1.一种岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述岩石样品的抛光装置包括；
壳体；
放置台，所述放置台设置在所述壳体内，岩石样品能被放置在所述放置台上，所述放置台能相对所述壳体运动；
激光组件，所述激光组件设置在所述壳体内，所述激光组件能向所述岩石样品的表面发射激光；
气体装置，设置在所述壳体内，用于向所述岩石样品吹气；
粗糙度检测装置，设置在所述壳体内且与所述样品台相适配，用于检测所述岩石样品被抛光面的粗糙度，所述粗糙度检测装置与所述激光组件电连接。
2.根据权利要求1所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述气体装置形成有与所述激光的路径相适配的气体流道，以使由所述气体装置送出的气流的方向与射向所述岩石样品表面的激光的方向相同。
3.根据权利要求1或2所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述激光组件包括能发射激光的激光器以及与所述激光器相适配的聚焦装置，所述聚焦装置能使所述激光器发射的激光能被聚射在所述岩石样品的表面。
4.根据权利要求1所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述放置台能相对所述壳体转动，以使所述放置台的下端面与所述壳体的底壁之间形成夹角。
5.根据权利要求4所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述放置台的下端面与所述壳体的底壁之间形成的夹角为0度～5度之间。
6.根据权利要求1或4所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述岩石样品的抛光装置包括设置在所述放置台上的样品台，所述岩石样品能被放置在所述样品台上，所述样品台能相对所述放置台运动。
7.根据权利要求6所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述样品台上设置有旋转装置和平面运动装置，以使所述样品台至少能相对所述放置台转动和/或平移运动。
8.根据权利要求7所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述样品台上设置有夹持件，用于对岩所述石样品进行夹持。
9.根据权利要求1所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述粗糙度检测装置包括设置在所述放置台上且分别位于所述样品台两侧的微激光发射器和微激光接收器，所述微激光接收器能接收所述微激光发射器发出的微激光并根据所述微激光的亮度判断所述岩石样品表面的粗糙度。
10.根据权利要求1所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述粗糙度检测装置包括电感轮廓仪。
11.根据权利要求1所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述激光组件发射的激光的波长可以为355纳米、532纳米或者1064纳米。
12.根据权利要求1所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述气体装置吹送的气体包括：空气、氮气、氩气、氦气或者二氧化碳气体中的至少一种，所述气体装置的注汽压力大于等于0.1兆帕，所述气体装置的注汽速率大于等于1立方米每分钟。
13.根据权利要求1所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述岩石样品的抛光装置包括吸尘装置，所述吸尘装置设置在所述壳体内。
14.根据权利要求13所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述吸尘装置位于所述放置台的上方，用于吸取所述岩石样品的表面产生的粉末。
15.根据权利要求1所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述壳体上设置有用于观察的观察件以及能打开和封闭的送取口。
16.根据权利要求1所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，当所述粗糙度检测装置检测到所述岩石样品的表面的粗糙度符合预设值时，所述粗糙度检测装置发出用于将所述激光组件关闭的控制信号。
17.根据权利要求3所述的岩石样品的抛光装置，其特征在于，所述聚焦装置包括聚焦镜和反射镜。
18.一种采用如权利要求1至17中之一所述的岩石样品的抛光装置的岩石样品的抛光方法，其特征在于，包括：
将岩石样品切割和初步打磨后固定放置在的样品台上；
打开激光组件，调节所述激光组件发射出来的激光在所述岩石样品的表面的中心位置聚射成一光斑；
启动粗糙度检测装置并设置所述粗糙度检测装置的粗糙度的预设值；
打开设置在所述样品台上的旋转装置和平面运动装置，以使所述样品台相对所述放置台转动和/或平移运动；
启动气体装置向所述岩石样品吹气；
当所述粗糙度检测装置检测到所述岩石样品的表面的粗糙度符合预设值时，关闭所述激光组件，抛光结束。
19.根据权利要求18所述的一种岩石样品的抛光方法，其特征在于，所述将岩石样品切割和初步打磨后固定放置在的样品台上的步骤中：
初步打磨后的所述岩石样品的上下表面平整且近似平行，所述岩石样品尺寸范围为≤Ф100毫米，所述岩石样品的厚度为5～50毫米之间；
将所述岩石样品用环氧树脂胶固定于扫描电镜钉型铝制样品台上，再将钉型样品台固定设置所述样品台上；或者
将所述岩石样品用橡皮泥、双面胶等粘接剂粘到所述样品台的上表面。
20.根据权利要求18所述的一种岩石样品的抛光方法，其特征在于，所述粗糙度检测装置包括设置在放置台上且分别位于所述样品台两侧的微激光发射器和微激光接收器；
所述微激光接收器能接收所述微激光发射器发出的微激光并根据接收到的微激光的亮度判断所述岩石样品表面的粗糙度；
所述启动粗糙度检测装置并设置所述粗糙度检测装置的粗糙度的预设值的步骤中：
固定设置好微激光发射器与微激光接收器之间的位置关系并进行校准，以使所述微激光接收器能接收所述微激光发射器发出的微激光；
在微激光无遮挡时，将所述微激光接收器确定的微激光的亮度为第一亮度，并定义为1；
采用半透光薄膜遮挡微激光，将所述微激光接收器确定的微激光的亮度为第二亮度，并定义为0.5；
基于确定好的所述第一亮度和第二亮度，计算得到亮度为0.1～0.8的各点；
在所述岩石样品抛光前将岩石样品的高度进行微调，调至岩石样品旋转一周均无光被检测到的高度；
设置粗糙度检测装置的粗糙度的预设值为亮度0.9。
21.根据权利要求18所述的一种岩石样品的抛光方法，其特征在于，打开设置在所述样品台上的旋转装置和平面运动装置，以使所述样品台能相对所述放置台同时转动和/或平移运动的步骤中：
平面方向的最大运动范围为50毫米，运动速度为0.1～10毫米每秒；
所述旋转装置的旋转速度为0.1～10圈每分钟。
22.根据权利要求18所述的一种岩石样品的抛光方法，其特征在于，当所述粗糙度检测装置检测到所述岩石样品的表面的粗糙度符合预设值时，关闭所述激光组件，抛光结束的步骤中：
在所述岩石样品在一个旋转周期内均检测到亮度大于等于0.9时，关闭所述激光组件，抛光结束。