接触测试构件及接触测试装置的制作方法

本实用新型涉及一种接触测试构件及接触测试装置。

背景技术：

在一些生产线测试台位，需要使用接触的方法连接样品的连接点进行测试，并且使用频率很高。普通的连接器由于其材料和结构的限制，要么寿命达不到要求，要么维修难度高。

技术实现要素：

本实用新型实施例涉及一种接触测试构件及接触测试装置，至少可解决现有技术的部分缺陷。

本实用新型实施例涉及一种接触测试构件，包括壳体、一个接触弹片和至少一个传导弹片，各所述传导弹片均收容于所述壳体内且依次连接，所述接触弹片穿设于所述壳体上且位于所述壳体内的插拔端由其中一所述传导弹片压靠抵紧在所述壳体的内壁上。

作为实施例之一，所述壳体具有一安装侧壁，所述安装侧壁上开设有一个插拔槽，所述插拔槽贯通所述安装侧壁的其中一侧边缘并形成一贯通端口，所述插拔槽的其中一槽壁上设有插拔口且通过所述插拔口与其中一所述传导弹片所在的收容腔导通，所述接触弹片部分收容于所述插拔槽内，所述插拔端穿过所述插拔口并与对应的所述传导弹片压靠抵接。

作为实施例之一，所述安装侧壁上还开设有至少一个收容槽，所述收容槽与所述传导弹片的数量相同且一一对应收容，各所述收容槽依照各所述传导弹片的连接方向依次设置，相邻两所述收容槽相互导通，每一所述传导弹片的相应端伸入至相邻的所述收容槽内并与该收容槽内的传导弹片连接；所述插拔口与其中一所述收容槽连通，所述插拔端由对应的所述传导弹片压靠抵紧在对应的所述收容槽的槽壁上。

作为实施例之一，各所述传导弹片均蛇形卷取收容在对应的所述收容槽内。

作为实施例之一，所述插拔口与所述贯通端口正对设置。

作为实施例之一，所述插拔槽具有第一插拔槽壁和第二插拔槽壁，所述第一插拔槽壁连接于所述第二插拔槽壁的内侧端部上，所述插拔口开设于所述第一插拔槽壁上，所述第二插拔槽壁向所述壳体外延伸形成有第一抵靠壁，所述接触弹片蛇形卷取，所述接触弹片的板面与所述第一抵靠壁的壁面平行。

作为实施例之一，所述第一抵靠壁上凸设有第二抵靠壁，所述第二抵靠壁与所述第一插拔槽壁位于所述第二插拔槽壁的同一侧，所述第二抵靠壁的长度小于所述第一插拔槽壁的长度，所述接触弹片部分承托于所述第二抵靠壁上。

本实用新型实施例涉及一种接触测试装置，包括如上所述的接触测试构件以及用于驱动所述接触弹片靠近或远离测试位的驱动机构，所述驱动机构与所述壳体连接。

作为实施例之一，所述驱动机构包括安装架、转轴和配重块，所述壳体通过所述转轴可转动安装于所述安装架上，所述转轴的轴向平行于所述接触弹片的板面，所述配重块连接于所述壳体的一端，所述壳体、所述转轴及所述配重块构成一个以所述转轴为支点的杠杆结构，所述配重块与所述接触弹片分别位于所述杠杆结构的施力端和阻力端。

作为实施例之一，所述接触测试构件为多组，所述驱动机构的输出端连接有一同步结构，各所述壳体均与所述同步结构连接。

本实用新型实施例至少具有如下有益效果：接触弹片由于是穿设在壳体上，并且由传导弹片压靠抵紧在壳体内，而传导弹片本身具有的可压缩性使得其既可以依靠弹力压紧接触弹片，也可以容许接触弹片插入，从而实现接触弹片可插拔连接在壳体上，方便更换、安装，使得本接触测试构件在损坏时能够快速维修。采用该接触测试构件的接触测试装置通过设置驱动机构，需要进行测试时带动接触弹片运动至测试位，测试完成后带动接触弹片自动复位，保证本接触测试装置的可持续使用。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本实用新型实施例提供的接触测试构件的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的接触弹片的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一

如图1和图2，本实用新型实施例提供一种接触测试构件，包括壳体1、一个接触弹片2和至少一个传导弹片3，各所述传导弹片3均收容于所述壳体1内且依次连接，所述接触弹片2穿设于所述壳体1上且位于所述壳体1内的插拔端由其中一所述传导弹片3压靠抵紧在所述壳体1的内壁上。无疑义地，上述接触弹片2及各传导弹片3均为可导电弹片，接触弹片2用于与待测试样品进行接触，各传导弹片3则用于连接电导线以连接相应的测试仪器；本实施例中，仅使用一个传导弹片3即可。上述的接触弹片2由于是穿设在壳体1上，并且由传导弹片3压靠抵紧在壳体1内，而传导弹片3本身具有的可压缩性使得其既可以依靠弹力压紧接触弹片2，也可以容许接触弹片2插入，从而实现接触弹片2可插拔连接在壳体1上，方便更换、安装，使得本接触测试构件在损坏时能够快速维修。

接续该接触测试构件的结构，如图1，所述壳体1具有一安装侧壁，所述安装侧壁上开设有一个插拔槽111，所述插拔槽111贯通所述安装侧壁的其中一侧边缘并形成一贯通端口，该贯通端口作为插拔槽111的一个开口，可作为接触弹片2深入该插拔槽111的通道，所述插拔槽111的其中一槽壁上设有插拔口且通过所述插拔口与其中一所述传导弹片3所在的收容腔导通，所述接触弹片2部分收容于所述插拔槽111内，所述插拔端穿过所述插拔口并与对应的所述传导弹片3压靠抵接。上述接触弹片2部分收容于插拔槽111内，位于插拔槽111外的部分则用于与待测试样品接触，其可以是引出部分弹片板体，该引出的部分弹片板体可以借由外设的支撑板支撑以便在与样品接触时不至于变形弯折而与样品脱离，该支撑板可固定在壳体1上或安装在测试位旁；本实施例中，采取如下的优选结构：

如图1，所述插拔槽111具有第一插拔槽壁1111和第二插拔槽壁1112，所述第一插拔槽壁1111连接于所述第二插拔槽壁1112的内侧端部上，所述插拔口开设于所述第一插拔槽壁1111上，所述第二插拔槽壁1112向所述壳体1外延伸形成有第一抵靠壁1114，所述接触弹片2蛇形卷取，所述接触弹片2的板面与所述第一抵靠壁1114的壁面平行。如图2，接触弹片2包括插拔部分21和卷取部分22，插拔部分21穿设在插拔口上且其插拔端进入传导弹片3所在的收容腔内(图1中的收容槽112)，卷取部分22则部分收容于插拔槽111中，部分露出于该插拔槽111外用于与样品接触。由于插拔槽111一端贯通安装侧壁的其中一侧边缘，上述第二插拔槽壁1112即为延伸至该插拔槽111所贯通的安装侧壁的边缘处的侧壁，则该第二插拔槽壁1112的内侧即为其远离上述贯通端口的一侧，也即其远离壳体1外部的一侧，而上述的第一抵靠壁1114为自该第二插拔槽壁1112的外侧端部继续向外延伸形成的壁体，该第一抵靠壁1114与第二插拔槽壁1112为一体成型结构，与第二插拔槽壁1112的壁面平滑拼接，该第一抵靠壁1114用于对接触弹片2进行支撑，以便该接触弹片2在与样品接触时不至于变形弯折而与样品脱离。接触弹片2初始状态下可以与该第一抵靠壁1114接触也可以不接触。所述插拔口优选为与上述的贯通端口正对设置，便于接触弹片2的插拔操作。一般地，上述插拔槽111采用矩形槽结构，则上述第一插拔槽壁1111与第二插拔槽壁1112垂直，该插拔槽111可以具有与该第二插拔槽壁1112平行的第三插拔槽壁1113，也可以仅具有该第一插拔槽壁1111与第二插拔槽壁1112，也即该插拔槽111贯通上述安装侧壁的其中相邻的两侧边缘，本实施例中，该插拔槽111还具有与该第二插拔槽壁1112平行的第三插拔槽壁1113，上述接触弹片2优选为与该第二插拔槽壁1112和第三插拔槽壁1113均抵接，从而其可依靠自身弹力夹紧在该插拔槽111内，避免该接触弹片2掉落。

进一步地，如图1，所述第一抵靠壁1114上凸设有第二抵靠壁1115，所述第二抵靠壁1115与所述第一插拔槽壁1111位于所述第二插拔槽壁1112的同一侧，所述第二抵靠壁1115的长度小于所述第一插拔槽壁1111的长度，所述接触弹片2部分承托于所述第二抵靠壁1115上。一般地，上述接触弹片2竖直设置，即该接触弹片2的板面平行于竖直方向，该接触弹片2部分承托在该第二抵靠壁1115上，可避免其在自重作用下从壳体1上掉落；上述的第二插拔槽壁1112的壁面相应地沿竖直方向延伸，第一插拔槽壁1111的壁面沿水平方向延伸，该第二抵靠壁1115的壁面优选为沿水平方向延伸，即其与该第一插拔槽壁1111的壁面平行；而由于该第二插拔槽壁1112的长度小于第一插拔槽壁1111的长度，可保证在测试时其不会与样品发生接触抵靠干涉问题，避免样品与接触弹片2不能接触，或不能压缩接触弹片2而接触不良进行影响测试结果。上述的第一抵靠壁1114、第二抵靠壁1115与壳体1优选为一体成型。

接续上述接触测试构件的结构，上述传导弹片3可收容于封闭的收容腔内，即上述壳体1为部分中空结构，上述插拔槽111即通过插拔口与该中空内腔连通，本实施例中，采用如下优选的结构：

如图1，所述安装侧壁上还开设有至少一个收容槽112，所述收容槽112与所述传导弹片3的数量相同且一一对应收容，各所述收容槽112依照各所述传导弹片3的连接方向依次设置，相邻两所述收容槽112相互导通，每一所述传导弹片3的相应端伸入至相邻的所述收容槽112内并与该收容槽112内的传导弹片3连接；所述插拔口与其中一所述收容槽112连通，所述插拔端由对应的所述传导弹片3压靠抵紧在对应的所述收容槽112的槽壁上。本实施例中，仅设置一个传导弹片3，则收容槽112对应为一个，对于设置多个传导弹片3的情况，各收容槽112可沿安装侧壁的长度方向或宽度方向依次设置，或者可以呈L型依次设置(即部分收容槽112沿安装侧壁的长度方向设置，部分沿按安装侧壁的宽度方向设置)，这是本领域技术人员易于实现的，相邻收容槽112之间共用一个槽壁并于该槽壁上开设缺口以便于其中一传导弹片3伸入至相邻的收容槽112内与该相邻收容槽112内的传导弹片3连接，连接的方式也是通过该相邻收容槽112内的传导弹片3压靠抵紧在该收容槽112的槽壁上。上述的插拔槽111与其中一收容槽112相邻设置，且与该收容槽112共用一个槽壁，插拔口即开设于该槽壁上，该槽壁也即构成上述的第一插拔槽壁1111，为便于接触弹片2插拔，该插拔口宜靠近上述的第三插拔槽壁1113设置，以位于该第一插拔槽壁1111与第三插拔槽壁1113相交位置处最佳，而接触弹片2的插拔端以被抵紧在相应收容槽112的槽壁宜垂直于该第一插拔槽壁1111且与该第三插拔槽壁1113相邻(收容槽112为矩形槽的情况下)。上述结构使得本接触测试构件为一半开放型构件，可直观观察了解接触弹片2的使用状况、接触弹片2与传导弹片3的连接状况等问题，便于及时维护，同时，也方便了接触弹片2的插拔操作，进一步提高维修效率。进一步优选地，各所述传导弹片3均蛇形卷取收容在对应的所述收容槽112内，对接触弹片2的压靠抵紧效果更好。进一步可在上述安装侧壁上开设走线槽113，该走线槽113与其中一个收容槽112导通，该收容槽112内的传动弹片3可伸入该走线槽113内与电导线连接。

实施例二

本实用新型实施例涉及一种接触测试装置，包括上述实施例一所提供的接触测试构件，该接触测试构件的具体结构此处不再赘述。进一步地，该接触测试装置还包括用于驱动所述接触弹片2靠近或远离测试位的驱动机构，所述驱动机构与所述壳体1连接；通过该驱动机构，需要进行测试时带动接触弹片2运动至测试位，测试完成后带动接触弹片2自动复位，保证本接触测试装置的可持续使用。

优化上述的驱动机构，该驱动机构包括安装架(未图示)、转轴(未图示)和配重块(未图示)，所述壳体1通过所述转轴可转动安装于所述安装架上，所述转轴的轴向平行于所述接触弹片2的板面，所述配重块连接于所述壳体1的一端，所述壳体1、所述转轴及所述配重块构成一个以所述转轴为支点的杠杆结构，所述配重块与所述接触弹片2分别位于所述杠杆结构的施力端和阻力端。测试过程中，样品与接触弹片2接触并使得配重块一侧翘起，由于配重块的作用力，使得接触弹片2有一个挤压样品的挤压力，保证测试效果，该挤压力可由配置的重量及配重块到转轴之间的距离确定(也即杠杆的力矩作用)，测试完成后，样品与接触弹片2分离，此时，壳体1在配重块的作用下复位。本实施例中，如图1，上述壳体1大致呈L型，包括一竖直段11和一水平段12，水平段12连接于竖直段11的顶端，接触弹片2安装于该竖直段11上，配重块则连接于该水平段12的远离竖直段11的一端，上述转轴则穿设于竖直段11与水平段12的相交位置处，可在该相交位置处设置穿设部，于该穿设部上设置转轴穿设孔13；当然，壳体1并不限于上述的结构，能够实现借由上述的杠杆结构使得接触弹片2在测试位与非测试位之间运动即可。

进一步优化上述驱动机构的结构，由于壳体1会在配重块的作用下绕转轴转动，因此需要限位机构对该壳体1的转动进行限位，即限定接触弹片2的非测试位也即其初始位置；该限位机构可以为设置在安装架上的限位块，该限位块位于上述的水平段12下方。进一步地，上述限位机构还包括一复位螺杆，该复位螺杆螺接穿设在上述的水平段12上，复位螺杆的轴向平行于竖直段11的长度方向，通过调节该复位螺杆的位于水平段12下方的长度实现对接触弹片2的非测试位的调整；如图1，对应在水平段12上设有螺纹孔121，该螺纹孔的轴向与竖直段11的长度方向平行。

当然，驱动机构并不限于上述结构，如可以通过平移轨道带动壳体1靠近或远离测试位等，这是本领域技术人员根据现有技术易于实现的，此处不再赘述。

通过上述驱动机构，可有效提高本接触测试装置的使用寿命，相较于现有的接触测试装置，寿命可提高9倍。

作为优选的实施例之一，实际测试操作中，可能存在需要多个测试构件同时接触测试的情况，对应地，所述接触测试构件为多组，所述驱动机构的输出端连接有一同步结构，各所述壳体1均与所述同步结构连接，通过驱动机构驱动同步结构动作，同步结构则带动各壳体1动作，实现各接触弹片2的同步动作。对于不同的驱动机构，上述同步结构可以不同，也可以采用相同的结构，这是本领域技术人员根据采用的驱动机构的具体结构具体设计，而且根据常规的技术手段易于实现的。以上述的杠杆结构为例，各壳体1可以穿设在同一转轴上，可通过连杆将各壳体1的水平段12连接，该连杆上可悬挂配重块。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。