一种工件测试设备的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种工件测试设备，所述设备包括顶起器、用于放置被测工件的第一托盘和用于对到达测试位置的被测工件进行测试的测试装置；所述顶起器的顶板能够顶起所述第一托盘，使所述第一托盘沿顶起方向运动以使所述被测工件达到测试位置；所述第一托盘设置有定位孔，所述顶板设置有定位突起，所述定位孔和所述定位突起的位置相对应，当所述顶板与所述第一托盘接触时，所述定位突起进入所述定位孔，对所述第一托盘进行限位。
【专利说明】一种工件测试设备
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试技术，尤其涉及一种工件测试设备。
【背景技术】
[0002]目前，电子产品中一般都具有天线功能用以接收和发送电子信号、传送信息。为保证天线功能工作效果良好，需要对电子产品的天线功能进行测试。
[0003]在对天线进行测试的过程中，尤其在高频状态下对天线进行测试时，对天线与天线测试线路板的对位精度要求非常高，以确保更优的测试精度。
[0004]目前采用的对位方案中，主要通过顶起器顶起活动托盘、使得放置于活动托盘上的待测天线随着活动托盘的位置变化与天线测试线路板对位。在这种情况下进行测试时，往往由于传送带及顶起器的操作精度问题、以及高频状态下测试设备的振动问题，使得活动托盘位移，导致对位精度低，从而使测试结果存在偏差，影响天线测试结果的可信度。
实用新型内容
[0005]有鉴于此，为解决现有技术存在的技术问题，本发明实施例提供一种工件测试设备。
[0006]本实用新型提供了一种工件测试设备，所述设备包括顶起器、用于放置被测工件的第一托盘和用于对到达测试位置的被测工件进行测试的测试装置；
[0007]所述顶起器的顶板能够顶起所述第一托盘，使所述第一托盘沿顶起方向运动以使所述被测工件达到测试位置；
[0008]所述第一托盘设置有定位孔，所述顶板设置有定位突起，所述定位孔和所述定位突起的位置相对应，当所述顶板与所述第一托盘接触时，所述定位突起进入所述定位孔，对所述第一托盘进行限位。
[0009]其中，所述定位孔为圆孔，所述定位孔的数量为至少两个；
[0010]所述定位突起为圆柱形突起，所述定位突起的数量与所述定位孔的数量一致，所述圆柱形突起的直径与所述圆孔的内径相匹配，所述圆柱形突起的高度小于等于所述圆孔的深度。
[0011]其中，所述定位孔的数量为两个，所述定位孔分别位于所述第一托盘的对称轴的两侧。
[0012]其中，所述定位孔为内多边形孔，所述定位孔的数量为至少一个；
[0013]所述定位突起的形状与所述定位孔相匹配，所述定位突起的数量与所述定位孔的数量一致，所述定位突起的高度小于等于所述定位孔的深度。
[0014]其中，所述定位孔为内正多边形孔，所述定位孔的数量为至少一个；
[0015]所述定位突起的形状与所述定位孔相匹配，所述定位突起的数量与所述定位孔的数量一致，所述定位突起的高度小于等于所述定位孔的深度。
[0016]其中，所述定位孔为通孔或盲孔。
[0017]其中，所述设备还包括传送带和第二托盘；
[0018]所述传送带固定连接所述第二托盘，所述传送带能够带动所述第二托盘沿传送方向运动；
[0019]所述第二托盘内部中空，中空部位放置所述第一托盘，所述中空部位的形状和尺寸与所述第一托盘吻合。
[0020]其中，所述测试装置包括测试线路板、支撑架和测试箱；
[0021]所述测试线路板通过所述支撑架放置并固定于所述测试箱内，所述支撑架设置有测试探针，所述测试探针与所述测试线路板连接，所述测试探针位于所述测试箱的外部，当所述被测工件到达测试位置时，所述测试探针与所述被测工件接触。
[0022]其中，所述顶起器还包括支撑杆，所述支撑杆的顶部设置顶板，所述支撑杆在外力作用下向上运动使所述顶板顶起。
[0023]其中，所述测试箱固定设置于所述传送带的上方，当所述顶起器处于初始状态时，所述顶板位于所述传送带的下方，当所述传送带将所述第一托盘传送至所述顶起器的正上方时，所述顶起器进入顶起状态；
[0024]所述测试箱、所述第一托盘、所述顶板和所述支撑杆的垂直中心线重合。
[0025]由上可知，本实用新型的技术方案包括:所述设备包括顶起器、用于放置被测工件的第一托盘和用于对到达测试位置的被测工件进行测试的测试装置；所述顶起器的顶板能够顶起所述第一托盘，使所述第一托盘沿顶起方向运动以使所述被测工件达到测试位置；所述第一托盘设置有定位孔，所述顶板设置有定位突起，所述定位孔和所述定位突起的位置相对应，当所述顶板与所述第一托盘接触时，所述定位突起进入所述定位孔，对所述第一托盘进行限位；由此，可以避免第一托盘位移，从而提高对位精度。
【专利附图】
【附图说明】
[0026]图1为本实用新型的工件测试设备的第一实施例的一结构示意图；
[0027]图2为本实用新型的工件测试设备的第一实施例的另一结构示意图；
[0028]图3为本实用新型的工件测试设备的第一托盘的一实施例的俯视图；
[0029]图4为本实用新型的工件测试设备的顶板的一实施例的俯视图；
[0030]图5为本实用新型的工件测试设备的第一托盘的另一实施例的俯视图；
[0031]图6为本实用新型的工件测试设备的顶板的另一实施例的俯视图；
[0032]图7为本实用新型的工件测试设备的第二实施例的一结构示意图；
[0033]图8为本实用新型的工件测试设备的第二实施例的另一结构示意图。
【具体实施方式】
[0034]本实用新型提供的一种工件测试设备的第一实施例，如图1所示，所述设备包括顶起器10、用于放置被测工件的第一托盘20和用于对到达测试位置的被测工件进行测试的测试装置30 ;这里，所述被测工件可以是包括天线的电子产品。
[0035]所述顶起器10的顶板101能够顶起所述第一托盘20，如图2所示，使所述第一托盘20沿顶起方向运动以使所述被测工件达到测试位置，这里，所述顶起方向可以是垂直方向；
[0036]所述第一托盘20设置有定位孔201，所述顶板101设置有定位突起102，所述定位孔201和所述定位突起102的位置相对应，当所述顶板101与所述第一托盘20接触时，所述定位突起102进入所述定位孔201，对所述第一托盘20进行限位。这里，所述定位孔201为通孔或盲孔，所述定位突起102可以是定位销钉。
[0037]在一实施例中，如图3所示，所述定位孔201为圆孔，所述定位孔201的数量为至少两个；在实际应用中，为确保限位的效果可以设置三个定位孔201，所述三个定位孔201的连线可以呈三角形，较佳地，可以呈正三角形。
[0038]所述定位突起102为圆柱形突起,如图4所示,所述定位突起102的数量与所述定位孔201的数量一致，所述圆柱形突起的直径与所述圆孔的内径相匹配，需要说明的是，所述圆柱形突起的直径可以略小于所述圆孔的内径，确保所述圆柱形突起能够顺利进入所述圆孔，且二者之间的间隙小于预设值，以避免所述圆柱形突起和所述圆孔之间产生相对位移。所述圆柱形突起的高度小于等于所述圆孔的深度。所述定位突起102可完整的进入所述定位孔201，且不影响第一托盘20平面的平整度。
[0039]在一实施例中，参见图3所示,所述定位孔201的数量为两个,所述定位孔201分别位于所述第一托盘20的对称轴的两侧。较佳地，所述两个定位孔201的连线可以与所述对称轴垂直。
[0040]在一实施例中，如图5所示，所述定位孔201为内多边形孔，如三角形、六边形等，所述定位孔201的数量为至少一个；在实际应用中，为确保限位的效果可以设置两个定位孔201，所述两个定位孔201可以分别位于所述第一托盘20的对称轴的两侧，较佳地，所述两个定位孔201的连线可以与所述对称轴垂直。
[0041]所述定位突起102的形状与所述定位孔201相匹配，如图6所示，确保所述定位突起102能够顺利进入所述定位孔201，且二者之间的间隙小于预设值，以避免所述定位突起102和所述定位孔201之间产生相对位移。所述定位突起102的数量与所述定位孔201的数量一致，所述定位突起102的高度小于等于所述定位孔201的深度。可以理解是，当所述定位孔201为通孔时，所述定位突起102的高度可以略大于所述定位孔201的深度，只要高出的部分不影响所述被测工件的测试即可。
[0042]在一实施例中，所述定位孔201为内正多边形孔，例如正三角形、正六边形等，所述定位孔201的数量为至少一个；
[0043]所述定位突起102的形状与所述定位孔201相匹配，确保所述定位突起102能够顺利进入所述定位孔201，且二者之间的间隙小于预设值，以避免所述定位突起102和所述定位孔201之间产生相对位移。所述定位突起102的数量与所述定位孔201的数量一致，所述定位突起102的高度小于等于所述定位孔201的深度。
[0044]本实用新型提供的一种工件测试设备的第二实施例，如图7所示，所述设备包括顶起器10、用于放置被测工件的第一托盘20和用于对到达测试位置的被测工件进行测试的测试装置30 ；
[0045]所述顶起器10的顶板101能够顶起所述第一托盘20，如图8所示，使所述第一托盘20沿顶起方向运动以使所述被测工件达到测试位置，这里，所述顶起方向可以是垂直方向；
[0046]所述第一托盘20设置有定位孔201，所述顶板101设置有定位突起102，所述定位孔201和所述定位突起102的位置相对应，当所述顶板101与所述第一托盘20接触时，所述定位突起102进入所述定位孔201，对所述第一托盘20进行限位。
[0047]所述设备还包括传送带30和第二托盘40 ；
[0048]所述传送带30固定连接所述第二托盘40，所述传送带30能够带动所述第二托盘40沿传送方向运动，这里要说明的是，所述传送方向可以与所述顶起方向相互垂直，所述传送方向可以是水平方向；可以理解的是，在实际应用中，所述传送方向与所述顶起方向之间的夹角也可以呈其他角度，只要能够保证测试的正常进行即可，夹角的具体数值则可以根据实际情况确定。
[0049]所述第二托盘40内部中空，中空部位放置所述第一托盘20，所述中空部位的形状和尺寸与所述第一托盘20吻合。所述第一托盘20可随第二托盘40在传送方向上运动。从而，可通过传送带30的运动沿传送方向传送所述被测工件；
[0050]在一实施例中，所述测试装置30包括测试线路板、支撑架和测试箱301 ;所述测试线路板、支撑架的位置可以根据实际情况确定，图7和图8中未示出所述测试线路板、支撑架的位置。
[0051]所述测试线路板通过所述支撑架放置并固定于所述测试箱301内，所述支撑架设置有测试探针302，所述测试探针302与所述测试线路板连接，所述测试探针302位于所述测试箱301的外部，当所述被测工件到达测试位置时，所述测试探针302与所述被测工件接触，参见图8所示。
[0052]在一实施例中，所述顶起器10还包括支撑杆103，所述支撑杆103的顶部设置顶板101，所述支撑杆103在外力作用下向上运动使所述顶板101顶起，直至预定位置，即所述被测工件与所述测试探针302接触的位置。
[0053]在一实施例中，所述测试箱301固定设置于所述传送带30的上方，当所述顶起器10处于初始状态时，参见图7所示，所述顶板101位于所述传送带30的下方，当所述传送带30将所述第一托盘20传送至所述顶起器10的正上方时，所述顶起器10进入顶起状态，参见图8所示；
[0054]所述测试箱301、所述第一托盘20、所述第二托盘40、所述顶板101和所述支撑杆103的垂直中心线重合。
[0055]下面对本实用新型提供的工件测试设备的工作过程进行介绍。
[0056]最初，第一托盘20和第二托盘40位于传送带30的输入端，所述被测工件放置于第一托盘20的上表面；
[0057]此后，第一托盘20和第二托盘40随传送带30沿水平方向(即X轴方向)被传送至顶起器10的正上方位置(即测试位)并停止，且第一托盘20被叠放于顶起器10的顶板101之上；
[0058]之后，顶起器10的支撑杆103在外力作用下沿支撑杆103的轴向方向(即Z轴方向)向测试箱301靠近，并带动顶板101、放置于顶板101之上的第一托盘20以及被测工件同向运动。
[0059]当被测工件接触到测试探针302后，所述顶起器10的支撑杆103停止运动，测试系统开始测试，参见图8所示；
[0060]测试完毕，顶起器10的支撑杆103带动第一托盘20及被测工件下降，使第一托盘20重新回复至第二托盘40的中空部位。
[0061]最后,传送带30带动第二托盘40、进而带动第一托盘20及被测工件向传送带30的输出端运动，位于传送带30的输出端的产品收集器取走已测试完毕的被测工件。
[0062]该被测工件测试完成后，下一个被测工件在传送带30、第一托盘20和第二托盘40带动下进入测试位，进行下一个被测工件的测试，直至所有测试任务完成。
[0063]在上述测试过程中，测试探针302接触到被测工件并开始测试时，对被测工件与测试电路板的对位精度要求极高。如果顶起器10的顶板101与第一托盘20之间仅通过表面直接接触而相互连接，在顶起器10的支撑杆103通过顶起器10的顶板101带动第一托盘20和被测工件向测试箱301靠近的过程中，第一托盘20可能相对于顶起器10的顶板101沿二者接触面方向发生位移，从而影响最终的对位；并且，在开始测试的过程中，由于在高频状态下测试设备的振动也可能导致第一托盘20沿接触面方向产生位移，从而影响被测工件的对位。
[0064]本实用新型在第一托盘20进入测试位、且第一托盘20与顶起器10的顶板101叠放时，定位孔201与定位突起102的位置各自对应；在顶起器10顶起的过程中，定位突起102完全穿入定位孔201中，使得顶起器10的顶板101与第一托盘20栓接。
[0065]这种栓接的连接方式能够有效防止顶起器10的顶板101与第一托盘20之间的位移，有效提高了定位精度，使得测试结果更加准确可信。
[0066]以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用于限定本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种工件测试设备，其特征在于，所述设备包括顶起器、用于放置被测工件的第一托盘和用于对到达测试位置的被测工件进行测试的测试装置； 所述顶起器的顶板能够顶起所述第一托盘，使所述第一托盘沿顶起方向运动以使所述被测工件达到测试位置； 所述第一托盘设置有定位孔，所述顶板设置有定位突起，所述定位孔和所述定位突起的位置相对应，当所述顶板与所述第一托盘接触时，所述定位突起进入所述定位孔，对所述第一托盘进行限位。
2.根据权利要求1所述的工件测试设备，其特征在于，所述定位孔为圆孔，所述定位孔的数量为至少两个； 所述定位突起为圆柱形突起，所述定位突起的数量与所述定位孔的数量一致，所述圆柱形突起的直径与所述圆孔的内径相匹配，所述圆柱形突起的高度小于等于所述圆孔的深度。
3.根据权利要求2所述的工件测试设备，其特征在于，所述定位孔的数量为两个，所述定位孔分别位于所述第一托盘的对称轴的两侧。
4.根据权利要求1所述的工件测试设备，其特征在于，所述定位孔为内多边形孔，所述定位孔的数量为至少一个； 所述定位突起的形状与所述定位孔相匹配，所述定位突起的数量与所述定位孔的数量一致，所述定位突起的高度小于等于所述定位孔的深度。
5.根据权利要求1所述的工件测试设备，其特征在于，所述定位孔为内正多边形孔，所述定位孔的数量为至少一个； 所述定位突起的形状与所述定位孔相匹配，所述定位突起的数量与所述定位孔的数量一致，所述定位突起的高度小于等于所述定位孔的深度。
6.根据权利要求1、2、3、4或5所述的工件测试设备，其特征在于，所述定位孔为通孔或盲孑U
7.根据权利要求1所述的工件测试设备，其特征在于，所述设备还包括传送带和第二托盘; 所述传送带固定连接所述第二托盘，所述传送带能够带动所述第二托盘沿传送方向运动； 所述第二托盘内部中空，中空部位放置所述第一托盘，所述中空部位的形状和尺寸与所述第一托盘吻合。
8.根据权利要求7所述的工件测试设备，其特征在于，所述测试装置包括测试线路板、支撑架和测试箱； 所述测试线路板通过所述支撑架放置并固定于所述测试箱内，所述支撑架设置有测试探针，所述测试探针与所述测试线路板连接，所述测试探针位于所述测试箱的外部，当所述被测工件到达测试位置时，所述测试探针与所述被测工件接触。
9.根据权利要求8所述的工件测试设备，其特征在于，所述顶起器还包括支撑杆，所述支撑杆的顶部设置顶板，所述支撑杆在外力作用下向上运动使所述顶板顶起。
10.根据权利要求9所述的工件测试设备，其特征在于，所述测试箱固定设置于所述传送带的上方，当所述顶起器处于初始状态时，所述顶板位于所述传送带的下方，当所述传送带将所述第一托盘传送至所述顶起器的正上方时，所述顶起器进入顶起状态；所述测试箱、所述第一托盘、所述顶板和所述支撑杆的垂直中心线重合。
【文档编号】G01R31/00GK203981786SQ201420181449
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2014年4月11日 优先权日:2014年4月11日
【发明者】路湘平, 李淑萍, 吴庆念, 李华祥, 刘洪友, 卢华峰, 王家兴, 徐俊峰, 罗雪华 申请人:广州光宝移动电子部件有限公司, 光宝移动有限公司