多晶硅氢还原炉的制作方法

文档序号:3469285阅读:345来源:国知局
专利名称:多晶硅氢还原炉的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种多晶硅生产装置,主要涉及多晶硅氢还原炉。
背景技术
在多晶硅生产中,还原炉是其主要设备,而还原炉的进气喷口是 多晶硅氢还原炉的极重要组成元件,他的喷口喷速和分布对硅棒的生 长和沉积状况有着重大影响。现有技术中,多晶硅氢还原炉大多釆用 固定截面积喷口,而且喷口和进气管是一体的,并未做明显区分。这 种结构在物料气体流量相同的情况下,无法改变喷口喷速和进气位置, 从而无法通过以改变喷口喷速和进气位置的方式来实现改变还原炉 内气场和温度场的分布。在生产工艺优化的过程中,缺陷相当明显。 一旦喷口喷速不合适,将严重影响硅棒的生长,带来一系列的问题, 比如硅棒上下生长不均匀;硅棒表面出现"爆米花"现象等。 发明内容
本实用新型的目的在于克服上述技术缺陷,提供一种多晶硅氢还 原炉。本实用新型可以有效实现相同流量情况下喷口喷速的改变,还 可以根据需要使物料气体在炉底盘上的任意位置喷出,不再受进气管 在底盘上分布状况的限制。
为实现上述发明目的,本实用新型采用的技术方案是 多晶硅氢还原炉,包括带有冷却装置的炉壳,炉壳安装在炉盘上; 炉盘上布有进、出气管,进气管的进气端上设有喷口,炉盘上设有加热电极,电极上一一对应安装有硅芯棒,其特征在于所述还原炉炉 盘下部的进气管与炉盘上部的喷口为可拆卸式连接,所述喷口为石墨 喷口。
所述还原炉炉盘下部的进气管与炉盘上部的喷口之间采用螺纹 连接或扣接或插入式连接。 本实用新型的优点在于
本实用新型将还原炉底盘上的进气管与喷口一分为二,两者之间 采用螺纹连接或其他连接方式实现可拆卸式连接,可以非常方便的拆 装喷口,喷口用石墨制成。喷口的口径(即截面积)和形状可根据工 艺需要加工制成各种不同的口径和不同的形状,在每次装炉前自由安 装调整,不需要再将进气管整体从炉盘上卸下,只需要选用预先制作 好的不同口径和形状的喷口进行组合。不但可以实现相同流量情况下 喷口喷速的改变,还可以使物料气体在炉底盘上的任意位置喷出,不 再受进气管在底盘上分布状况的限制。这样,增加了工艺调整的自由 度,从而可将还原炉的效率调整到最佳状态。

图1为多晶硅氢还原炉结构示意图。
图2为本实用新型结构示意图。
图3为本实用新型另一种实施方式。
图中标记l为外壳体,2为内壳体,3为硅芯棒,4为视镜,5 为冷却水进水环管,6为炉盘,7为电极,8为支架,9为导轨,10 为喷口, ll为进、出气瞢。
具体实施方式

如图l、图2和图3所示,多晶硅氢还原炉,包括带有冷却装置 的炉壳l、 2,炉壳l、 2安装在炉盘6上;炉盘8上布有进、出气管 11,进气管11的进气端上设有喷口 10,炉盘6上设有加热电极7, 电极7上一一对应安装有硅芯棒3,其特征在于所述还原炉炉盘6 下部的进气管11与炉盘6下部的喷口 10为可拆卸式连接,所述喷口 10为石墨喷口 ,还原炉炉盘6上部的进气管11与炉盘6下部的喷口 IO之间采用螺纹连接,也可以采用扣接或插入式连接。本实用新型 将还原炉底盘上的进气管与喷口一分为二,两者之间采用螺纹连接或 其他连接方式实现可拆卸式连接,可以非常方便的拆装喷口,喷口用 石墨制成。图2和图3所示,喷口的口径(即截面积)和形状可根据 工艺需要加工制成不同的口径和形状,在每次装炉前自由安装调整, 不需要再将进气管整体从炉盘上卸下,只需要选用预先制作好的不同 口径和形状的喷口进行组合。不但可以实现相同流量情况下喷口喷速 的改变,还可以使物料气体在炉底盘上的任意位置喷出,不再受进气 管在底盘上分布状况的限制。这样,增加了工艺调整的自由度,从而 可将还原炉的效率调整到最佳状态。
本实用新型不限于上述实施方式。
权利要求1、多晶硅氢还原炉,包括带有冷却装置的炉壳(1、2),炉壳(1、2)安装在炉盘(6)上;炉盘(6)下部布有进、出气管(11),进气管(11)的进气端上设有喷口(10),炉盘(6)上部设有加热电极(7),电极(7)上一一对应安装有硅芯棒(6),其特征在于所述还原炉炉盘(6)下部的进气管(11)与炉盘(6)上部的喷口(10)为可拆卸式连接,所述喷口(10)为石墨喷口。
2、 根据权利要求l所述的多晶硅氢还原炉,其特征在于所述 还原炉炉盘(6)下部的进气管(11)与炉盘(6)上部的喷口 (10) 之间采用螺纹连接或扣接或插入式连接。
专利摘要本实用新型提供了一种多晶硅氢还原炉,包括带有冷却装置的炉壳,炉壳安装在炉盘上;炉盘上布有进、出气管,进气管的进气端上设有喷口,炉盘上设有加热电极,电极上一一对应安装有硅芯棒,所述还原炉炉盘下部的进气管与炉盘上部的喷口为可拆卸式连接,所述喷口为石墨喷口。本实用新型可以有效实现相同流量情况下喷口喷速的改变,还可以根据需要使物料气体在炉底盘上的任意位置喷出,不再受进气管在底盘上分布状况的限制。
文档编号C01B33/021GK201305467SQ200820222840
公开日2009年9月9日 申请日期2008年11月24日 优先权日2008年11月24日
发明者强 张, 戴自忠 申请人:四川永祥多晶硅有限公司
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