一种液晶盒的检测装置、检测方法及显示面板的制备方法
【专利摘要】本发明提供一种液晶盒的检测装置、检测方法及显示面板的制备方法，属于显示技术领域，其可解决现有的液晶盒厚测试检查效率低、易漏检的问题。本发明的液晶盒的检测方法中，将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值并与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。这样可以将液晶盒所有位置处的盒厚逐一排查，检测速度快，耗时短，扫描精度高；且通过与阈值对比的方式，读取数据直观。本发明的检测方法可在贴偏光片或绑定等工序前进行，避免不良产品进入下一工序。本发明的检测方法适用于检测各种液晶盒的盒厚。
【专利说明】
一种液晶盒的检测装置、检测方法及显示面板的制备方法
技术领域
[0001]本发明属于显示技术领域，具体涉及一种液晶盒的检测装置、检测方法及显示面板的制备方法。
【背景技术】
[0002]近年来，随着显示产品的广泛应用，人们对液晶显示面板的性能需求不断提升，随着生产线的高世代化，业界对显示产品设计及生产工艺等方面提出了更加苛刻的要求，但实际生产中仍不可避免的出现各种不良，其中在生产过程中，液晶显示面板受压造成的发暗的圆点不良(也称Black-Gap不良)占有相当大的比例。
[0003]发明人发现现有技术中至少存在如下问题:现有技术中Black-Gap不良通过液晶盒厚测试设备进行测试，其根据光线通过阵列基板和彩膜基板之间的液晶时的光学折射等原理进行液晶盒厚的测量。由于该不良只能在产品组装完成后发现，而且液晶盒厚测试设备自身也存在局限性，导致现有的Black-Gap不良测试时间较长，只能从产线内的产品中抽检，无法做到对每个产品逐一测试，这样不仅检查效率低，还容易漏检。
【发明内容】
[0004]本发明针对现有的液晶盒厚测试检查效率低、易漏检的问题，提供一种液晶盒的检测装置、检测方法及显示面板的制备方法。
[0005 ]解决本发明技术问题所采用的技术方案是:
[0006]—种液晶盒的检测方法，所述液晶盒包括多个像素单元，以及相对设置的第一基板和第二基板，所述方法包括以下步骤:
[0007]测量所述液晶盒中每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值；
[0008]将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值；
[0009]将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。
[0010]优选的是，所述液晶盒每个像素单元的第一基板上均设有像素电极，每个像素单元的第二基板上均设有公共电极，所述测量所述液晶盒中每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值包括以下步骤:
[0011]分别向每个像素单元的像素电极和公共电极加载相同的电压以测量每个像素单元的像素电极与公共电极之间的电容。
[0012]优选的是，所述第一基板为阵列基板，所述第二基板为彩膜基板。
[0013]优选的是，所述将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值包括获取每个像素单元的第一基板和第二基板正对的面积的步骤。
[0014]优选的是，所述第一基板和第二基板之间设有液晶材料，所述将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值包括获取所述液晶材料的介电常数的步骤。
[0015]优选的是，所述将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值是通过以下方法计算得到:每个像素单元的第一基板和第二基板之间的距离d = eS/4JikC，其中，ε为每个像素单元的第一基板和第二基板之间液晶材料的介电常数，S为每个像素单元的第一基板和第二基板正对的面积，C为每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容。
[0016]本发明还提供一种液晶盒的检测装置，包括:
[0017]电容测量模块，用于测量所述液晶盒中每个像素的第一基板与第二基板之间的电容值；
[0018]数据转化模块，用于将每个像素的第一基板与第二基板之间的电容值转化为该像素的第一基板和第二基板之间的距离值；
[0019]数据比较模块，用于将每个像素的第一基板和第二基板之间的距离值与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。
[0020]优选的是，还包括数据采集模块，用于采集每个像素的第一基板与第二基板之间的液晶材料的介电常数和每个像素的第一基板与第二基板之间的正对的面积。
[0021]本发明还提供一种显示面板的制备方法，依次包括形成液晶盒的步骤，在所述液晶盒上贴附偏光片的步骤，绑定的步骤，还包括采用上述的液晶盒的检测方法。
[0022]优选的是，所述检测液晶盒的步骤在形成液晶盒的步骤与在所述液晶盒上贴附偏光片的步骤之间。
[0023]本发明的液晶盒的检测方法中，将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值并与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。这样可以将液晶盒所有位置处的盒厚逐一排查，检测速度快，耗时短，扫描精度高;且通过与阈值对比的方式，读取数据直观。本发明的检测方法可在贴偏光片或绑定等工序前进行，避免不良产品进入下一工序。本发明的检测方法适用于检测各种液晶盒的盒厚。
【附图说明】
[0024]图1为本发明的实施例1的液晶盒的检测方法流程图；
[0025]图2为本发明的实施例2的液晶盒的检测方法流程图；
[0026]图3为本发明的实施例2的液晶盒的检测方法生成数据平面分布图；
[0027]图4为本发明的实施例3的液晶盒的检测装置结构示意图。
【具体实施方式】
[0028]为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和【具体实施方式】对本发明作进一步详细描述。
[0029]实施例1:
[0030]本实施例提供一种液晶盒的检测方法，所述液晶盒包括多个像素单元，以及相对设置的第一基板和第二基板，所述方法如图1所示，包括以下步骤:
[0031]S01、测量所述液晶盒中每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值；
[0032]S02、将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值；
[0033]S03、将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。
[0034]本实施例的将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值并与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常，这样可以将液晶盒所有位置处的盒厚逐一排查，检测速度快，耗时短，扫描精度高;且通过与阈值对比的方式，读取数据直观。
[0035]实施例2:
[0036]本实施例提供一种液晶盒的检测方法，所述液晶盒包括多个像素单元，以及相对设置的阵列基板和彩膜基板，所述液晶盒每个像素单元的阵列基板上均设有像素电极，每个像素单元的彩膜基板上均设有公共电极，所述阵列基板和彩膜基板之间设有液晶材料，所述方法如图2所示，包括以下步骤:
[0037]S21、分别向每个像素单元的像素电极和公共电极加载相同的电压以测量每个像素单元的像素电极与公共电极之间的电容值。具体的，可以在点灯机输入信号端增加测试信号，逐行或逐列扫描液晶盒(或称显示面板)，在像素电极和公共电极加载相同的电压，以测试屏内每个像素上、下基板间的电容值C。
[0038]S22、获取每个像素单元的阵列基板和彩膜基板正对的面积S。可以理解的是，当检测量产的某一批同一型号的产品时，显示屏的面积一般是相同的，也就是说，批量检测的阵列基板和彩膜基板正对的面积S是一个相对固定的值，可以直接输入面积值，而无需每次检测都进行一次面积值计算。当然，在检测不同型号的产品时，面积值不同，则需逐一测试面积S。需要说明的是，获取每个像素单元的阵列基板和彩膜基板正对的面积有多种方式，例如，可以通过计算用于制备每个像素单元的像素电极和公共电极的掩膜版开口尺寸的面积来得到，具体的，通过测量长度的工具分别量取掩膜版开口的长^、宽^，根据长宽计算面积。其中，S = hi*h2。
[0039]S23、获取所述液晶材料的介电常数ε;液晶材料的介电常数ε为一定值，可以理解的是，当检测量产的某一批同一型号的产品时，显示屏中填充的液晶材料一般是相同的，也就是说，批量检测时，液晶材料的介电常数是一个相对固定的值，可以直接输入液晶材料的介电常数ε，无需每检测一个产品就执行一次该检测介电常数ε的步骤;但是当检测不同型号的液晶盒产品时，需要采集或输入该型号的液晶材料的介电常数ε。
[0040]S24、计算每个像素单元的阵列基板和彩膜基板之间的距离值;具体的，所述每个像素单元的阵列基板和彩膜基板之间的距离d=eS/4JTkC，其中，ε为每个像素单元的阵列基板和彩膜基板之间液晶材料的介电常数，S为每个像素单元的阵列基板和彩膜基板正对的面积，C为每个像素单元的阵列基板和彩膜基板之间的电容。
[0041]S25、将每个像素单元的阵列基板和彩膜基板之间的距离值与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。
[0042]具体的，逐行或逐列扫描液晶盒后，所测得的电容数据转换为距离数据得到每个像素单元的阵列基板和彩膜基板之间的距离值，然后将距离值与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。
[0043]更具体的，可以直接生成数据平面分布图如图3所示，也可以使用surf函数绘制着色表面图，不同的距离数据由不同的颜色表征。图3中颜色较深的凸出或凹下的位置处为距离值与阈值相差较大的位置处，根据所生成的平面分布图与周边区域的颜色差异及高低段差，即可判断屏内是否存在异常，并判断差异程度。
[0044]本实施例的检测方法测试速度快，电信号扫描液晶屏的一帧即可，耗时远小于现有的盒厚测试设备；扫描精度高，其扫描精度同液晶屏分辨率精度;且数据读取直观等优点。
[0045]显然，上述各实施例的【具体实施方式】还可进行许多变化;例如:电容值、面积值或液晶材料的介电常数的测试方法或计算方法可以根据实际需要进行改变，阈值的设定可以根据实际情况进行调整。
[0046]实施例3:
[0047]本实施例提供了一种液晶盒的检测装置，如图4所示，包括:
[0048]电容测量模块，用于测量所述液晶盒中每个像素的第一基板与第二基板之间的电容值;数据转化模块，用于将每个像素的第一基板与第二基板之间的电容值转化为该像素的第一基板和第二基板之间的距离值;数据比较模块，用于将每个像素的第一基板和第二基板之间的距离值与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。
[0049]优选的是，液晶盒的检测装置还包括数据采集模块，用于采集每个像素的第一基板与第二基板之间的液晶材料的介电常数和每个像素的第一基板与第二基板之间的正对的面积。
[0050]实施例4:
[0051]本实施例提供了一种显示面板的制备方法，依次包括形成液晶盒的步骤，在所述液晶盒上贴附偏光片的步骤，绑定的步骤，还包括采用上述实施例的检测装置检测液晶盒的步骤。
[0052]优选的是，所述检测液晶盒的步骤在形成液晶盒的步骤与在所述液晶盒上贴附偏光片的步骤之间。
[0053]本实施例显不面板的制备方法，可在贴偏光片或绑定等工序如进彳丁液晶盒厚的检测，避免不良产品进入下一工序。
[0054]可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种液晶盒的检测方法，所述液晶盒包括多个像素单元，以及相对设置的第一基板和第二基板，其特征在于，所述方法包括以下步骤: 测量所述液晶盒中每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值； 将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值； 将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。2.根据权利要求1所述的液晶盒的检测方法，其特征在于，所述液晶盒每个像素单元的第一基板上均设有像素电极，每个像素单元的第二基板上均设有公共电极，所述测量所述液晶盒中每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值包括以下步骤: 分别向每个像素单元的像素电极和公共电极加载相同的电压以测量每个像素单元的像素电极与公共电极之间的电容。3.根据权利要求2所述的液晶盒的检测方法，其特征在于，所述第一基板为阵列基板，所述第二基板为彩膜基板。4.根据权利要求1所述的液晶盒的检测方法，其特征在于，所述将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值包括获取每个像素单元的第一基板和第二基板正对的面积的步骤。5.根据权利要求1所述的液晶盒的检测方法，其特征在于，所述第一基板和第二基板之间设有液晶材料，所述将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值包括获取所述液晶材料的介电常数的步骤。6.根据权利要求1所述的液晶盒的检测方法，其特征在于，所述将每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容值转化为该像素单元的第一基板和第二基板之间的距离值通过以下方法计算得到:每个像素单元的第一基板和第二基板之间的距离d = eS/43ikC，其中，ε为每个像素单元的第一基板和第二基板之间液晶材料的介电常数，S为每个像素单元的第一基板和第二基板正对的面积，C为每个像素单元的第一基板和第二基板之间的电容。7.一种液晶盒的检测装置，其特征在于，包括: 电容测量模块，用于测量所述液晶盒中每个像素的第一基板与第二基板之间的电容值； 数据转化模块，用于将每个像素的第一基板与第二基板之间的电容值转化为该像素的第一基板和第二基板之间的距离值； 数据比较模块，用于将每个像素的第一基板和第二基板之间的距离值与阈值进行比较，以确定液晶盒是否异常。8.根据权利要求7所述的液晶盒的检测装置，其特征在于，还包括数据采集模块，用于采集每个像素的第一基板与第二基板之间的液晶材料的介电常数和每个像素的第一基板与第二基板之间的正对的面积。9.一种显示面板的制备方法，依次包括形成液晶盒的步骤，在所述液晶盒上贴附偏光片的步骤，绑定的步骤，其特征在于，还包括如权利要求1-6中任一项所述的液晶盒的检测方法。10.根据权利要求9所述的显示面板的制备方法，其特征在于，所述检测液晶盒的步骤在形成液晶盒的步骤与在所述液晶盒上贴附偏光片的步骤之间。
【文档编号】G02F1/1333GK106094292SQ201610681095
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年8月17日 公开号201610681095.7, CN 106094292 A, CN 106094292A, CN 201610681095, CN-A-106094292, CN106094292 A, CN106094292A, CN201610681095, CN201610681095.7
【发明人】冯兰, 侯清娜
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司