一种低熔点包装袋的制作方法

文档序号:11098573阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种低熔点包装膜,其特征在于,按质量百分数计,配方为:

2.采用如权利要求1所述低熔点包装膜制成的低熔点包装袋。

3.如权利要求2所述的低熔点包装袋,其特征在于,袋宽≤400mm,袋长为膜折径的一半。

4.一种低熔点包装袋的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)拌粒:按预设的质量百分数,将如权利要求1所述低熔点包装膜的原料混合均匀,获得混料;

(2)吹膜:使用吹膜机将混料加热融化并加工成原料薄膜,原料薄膜经冷却后获得低熔点包装膜;

(3)制袋:按预设的规格对低熔点包装膜进行裁切并封口,获得所述低熔点包装袋。

5.如权利要求4所述的制作方法,其特征在于,步骤(2)中,所述吹膜的吹胀比为3~5:1。

6.如权利要求4所述的制作方法,其特征在于,步骤(2)中,所述吹膜的吹胀比为4:1。

7.如权利要求4所述的制作方法,其特征在于,步骤(2)中,所述冷却采用膜泡内外冷却方式。

8.如权利要求4所述的制作方法,其特征在于,步骤(2)中,所述冷却的温度小于20℃。

9.如权利要求4所述的制作方法,其特征在于,步骤(3)中,所述制袋包括:

1)沿低熔点包装膜的长度延伸方向,按预设的袋宽对低熔点包装膜进行裁切,获得多个小规格低熔点包装膜;

2)对各小规格低熔点包装膜进行双边热封,并沿热封线的中垂线将小规格低熔点包装膜剖开,获得袋长为二分之一膜折径的低熔点包装袋。

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