技术总结
本发明实施例公开了一种硅通孔弱短路故障测试电路，该电路包括测试单元(101)、计数器(102)、扫描输出寄存器(103)和控制器(105)，所述测试单元(101)的信号输出端与所述计数器(102)的信号输入端连接，所述计数器(102)的信号输出端与所述扫描输出寄存器(103)的信号输入端连接，所述控制器(105)的功能控制端分别与对应的所述测试单元(101)的控制端、所述计数器(102)的控制端、所述扫描输出寄存器(103)的控制端连接。本发明提供的一种硅通孔弱短路故障测试电路采用纯数字电路，内部单元可采用标准单元库，无需定制版图，对工艺节点的变迁没有任何约束。
技术研发人员：赵振宇;刘海斌;冯超超;徐实;王耀;何小威;乐大珩;余金山;马驰远;马卓;袁强
受保护的技术使用者：中国人民解放军国防科学技术大学
文档号码：201710090079
技术研发日：2017.02.20
技术公布日：2017.05.31