隙尺寸，即可形成检测视窗221，并在微调位置的同时略微调整线宽，以平衡电路阻值；另外，尺寸标示线可与金属线路22的任一线路的主制程经由同一道光罩同时形成。
[0046]如图2a所示，本发明的液晶显示面板，所述金属线路22在所述TFT阵列基板20的周边区域围出数个透光的检测视窗221为连续分布，即在所述TFT阵列基板20进行布线设计时，对周边区域上的金属电路22进行调整，在所述TFT阵列基板20周边区域的横向各个位置均形成透光的多个检测视窗221。那么当在TFT阵列基板20上涂布框胶后，对应位置的检测视窗221会被遮挡，因此通过检测视窗221便可对框胶进行直观的观测检查。如图2b所示，若TFT阵列基板周边区域的横向上某些位置没有设置视窗22，则只能检测框胶过宽或框胶位置异常，而不能检测出框胶过窄。
[0047]基于上述的液晶显示面板，本发明还提供一种液晶显示面板的制作方法，其特征在于，包括如下步骤:
[0048]步骤1、提供一 CF基板整板和一 TFT阵列基板整板200，所述CF基板整板上设有多个CF基板10，所述TFT阵列基板整板200上对应所述数个CF基板10设有数个TFT阵列基板20 ;
[0049]所述TFT阵列基板20包括板体21、及设于板体21上的金属线路22 ;所述CF基板10、及所述TFT阵列基板20共同形成用于显示画面的显示区域、及位于所述显示区域外围的周边区域；所述金属线路22在所述TFT阵列基板20的周边区域围出数个透光的检测视窗 221 ;
[0050]步骤2、在所述数个CF基板10或所述数个TFT阵列基板20的周边区域上涂布框胶30，将所述CF基板整板和所述TFT阵列基板整板200相对贴合；
[0051]步骤3、对所述框胶30进行固化，在所述框胶30进行固化前、或者进行固化后，通过所述数个检测视窗22检测所述框胶30的位置精度和宽度精度；根据对所述框胶30的检测数据，对框胶涂布参数进行调整；
[0052]具体的，所述步骤3中，在所述框胶30固化前，通过所述数个检测视窗22检测所述框胶30的位置精度和宽度精度，具体为，采用CCD图像采集系统对所述数个检测视窗22处框胶30的分布数据进行采集，与所述CCD图像采集系统相连接的计算机根据该分布数据进行分析并反馈框胶30的位置精度、宽度精度，并对步骤2中框胶涂布参数进行调整；
[0053]或者，所述步骤3中，在所述框胶30固化后，通过所述数个检测视窗22检测所述框胶30的位置精度和宽度精度，具体为，采用CCD图像采集系统对所述数个检测视窗22处框胶30的分布数据进行采集，与所述CCD图像采集系统相连接的计算机根据该分布数据进行分析并反馈框胶30的位置精度、宽度精度，并对步骤2中框胶涂布参数进行调整；
[0054]再或者，所述步骤3中，在所述框胶30热固化后，采用光学显微镜观察所述数个检测视窗22处框胶30的分布情况并分析，得出所述框胶30的位置精度、宽度精度，根据分析结果，对所述步骤2中框胶涂布参数进行调整。
[0055]具体的，在反射光下，由于TFT阵列基板20上的金属电路22由金属制作，反射率高，在反射光下表现得明亮；框胶30的材料是树脂与无机粉体的混合物，反射率较低，在反射光下表现得较暗，因此会形成如图3-图6所示的通过检测视窗检测到框胶的效果；其中，图3为通过检测视窗检测到正常的框胶的示意图，图4为通过检测视窗检测到宽度过宽的框胶的示意图，图5为通过检测视窗检测到宽度过窄的框胶的示意图；图6为通过检测视窗检测到偏移的框胶的示意图；
[0056]步骤4、对所述CF基板整板及TFT阵列基板整板200进行切割作业，得到数个液晶显示面板。
[0057]基于上述的液晶显示面板，本发明还提供一种液晶显示面板的检测方法，采用光学显微镜观察所述数个检测视窗22处框胶30的分布情况并分析，判断所述液晶显示面板上的框胶30为合格或不合格，检测效率高，不需要分离TFT阵列基板和CF基板，不会损失良品。
[0058]综上所述，本发明的液晶显示面板，TFT阵列基板上的金属线路在周边区域形成数个透光的检测视窗，从而不需要分离TFT阵列基板和CF基板，可直接通过检测视窗对框胶进行检测，有效提高框胶的检测效率；本发明的液晶显示面板的制作方法，通过调整TFT阵列基板周边区域上金属线路的分布，使金属线路围出数个透光的检测视窗，涂布框胶后，通过TFT阵列基板上的检测视窗直接检测框胶的宽度和位置，检测中不需分离TFT阵列基板和CF基板，不对产品进行破坏，从而能及时反馈异常，并及时对框胶涂布参数进行调整，提高了产线生产效率，节省成本；本发明的液晶显示面板的检测方法，通过TFT阵列基板上的检测视窗直接量测框胶的宽度和位置，检测效率高，不会损失良品。
[0059]以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
【主权项】
1.一种液晶显示面板，其特征在于，包括:CF基板(10)、与所述CF基板(10)相对设置的TFT阵列基板(20)、及连接所述CF基板(10)和TFT阵列基板(20)的框胶(30); 所述TFT阵列基板(20)包括板体(21)、及设于板体(21)上的金属线路(22); 所述CF基板(10)、及所述TFT阵列基板(20)共同形成用于显示画面的显示区域、及位于所述显示区域外围的周边区域；所述金属线路(22)在所述TFT阵列基板(20)的周边区域围出数个透光的检测视窗(221)，用于检测框胶(30)的宽幅精度、及位置精度。2.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述金属线路(22)在所述数个检测视窗(221)处设有尺寸标示线。3.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述数个检测视窗(221)为连续分布。4.一种液晶显示面板的制作方法，其特征在于，包括如下步骤: 步骤1、提供一 CF基板整板和一 TFT阵列基板整板(200)，所述CF基板整板上设有多个CF基板(10)，所述TFT阵列基板整板(200)上对应所述数个CF基板(10)设有数个TFT阵列基板(20); 所述TFT阵列基板(20)包括板体(21)、及设于板体(21)上的金属线路(22);所述CF基板(10)、及所述TFT阵列基板(20)共同形成用于显示画面的显示区域、及位于所述显示区域外围的周边区域；所述金属线路(22)在所述TFT阵列基板(20)的周边区域围出数个透光的检测视窗(221)； 步骤2、在所述数个CF基板(10)或所述数个TFT阵列基板(20)的周边区域上涂布框胶(30)，将所述CF基板整板和所述TFT阵列基板整板(200)相对贴合； 步骤3、对所述框胶(30)进行固化，在所述框胶(30)进行固化前、或者进行固化后，通过所述数个检测视窗(221)检测所述框胶(30)的位置精度和宽度精度；根据对所述框胶(30)的检测数据，对框胶涂布参数进行调整； 步骤4、对所述CF基板整板及TFT阵列基板整板(200)进行切割作业，得到数个液晶显示面板。5.如权利要求4所述的液晶显示面板的制作方法，其特征在于，所述步骤3中，在所述框胶(30)固化前，通过所述数个检测视窗(221)检测所述框胶(30)的位置精度和宽度精度，具体为，采用CCD图像采集系统对所述数个检测视窗(221)处框胶(30)的分布数据进行采集，与所述CCD图像采集系统相连接的计算机根据该分布数据进行分析并反馈框胶(30)的位置精度、宽度精度，并对步骤2中框胶涂布参数进行调整。6.如权利要求4所述的液晶显示面板的制作方法，其特征在于，所述步骤3中，在所述框胶(30)固化后，通过所述数个检测视窗(221)检测所述框胶(30)的位置精度和宽度精度，具体为，采用CCD图像采集系统对所述数个检测视窗(221)处框胶(30)的分布数据进行采集，与所述CCD图像采集系统相连接的计算机根据该分布数据进行分析并反馈框胶(30)的位置精度、宽度精度，并对步骤2中框胶涂布参数进行调整。7.如权利要求4所述的液晶显示面板的制作方法，其特征在于，所述步骤3中，在所述框胶(30)热固化后，采用光学显微镜观察所述数个检测视窗(221)处框胶(30)的分布情况并分析，得出所述框胶(30)的位置精度、宽度精度，根据分析结果，对所述步骤2中框胶涂布参数进行调整。8.如权利要求4所述的液晶显示面板的制作方法，其特征在于，所述金属线路(22)在所述数个检测视窗(221)处设有尺寸标示线。9.如权利要求4所述的液晶显示面板的制作方法，其特征在于，所述数个检测视窗(221)为连续分布。10.一种如权利要求1-3所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，采用光学显微镜观察所述数个检测视窗(221)处框胶(30)的分布情况并分析，判断所述液晶显示面板上的框胶(30)为合格或不合格。
【专利摘要】本发明提供一种液晶显示面板及其制作方法与检测方法。本发明液晶显示面板的TFT阵列基板包括板体、及设于板体上的金属线路；所述金属线路在TFT阵列基板的周边区域围出数个透光的检测视窗，从而不需要分离TFT阵列基板和CF基板，直接通过检测视窗对框胶进行检测，可有效提高框胶的检测效率；本发明的液晶显示面板的制作方法，通过调整TFT阵列基板周边区域上金属线路的分布，使金属线路围出数个透光的检测视窗，涂布框胶后，通过TFT阵列基板上的检测视窗直接检测框胶的宽度和位置，检测中不需分离TFT阵列基板和CF基板，不对产品进行破坏，从而能及时反馈异常，并及时对框胶涂布参数进行调整，提高了产线生产效率，节省成本。
【IPC分类】G02F1/1333, G02F1/13, G02F1/1362
【公开号】CN105204253
【申请号】CN201510648819
【发明人】杨杨, 杨凯能, 沈宏明
【申请人】武汉华星光电技术有限公司
【公开日】2015年12月30日
【申请日】2015年10月9日