技术总结
本实用新型属于电子测试与测量技术领域，具体涉及一种干扰注入卡钳，包括圆环形的卡钳上盖和卡钳下壳，卡钳上盖和卡钳下壳相对而设行成卡钳壳体，卡钳壳体内部装有一个低频绕线磁芯和一个高频绕线磁芯；所述的卡钳上盖和卡钳下壳内部中心均设有环形座，低频绕线磁芯和高频绕线磁芯套设于该环形座上；所述的卡钳壳体外表面内嵌有射频连接器，这种干扰注入卡钳，测试精度高，能测试正常工作设备线缆传导抗扰能力特性，并生成设备典型工作状态下的特征模板，在典型位置施加干扰，测试线缆典型位置的抗干扰能力，快速查找出传导源故障，实现快速准确地对系统线缆抗扰能力进行测试。
技术研发人员：邱添;胡应波;张嘎
受保护的技术使用者：西安开容电子技术有限责任公司
文档号码：201621174873
技术研发日：2016.11.03
技术公布日：2017.05.03