一种低介电损耗钛酸钙陶瓷的制备的制作方法

文档序号:12394990阅读:1265来源:国知局

本发明涉及一种低介电损耗钛酸钙陶瓷材料,属于环境友好型的微波介质陶瓷领域,可用于微波通讯等领域。



背景技术:

近年来,随着通信信息量的迅猛增加和电子信息数字化技术的快速发展,微波通讯技术的发展也被推进了一个历史性的高峰。因此小型化与集成化成为了无线通讯系统和终端发展的新主题。这就要求微波介质材料具有高的介电常数(εr),高的品质因数(Q ×f)和近零频率温度系数(τf)。CaTiO3材料室温下具有很高的介电常数(εr ~170)和很大的正温度系数(τf≈+850ppm/ oC),可与NdAlO3、MgTiO3、LaAlO3等低介电常数、负温度系数的材料复合,获得性能优良的微波介质材料。Bostjan Jancar 等报道了CaTiO3与NdAlO3所形成的0.7CaTiO3-0.3NdAlO3复合陶瓷Q ×f 值可达30,000~45,000GHz。Cheng-Liang Huang等人的研究表明,在0.95MgTiO3-0.05CaTiO3陶瓷体系中掺杂0.25wt% V2O5,其微波介电性能如下:εr=18.9,Q ×f=69,000GHz,τf=-10.65ppm/oC。Fei Liang 等人发现了CaTiO3与La(Ga0.5Al0.5)O3所形成的0.64CaTiO3-0.36La(Ga0.5Al0.5)O3复合材料,拥有良好的介电性能:εr = 45.5,Q ×f= 43,897GHz ,τf= -1.7 ppm/oC。但是由于晶格中本征损耗以及材料内部晶粒尺寸、第二相、杂质、缺陷、气孔等非本征损耗的影响,CaTiO3陶瓷的品质因数不高(3600),这也影响所形成的复合材料的性能,因此降低钛酸钙材料的介电损耗,从而进一步提高复合钙钛矿材料的Q ×f 值是一项紧迫且有重大意义的课题。

钙钛矿结构的特点是:对外来离子有着较强的相容能力,只要满足电中性和离子配合半径的要求,Ca位和Ti位很容易通过置换的方法引入其它离子从而变成复合钙钛矿结构,介电性能也由此发生改变。因此,可以通过掺杂来降低材料的介电损耗,进而提高钛酸钙陶瓷材料的微波介电性能。



技术实现要素:

本发明目的在于提供一种低介电损耗钛酸钙陶瓷粉料,解决现有技术中钛酸钙材料介电损耗(tanδ)较高、Q ×f 值较低的问题。

为了实现上述发明目的,本发明采用的技术方案如下:首先以CaCO3和TiO2为原料(摩尔比为1:1),经湿法球磨(12~24h)干燥后得到干粉,将干粉置于空气中于1100~1200oC下保温2~5h经研磨过筛后即可得到细的CaTiO3陶瓷粉体;然后选用MgO、Al2O3、ZrO2、Nb2O5、Ta2O5中的一种或多种作为掺杂物加入到钛酸钙陶瓷粉体中,再次经湿法球磨、干燥、研磨、过筛得到混合干粉。

优选的,CaCO3陶瓷粉体的合成温度为1150oC,保温时间为3h,升温速度为2 oC/min。

优选的,上述氧化物的掺杂量为0.5~5wt%;其中掺杂量为0时,即钛酸钙陶瓷粉体中未添加氧化物,最后所得的CaTiO3陶瓷样品Q ×f 值为5,597GHz;当Nb2O5的掺杂量为3wt%时,最后所得的CaTiO3陶瓷材料的Q ×f 值达到最高为11,321GHz,大约是纯钛酸钙陶瓷材料的2倍,介电损耗大幅度降低。

一种低介电损耗钛酸钙陶瓷,它是用前述的不同氧化物掺杂后的钛酸钙陶瓷粉体材料,经压制成型,烧结制备而成的。

前述的一种低介电损耗钛酸钙陶瓷的制备方法,将前述的混合干粉在50~200MPa的压强下干压成型,压制成直径约16mm,高度约12mm的柱形样品,然后将样品放置于马弗炉中升温至1300~1400 oC烧结2~6h, 得到致密的CaTiO3陶瓷样品。

优选的,干压成型的压强为120MPa,样品的烧结温度为1370oC,保温时间为4h。

本发明选用不同的氧化物掺杂来调节CaTiO3陶瓷样品的介电性能,降低其介电损耗,其操作方法简单,生产流程短。此外,通过选用一种或多种价格低廉,易于供应的MgO、Al2O3、ZrO2、Nb2O5、Ta2O5作为掺杂物,即可获得介电损耗很低的钛酸钙陶瓷样品,生产成本降低,适合大规模生产。

下面结合具体实施方式对本发明作进一步的说明。

实施例1:一种钛酸钙陶瓷粉体材料,它是通过以下方法制备而成的:以CaCO3和TiO2为原料(摩尔比为1:1),经湿法球磨(24h,无水乙醇作为研磨介质)干燥后得到粉块,然后对粉块进行研磨,过筛得到干粉,将干粉置于空气中于1150 oC下保温3h,经二次球磨、干燥、研磨、过筛即可得到颗粒细小的CaTiO3陶瓷粉体。

实施例2:一种低介电损耗钛酸钙陶瓷材料,它是通过以下方法制备而成的:取高纯钛酸钙粉体25g,放置于球磨罐中,以去离子水为研磨介质(为了助于干粉的成型,可在研磨过程中加入少许粘结剂),球磨24h后在烘箱中干燥。然后将干燥后的块体进行研磨,过筛,最后在120MPa的压强下将粉末干压成直径约16mm、高度约12mm的柱行样品,置于马弗炉中1370oC下保温4h。

将烧制好的样品放置若干小时后,进行介电性能测试,结果显示:所得的纯钛酸钙陶瓷样品介电常数为179.13,介电损耗tanδ=4.36×10-4,Q ×f 值为5,597GHz,τf=840.86 ppm/oC。

实施例3:一种低介电损耗钛酸钙陶瓷,它是通过以下方法制备而成的:取6份CaTiO3陶瓷粉末,每份25g,放置于6个球磨罐中,MgO按0.5~5wt%的比例加入,随后将混合料湿法球磨,以去离子水作为研磨介质,球磨24h后在80oC的烘箱中干燥。然后将干燥后的块体进行研磨,过筛,最后在120MPa的压强下将粉末干压成直径约16mm、高度约12mm的柱行样品,置于马弗炉中1370oC下保温4h。

将烧制好的样品放置若干小时后,进行介电性能测试,结果显示:当MgO的掺杂量达到2wt%时,介电损耗最小,tanδ=3.76×10-4,Q ×f 值为6,458GHz(此时介电常数为177.11,τf=838.24 ppm/oC)。

实施例4:一种低介电损耗钛酸钙陶瓷,它是通过以下方法制备而成的:取6份CaTiO3陶瓷粉末,每份25g,放置于6个球磨罐中,Al2O3按0.5~5wt%的比例加入,随后将混合料湿法球磨,以去离子水作为研磨介质,球磨24h后在80oC的烘箱中干燥。然后将干燥后的块体进行研磨,过筛,最后在120MPa的压强下将粉末干压成直径约16mm、高度约12mm的柱行样品,置于马弗炉中1370oC下保温4h。

将烧制好的样品放置若干小时后,进行介电性能测试,结果显示:当Al2O3的掺杂量达到3wt%时,介电损耗最小,tanδ=3.21×10-4,Q ×f 值为6,868GHz(此时介电常数为182.11,τf=841.42 ppm/oC)。

实施例5:一种低介电损耗钛酸钙陶瓷,它是通过以下方法制备而成的:取6份CaTiO3陶瓷粉末,每份25g,放置于6个球磨罐中,ZrO2按0.5~5wt%的比例加入,随后将混合料湿法球磨,去离子水作为研磨介质,球磨24h后在80oC的烘箱中干燥。然后将干燥后的块体进行研磨,过筛,最后在120MPa的压强下将粉末干压成直径约16mm、高度约12mm的柱行样品,置于马弗炉中1370oC下保温4h。

将烧制好的样品放置若干小时后,进行介电性能测试,结果显示:当ZrO2的掺杂量达到2.5wt%时,介电损耗最小,tanδ=2.64×10-4,Q ×f 值为8,202GHz(此时介电常数为173.54,τf=828.38 ppm/oC)。

实施例6:一种低介电损耗钛酸钙陶瓷,它是通过以下方法制备而成的:取6份CaTiO3陶瓷粉末,每份25g,放置于6个球磨罐中,Nb2O5按0.5~5wt%的比例加入,随后将混合料湿法球磨,去离子水作为研磨介质,球磨24h后在80oC的烘箱中干燥。然后将干燥后的块体进行研磨,过筛,最后在120MPa的压强下将粉末干压成直径约16mm、高度约12mm的柱行样品,置于马弗炉中1370oC下保温4h。

将烧制好的样品放置若干小时后,进行介电性能测试,结果显示:当Nb2O5的掺杂量达到3wt%时,介电损耗最小,tanδ=1.89×10-4,Q ×f 值为1,1321GHz(此时介电常数为175.33,τf=835.62 ppm/oC)。

实施例7:一种低介电损耗钛酸钙陶瓷,它是通过以下方法制备而成的:取6份CaTiO3陶瓷粉末,每份25g,放置于6个球磨罐中,选用Al2O3和Ta2O5作为掺杂物,总的掺杂比例为0.5~5wt%,随后将混合料湿法球磨,去离子水作为研磨介质,球磨24h后在80oC的烘箱中干燥。然后将干燥后的块体进行研磨,过筛,最后在120MPa的压强下将粉末干压成直径约16mm、高度约12mm的柱行样品,置于马弗炉中1370oC下保温4h。

将烧制好的样品放置若干小时后,进行介电性能测试,结果显示:当Al2O3的掺杂量为1wt%,Ta2O5的掺杂量为1wt%时,介电损耗最小,tanδ=2.07×10-4,Q ×f 值为10,450GHz(此时介电常数为174.78,τf=840.26ppm/oC)。

实施例8:一种低介电钛酸钙陶瓷材料,它是通过以下方法制备而成的:取CaTiO3陶瓷粉末6份,每份25g,放置于6个球磨罐中,MgO(以Mg(NO3)2·6H2O的形式引入)、ZrO2、Nb2O5作为掺杂物,总的掺杂量为0.5~5wt%,随后将混合料湿法球磨,以去离子水作为研磨介质,球磨24h后在80oC的烘箱中干燥。然后将干燥后的块体进行研磨,过筛,最后在120MPa的压强下将粉末干压成直径约16mm、高度约12mm的柱行样品,置于马弗炉中1370oC下保温4h。

将烧制好的样品放置若干小时后,进行介电性能测试,结果显示:当MgO、ZrO2、Nb2O5的掺杂量分别为0.5wt%、1.5wt%、2wt%时,介电损耗最小,tanδ=2.43×10-4,Q ×f 值为9,130GHz(此时介电常数为173.84,τf=823.78ppm/oC))。

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