核检测仪器平面源校准装置制造方法
【专利摘要】一种核检测仪器平面源校准装置，包括底板（1）、滑杆（2）、面源板（3）、螺杆把手（4）、滑块（5）、左滑板（6）、螺杆（7）、右滑板（8）、手轮(9)，其中，面源板(3)放置在滑块(5)上面，螺杆把手(4)通过其上的螺杆与滑块(5)内的螺纹孔连接，滑块（5）上的面源板（3）可随螺杆把手（4）的旋转上下升降，即可方便地调节面源板与核检测仪器下面的感应面之间高度距离H，通过滑块（5）的固定支架旁边的刻度线可精准的确定高度距离H，从而快捷地对核仪器进行校准。本实用新型可自动调节核检测仪器与平面源之间的高度距离H，且校准方便快捷。
【专利说明】核检测仪器平面源校准装置
【技术领域】
[0001]本发明属于核检测仪器计量领域，具体涉及一种核电站核检测仪器平面源校准装置。
【背景技术】
[0002]一般核检测仪器使用之前，需要对核仪器，例如数据参数、检测范围、灵敏度进行校准，让仪器达到用户需要的标准。而这样的校准，就需要放射源，比如平面源(一般平面源大小为170 X 120mm)来进行校正。
[0003]先将面源放置平面上，然后将需使用的核检测仪器，垂直于面源方向并靠近。不同的高度距离H，仪器所检测到的数据就不一样。
[0004]根据用户的使用环境，和使用需求的不同，核检测仪器所需要的灵敏度、检测范围就不一样。
[0005]最后根据仪器使用要求，设定好高度距离H，来修正核仪器的检测范围、灵敏度等，使之达到用户需要。
[0006]目前一般的核检测仪器平面源校准装置，放置平面源的面源板，都无法自动调整面源板与核检测仪器下面的感应面之间的高度距离H，只有不断地更换面源板厚度，来达到高度距离H的调节，这样的装置笨重且操作繁琐，校准的精准度不高。
【发明内容】
[0007]本发明的目的就是为了克服上述【背景技术】的不足，提供一种核检测仪器平面源校准装置，该装置可自动调节核检测仪器与平面源之间的高度距离H，且校准方便快捷。
[0008]本发明所涉及的一种核检测仪器平面源校准装置，包括底板1、滑杆2、面源板3、螺杆把手4、滑块5、左滑板6、螺杆7、右滑板8、手轮9，其中，面源板3放置在滑块5上面，螺杆把手4通过其上的螺杆与滑块5内的螺纹孔连接，滑块5上的面源板3可随螺杆把手4的旋转上下升降，即可方便地调节面源板与核检测仪器下面的感应面之间高度距离H，通过滑块5的固定支架旁边的刻度线可精准的确定高度距离H，从而快捷地对核仪器进行校准。
[0009]本发明的一种核检测仪器平面源校准装置，可自动调节核检测仪器与平面源之间的高度距离H，且校准方便快捷。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1为本发明的平面源校准装置结构示意图，
[0011]图2为本发明的平面源校准装置使用状态示意图，
[0012]上述图中:1、底板；2、滑杆；3、面源板；4、螺杆把手；5、滑块；6、左滑板；7、螺杆；
8、右滑板；9手轮。
【具体实施方式】[0013]下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
实施例
[0014]本实施例是对应用于防城港核电站的α、Y型核检测仪器的平面源校准装置。其结构如图1所示，该平面源校准装置包括底板1、滑杆2、面源板3、螺杆把手4、滑块5、左滑板6、螺杆7、右滑板8、手轮9，其中，面源板3放置在滑块5上面，螺杆把手4通过其上的螺杆与滑块5内的螺纹孔连接，滑块5上的面源板3可随螺杆把手4的旋转上下升降，即可方便地调节面源板与核检测仪器下面的感应面之间高度距离H，通过滑块5的固定支架旁边的刻度线可精准的确定高度距离H，从而快捷地对核仪器进行校准。
[0015]本实施例的平面源校准装置的原理:如图2所示，面源板3由滑块5支撑，滑块5内有螺纹孔，将螺杆把手4旋入滑块5内的螺纹孔中并固定，这样随着螺杆把手4顺时针或逆时针旋转，面源板3就能上下升降，调节面源板3跟核检测仪器之间高度距离H，再根据滑块5的固定支架旁边的刻度线，即可精准的确定左右滑块高度距离H，从而实现快捷地对核检测仪器进行校准。
[0016]对于校准不同体积大小的核检测仪器，可以转动手轮9，使左滑板6、右滑板8，在螺杆7螺纹的驱使下，向内合拢，或者是向外展开，这样以来，不同大小的核监测仪器，就能在此装置上校准。
[0017]本实施例表明，本发明所涉及的一种核检测仪器平面源校准装置，可自动调节核检测仪器与平面源之间的高度距离H，且校准方便快捷。
【权利要求】
1.一种核检测仪器平面源校准装置，包括底板(I)、滑杆(2)、面源板(3)、螺杆把手(4)、滑块(5)、左滑板(6)、螺杆(7)、右滑板(8)、手轮(9)，其特征是:面源板(3)放置在滑块(5)上面，螺杆把手(4)通过其上的螺杆与滑块(5)内的螺纹孔连接，滑块(5)上的面源板(3)可随螺杆把手(4)的旋转上下升降，即可方便地调节面源板与核检测仪器下面的感应面之间高度距离H，通过滑块(5)的固定支架旁边的刻度线可精准的确定高度距离H，从而快捷地对核仪器进行校准。
【文档编号】G01T7/00GK203773066SQ201420141221
【公开日】2014年8月13日 申请日期:2014年3月27日 优先权日:2014年3月27日
【发明者】马盛 申请人:国营第七五九厂