本发明涉及对电子产品进行分光分色的
技术领域：
：，尤指一种针对smd灯珠进行全自动化分光分色的集成化程度高的直落料式高速分光分色机及其工作流程。
背景技术：
：：smd，是surfacemounteddevices的缩写，意为：表面贴装器件，它是smt(surfacemounttechnology）元器件中的一种。在现有smd灯珠行业中，smd灯珠是通过传统转盘然后再经过xytable的定位进行分类从而达到要求，至此所造成的结果就是对机台的速度产生了极大的影响和限制，导致机台速度普遍不高，这样也间接的导致了生产成本的提高，同时也满足不了客户对产品的大量需求。现急需能够满足客户产能要求的同时还能降低生产成本的smd灯珠全自动化的高速分光分色机，为满足市场这一要求，故我司研发出一种新型的smd灯珠全自动化的高速直落料式机构（20+n）bin。技术实现要素：针对现有技术的不足，本发明旨在提供一种将smd灯珠样品送检、检测、排除、收集融为一体动化的，具有（20+n）个bin位的高速直落料式机构的直落料式高速分光分色机及其工作方法，用以实现功能包括减少每颗料的分光分色完成周期，提高生产产能同时还降低生产成本。本发明通过以下技术方案实现：本发明采用的技术方案是：一种直落料式高速分光机，所述的分光机包括安装在机架上的电控箱装置、储供料装置和直落料机构，所述的电控箱采用plc控制器，所述的储供料装置包括储料的料斗模组和供料的振动盘模组，所述的振动盘模组包括振动盘组件、直入运行轨道和电磁铁直入料模组；所述的直落料机构包括至少有二十个工位的转盘，以及沿着转盘旋转的圆周方向上设计的定位模组、测试前侦测模组、测试模组、积分球模组、ng品排除侦测模组，落料装置以及转盘余料侦测模组，其中直落料机构中的工位通过直入运行轨道与供料的振动盘模组对接；所述的落料装置包括落料吹气模组和落料接料筒模组。所述的直入运行轨道与振动盘是一体式结构，直入运行轨道的入料端与振动盘组件的出料端对接，出料端设置有电磁铁直入料模组。所述的落料吹气模组设置在工位径向内侧，落料接料筒模组设置在工位径向外侧。所述的工位、落料吹气模组的气嘴和落料接料筒模组的接料筒一一对应，落料吹气模组的气嘴向对应工位上的样品进行吹气，使得样品吹进对应的接料筒里。所述的工位个数为30个或50个或（20+n）个工位。所述的定位模组的滚轮会对旋转转动传送经过的样品进行校正定位，保证在测试时每颗样品材料都在各自工位上的同个位置。所述的落料接料筒模组有30个或50个或（20+n）个工位个中通的接料筒，每个接料筒根据不同的参数设置有相对应的bin号，每个接料筒的末端通过软管与收料装置里的收料筒相通连接。所述的分光机还包括可拆卸安装在机架上的收料装置，收料装置包括收料筒组，每个收料筒通过各自的软管与接料筒相通连接。一种直落料式高速分光机的工作方法，所述的工作方法包括以下动作：（1）送检：将待检测的样品放置在储料的料斗模组里，料斗模组的下方出口与振动盘对接，使得待测试样品可以从出口掉到振动盘上，从振动盘出口出来的待检测的样品顺序排列进入直入运行轨道进行传送，直入运行轨道的出料端设置的电磁铁直入料模组对顺序传送过来的样品进行间隔分离，使得传送过来的待检测样品顺序推送到直落料机构的工位处送检。（2）检测收集：样品进入直落料机构的工位时，转盘转动把样品一站站移动，当移动经过定位模组时，定位模组上的滚轮会对经过的样品进行校正，保证在测试时每颗材料都在同个位置，以便测试出来的效果更准确更稳定，校正之后转盘继续旋转经过测试前侦测模组，测试前侦测模组对工位吸嘴上的样品进行侦测，如果有侦测到样品存在则旋转经过下一站测试模组站，测试模组会对样品材料的进行测试动作，在测试的同时，位于样品上方的积分球模组则对导通触发后的样品进行各项数据的采集并回馈给工业电脑，工业电脑则对采集来的数据进行分析并归入到所预先设定的bin号中，然后反馈给plc控制器,plc则会按照接收到的数据对样品进行分类记忆，待转盘转动将样品移动到相对应的bin号站时启动落料吹气模组，吹气模组对工位上的样品进行吹气使之落入接料筒中进行收集作业，使此类样品都收集到同一bin号中。（3）ng料收集：如果测试过程中被程序判定为ng品，则在移动到相对应的ng料bin号位时对应的吹气模组对工位上的ng料进行吹气使之落入预先设定为ng料的bin号位的接料筒中进行收集作业进行排除，然后旋转经过ng品排除侦测模组进行侦测，以确保ng品尽数排尽，不会流落到后续良品bin中而导致混料；旋转至作为最末端的工位会经过转盘余料侦测模组进行余料侦测，确保转盘在取料植入前工位吸嘴无料，防止伤料或者破坏机构等。（3）分类收料：由于每个bin号的接料筒的末端通过软通管与收料装置的收料筒相通连接，每个bin号位里收集的检测后样品会通过软通管滑落收集在收料管里进行分类收集。所述的样品指的是贴片类smd灯珠本发明的有益效果是：本发明通过全自动运行供料、定位模组对材料的校正、侦测、测试挑选排除ng料、直接落料回收进入相对应的bin筒，减少了smd灯珠在xytable分类时对材料的伤害，也节约了大量的时间，同时也降低了成本，提高了材料的质量，员工全程只需要加料、收集bin满的料筒和按开关按钮；满足客户对smd灯珠越来越苛刻的质量要求和产能要求，更大大节约了生产成本。附图说明图1是发明的立体结构示意图。图2是本发明中储供料装置和直落料机构的组装结构示意图。图3是本发明中储供料装置和直落料机构的俯视结构示意图。附图标注说明：100-机架，1-电控箱装置，2-储供料装置，3-直落料机构，4-收料装置，21-料斗模组，22-振动盘模组，221-振动盘组件，222-直入运行轨道，223-电磁铁直入料模组，31-转盘，5-定位模组，6-测试前侦测模组，7-测试模组，8-积分球模组，9-ng品排除侦测模组，10-落料装置，11-转盘余料侦测模组，101-落料吹气模组，102-接料筒，41-收料筒。具体实施方式以下通过说明书附图详细说明本发明的具体实施方式：如图1-3所示，一种直落料式高速分光机，所述的分光机包括安装在机架100上的电控箱装置1、储供料装置2和直落料机构3，还包括可拆卸安装在机架100上的收料装置4，收料装置4包括收料筒41组，每个收料筒41通过各自的软管与接料筒102相通连接。所述的电控箱采用plc控制器，所述的储供料装置2包括储料的料斗模组21和供料的振动盘模组22，所述的振动盘模组22包括振动盘组件221、直入运行轨道222和电磁铁直入料模组223；所述的直落料机构3包括至少有30个工位的转盘31，以及沿着转盘31旋转的圆周方向上设计的定位模组5、测试前侦测模组6、测试模组7、积分球模组8、ng品排除侦测模组9，落料装置10以及转盘31余料侦测模组11，其中直落料机构3中的工位通过直入运行轨道222与供料的振动盘模组22对接；所述的落料装置10包括落料吹气模组101和落料接料筒102模组。所述的直入运行轨道222与振动盘是一体式结构，直入运行轨道222的入料端与振动盘组件221的出料端对接，接收样品进行直线式顺序排列进行供料，出料端设置有电磁铁直入料模组223；电磁铁直入料模组223主要是为了分离在进行连续供料中的样品，从振动盘出来的样品顺序排列进入直入运行轨道222往直落料机构3送检。所述的落料吹气模组101设置在工位径向内侧，落料接料筒102模组设置在工位径向外侧；所述的工位站上的20个工位及以上工位与落料吹气模组101的气嘴和落料接料筒102模组的接料筒102一一对应，落料吹气模组101的气嘴向对应工位站上的样品进行吹气，使得样品吹进对应的接料筒102里。所述的转盘工位站个数为30个或50个或（20+n）位；所述的定位模组5的滚轮会对旋转转动传送经过的样品进行校正定位，保证在测试时每颗样品材料都在各自工位上的同个位置；所述的落料接料筒102模组有20个或36个或（20+n）个中通的接料筒102，每个接料筒102根据不同的参数设置有相对应的bin号，包括ng料收集bin号以及ok料收集bin号，每个接料筒102的末端通过软管与收料装置4里的收料筒41相通连接。一种直落料式高速分光机的工作方法，所述的工作方法包括以下动作：（1）送检：将待检测的样品，以下所述的样品指的是贴片类smd灯珠，放置在储料的料斗模组21里，料斗模组21的下方出口与振动盘对接，使得待测试样品可以从出口掉到振动盘上，从振动盘出口出来的待检测的样品顺序排列进入直入运行轨道222进行传送，直入运行轨道222的出料端设置的电磁铁直入料模组223对顺序排列传送过来的样品进行间隔分离，使得传送过来的待检测样品顺序推送到直落料机构3的工位处送检。（2）检测收集：样品进入直落料机构3的工位时，转盘31转动把样品一站站移动，当移动经过定位模组5时，定位模组5上的滚轮会对经过的样品进行校正，保证在测试时每颗材料都在同个位置，以便测试出来的效果更准确更稳定，校正之后转盘31继续旋转经过测试前侦测模组6，测试前侦测模组6对工位吸嘴上的样品进行侦测，如果有侦测到样品存在则旋转经过下一站测试模组7站，测试模组7会对样品材料的进行测试动作，在测试的同时，位于样品上方的积分球模组8则对导通触发后的样品进行各项数据的采集并回馈给工业电脑，工业电脑则对采集来的数据进行分析并归入到所预先设定的bin号中，bin号的个数是20个或36个或（20+n）个，以实际生产需要为准，其中包括有收集ng料的bin号，然后反馈给plc控制器,plc则会按照接收到的数据对样品进行分类记忆，即将样品定义成哪一个bin号，就会进入哪个bin号的接料筒102，待转盘31转动将样品移动到相对应的bin号站时启动落料吹气模组101，吹气模组对工位上的样品进行吹气使之落入接料筒102中进行收集作业，使此类样品都收集到同一bin号中。（3）ng料收集：在预先设定的bin号中，将前端三个bin号设定成收集ng品的，如果测试过程中被程序判定为ng品，则在移动到相对应的ng料bin号位时对应的吹气模组对工位上的ng料进行吹气使之落入预先设定为ng料的bin号位的接料筒102中进行收集作业进行排除，然后旋转经过ng品排除侦测模组9进行侦测，以确保ng品尽数排尽，不会流落到后续良品bin中而导致混料；旋转至作为最末端的工位（即旋转一个圆周进行测试以及排料后的工位，即将进行下一轮接收新样品进行测试的工位）会经过转盘31余料侦测模组11进行余料侦测，确保转盘31在取料植入前工位吸嘴无料，防止伤料或者破坏机构等。（3）分类收料：由于每个bin号的接料筒102的末端通过软通管与收料装置4的收料筒41相通连接，每个bin号位里收集的检测后样品会通过软通管滑落收集在收料管里进行分类收集。本发明中储供料装置2安装在机台正面的左侧，振动盘组件221与直入运行轨道222可以是一体式结构，直入运行轨道222的末端与电磁铁直入料模组223对接，进入直落料机构3后的smd灯珠先通过定位模组5，通过测试前侦测模组6侦测后，转动移动到测试模组7进行测试，同时积分球模组8收集数据，再经过落料吹气模组101作用后落料装置10把料分类并收集好。具体运动方式如下：smd灯珠在从料斗掉落振动盘后从直入运行轨道222的作用下移动到电磁铁直入料模组223的前端，电磁铁直入料模组223前端的对照光纤感应到smd灯珠到位后，电磁铁直入料模组223的电磁铁开始动作然后顶住第二颗smd灯珠，使得第一颗灯珠与第二颗smd灯珠得到很好的分离，方便转盘31上的吸嘴将第一颗smd灯珠移走送到工位上，然后待转盘31上的第二站到位后，电磁铁直入料模组223上的电磁铁回位，松开了顶住的smd灯珠，当电磁铁直入料模组223前端的对照光纤感应到smd灯珠到位后，电磁铁开始动作然后顶住第二颗smd灯珠，使得第一颗灯珠与第二颗smd灯珠得到很好的分离，方便转盘31将到位后的smd灯珠移走，如此往复循环的进行供料动作……smd灯珠进入直落料机构3的工位时，转盘31转动把smd灯珠一站站移动，当移动经过定位模组5时，定位模组5上的滚轮会对经过的smd灯珠进行校正，保证在测试时每颗材料都在同个位置，以便测试出来的效果更准确更稳定，校正之后转盘31继续旋转经过测试前侦测模组6，测试前侦测模组6对工位吸嘴上的smd灯珠进行侦测，如果有侦测到smd灯珠存在则旋转经过下一站测试模组7站，测试模组7会对smd灯珠材料的进行测试动作，在测试的同时，位于smd灯珠上方的积分球模组8则对导通触发后的smd灯珠进行各项数据的采集并回馈给工业电脑，工业电脑则对采集来的数据进行分析并归入到所预先设定的bin号中bin号的个数是20个或36个或（20+n）个，以实际生产需要为准，其中包括有收集ng料的bin号，然后反馈给plc控制器,plc则会按照接收到的数据对smd灯珠进行分类记忆，即将smd灯珠定义成哪一个bin号，就会进入哪个bin号的接料筒102，待转盘31转动将smd灯珠移动到相对应的bin号站时启动落料吹气模组101，吹气模组对工位上的smd灯珠进行吹气使之落入接料筒102中进行收集作业，使此类smd灯珠都收集到同一bin号中。由于预先对落料装置10中的接料筒102进行bin号位设定，在预先设定的bin号中，将前端三个bin号设定成收集ng品的，如果测试过程中被程序判定为ng品，则在移动到相对应的ng料bin号位时对应的吹气模组对工位上的ng料进行吹气使之落入预先设定为ng料的bin号位的接料筒102中进行收集作业进行排除，然后旋转经过ng品排除侦测模组9进行侦测，以确保ng品尽数排尽，不会流落到后续良品bin中而导致混料；旋转至作为最末端的工位，即旋转一个圆周进行测试以及排料后的工位，即将进行下一轮接收新smd灯珠进行测试的工位，会经过转盘31余料侦测模组11进行余料侦测，确保转盘31在取料植入前工位吸嘴无料，防止伤料或者破坏机构等；由于每个bin号的接料筒102的末端通过软通管与收料装置4的收料筒41相通连接，每个bin号位里收集的检测后smd灯珠会通过软通管滑落收集在收料管里进行分类收集；本发明通过全自动运行供料、定位模组5对材料的校正、侦测、测试挑选排除ng料、直接落料回收进入相对应的bin筒，减少了smd灯珠在xytable分类时对材料的伤害，也节约了大量的时间，同时也降低了成本，提高了材料的质量，员工全程只需要加料、收集bin满的料筒和按开关按钮。满足客户对smd灯珠越来越苛刻的质量要求和产能要求，更大大节约了生产成本。以上所述，仅是本发明的较佳实施例，并非对本发明的技术范围作任何限制，本行业的技术人员，在本技术方案的启迪下，可以做出一些变形与修改，凡是依据本发明的技术实质对以上的实施例所作的任何修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。当前第1页12当前第1页12