一种模拟真实环境的rf测试治具的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及RF测试【技术领域】，具体的说是一种模拟真实环境的RF测试治具，其特征在于：RF测试治具由测试箱体、产品定位槽、端子测试头、测试架、吸波材料以及发射架构成，该测试箱体的若干棱由测试架组成，所述测试箱体的若干内/外表面由吸波材料覆盖；测试箱体内安装发射架，在测试箱体的顶部中央设有产品定位槽，所述产品定位槽的侧旁设有端子测试头。本实用新型具有以下优点：一、测试性能一致性好：产品在这样的环境中测试，一致性会非常小，另外也不受到外界的影响；可以试用于各种类似产品的测试。二、精度可以更好：因为排除了外界电磁信号的干扰，因此测试的频段可以放在比较窄的范围内，电压驻波比完全可以满足到1.0左右。
【专利说明】一种模拟真实环境的RF测试治具[【技术领域】]
[0001]本实用新型涉及RF测试【技术领域】，具体的说是一种模拟真实环境的RF测试治具。[【背景技术】]
[0002]RF是Radio Frequency的缩写，表示可以福射到空间的电磁频率，频率范围从300KHz~30GHz之间。RF射频即射频电流，是一种高频交流变化电磁波，而每秒变化小于1000次的交流电称为低频电流，大于10000次的称为高频电流。目前在天线的加工和组装中，很关键的一道工艺是对产品的RF进行测试；但是目前RF测试都是在敞开的空间进行并且给的频段范围也是比较大，在敞开的空间测试不但受到外界环境的影响，而且还受到外界信号的干扰，会对产品的整体频段造成一定的影响。
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【发明内容】
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[0003]本实用新型的目的在于克服现有RF测试存在的干扰问题，提供一种可以模拟真实环境、在暗室条件下进行RF测试的治具，其测试数值较为固定和精确，对于后续产品的调试和判断都有很高的参考价值。
[0004]为实现上述目的，设计一种模拟真实环境的RF测试治具，其特征在于:所述RF测试治具由测试箱体、产品定位槽、端子测试头、测试架、吸波材料以及发射架构成，测试箱体的设立目的是为了形成一个模拟暗室环境，该测试箱体的若干棱由测试架组成，所述测试箱体的若干内/外表面由吸波材料覆盖；吸波材料可以有效的阻止外界电磁和其他信号的干扰，这样可以有效的阻止因为外界信号影响造成的RF偏移，更可以有效的阻止外界信号进入和对产品天线性能的影响。在上述测试箱体内安装发射架，在测试箱体的顶部中央设有产品定位槽，所述产品定位槽的侧旁设有端子测试头。
[0005]所述测试箱体 的顶部设有接地天线，使得测试箱体内部形成密闭暗室空间，这样测试出来的信号是比较准确。
[0006]所述产品定位槽的中央设有通孔，所述通孔与发射架的中心共线。
[0007]所述通孔连接向下延伸的孔道，所述孔道延伸入测试箱体内。
[0008]所述端子测试头采用倒立的L字形，所述端子测试头的棱线上设有滑轨，所述滑轨上嵌入固定待测产品的线缆。
[0009]与现有技术相比，本实用新型具有以下优点:
[0010]一、测试性能一致性好:产品在这样的环境中测试，一致性会非常小，另外也不受到外界的影响；可以试用于各种类似产品的测试。
[0011]二、精度可以更好:因为排除了外界电磁信号的干扰，因此测试的频段可以放在比较窄的范围内，电压驻波比(VSWR=Voltage Standing Wave Ratio)完全可以满足到1.0左右。
[【专利附图】
【附图说明】][0012]图1为本实用新型测试治具的立体图；
[0013]图2为本实用新型测试治具的俯视图；
[0014]图中1.产品定位槽；2.端子测试头；3.测试架；4.吸波材料；5.发射架。
[【具体实施方式】]
[0015]现在结合附图及具体实施例对本实用新型的技术方案作进一步阐述，相信本装置的结构对本领域技术人员来说是清楚的。
[0016]如图1所示的模拟真实环境的RF测试治具，由测试箱体、产品定位槽1、端子测试头2、测试架3、吸波材料4以及发射架5构成，
[0017]首先，测试箱体是由12根测试架3搭建成正方体结构，测试架3即作为正方体的若干棱；接着用吸波材料4覆盖上述正方体测试箱体，使得测试箱体的所有内/外表面均由吸波材料4覆盖；
[0018]其次，发射架5安装在测试箱体内部的底面中央，目的是为了向顶部的产品定位槽中发射信号。
[0019]接着，在测试箱体的顶部中央安装产品定位槽1，产品定位槽I的中央开有通孔，该通孔的中心与发射架5的中心共线。并将通孔的下表面连接固定一个向下延伸的孔道，将孔道延伸入测试箱体内。
[0020]然后，在产品定位槽I的侧旁固定一个倒立L字形的端子测试头2，如图2所示，所述端子测试头2的棱线上安装有滑轨，该滑轨用于嵌入固定待测产品的线缆。
[0021]最后，在测试箱体的顶部设有接地天线，使得测试箱体内部形成密闭暗室空间。
[0022]其工作原理:
[0023]将待测产品放入产品定位槽I内，线缆固定在端子测试头2的滑轨上面，这样不同产品的不同线缆都可以完成测量。在测试架3、吸波材料4构成的接近暗室一样的测试箱体中，通过放入的发射架5，模拟出一个立体的测试环境下，进行RF测试。
【权利要求】
1.一种模拟真实环境的RF测试治具，其特征在于:所述RF测试治具由测试箱体、产品定位槽、端子测试头、测试架、吸波材料以及发射架构成，所述测试箱体的若干棱由测试架组成，所述测试箱体的若干内/外表面由吸波材料覆盖；所述测试箱体内设有发射架，所述测试箱体的顶部中央设有产品定位槽，所述产品定位槽的侧旁设有端子测试头。
2.如权利要求1所述的一种模拟真实环境的RF测试治具，其特征在于:所述测试箱体的顶部设有接地天线，使得测试箱体内部形成密闭暗室空间。
3.如权利要求1所述的一种模拟真实环境的RF测试治具，其特征在于:所述产品定位槽的中央设有通孔，所述通孔与发射架的中心共线。
4.如权利要求3所述的一种模拟真实环境的RF测试治具，其特征在于:所述通孔连接向下延伸的孔道，所述孔道延伸入测试箱体内。
5.如权利要求1所述的一种模拟真实环境的RF测试治具，其特征在于:所述端子测试头采用倒立的L字形，所述端子测试头的棱线上设有滑轨，所述滑轨上嵌入固定待测产品的线缆。
【文档编号】G01R29/10GK203672980SQ201320890964
【公开日】2014年6月25日 申请日期:2013年12月31日 优先权日:2013年12月31日
【发明者】朱思宇, 李立玉, 黄玲 申请人:上海煜鹏通讯电子有限公司