落射光源与所述成像装置成预设角度；

起偏器，设置在所述落射光源与所述液晶面板之间；

检偏器，设置在所述成像装置与所述液晶面板之间，其中，所述起偏器的偏振方向与所述检偏器的偏振方向垂直；

检测模块，用于在所述落射光源发出的入射光线经所述起偏器、所述液晶面板、所述检偏器射入所述成像装置后，从所述成像装置获得图像，确定所述液晶面板的液晶穿刺状态。

可选地，所述检测模块用于检测所述图像中明亮区域的尺寸，根据所述明亮区域的尺寸确定液晶穿刺尺寸，其中，所述图像中的明亮区域通过所述检偏器入射至所述成像装置中的光线产生。

可选地，所述检测模块还用于获得所述液晶面板的封框胶的胶宽，并根据穿刺尺寸与所述胶宽确定所述封框胶的液晶穿刺程度。

可选地，所述起偏器及所述检偏器的位置可调节；

在所述液晶穿刺检测设备对所述液晶面板的液晶穿刺程度检测结束后，所述起偏器可移出所述落射光源与所述液晶面板之间；所述检偏器可移出所述成像装置与所述液晶面板之间。

可选地，所述液晶穿刺检测设备还用于对所述液晶面板进行对位检测及封框胶胶宽的检测。

可选地所述液晶面板上设置有固定检测点，所述液晶穿刺检测设备可沿所述液晶面板移动，并在所述固定检测点对所述液晶面板进行液晶穿刺检测。

另一方面，本发明还提供了一种液晶穿刺检测方法，应用于上述液晶穿刺检测设备，包括：

在进行液晶穿刺检测时，打开所述落射光源，使所述落射光源的光线经所述起偏器、所述液晶面板、所述检偏器后进入所述成像装置；

所述检测模块从所述成像装置获得图像，根据所述图像确定所述液晶面板的液晶穿刺状态。

可选地，所述检测模块从所述成像装置获得图像，根据所述图像确定所述液晶面板的液晶穿刺状态，包括：

所述检测模块检测所述图像中明亮区域的尺寸；

根据所述明亮区域的尺寸确定液晶穿刺尺寸；

其中，所述图像中的明亮区域通过所述检偏器入射至所述成像装置中的光线产生。

可选地，所述检测模块从所述成像装置获得图像，根据所述图像确定所述液晶面板的液晶穿刺状态，还包括：

所述检测模块获得所述液晶面板的封框胶的胶宽；

并根据穿刺尺寸与所述胶宽确定所述封框胶的液晶穿刺程度。

可选地，在所述进行液晶穿刺检测之前，还包括：

所述检测设备沿所述液晶面板移动；

在所述检测设备移动至所述液晶面板上的固定检测点时，再进行所述液晶穿刺检测。

与现有技术相比，本发明实施例具有以下优点：

本发明实施例的液晶穿刺检测设备，落射光源发出的入射光线经述起偏器、液晶面板和检偏器射入所述成像装置后，可以由检测模从成像装置获取图像，进而通过分析确定液晶面板的液晶穿刺状态。该检测设备操作简单，自动化程度高，节约人力资源，有效地提高了液晶穿刺的检测效率。

附图说明

图1所示为本发明施例的一种液晶穿刺检测设备结构示意图；

图2所示为本发明实施例的一种液晶穿刺长度检测结果示意图；

图3所示为本发明实施例的一种液晶穿刺检测方法流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获取的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的一个实施例中，提供了一种液晶穿刺检测设备，其结构示意图参照图1所示，该液晶穿刺检测设备包括：落射光源1，用于提供入射至液晶面板5的入射光线11；成像装置2，用于接收来之液晶面板5的反射光线21，并且落射光源1与成像装置2成预设角度，以保证落射光源1的光线经液晶面板5反射后可以进入成像装置2中；起偏器3，设置在落射光源1与液晶面板5之间；检偏器4，设置在成像装置2与液晶面板5之间，其中，起偏器3的偏振方向与检偏器4的偏振方向垂直；检测模块(图中未标出)，用于在落射光源1发出的入射光线11经起偏器3、液晶面板5、检偏器4射入成像装置2后，从成像装置2获得图像，根据图像确定液晶面板5的液晶穿刺状态。

上述液晶穿刺检测设备，起偏器3与检偏器4的偏振方向垂直，落射光源1的光线经起偏器3后，入射光线11变为与起偏器3的偏振方向相同的偏振光，再经液晶面板5反射，如果无液晶穿刺，反射光线21射到检偏器4后，不会有光线进入成像装置2，而当有液晶穿刺时，由于液晶的旋光作用，会有部分反射光线12的偏振方向发生改变，从而通过检偏器4进入成像装置2，检测模块在获得成像装置2的图像后，可以确定液晶面板的穿刺状态。

该检测设备操作简单，自动化程度高，节约人力资源，有效地提高了液晶穿刺的检测效率。

具体的，上述液晶穿刺检测设备可以检测液晶穿刺尺寸。参照图2所示，为本发明实施例的一种液晶穿刺长度检测结果示意图，检测模块从成像装置2获取图像，检测图像中明亮区域6的尺寸，根据明亮区域6的尺寸确定液晶穿刺尺寸，例如，图2中所示穿刺长度为0.22mm。其中，图像中明亮区域6通过检偏器4入射至成像装置2中的光线产生。

上述液晶穿刺检测设备是在现有的aligninspection(对位检测设备)上增加了液晶穿刺检测功能，因此，本发明实施例中的液晶穿刺检测设备还可以用于对液晶面板进行对位检测及封框胶胶宽的检测，其对位检测与封框胶胶宽的检测与现有技术相同，在此不再赘述。也就是说，可以通过现有的aligninspection对面板进行封框胶胶宽的检测方法来获取胶宽，再根据本发明实施例中的液晶穿刺检测设备的检测模块获取的穿刺尺寸得到封框胶的液晶穿刺程度，具体的，穿刺程度的值为穿刺尺寸与封框胶胶宽的比值。当然，也可以利用本发明实施例的检测模块根据成像装置的图像来获得液晶面板的封框胶的胶宽，并根据穿刺尺寸与胶宽确定封框胶的液晶穿刺程度。

在进行对位检测与封框胶胶宽的检测时，不需要起偏器3与检偏器4，因此，起偏器3与检偏器4的位置可调节，具体的可以通过连杆和支架等简单的结构，将起偏器3与检偏器4分别连接在落射光源1与成像装置2上，通过这些结构，可以实现起偏器3与检偏器4的转动。在进行液晶穿刺检测时，起偏器3位于落射光源1与液晶面板5之间，检偏器4位于成像装置2与液晶面板5之间，而当该液晶穿刺检测设备对液晶面板5的液晶穿刺程度检测结束后，可以将起偏器3移出落射光源1与液晶面板5之间，将检偏器4移出成像装置2与液晶面板5之间。

上述对液晶穿刺程度的检测，均是对液晶面板上的固定点进行检测，根据数据统计，液晶面板的穿刺位置相对固定，因此，只需检测固定点位的穿刺程度就可以反映整个面板的穿刺程度。在液晶面板5上设有固定检测点，该液晶穿刺检测设备可以沿液晶面板5移动，使落射光源1、起偏器3、检偏器4与成像装置2移至预设位置，在固定检测点对液晶面板5进行液晶穿刺检测。

同样，对于胶宽的检测也可以是对上述固定点进行检测，这样可以使胶宽检测与液晶穿刺的检测同步进行，节省了检测时间。

上述液晶穿刺检测设备沿液晶面板移动，具体的可以将落射光源1和成像装置2固定在液晶穿刺设备的导轨上，通过电机等控制落射光源1和成像装置2的移动，其实现方式有多种，在此不再赘述。

上述液晶穿刺检测设备的落射光源1可以是led灯，成像装置2可以是ccd摄像机，检测模块根据ccd摄像机中图像进行运算处理。

使用本发明实施例的液晶穿刺检测设备，可以有效提高检测效率，以一个qpanel为例，每个singlepanel需要检测两个固定点，利用该设备，检测每个点的液晶穿刺程度仅需2s，检测一个qpanel仅需要1.67min，而现有技术中，需要30～60min。

从上述技术方案可以看出，本发明实施例包括以下优点：

本发明实施例的液晶穿刺检测设备，落射光源发出的入射光线经述起偏器、液晶面板和检偏器射入所述成像装置后，可以由检测模从成像装置获取图像，进而通过分析确定液晶面板的液晶穿刺状态。该检测设备操作简单，自动化程度高，节约人力资源，有效地提高了液晶穿刺的检测效率。

本发明实施例还提供了一种液晶穿刺检测方法，应用于上述实施例的液晶穿刺检测设备，参照图3所示，包括以下步骤：

步骤100，在进行液晶穿刺检测时，打开落射光源，使落射光源的光线经过起偏器、液晶面板、检偏器后进入成像装置。

本实施例中，该液晶穿刺检测设备的起偏器与检偏器的偏振方向垂直，打开落射光源后，落射光源的光线经起偏器后，入射光线变为与起偏器的偏振方向相同的偏振光，再经液晶面板反射，如果无液晶穿刺，反射光线射到检偏器后，不会有光线进入成像装置，而当有液晶穿刺时，由于液晶的旋光作用，会有部分反射光线的偏振方向发生改变，从而通过检偏器进入成像装置。

在进行液晶穿刺检测之前，还需要使检测设备沿液晶面板移动，在检测设备移动至液晶面板上的固定检测点时，再进行液晶穿刺检测。因为根据数据统计，液晶面板的穿刺位置相对固定，因此，只需检测固定点位的穿刺程度就可以反映整个面板的穿刺程度。

该液晶穿刺检测设备还可以进行对位检测和封框胶胶宽的检测，而在进行这两种检测时，不需要起偏器与检偏器，因此，起偏器与检偏器的位置是可调节的。当进行液晶穿刺检测之前，需要调节起偏器及检偏器的位置，使起偏器位于落射光源与液晶面板之间，检偏器位于成像装置与液晶面板之间，再进行液晶穿刺检测，其中在对面板上的各个固定检测点进行检测时，落射光源可以保持常亮状态，也可以当起偏器与检偏器移动至检测位置时，再打开落射光源，每检测完一个固定检测点时，关闭落射光源，进行下一个固定检测点的检测时，再打开落射光源。

步骤200，检测模块从成像装置获得图像，根据所述图像确定液晶面板的液晶穿刺程度。

具体过程为，检测模块检测图形中明亮区域的尺寸，根据明亮区域的尺寸确定液晶穿刺尺寸。其中，图像中明亮区域通过检偏器入射至成像装置中的光线产生。

上述检测模块还可以获得液晶面板封框胶的胶宽，并根据穿刺尺寸和胶宽确定封框胶的液晶穿刺程度。

上述封框胶胶宽的检测，可以与液晶穿刺检测分开进行，也可以同步进行，具体的已在上一个实施例中说明，在此不再赘述。

该液晶穿刺检测设备还可以进行对位检测和封框胶胶宽的检测，当完成液晶穿刺检测，或进行对位检测或封框胶胶宽的检测时，可以将起偏器移出落射光源与液晶面板之间，将检偏器移出成像装置与液晶面板之间。

从上述技术方案可以看出，本发明实施例包括以下优点：

本发明实施例的一种液晶穿刺检测方法，应用于液晶穿刺检测设备，该方法操作简单，且液晶穿刺检测设备的自动化程度较高，节约人力资源，有效地提高了液晶穿刺的检测效率。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于系统实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。