膜连接件密封打压测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种膜连接件密封打压测试装置，在左侧密封盖、右侧密封盖内部分别设有同轴的定位槽；在左侧密封盖内侧设有左内腔，在左侧密封盖的上设有进液接管，并与左内腔相通；右侧密封盖内侧设有右内腔，在右侧密封盖上设有出液接管，出液接管与右内腔相通；在左侧密封盖和右侧密封盖的内端面分别设有法兰盘，法兰盘之间设有密封垫片并通过紧固螺栓紧固。该装置不仅可以对膜连接件密封性能进行测试，直观地检查到密封是否有泄漏，杜绝不合格产品出厂，而且本装置对使用的O型密封圈进行测试，以确定密封圈的使用寿命、老化周期；同时可以对密封圈耐腐蚀、耐温、耐压、抗老化性能进行快捷方便的检测。
【专利说明】膜连接件密封打压测试装置
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及一种膜连接件密封打压测试装置，是针对膜分离中膜元件之间连 接中所用的膜连接件的密封性能进行检测装置。
【背景技术】
[0002] 众所周知，膜法分离以分子大小及形状不同为基础在压力作用下来进行溶液中组 份的分离，在膜的一侧对溶液施加压力的情况下，溶剂及分子量较小的溶质穿透膜出来，进 入膜元件内的中心管，成为滤出净液；而分子量较大的溶质被膜截流，回收为浓溶液。每个 膜组件由多个膜元件组成，固定安装在压力元件内，通过膜连接件将多个膜元件内中心管 相互连接。净液进入由膜连接件与中心管连接形成的通道进行汇总，经压力元件的端板排 出。工作原理及结构见图1。
[0003] 在利用膜法进行液体物料分离过程中，膜元件的内密封好坏是直接影响膜分离效 果的重要因素。如果膜分离过程中出现内漏即膜连接件密封不严或是密封有损坏，浓溶液 就会进入净液即产水当中，造成产水指标不合格，其密封分离原理见图一。由于膜连接件安 装在膜元件内部，从外面无法看到和检测到密封是否存在微小的泄漏，因此实际生产中，是 否因膜连接件密封泄漏造成净液指标不合格，只能采用排除方法给予确认，即排除由于膜 本身损坏、化验室化验不正确等因素之后，才能确认膜连接件密封泄漏。
【发明内容】
[0004] 本实用新型要解决的技术问题是提供一种膜连接件密封打压测试装置，该装置不 仅可以对膜连接件密封性能进行测试，直观地检查到密封是否有泄漏，可对批量生产的膜 连接件进行产品质量检测，保证生产的合格，杜绝不合格产品出厂，而且本装置对使用的0 型密封圈进行测试，以确定密封圈的使用寿命、老化周期；同时可以对密封圈耐腐蚀、耐温、 耐压、抗老化性能进行快捷方便的检测。
[0005] 为解决以上问题，本实用新型的具体技术方案如下：一种膜连接件密封打压测试 装置，主要由左侧密封盖、右侧密封盖、紧固螺栓和密封垫片组成；在左侧密封盖、右侧密封 盖内部分别设有同轴的定位槽；在左侧密封盖内侧设有左内腔，在左侧密封盖的上设有进 液接管，并与左内腔相通；右侧密封盖内侧设有右内腔，在右侧密封盖上设有出液接管，出 液接管与右内腔相通；在左侧密封盖和右侧密封盖的内端面分别设有法兰盘，法兰盘之间 设有密封垫片并通过紧固螺栓紧固。
[0006] 所述的左侧密封盖和右侧密封盖的底部设有底座进行支撑定位。
[0007] 所述的左侧密封盖内端面设有内凹槽，右侧密封盖的内端面设有凸台，凸台位于 内凹槽内。
[0008] 所述的左侧密封盖和右侧密封盖的外圆周为圆柱形柱体，左内腔和右内腔为圆柱 形孔。
[0009] 该打压测试装置膜连接件采用定位槽结构将待测的膜连接管进行定位，并通过进 液接管和出液接管进行打压，从而实现对待测膜连接管件的测试。
[0010] 该打压测试装置膜连接件采用圆孔设计可以在圆孔内自由转动，从而避免了剪切 力的产生；由于端盖为对称圆形结构，便于加工制造；由于端盖的内腔为圆孔，在安装时不 需对安装面进行选择。
[0011] 该打压测试装置膜连接件采用凸台和内凹槽的扣合结构，可以很方便地对膜连接 件进行定位防止产生被困闭的空气。
【专利附图】
【附图说明】
[0012] 图1为膜连接件在膜组件中的位置及作用。
[0013] 图2为膜连接件密封打压测试装置的爆炸视图。
[0014] 图3为膜连接件密封打压测试装置的装配图。
【具体实施方式】
[0015] 如图2和图3所示，一种膜连接件密封打压测试装置，主要由左侧密封盖1、右侧 密封盖2、紧固螺栓3和密封垫片4组成；在左侦彳密封盖1、右侧密封盖2内部分别设有同轴 的定位槽6,待测的膜连接管在定位槽6内定位，膜连接管上的密封圈在定位槽6内进行密 封；在左侧密封盖1内侧设有左内腔15,在左侧密封盖1的上设有进液接管5,并与左内腔 15相通；右侧密封盖2内侧设有右内腔16,在右侧密封盖2上设有出液接管7,出液接管7 与右内腔16相通，打压的液体通过进液接管5进入，出液接管7排出；在左侧密封盖1和右 侧密封盖2的内端面分别设有法兰盘，法兰盘之间设有密封垫片4并通过紧固螺栓3紧固。
[0016] 所述的左侧密封盖1和右侧密封盖2的底部设有底座10进行支撑定位，以保证设 备整体的定位。
[0017] 所述的左侧密封盖1内端面设有内凹槽13,右侧密封盖2的内端面设有凸台11， 凸台11位于内凹槽13内，该结构可以保证左、右侧密封盖的整体定位。
[0018] 所述的左侧密封盖1和右侧密封盖2的外圆周为圆柱形柱体，左内腔15和右内腔 16为圆柱形孔，该结构便于加工。
[0019] 该膜连接件密封打压测试装置打压测试过程如下；
[0020] 首先将左侧密封盖1的进液接管5与打压泵出口及进口阀门相连；右侧密封盖2 的出液接管7与压力表、阀门相连，然后关闭进口阀门、打开出口阀门。启动打压泵，缓慢 开启进口阀门，让测试液进入膜连接件测试装置的内密闭室6内。测试液通过右侧密封盖 出口 7进入密封装置的内密闭室6,由于内密闭室6是密封空间，测试液只能由右侧密封盖 出口 7流出。出口阀门首先排出的是内密闭室6内的气体，当内密闭室6内的气体被排出， 使内密闭室6充满测试液后，测试液从出口阀门流出，这时关闭出口阀门。从出口压力表看 出，内密闭室6内压力不断升高，当压力达到规定的压力值时，关闭打压泵、同时关闭进口 阀门进行保压测试。保压测试时间一般为12 - 24小时，保压测试期间要观测压力表的压 力值是否有变动下降，如果压力值压力值不变或微小变化（由于阀门可能有部分漏泄)，则 可确定膜连接件密封合格。同时，通过用眼对测试装置左右两端密封盖的中心孔直接观测 是否有测试液溢出，判断膜连接件密封是否合格，如有微量测试液溢出视为不合格。
[0021] 以上是对产品出厂是否合格的检测，防止不合格产品出厂。同时该装置也可以用 于以下几个方面的测试：1、对膜连接件结构进行创新、改造时，可通过该装置进行测试、判 定是否合理可行，加快科学试验的进度；2、当生产中出现净液不合格时，可取出膜组件中 的膜连接件，进行现场测试，及时判断是否因膜连接件密封损坏、老化等原因造成净液不合 格。
[0022] 该装置也可安置在实际生产现场，将装置与生产现场的膜设备相连接，使该装置 受压、温度、工作介质与实际生产同步，对是否有内漏进行直接判断定论；同时也能与实际 生产相结合，在不同的生产工况，工作介质的条件下，对密封圈不同的材质、硬度、几何形状 对耐压、压温、耐腐蚀、抗老化性能进行测试，科学试验积累经验，为膜法分离在不同的工况 条件更好地广泛应用，提供科学依据。
【权利要求】
1. 一种膜连接件密封打压测试装置，其特征在于：主要由左侧密封盖（1)、右侧密封盖 (2)、紧固螺栓（3)和密封垫片（4)组成；在左侧密封盖（1)、右侧密封盖（2)内部分别设有同 轴的定位槽（6);在左侧密封盖（1)内侧设有左内腔（15)，在左侧密封盖（1)的上设有进液 接管（5)，并与左内腔（15)相通；右侧密封盖（2)内侧设有右内腔（16)，在右侧密封盖（2) 上设有出液接管（7)，出液接管（7)与右内腔（16)相通；在左侧密封盖（1)和右侧密封盖 (2)的内端面分别设有法兰盘，法兰盘之间设有密封垫片（4)并通过紧固螺栓（3)紧固。
2. 如权利要求1所述的膜连接件密封打压测试装置，其特征在于：所述的左侧密封盖 (1)和右侧密封盖（2 )的底部设有底座（10 )进行支撑定位。
3. 如权利要求1所述的膜连接件密封打压测试装置，其特征在于：所述的左侧密封盖 (1)内端面设有内凹槽（13)，右侧密封盖（2)的内端面设有凸台（11)，凸台（11)位于内凹槽 (13)内。
4. 如权利要求1所述的膜连接件密封打压测试装置，其特征在于：所述的左侧密封盖 (1)和右侧密封盖（2)的外圆周为圆柱形柱体，左内腔（15)和右内腔（16)为圆柱形孔。
【文档编号】B01D65/10GK203886428SQ201420324006
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2014年6月17日 优先权日:2014年6月17日
【发明者】赵忠平, 孟宪辉, 翟宏, 李太安 申请人:沈阳新华环境工程有限公司