技术特征：
技术总结
本发明提出了一种基于直通线的多端口自动夹具损耗和相位补偿方法，使用时域方法获取相位偏移，结合径向基神经网络拟合直通线的损耗，将同轴参考面与被测件参考面之间的直通线夹具的影响去除，获得多端口被测件散射参数。本发明的方法是基于直通线的多端口自动夹具损耗和相位补偿，无需使用多种校准件进行去嵌入计算，降低了对校准件的要求和计算的复杂性，设计实现简单；本发明通过可对多端口非同轴夹具进行自动损耗和相位补偿算法，提高S参数测试精度，去除了夹具对测试结果的影响。
技术研发人员：袁国平;庄志远;刘丹;杨明飞;梁胜利;李明太
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第四十一研究所
技术研发日：2017.06.09
技术公布日：2017.09.08