专利名称：用于测试载板的模拟测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型有关一种用于测试载板的测试装置，特别是关于一种具有模块化设 计，且用于测试载板的模拟测试装置。
背景技术：
随着集成电路的发展整合度需要愈来愈高，系统单芯片也内建愈来愈多的模拟信 号处理运算电路。虽然整体芯片的整体产值提高许多，但此举也增加了测试时的困难度与 成本。现有测试系统单芯片的模拟信号的测试装置架构，请参阅图1所示，其于一测试 载板10上主要设置有一待测元件(Device under test，DUT)的系统单芯片12，其内建有一 模拟信号处理运算电路122 ；在测试载板10上另设有一高阶自动测试设备(high end ATE) 接头14，用以连接一高阶自动测试设备机台16，并利用高阶自动测试设备接头14使系统单 芯片12与高阶自动测试设备机台16形成电气连接，以进行信号量测，利用高阶自动测试设 备机台16内建的模拟信号分析模块162对系统单芯片12内的模拟信号处理运算电路122 进行模拟信号测试。另一种现有的测试装置则请参阅图2所示，其于一测试载板20上主要设置有一待 测元件的系统单芯片22、一继电器(relay)24、一自动测试设备接头沈以及一陪测电路观。 此种方式利用继电器M作测试路径切换测试，以利用连接自动测试设备接头26的自动测 试设备机台对系统单芯片22进行断路(open)/短路(short)测试，或是利用陪测电路观 对系统单芯片22进行模拟信号的测试；但此种架构下的陪测电路观，仅能对系统单芯片22 进行功能上的量测，无法对信号品质进行确认测试。且在实际运作上会使得测试载板20变 得更复杂及所需测试时间更长等相关问题。既然采用高整合的集成电路已是不可避免的趋势，找出解决方案解决测试瓶颈才 是当务的急要务。上述两种解决方案不外乎是增加功能模块或是直接更新机台，但这些方 法都需要花费许多金钱成本。另外，现有测试厂商亦有为数不少的测试机台是无法更新或 是增加功能模块，若是这些机台无法投入产品测试，对测试厂商而言想必是一大损失。有鉴于此，本实用新型提出一种用于测试载板的模拟测试装置，以解决存在于现 有技术的该等缺点。发明内容本实用新型的主要目的在于提供一种用于测试载板的模拟测试装置，其利用模块 化设计，再利用高速连接器整合于测试载板上，以完成待测元件相关的模拟信号电路介面 测试，不仅可提高测试机台的使用稼动率，更能降低测试载板的模拟信号复杂度，以大幅降 低其测试成本。本实用新型的另一目的在于提供一种用于测试载板的模拟测试装置，其可使用较 低阶的测试机台来有效解决系统单芯片的高速模拟信号介面测试。[0009]本实用新型的再一目的在于提供一种用于测试载板的模拟测试装置，其是模块化 设计且为独立运作，故可适用于各种厂牌的自动测试机台；且利用模块板设计，更可快速更 换至不同的测试载板。本实用新型的又一目的在于提供一种用于测试载板的模拟测试装置，其可根据客 户的实际需求弹性设计出各种模拟信号测试模块。为达到上述目的，本实用新型提出的用于测试载板的模拟测试装置，包括有一测 试载板，其上可供安装至少一待测芯片；并有一模拟信号测试模块安装于此测试载板上，并 利用内建的一高速连接器电气连接至待测芯片，以进行模拟信号测试。再者，在上述的测试载板上更设有一自动测试机台接头，其电气连接待测芯片，使 待测芯片可利用此自动测试机台接头连接至一自动测试机台，以进行断路或短路测试。另外，为进行测试切换，本实用新型更设有一切换开关组，所述切换开关组一端连 接至待测芯片，所述切换开关组另一端分别连接至模拟信号测试模块及自动测试机台接 头，用以切换待测芯片选择性电气连接至模拟信号测试模块或自动测试机台接头，以分别 进行模拟信号测试或断路或短路测试。实施时，该自动测试机台是高阶自动测试机台或是低阶自动测试机台。实施时，该模拟信号测试模块更包括至少一模拟数字转换单元，连接该高速连接器，以接收一模拟测试信号，并将其转 换成一数字测试信号；一数字信号处理单元，其连接该模拟数字转换单元，并接收分析该数字测试信号， 以侦测其信号品质；以及一可调变频率产生器，其连接该数字信号处理单元，以提供其所需的时脉信号。实施时，该模拟信号测试模块活动插拔式插设于该测试载板上。与现有技术相比，本实用新型所述的用于测试载板的模拟测试装置，其利用模块 化设计，再利用高速连接器整合于测试载板上，以完成待测元件相关的模拟信号电路介面 测试，不仅可提高测试机台的使用稼动率，更能降低测试载板的模拟信号复杂度，以大幅降 低其测试成本。底下通过具体实施例配合所附的图式详加说明，当更容易了解本实用新型的目 的、技术内容、特点及其所达成的功效。
图1是现有测试系统单芯片的模拟信号的测试装置示意图。图2是现有测试系统单芯片的模拟信号的另一测试装置示意图。图3是本实用新型的基本架构的方块示意图。图4是本实用新型连接至自动测试机台的应用架构的方块示意图。附图标记说明10-测试载板；12-系统单芯片；122-模拟信号处理运算电路； 14-高阶自动测试设备(high end ATE)接头；16-高阶自动测试设备机台；162-模拟信号 分析模块；20-测试载板；22-系统单芯片；24-继电器(relay) ；26-自动测试设备接头； 28-陪测电路；30-测试载板；32-待测芯片；322-模拟信号处理运算电路；34-模拟信号测 试模块；341-高速连接器；342-模拟数字转换单元；343-数字信号处理单元；344-可调变频率产生器；36-自动测试机台接头；38-切换开关组；40-自动测试机台。
具体实施方式
本实用新型利用模块化的模拟信号测试模块的设计，并配合模拟信号测试模块内 建的高速连接器同时整合于测试载板上，以完成待测元件相关的模拟信号电路介面测试； 故本实用新型不仅可提高测试机台的使用稼动率，更能降低测试载板的模拟信号复杂度， 并大幅降低测试成本。图3是本实用新型的基本架构的方块示意图，请参阅第3图所示，此模拟测试装 置包括有一测试载板30，其上可供安装至少一具有模拟信号处理运算电路322的待测芯片 32，例如具有模拟信号处理运算电路的系统单芯片；并在此测试载板30上设置有一模拟信 号测试模块34，其电气连接至待测芯片32，以对模拟信号处理运算电路322进行模拟信号 测试。其中，此模拟信号测试模块34内建有一高速连接器341，以通过此高速连接器341电 气连接至待测芯片32 ；模拟信号测试模块34另包含有至少一模拟数字转换单元342、一数 字信号处理单元343及一可调变频率产生器344，模拟数字转换单元342电气连接至高速连 接器341，以接收来自待测芯片32的一模拟测试信号，并将其转换成一数字测试信号；电气 连接模拟数字转换单元342的数字信号处理单元343则接收并分析此数字测试信号，以侦 测其信号品质；而可调变频率产生器344电气连接至数字信号处理单元343，以提供其所需 的时脉信号。再者，为使本实用新型的模拟测试装置除了可进行模拟信号品质测试之外，更可 以进行一般断路或短路测试，请参阅图4所示，在此测试载板30上更设有一自动测试机台 接头36，其透过一切换开关组38电气连接至待测芯片32，使待测芯片32可利用自动测试 机台接头36连接至一自动测试机台40，以进行断路或短路测试；且此自动测试机台40可 为高阶自动测试机台或是低阶自动测试机台。当然，此切换开关组38的刀端(pole)连接 至该待测芯片32，另一端的两个掷端(throw)则分别连接至模拟信号测试模块34及自动测 试机台接头36，用以切换此待测芯片32选择性电气连接至模拟信号测试模块34进行模拟 信号信号品质测试，或是电气连接至自动测试机台接头36，以藉此连接至自动测试机台40 进行断路或短路测试。由于本实用新型的模拟信号测试模块活动插拔式插设于测试载板上，故为一模块 化装置设计。且因本实用新型的模块化设计亦可独立运作(machine ind印endence)，因 此可适用于各种厂牌的自动测试设备，包含高阶或低阶自动测试机台，使现有厂商可使用 较低阶的测试机台来有效解决系统单芯片的高速模拟信号介面测试。更甚者，本实用新型 更可快速更换不同的测试载板，亦可根据客户的实际需求弹性设计出各种模拟信号测试模 块，应用相当广泛。将本实用新型的模拟测试装置与现有技术的解决方案的主要差异，条列如下列表 一所示。表一
权利要求1.一种用于测试载板的模拟测试装置，其特征在于，包括一测试载板，其上供安装至少一待测芯片；以及一模拟信号测试模块，其设于该测试载板上，并利用内建的一高速连接器电气连接至 该待测芯片，以进行模拟信号测试。
2.如权利要求1所述的用于测试载板的模拟测试装置，其特征在于，更包括一自动测 试机台接头，该自动测试机台机头设于该测试载板上，且电气连接该待测芯片，使该待测芯 片利用该自动测试机台接头连接至一自动测试机台，以进行断路或短路测试。
3.如权利要求2所述的用于测试载板的模拟测试装置，其特征在于，更包括一切换开 关组，所述切换开关组一端连接至该待测芯片，所述切换开关组另一端连接至该模拟信号 测试模块及该自动测试机台接头，用以切换该待测芯片选择性电气连接至该模拟信号测试 模块或自动测试机台接头。
4.如权利要求2所述的用于测试载板的模拟测试装置，其特征在于，该自动测试机台 是高阶自动测试机台或是低阶自动测试机台。
5.如权利要求1所述的用于测试载板的模拟测试装置，其特征在于，该模拟信号测试 模块更包括至少一模拟数字转换单元，连接该高速连接器，以接收一模拟测试信号，并将该模拟测 试信号转换成一数字测试信号；一数字信号处理单元，其连接该模拟数字转换单元，并接收分析该数字测试信号，以侦 测该数字测试信号的信号品质；以及一可调变频率产生器，其连接该数字信号处理单元，以提供该数字信号处理单元所需 的时脉信号。
6.如权利要求1所述的用于测试载板的模拟测试装置，其特征在于，该模拟信号测试 模块活动插拔式插设于该测试载板上。
专利摘要本实用新型提供了一种用于测试载板的模拟测试装置，其包含有一测试载板，于其上供安装至少一待测芯片；并在测试载板上设有一模拟信号测试模块，其利用内建的高速连接器电气连接至待测芯片，以进行模拟信号测试。在测试载板上更设有一自动测试机台接头，其电气连接至待测芯片，使待测芯片可利用自动测试机台接头连接至一自动测试机台，以进行断路短路测试。因此，本实用新型通过此模块化设计，来完成待测元件的相关测试，不但可提高测试机台的使用稼动率，也能降低测试载板复杂度，以大幅降低其测试成本，更可适用于各种测试机台。
文档编号G01R31/02GK201837697SQ20102051249
公开日2011年5月18日 申请日期2010年9月1日 优先权日2010年9月1日
发明者黄荣辉 申请人:雍智科技股份有限公司