技术总结
本实用新型公开了一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体，涉及电子产品测试领域，安装有半导体制冷装置，包括外壳体，所述外壳体内设置两个独立的内壳体，所述内壳体内从上到下依次设有限位板、活动封板以及密封环板，两个内壳体的相对面上限位板的上方均设有安装缺口，所述半导体制冷装置的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体的安装缺口处，外壳体与内壳体之间以及两个内壳体与半导体制冷装置之间的空隙处填有保温层；本实用新型的双层结构以及填充保温层的设置，加上半导体制冷装置的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体的安装缺口处的设置相结合，从而解决了现有技术中微型冷热冲击试验装置的外部壳体的设计存在的难点。
技术研发人员：陈伟民
受保护的技术使用者：惠安县长信机电科技有限公司
文档号码：201621133116
技术研发日：2016.10.18
技术公布日：2017.05.17