专利名称：Max724芯片检测电路及其检测方法
技术领域：
本发明涉及一种MAX724芯片检测电路及其检测方法。
背景技术：
相对于线性稳压器来说，开关电源在计算机主板上、工控机主板和各 种各样的电路板上起着电压变换的作用。例如电路板上只有DC24V电压， 但是，还需要Dc5V/2A的电源，这么高的压降，使用线性稳压器显然不合 适，如果使用DC/DC模块，成本太高，体积也比较大，所以，得选用一款 芯片完成这个功能。MAX724这款芯片就A^电压变换作用的，且因其输入 只要在它的允许的范围内波动，或者负载在变化,输出DC5V电源十分稳定， 所以其选用一直得到用户的睛睐。纵MAX724这款芯片有良好的性能，但却 不能确倮其有良好的品质，所以在使用前，用户一般需检测其品质是否优 良，因此设计出一套能检测MAX724这款芯片品质优劣的检测装置或;f全测方 法势在必行。
发明内容
为了克服现有技术中用户只能靠直接使用而在使用过程中才能发现 MAX724这款芯片优劣的技术问题,本发明提供了一种能够能方便快速地检 测MAX724功能是否正常的MAX724芯片检测电路及其检测方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是 一种MAX724芯片检测 电路，包括一个电感、 一个电位器、 一个电阻及一个二极管，所述电感、 电位器、电阻及二极管串联连接成回路，MAX724芯片的两引脚并联接入所 述回路中。
本发明进一步解决技术问题的方聿是所述回路中电感、电位器、电 阻和二极管依次连接，所述检测电路包括一电容并联在所述回路中，其中 电容的两端分别接在回路中电感与电位器之间及电阻与二极管之间。
本发明进一步解决技术问题的方案是所述电感值为68uH,所述电容 为电解电容。
本发明进一步解决技术问题的方案是所述检测电路中还包括由一个 电阻及一个电容串联形成的补偿电路。
本发明进一步解决技术问题的方案是所述电容为瓷片电容。本发明进一步解决技术问题的方案是所述补偿电路中还串联接有电 源输入插座及开关。
本发明进一步解决技术问题的方案是所述补偿电路中还并联接入至 少一个电解电容。
本发明解决其技术问题所采用的另一技术方案是 一种检测MAX724 芯片的方法，主要包括以下步骤
提供一个电路，接入MAX724的引脚；
打开电路中的开关；
调节电路中的电位器；
读取MAX724的电压值是否在所需电压范围内。
本发明进一步解决技术问题的方案是所述电路包括由一个电感、一 个电位器、 一个电阻及一个二极管串联连接成的回路。
相较于现有技术，采用上述技术方案，本发明的有益效果是测试电 路可通过调节50KO电位器，测试MAX724输出电压范围是否在2. 5V-35V 之间；其电路结构简单，操作方法简单，使用方便，检测结果可信。
图l是本发明芯片的检测装置的电路图。
具体实施例方式
结合上述的
本发明的各种实施例。
本发明检测装置包括待测的MAX724芯片1及检测该芯片1的电路板， 该电路板的电路图如图1所示。其包括由50KQ电位器10、 68uH电感20、 R2电阻30、 100S20B二极管40组成的回路；在电路中，50KQ电位器10 为可调电位器，该电位器10与R2电阻30组成分压电路，共同控制MAX724 芯片1的输出电压；68uH电感20用于输出端滤波及储能；R2电阻30用于 Fb反馈端的电压釆样；100S20B二极管40用于输出端的续流。在上述回路 中的电感20与电位器IO之间及电阻30与二极管40之间引出连线并联接 入电解电容C3，该电容用于输出端的滤波。在电感20与二极管40之间及 电位器10与电阻30之间分别引出连线接入MAX724芯片1的接脚。
在电路中，另包括SW开关50和2510-2P插座60,以及电阻R1及乾 片电容C4，其中，SW开关50作为输入电源的开关使用，2510-2插座60 为输入电源的接口；电阻R1及乾片电容C4用于电路补偿。在该补偿电路中分别并联接入两个100uF/50V电解电容C1、 C2，作为输入端滤波电容， 本发明采用两个电解电容C1、 C2并联，可以增大容量，同时可减小ESD。 本发明釆用上述检测电路检测MAX724芯片的方法，主要包括以下步
骤
提供一个电路，接入MAX724的四个引脚；
打开电路中的开关；
调节电路中的电位器；
读取MAX724的电压值是否在所需电压范围内。
本发明测试装置可通过调节50KQ电位器10，测试MAX724芯片的输 出电压范围是否在2. 5V-35V之间，使用方便、操作简单、检测结果可信。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说 明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术 领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若 干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
权利要求
1. 一种MAX724芯片检测电路，其特征在于包括一个电感、一个电位器、一个电阻及一个二极管，所述电感、电位器、电阻及二极管串联连接成回路，MAX724芯片的两引脚并联接入所述回路中。
2. 根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于所述回路中电感、 电位器、电阻和二极管依次连接，所述检测电路包括一电容并联在所述回 路中，其中电容的两端分别接在回路中电感与电位器之间及电阻与二极管 之间。
3. 根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于所述电感值为68uH， 所述电容为电解电容。
4. 根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于所述检测电路中 还包括由一个电阻及一个电容串联形成的补偿电路。
5. 根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于所述电容为瓷片 电容。
6. 根据权利要求4或5所述的检测电路，其特征在于所述补偿电 路中还串联接有电源输入插座及开关。
7. 根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于所述补偿电路中 还并联接入至少一个电解电容。
8. —种检测MAX724芯片的方法，其特征在于 提供一个电路，接入MAX724的引脚； 打开电路中的开关； 调节电路中的电位器；读取MAX724的电压值是否在所需电压范围内。
9. 根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于所述电路包括由 一个电感、 一个电位器、 一个电阻及一个二极管串联连接成的回路。
全文摘要
本发明涉及一种MAX724芯片检测电路，包括一个电感、一个电位器、一个电阻及一个二极管，所述电感、电位器、电阻及二极管串联连接成回路，MAX724芯片的两引脚并联接入所述回路中。本发明另公开一种通过上述电路对芯片进行检测的检测方法。本发明检测电路简单、检测方法操作也简单，所以使用方便、检测结果可信。
文档编号G01R31/00GK101452026SQ200710077538
公开日2009年6月10日 申请日期2007年11月30日 优先权日2007年11月30日
发明者政 张, 高云峰 申请人:深圳市大族激光科技股份有限公司