技术总结
本实用新型提供了IGBT寿命测试装置，其包括：一个选择模块，其连接于复数个IGBT模块，用于选通复数个IGBT模块的其中一个或多个进行测试；一个采样模块，其用于采集所述选择模块选取的一个或多个IGBT模块的发射极集电极电压；一个调理模块，其用于接收来自所述采样模块的一个或多个IGBT模块的发射极集电极电压，并将发射极集电极电压放大；一个比较模块，其中预存有一阈值电压，所述比较模块用于接收所述调理模块放大后的发射极集电极电压与所述阈值电压进行比较，当所述放大后的发射极集电极电压小于所述阈值电压时，则判断该发射极集电极电压对应的IGBT模块失效并触发报警信号。本实用新型造价低、可靠性高，其算法简单可靠有效，并具有更高的响应速度。
技术研发人员：石磊;赵研峰;姚吉隆
受保护的技术使用者：西门子（中国）有限公司
文档号码：201621082687
技术研发日：2016.09.26
技术公布日：2017.08.11