专利名称：半导体测试的位置记录装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种半导体测试的位置记录装置，特别是涉及ー种不需使用纸张作记录的半导体测试的位置记录装置。
背景技术：
在半导体封装制造过程中，特别是对于ー些半导体矩阵式产品(例如导线架封装产品或四边扁平无引角封装产品)而言，不可能达到百分之百的良率，因此有需要对其不良品做出标示及记录，以提供给每ー工作站作为操作时的重要參考依据。在现有的技术中，上述的不良品的标示多半是在不良品上直接作出标记，并且通过人工检查及记录。一般操作人员将不良品的位置进ー步的填入纸张记录单中对应的表格字段内，然后此纸张记录单跟随此产品移至下ー个工作站。然而，这种以纸张记录的方式，除了需要耗费额外的人力作业外，也容易因为产品的矩阵数量过多而出现错误或遗漏，导致不良品的数据不正确；并且，这种纸张记录单也容易发生意外遗失的情形，导致到下ー个工作站时，缺少了不良品的资料；从而影响半导体矩阵式产品制造过程的效率与产品良率。故，有必要提供一种半导体测试的位置记录装置，以解决现有技术所存在的问题。
实用新型内容有鉴于此，本实用新型提供一种半导体测试的位置记录装置，以解决现有纸张记录单所造成的耗费人力及数据不正确或遗失的技术问题。本实用新型的主要目的在于提供一种半导体测试的位置记录装置，其边缘对应设置有两组光线发射组件及光线接收组件，并通过一遮光笔点击一不良品的顶面以遮断光线讯号的方式将所述不良品的位置记录于一计算器的记录档案内或显示于一显示单元，用以增进所述半导体矩阵式产品的不良品数据的正确性及可靠性，从而提高整体半导体矩阵式产品制造过程的效率与产品良率。为达成本实用新型的前述目的，本实用新型提供一种半导体测试的位置记录装置，其包含一基座，呈平板状，具有四个边缘，包含相对应的一第一边缘及一第三边缘，以及相对应的一第二边缘及一第四边缘，所述基座中央供放置一半导体矩阵式产品，所述产品的列方向沿所述基座的第一边缘方向并设有N个产品数量，所述产品的行方向沿所述基座的第二边缘方向并设有M个产品数量；数个第一光线发射组件及数个第一光线接收组件，分别设于所述基座的所述第一边缘及所述第三边缘并高于所述半导体矩阵式产品，每ー个所述第一发射组件沿所述基座的第二边缘方向对应ー个所述第一接收组件，所述第一光线发射组件及第一光线接收组件的数量及间距对应所述半导体矩阵式产品的列方向的所述N个产品数量；及数个第二光线发射组件及数个第二光线接收组件，分别设于所述基座的所述第二边缘及所述第四边缘并高于所述半导体矩阵式产品，每ー个所述第二发射组件沿所述基座的第一边缘方向对应ー个所述第二接收组件，所述第二光线发射组件及第ニ光线接收组件的数量及间距对应所述半导体矩阵式产品的行方向的所述M个产品数量。在本实用新型的一实施例中，所述记录装置另包含一遮光笔，点击所述半导体矩阵式产品中不良品的顶面，以遮断对应位置上的所述第一光线接收组件及所述第二光线接收组件的讯号。在本实用新型的一实施例中，所述记录装置另包含一计算器単元，连接所述第一光线接收组件及所述第二光线接收组件，记录所述半导体矩阵式产品的不良品的行列位 置。在本实用新型的一实施例中，所述记录装置另包含一显示单元，连接所述计算器単元，或连接所述第一光线接收组件及所述第二光线接收组件，将接收到的阻断讯号转换成所述不良品的行列位置，并显示出所述不良品的行列位置。在本实用新型的一实施例中，每一所述第一光线发射组件及所述第二光线发射组件分别设有一光线发射限制组件，以限制发光光束角度。在本实用新型的一实施例中，每一所述第一光线接收组件及所述第二光线接收组件分别设有一光线接收限制组件，以限制接收光束角度。在本实用新型的一实施例中，所述第一光线发射组件及所述第二光线发射组件是发光二极管。在本实用新型的一实施例中，所述遮光笔的直径大于所述第一光线发射组件及所述第二光线发射组件所发出的光线的直径。在本实用新型的一实施例中，所述显示単元是ー发光二极管显示器或一液晶显示器。在本实用新型的一实施例中，所述计算器单元另包含一液晶显示器。在本实用新型的一实施例中，所述半导体矩阵式产品是一导线架封装产品。在本实用新型的一实施例中，所述半导体矩阵式产品是一四边扁平无引角封装产品。
图I是本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置的示意图。图2是本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置的局部立体示意图。图3是本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置的作业示意图(不良品点击前)。图4是本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置的作业示意图(不良品点击后)。图5是本实用新型较佳实施例图的半导体测试的位置记录装置的作业流程图。
具体实施方式
为让本实用新型上述目的、特征及优点更明显易懂，下文特举本实用新型较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。再者，本实用新型所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是參考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本实用新型，而非用以限制本实用新型。本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置主要应用于半导体封装制造过程中的半导体矩阵式产品(例如导线架封装产品或四边扁平无引角封装产品)的不良品记录，以提供给下ー个工作站作为操作的重要參考依据。本实用新型将于下文利用图I至5逐一详细说明较佳实施例的组成及运作原理。请參照图I及2所示，图I掲示本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置的示意图；及图2掲示本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置的局部立体示意图。本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置100主要包含一基座10、数个第一光线发射组件21、数个第一光线接收组件22、数个第二光线发射组件31及数个第ニ光线接收组件32。另外所述位置记录装置100另包含一遮光笔40、一计算器単元50及一显示单元60。如图I及2所示,所述基座10呈平板状,其具有四个边缘,包含相对应的一第一边 缘11及一第三边缘13，以及相对应的一第二边缘12及一第四边缘14。所述基座10中央供放置一半导体矩阵式产品70，其列方向71沿所述基座10的第一边缘31方向并设有N个产品数量，其行方向72沿所述基座的第二边缘32方向并设有M个产品数量。在本实施例中，所述半导体矩阵式产品70是以ー个数组N = 8, M = 6的导线架封装产品为例子，但并非用以限制本实用新型，使用者可依实际使用情形，设计成适用各种尺寸及行列数量的所述半导体矩阵式产品70的位置记录装置100。如图I及图2所示，所述数个第一光线发射组件21及所述数个第一光线接收组件22分别设于所述基座10的所述第一边缘11及所述第三边缘13，并高于所述半导体矩阵式产品70，每ー个所述第一发射组件21沿所述基座的第二边缘12方向对应ー个所述第一接收组件22，所述第一光线发射组件21及所述第一光线接收组件22的数量及间距对应所述半导体矩阵式产品70的列方向71的所述N个产品数量。另外，所述数个第二光线发射组件31及所述数个第二光线接收组件32分别设于所述基座10的所述第二边缘12及所述第四边缘14，井高于所述半导体矩阵式产品70，每ー个所述第二发射组件31沿所述基座的第ー边缘11方向对应ー个所述第二接收组件32，所述第二光线发射组件31及所述第二光线接收组件32的数量及间距对应所述半导体矩阵式产品70的行方向72的所述M个产品数量。如图I及图2所示，本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置100的所述遮光笔40用于点击所述半导体矩阵式产品70中不良品；所述计算器単元50连接所述第一光线接收组件22及所述第二光线接收组件32，负责记录所述半导体矩阵式产品70的不良品的行列位置，并可与其它工作站台交換所述不良品记录。所述显示単元60连接所述计算器単元50，或直接连接所述第一光线接收组件22及所述第二光线接收组件32 (未绘示)，将接收到的阻断讯号转换成所述不良品的行列位置，并显示出所述不良品的行列位置。请參照图3、4及5所示，图3掲示本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置的作业示意图(不良品点击前)；图4掲示本实用新型较佳实施例的半导体测试的位置记录装置的作业示意图(不良品点击后)；以及图5掲示本实用新型较佳实施例图的半导体测试的位置记录装置的作业流程图。[0034]本实用新型较佳实施例图的半导体矩阵式产品70的位置记录装置的作业流程如下SOl :将待选出不良品的半导体矩阵式产品70置于所述位置记录装置100的所述基座10上，并以所述计算器単元50读入前一工作站的资料。由于每ー个半导体矩阵式产品70都会跟随一个计算器的记录档案(未绘示)，因此在进行不良品位置记录作业前，需先将此记录档案读入。如图3所示，在尚未进行点击前，每ー个所述第一光线接收组件22可以接收到对应的所述第一光线发射组件21的讯号；以及每一个所述第二光线接收组件32可以接收到对应的所述第二光线发射组件31的讯号。同时，所述显示単元60显示尚无不良品被选取。S02 以所述遮光笔40点击所述半导体矩阵式产品70中一不良品73的顶面。通常，所述不良品73可能在上个工作站事先以显目的顔色标记在其顶面。如图4所示，在本步骤中，操作人员以所述遮光笔40点击这些被标记出的所述不良品73，当所述遮光笔40点击某位置的所述不良品73的瞬间，所述遮光笔40遮断了此位置所对应的所述第一光线接 收组件22及所述第二光线接收组件32的讯号。此时，所述显示単元60可侦测到此ー组中断的讯号，以获得所述不良品73的行列位置，并显示于所述显示单元60上。另外，此步骤可重复执行以选取出所有的不良品73的位置。S03 :将所有不良品70的位置读入所述计算器単元50内。所述计算器単元50通过所述计算器的记录档案记录了所述半导体矩阵式产品70中所有不良品73的行列位置。S04 :所述计算器単元50将所述计算器的记录档案传送至下一工作站。因此，本实用新型的所述位置记录装置100通过在所述半导体矩阵式产品70的所述不良品73的顶面直接点击，就能将这些不良品73的行列位置记录在所述计算器的记录档案中，用以增进所述半导体矩阵式产品70的不良品73数据的正确性及可靠性，从而提高整体半导体矩阵式产品70制造过程的效率与产品良率。优选的，所述第一光线发射组件21及所述第二光线发射组件31可选自发光二极管；以及所述第一光线接收组件22及所述第二光线接收组件32可选自感应光电开关。并且，所述遮光笔40直径应大于所述第一光线发射组件21及所述第二光线发射组件31所发出的光线，以充份阻断光线讯号。另外，所述第一光线发射组件21及所述第二光线发射组件31可设有光线限制组件(未绘示)，以限制发光光束角度；以及所述第一光线接收组件22及所述第二光线接收组件32可设有光线限制组件(未绘示)，以限制接收光束角度。再者，所述计算器単元50可另包含一液晶显示器(未绘示)，以方便使用者操作所述计算器単元50 ;所述显示単元60可选自ー发光二极管显示器或一液晶显示器。综上所述，相较于现有以纸张记录单记录半导体矩阵式产品不良品位置的方式，导致耗费人力及数据不正确或遗失的技术问题，图I至5的本实用新型是提供一种半导体矩阵式产品70的位置记录装置100，其边缘对应设置有两组光线发射组件21，31及光线接收组件22，32，并通过一遮光笔40点击ー不良品70的顶面以遮断光线讯号的方式将所述不良品73的位置记录于一计算器的记录档案内，用以增进所述半导体矩阵式产品70的不良品73数据的正确性及可靠性，从而提高整体半导体矩阵式产品70制造过程的效率与产品良率。[0043]本实用新型已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本实用新型的范例。必需指出的是，已公开的实施例并未限制本实用新型的范围。相反地，包含于权利要求书的精神及范围的修改及均等设置均包括 于本实用新型的范围内。
权利要求1.一种半导体测试的位置记录装置，其特征在于所述记录装置包含一基座，呈平板状，具有四个边缘，包含相对应的一第一边缘及一第三边缘，以及相对应的一第二边缘及一第四边缘，所述基座中央供放置一半导体产品，所述产品的列方向沿所述基座的第一边缘方向并设有N个产品数量，所述产品的行方向沿所述基座的第二边缘方向并设有M个产品数量；数个第一光线发射组件及数个第一光线接收组件，分别设于所述基座的所述第一边缘及所述第三边缘并高于所述半导体产品，每ー个所述第一发射组件沿所述基座的第二边缘方向对应ー个所述第一接收组件，所述第一光线发射组件及第一光线接收组件的数量及间距对应所述半导体产品的列方向的所述N个产品数量；及 数个第二光线发射组件及数个第二光线接收组件，分别设于所述基座的所述第二边缘及所述第四边缘并高于所述半导体产品，每ー个所述第二发射组件沿所述基座的第一边缘方向对应ー个所述第二接收组件，所述第二光线发射组件及第ニ光线接收组件的数量及间距对应所述半导体产品的行方向的所述M个产品数量。
2.如权利要求I所述的半导体测试的位置记录装置，其特征在于所述记录装置另包含一遮光笔，点击所述半导体产品中不良品的顶面，以遮断对应位置上的所述第一光线接收组件及所述第二光线接收组件的讯号。
3.如权利要求I所述的半导体测试的位置记录装置，其特征在于所述记录装置另包含一计算器単元，连接所述第一光线接收组件及所述第二光线接收组件，记录所述半导体产品的不良品的行列位置。
4.如权利要求I所述的半导体测试的位置记录装置，其特征在于所述记录装置另包含一显示单元，连接所述计算器単元，或连接所述第一光线接收组件及所述第二光线接收组件，将接收到的阻断讯号转换成所述不良品的行列位置，并显示出所述不良品的行列位置。
5.如权利要求I所述的半导体测试的位置记录装置，其特征在于每一所述第一光线发射组件及所述第二光线发射组件分别设有一光线发射限制组件，以限制发光光束角度。
6.如权利要求I所述的半导体测试的位置记录装置，其特征在于每一所述第一光线接收组件及所述第二光线接收组件分别设有一光线接收限制组件，以限制接收光束角度。
7.如权利要求I所述的半导体测试的位置记录装置，其特征在于所述第一光线发射组件及所述第二光线发射组件是发光二极管。
8.测试的位置记录装置如权利要求I所述的半导体测试的位置记录装置，其特征在干所述遮光笔的直径大于所述第一光线发射组件及所述第二光线发射组件所发出的光线的直径。
9.如权利要求I所述的半导体测试的位置记录装置，其特征在于所述显示单元是一发光二极管显示器或一液晶显示器。
10.如权利要求I所述的半导体测试的位置记录装置，其特征在于所述半导体产品是一导线架封装产品或一四边扁平无引角封装产品。
专利摘要本实用新型提供一种半导体测试的位置记录装置，其包含一基座、数个第一光线发射组件、数个第一光线接收组件、数个第二光线发射组件、数个第二光线接收组件、一遮光笔、一计算器单元及一显示单元。所述基座边缘对应设置有上述两组光线发射组件及光线接收组件，并通过所述遮光笔点击一不良品的顶面以遮断光线讯号的方式将所述不良品的位置记录于所述计算器单元的记录档案内或显示于所述显示单元，用以增进所述半导体矩阵式产品的不良品数据的正确性及可靠性，从而提高整体半导体矩阵式产品制造过程的效率与产品良率。
文档编号G01D9/04GK202420520SQ201220002889
公开日2012年9月5日 申请日期2012年1月4日 优先权日2012年1月4日
发明者吴政鸿, 张云龙, 李金松, 黄清泰 申请人:日月光半导体制造股份有限公司