一种晶体硅组件测试辅助夹具的制作方法

文档序号:6060126阅读:121来源:国知局
一种晶体硅组件测试辅助夹具的制作方法
【专利摘要】一种晶体硅组件测试辅助夹具,包括接线盒及绝缘块,所述的绝缘块内裹覆有铜块,所述的铜块与接线盒的正负极导线相连接,所述的接线盒固定在绝缘块外端面上,本实用新型结构简单,在测试过程中仅需将待测试组件与接线盒的正负极接线头相连接,然后直接将测试仪与绝缘块的铜块相接触即可完成测试,其测试效率高,减少了人员操作程序,增加了测试效果及测试精度,同时增加了生产效率。
【专利说明】
一种晶体硅组件测试辅助夹具

【技术领域】
[0001]本实用新型涉及晶体硅晶组件在流水线上完成对晶体硅组件耐压绝缘、功率测试、成品EL检验实现自动化测试的辅助装置。

【背景技术】
[0002]目前,晶体硅组件后道工序无非进行耐压绝缘、功率和EL三种测试。这三种测试多数采用单独手工作业,即增加了人员成本,也同样降低了生产效率。
实用新型内容
[0003]为解决上述缺陷,本实用新型提供一种晶体硅组件测试辅助夹具,其结构简单,操作方便,极大的增加了晶体硅组件的测试效率,从而增加了生产效率,同时减少了人员成本。
[0004]为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:一种晶体硅组件测试辅助夹具,包括接线盒及绝缘块,所述的绝缘块内裹覆有铜块,所述的铜块与接线盒的正负极导线相连接,所述的接线盒固定在绝缘块外端面上。
[0005]与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:本实用新型结构简单,在测试过程中仅需将待测试组件与接线盒的正负极接线头相连接,然后直接将测试仪与绝缘块的铜块相接触即可完成测试,其测试效率高,减少了人员操作程序,增加了测试效果及测试精度,同时增加了生产效率。

【专利附图】

【附图说明】
[0006]下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
[0007]图1 一种晶体硅组件测试辅助夹具结构示意图。

【具体实施方式】
[0008]如图1所示,一种晶体硅组件测试辅助夹具,包括接线盒及绝缘块,所述的绝缘块内裹覆有铜块,所述的铜块与接线盒的正负极导线相连接,所述的接线盒固定在绝缘块外端面上,使用时,为方便操作,可以将本装置固定在待测试的组件上,然后将待测试组件的正负极与接线盒的正负极接头相连接即可,然后让不同的测试仪分别与绝缘块内的铜块相连接,即可完成测试。
[0009]显而易见,上述实施方式仅为本实用新型的较佳实施方式,任何在此基础上的简单改进均属于本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种晶体硅组件测试辅助夹具,包括接线盒及绝缘块,其特征在于所述的绝缘块内设置有铜块,所述的铜块与接线盒的正负极导线相连接,所述的接线盒固定在绝缘块外端面上。
【文档编号】G01R1/04GK204028123SQ201420330106
【公开日】2014年12月17日 申请日期:2014年6月20日 优先权日:2014年6月20日
【发明者】张广尧, 黄臣 申请人:润峰电力有限公司
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