1.一种硅通孔弱短路故障测试电路，其特征在于，所述电路包括：测试单元(101)、计数器(102)、扫描输出寄存器(103)和控制器(105)，所述测试单元(101)的信号输出端与所述计数器(102)的信号输入端连接，所述计数器(102)的信号输出端与所述扫描输出寄存器(103)的信号输入端连接，所述控制器(105)的功能控制端分别与对应的所述测试单元(101)的控制端、所述计数器(102)的控制端、所述扫描输出寄存器(103)的控制端连接，
所述控制器(105)用于控制所述电路复位、初始化、等待和采样，得到高电平脉冲信号，并将所述高电平脉冲信号传输至所述测试单元(101)，还用于控制所述测试单元(101)、所述计数器(102)和所述扫描输出寄存器(103)之间的信号传输和工作，
所述测试单元(101)用于接收由所述控制器(105)得到的所述高电平脉冲信号并对所述高电平脉冲信号测试得到连续脉冲信号并将所述连续脉冲信号经所述控制器(105)控制传输至所述计数器(102)的信号输入端，
所述计数器(102)用于接收所述连续脉冲信号并对所述连续脉冲信号处理得到所述电路测试结果并将所述电路测试结果经所述控制器(105)控制传输至所述扫描输出寄存器(103)的信号输入端，
所述扫描输出寄存器(103)用于接收所述电路测试结果并将所述电路测试结果经所述控制器(105)控制扫描输出至外部设备。
2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电路还包括传输单元(104)和控制信号单元(106)，所述传输单元(104)通过所述硅通孔与所述测试单元(101)的功能端连接，所述传输单元(104)通过所述控制信号单元(106)与所述控制器(105)的功能控制端连接，所述传输单元(104)用于隔离有害负载，所述控制信号单元(106)用于传输所述控制器(105)到所述传输单元(104)的控制信号。
3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述计数器(102)为6位计数器。
4.一种应用如权利要求1-3中任意一项所述电路的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
控制器(105)控制复位、初始化、等待和采样，得到高电平脉冲信号，并将所述高电平脉冲信号传输至所述测试单元(101)；
测试单元(101)接收由所述控制器(105)得到的所述高电平脉冲信号并对所述高电平脉冲信号测试得到连续脉冲信号并将所述连续脉冲信号经所述控制器(105)控制传输至计数器(102)的信号输入端；
所述计数器(102)接收所述连续脉冲信号并对所述连续脉冲信号处理得到所述电路测试结果并将所述电路测试结果经所述控制器(105)控制传输至扫描输出寄存器(103)的信号输入端；
所述扫描输出寄存器(103)接收所述电路测试结果并将所述电路测试结果经所述控制器(105)控制扫描输出至外部设备。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述控制器(105)控制复位、初始化、等待和采样具体包括：
所述控制器(105)启动复位信号；
所述复位信号完成后所述控制器(105)启动初始化信号；
所述初始化信号完成后所述控制器(105)进入等待和采样状态，得到高电平脉冲信号。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述高电平脉冲信号测试得到连续脉冲信号包括所述测试单元(101)将所述高电平脉冲信号与所述控制器(105)的时钟信号进行与操作得到所述连续脉冲信号。
7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述连续脉冲信号处理得到所述电路测试结果包括：
所述计数器(102)对所述连续脉冲信号的周期之和进行测量得到计数值，
将所述计数值与所述计数器(102)预设的计数值阈值进行比较得到所述电路测试结果。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述计数值大于或等于所述预设的计数值阈值时，所述电路测试结果为不存在弱短路故障，所述计数值小于所述预设的计数值阈值时，所述电路测试结果为存在弱短路故障。
9.根据权利要求4-8中任一项所述的方法，其特征在于，所述电路工作模式包括测试模式和功能模式，且所述方法在所述电路为测试模式下进行。
10.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法在所述控制器(105)控制复位、初始化、等待和采样步骤前还包括控制关断传输单元(104)。