一种发光器件测试系统的制作方法

本实用新型涉及发光器件检测领域，特别涉及一种发光器件测试系统。

背景技术：

有一种二极管发光器件，电极面与发光面相对。在发光器件测试系统中，通过导电物体接触电极面的P极和N极，点亮发光器件，对其光参数进行检测。发光器件测试系统中的载片台用于承载被测发光器件，光参数测试装置用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数，在光参数测试装置上升至靠近载片台中被测发光器件以进行测试的位置时，由于光参数测试装置只做竖向移动，水平方向不移动，而当载片台在水平方向移动以调节被测发光器件的位置时，容易发生光参数测试装置与载片台异常碰撞的情况，造成光参数测试装置的损伤。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种发光器件测试系统，具有能够保护的光参数测试装置的优点。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种发光器件测试系统，包括：机座；水平滑移连接于所述机座上、用于承载被测发光器件的载片台；设于所述机座上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的光参数测试装置；以及，用于对所述光参数测试装置进行保护的导电保护结构。

通过采用上述技术方案，在发光器件测试系统的测试过程中，光参数测试装置接近载片台的位置以进行对被测发光器件的光参数进行收集并测试，当载片台在水平方向移动以调整被测发光器件的位置时，导电保护结构能够有效地对光参数测试装置进行保护。

本实用新型的进一步设置，所述载片台包括：用于承载发光器件的承载台；设于承载台上、用于驱动承载台旋转以实现发光器件在圆周方向调整位置的旋转机构；设于承载台下、用于驱动承载台纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构；以及，设于第一传输机构下、用于驱动第一传输机构及承载台横向移动以靠近或远离测试位置的第二传输机构。

通过采用上述技术方案，第一传输机构可驱动承载台纵向移动以靠近或远离测试位置，第二传输机构可驱动第一传输机构及承载台横向移动以靠近或远离测试位置，旋转机构用于驱动承载台旋转以实现发光器件在圆周方向调整，发光器件测试系统进行测试时，将被测发光器件置于承载台上，可以很方便地通过第一传输机构及第二传输机构将承载台向测试位置移动并进行调整至测试位置，然后通过旋转机构对承载台的位置进行进一步的调整，使承载台准确地到达测试位置以使测量数据较为准确；测试完后，通过第一传输机构及第二传输机构将承载台退出，以便取下被测发光器件；从而载片台具有在输送和调节过程中较为方便的优点。

本实用新型的进一步设置，所述旋转机构包括：设于所述安装座上的电机；以及，设于所述安装座上、受所述电机驱动以带动所述承载台旋转的传动件；所述第一传输机构包括：滑移座；若干设于所述滑移座上、供所述承载台滑移的第一导轨；以及，驱动所述承载台在所述第一导轨上滑移的第一驱动件；所述第二传输机构包括：固定座，所述固定座上设有供所述光参数测试装置容置的让位缺口；若干设于所述固定座上、供所述滑移座滑移的第二导轨；以及，驱动所述滑移座在所述第二导轨上滑移的第二驱动件。

通过采用上述技术方案，在进行对承载台圆周方向调整时，安装座上的电机转动，受电机驱动的传动件带动承载台旋转，以使承载台准确地到达测试位置；第一驱动件驱动承载台在滑移座上的第一导轨上滑移，以使承载台靠近或远离测试位置，便于承载台的输送和调节；承载台通过第一导轨滑移，使承载台在输送和调节的过程更为稳定；第二驱动件驱动滑移座在固定座上的第二导轨上滑移，带动滑移座上的承载台移动，以使承载台靠近或远离测试位置，便于承载台的输送和调节；滑移座通过第二导轨滑移，使滑移座和承载台在输送和调节的过程更为稳定。

本实用新型的进一步设置，所述第一驱动件及第二驱动件均为丝杠。

通过采用上述技术方案，丝杠具有传动效率高，定位较为精准的优点，从而在第一传输机构及第二传输机构对承载台进行传输和调节的过程中，较为精准和稳定。

本实用新型的进一步设置，所述光参数测试装置包括：设于机座上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的收光组件；以及，用于驱动所述收光组件靠近所述载片台中被测发光器件的位置以进行光参数收集或远离所述载片台以便所述载片台移动至退片位置以取下被测元器件的驱动机构。

通过采用上述技术方案，在发光器件测试系统进行测试时，驱动机构驱动收光组件向载片台的方向移动，使收光组件靠近载片台中被测发光器件的位置，以便收光组件准确地收集并测试光参数；测试完成后，驱动机构驱动收光组件远离载片台的位置，便于载片台的移动，从而便于载片台移动至退片位置以取下被测元器件；从而具有收光组件不易对载片台的活动造成干扰的优点。

本实用新型的进一步设置，所述收光组件包括：用于与被测发光器件的发光面接触以收集被测发光器件的光参数的积分球；用于承载所述积分球的积分球安装座；用于夹持所述积分球的积分球夹具；以及，与所述积分球连接、用于接受并分析所述积分球所收集的光参数的光学测试件；所述驱动机构包括：穿设于所述机座的固定板；滑移连接于所述固定板上、与所述安装座固定的移动座；设于所述固定板一侧的丝杠，所述丝杠的螺母座连接于所述移动座；以及，用于驱动所述丝杠活动的驱动电机。

通过采用上述技术方案，在测试过程中，积分球安装座上的积分球与被测发光器件的发光面接触以收集发光器件的光参数，然后将光参数传输给光学测试件以进行分析，实现收光组件对被测发光器件的光参数进行收集并测试的过程；驱动电机能驱动丝杠活动，丝杠的螺母座带动移动座在固定板上滑移，带动固定于移动座上的安装座移动，从而实现调节收光组件的位置，以使收光组件靠近或远离移动组件；丝杠的传动效率及精度较高，从而通过驱动电机、丝杠带动收光组件移动的方式较为精准和稳定。

本实用新型的进一步设置，所述固定板上设有滑轨，所述移动座上设有在载片台滑轨上滑移的滑块。

通过采用上述技术方案，移动座的滑块在固定板上的滑轨上滑移，增加了移动座滑移的稳定性。

本实用新型的进一步设置，所述导电保护结构包括：控制中心；设于所述载片台上、与所述控制中心连接的第一导电件；以及，设于所述收光组件上、与所述控制中心连接的、用于与所述第一导电件导通的第二导电件，所述第一导电件及所述第二导电件接触导通，以触发所述控制中心控制所述载片台停止移动以防止所述收光组件撞伤。

通过采用上述技术方案，在载片台在水平方向移动以调节被测发光器件的位置的过程中，当载片台在移动过程中在要接触到收光组件时，设置在载片台上的第一导电件与设置在收光组件上的第二导电件接触导通，然后反馈给控制中心，控制中心能及时控制载片台停止移动，防止载片台对收光组件的撞伤，从而具有在收光组件与载片台发生异常接触的情况时，控制器控制载片台停止移动以对收光组件进行保护的优点。

本实用新型的进一步设置，所述第一导电件设有安装结构，所述安装结构一端设有可拆卸连接于所述移动组件上的安装板，所述安装结构远离安装板的一端设有用于夹持所述第一导电件的夹持块。

通过采用上述技术方案，安装板的设置，便于安装结构的安装和拆下，从而便于第一导电件的安装和拆卸；夹持块用于夹持第一导电件，而且夹持块设置于安装结构上远离安装板的一端，使得移动组件在靠近收光组件的过程中，移动组件上的第二导电件与第一导电件会先接触，避免了移动组件直接接触到收光组件上，从而进一步对收光组件起到了保护作用。

本实用新型的进一步设置，所述第一导电件及第二导电件均为导电圈。

通过采用上述技术方案，导电圈相比其它形式的导电件，更容易相互接触到，从而可以及时导通并反馈给控制器以停止移动组件的移动。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：在发光器件测试系统的测试过程中，光参数测试装置接近载片台的位置以进行对被测发光器件的光参数进行收集并测试，当载片台在水平方向移动以调整被测发光器件的位置时，导电保护结构能够有效地对光参数测试装置进行保护。

附图说明

图1是实施例1中发光器件测试系统的整体结构示意图；

图2是实施例1中载片台的结构示意图；

图3是实施例1中旋转机构的结构示意图；

图4是实施例1中检测组件的结构示意图；

图5是实施例1中第二驱动件与第二导轨的连接关系示意图；

图6是实施例1中光参数测试装置的结构示意图；

图7是实施例1中接触板与积分球的连接关系示意图；

图8是实施例1中驱动机构的结构示意图；

图9是实施例1中导电保护结构的结构示意图；

图10是实施例1中第一导电件的安装结构的结构示意图；

图11是实施例2中第二驱动件与第二导轨的另一连接关系示意图。

附图标记：1、机座；2、载片台；21、承载台；22、旋转机构；221、电机；222、传动件；23、滑移座；24、第一导轨；25、第一驱动件；26、固定座；27、第二导轨；28、第二驱动件；29、安装座；3、光参数测试装置；31、收光组件；311、积分球；312、积分球安装座；313、积分球夹具；32、驱动机构；321、固定板；322、移动座；323、丝杠；324、驱动电机；325、滑轨；326、滑块；327、延伸板；33、接触板；4、导电保护结构；41、第一导电件；42、第二导电件；43、安装结构；44、安装板；45、夹持块；46、卡槽；47、第一锁孔；48、第二锁孔；5、检测组件；51、光电传感器；52、挡片；6、让位缺口。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

实施例1：一种发光器件测试系统，如图1所示，包括：罩设于一护罩内的机座1；水平滑移连接于机座1上、用于承载被测发光器件的载片台2；设置于机座1上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的光参数测试装置3；以及，用于对光参数测试装置3进行保护的导电保护结构4。

在发光器件测试系统的测试过程中，光参数测试装置3接近载片台2的位置以进行对被测发光器件的光参数进行收集并测试，当载片台2在水平方向移动以调整被测发光器件的位置时，导电保护结构4能够有效地对光参数测试装置3进行保护。

如图2所示，载片台2包括：用于承载被测发光器件的承载台21；设置于承载台21上、用于驱动承载台21旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置的旋转机构22；设置于承载台21下、用于驱动承载台21纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构；以及，设置于第一传输机构下、用于驱动第一传输机构及承载台21横向移动以靠近或远离测试位置的第二传输机构。

第一传输机构可驱动承载台21纵向移动以靠近或远离测试位置，第二传输机构可驱动第一传输机构及承载台21横向移动以靠近或远离测试位置，旋转机构22用于驱动承载台21旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置，发光器件测试系统进行测试时，将被测发光器件置于承载台21上，可以很方便地通过第一传输机构及第二传输机构将承载台21向测试位置移动并进行调整至测试位置，然后通过旋转机构22对承载台21的位置进行进一步的调整，使承载台21准确地到达测试位置以使测量数据较为准确；测试完后，通过第一传输机构及第二传输机构将承载台21退出，以便取下被测发光器件；从而载片台2具有在输送和调节过程中较为方便的优点。

第一传输机构包括：滑移座23；两个设置于滑移座23上、供承载台21滑移的第一导轨24；以及，驱动承载台21在第一导轨24上滑移的第一驱动件25。

第一驱动件25驱动承载台21在滑移座231上的第一导轨24上滑移，以使承载台21靠近或远离测试位置，便于承载台21的输送和调节；承载台21通过第一导轨24滑移，使承载台21在输送和调节的过程更为稳定。

第二传输机构包括：固定座26，固定座26上设有供光参数测试装置3容置的让位缺口6（图中未标出）；两个设置于固定座26上、供滑移座23滑移的第二导轨27；以及，驱动滑移座23在第二导轨27上滑移的第二驱动件28。

第二驱动件28驱动滑移座23在固定座26上的第二导轨27上滑移，带动滑移座23上的承载台21移动，以使承载台21靠近或远离测试位置，便于承载台21的输送和调节；滑移座23通过第二导轨27滑移，使滑移座23和承载台21在输送和调节的过程更为稳定。

第一驱动件25及第二驱动件28设置为由伺服电机驱动的丝杠，丝杠具有传动效率高，定位较为精准的优点，从而在第一传输机构23及第二传输机构24对承载台21进行传输和调节的过程中，较为精准和稳定；在其它实施例中，第一驱动件25及第二驱动件28还可设置为气缸。

如图3所示，承载台21设置有安装座29，旋转机构22包括：设置于安装座29上的电机221；以及，设置于安装座29上、受电机221驱动以带动承载台21旋转的传动件222，在进行对承载台21圆周方向调整时，安装座29上的电机221转动，受电机221驱动的传动件222带动承载台21旋转，以使承载台21准确地到达测试位置。

需要进行说明的是，传动件222在本实施例中设置为同步轮及两个传送皮带，传送皮带套设于电机221的输出端与同步轮一端之间，另一传送皮带套设于同步轮另一端与承载台21上，当电机转动时，通过传送皮带带动同步轮转动，通过另一传送皮带带动承载台21转动。

如图4所示，安装座29上设置有检测组件5，检测组件5包括：三个光电传感器51；以及，设置于承载台21上用于隔挡光电传感器51所发射光源以感应承载台21转动位置的挡片52。

在进行对承载台21圆周方向调整时，当承载台21上的挡片52经过某一光电传感器51时，挡片52隔挡住光电传感器51所发射光源以感应挡片52的位置，从而感应承载台21转动位置，从而可以通过检测组件5限制承载台21的转动角度，保证了承载台21在圆周方向的调整。

如图5所示，丝杠设置于第二导轨27靠近让位缺口6的一侧，可以充分利用固定座26上的结构，节省了空间。

如图6所示，光参数测试装置3包括：设置于机座1上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的收光组件31；以及，用于驱动收光组件31靠近载片台2中被测发光器件的位置以进行光参数收集或远离载片台2以便载片台2移动至退片位置以取下被测元器件的驱动机构32。

在发光器件测试系统进行测试时，驱动机构32驱动收光组件31向载片台2的方向移动，使收光组件31靠近载片台2中被测发光器件的位置，以便收光组件31准确地收集并测试光参数；测试完成后，驱动机构32驱动收光组件31远离载片台2的位置，便于载片台2的移动，从而便于载片台2移动至退片位置以取下被测元器件；从而具有收光组件31不易对载片台2的活动造成干扰的优点。

收光组件31包括：用于与被测发光器件的发光面接触以收集被测发光器件的光参数的积分球311；用于承载积分球311的积分球安装座312；用于夹持积分球311的积分球夹具313；以及，与积分球311连接、用于接受并分析积分球311所收集的光参数的光学测试件。

在测试过程中，积分球安装座312上的积分球311与被测发光器件的发光面接触以收集发光器件的光参数，然后将光参数传输给光学测试件以进行分析，实现收光组件31对被测发光器件的光参数进行收集并测试的过程。

如图7所示，积分球311的开口处设置有用于贴合于被测发光器件的发光面的接触板33，接触板33采用透光材料制成,可具体采用透光率较高且硬度较高的石英玻璃。

接触板33设置在积分球311的开口处，防止灰尘进入积分球311内；接触板33贴合于被测发光器件的发光面，能达到更好的收光效果；透光材料的透光效果较好，使被测发光器件发光面所发射的光能透过接触板33进入到积分球311内。

结合图6和图8所示，驱动机构32包括：穿设于机座1的固定板321；滑移连接于固定板321上、与积分球安装座312固定的移动座322；设置于固定板321一侧的丝杠323，丝杠323的螺母座连接于移动座322；以及，用于驱动丝杠323活动的驱动电机324。

驱动电机324能驱动丝杠323活动，丝杠323的螺母座带动移动座322在固定板321上滑移，带动固定于移动座322上的积分球安装座312移动，从而实现调节收光组件31的位置，以使收光组件31靠近或远离载片台2；丝杠323的传动效率及精度较高，从而通过驱动电机324、丝杠323带动收光组件31移动的方式较为精准和稳定。

在其它实施例中，驱动电机324及丝杠323可替换为气缸，气缸的输出端连接于移动座322，气缸带动移动座322在固定板321上滑移，带动固定于移动座322上的积分球311安装座25移动，从而实现调节收光组件31的位置，以使收光组件31靠近或远离载片台2。

固定板321上设置有滑轨325，移动座322上设置有在滑轨325上滑移的滑块326，移动座322的滑块326在固定板321上的滑轨325上滑移，增加了移动座322滑移的稳定性。

固定板321设置有固定于载片台2的延伸板327，延伸板327进一步加强了固定板321的稳固性。

固定板321上设置有光电传感器51，移动座322上设置有用于隔挡光电传感器51所发射光源以感应移动座322位置的挡片52，在进行对收光组件31的移动时，当移动座322上的挡片52经过光电传感器51时，挡片52隔挡住光电传感器51所发射光源以感应挡片52的位置，从而感应移动座322的位置，从而可以通过光电传感器51限制移动座322的行程，保证了收光组件31的移动工作。

如图9所示，导电保护结构4包括：包括：控制中心；设置于载片台2上、与控制中心连接的第一导电件41；以及，设置于收光组件31的上、与控制中心连接的、用于与第一导电件41导通的第二导电件42，第一导电件41及第二导电件42接触导通，以触发控制中心控制载片台2停止移动以防止收光组件31撞伤。

在载片台2在水平方向移动以调节载片台2位置的过程中，当载片台2在移动过程中在要接触到收光组件31的时，设置在载片台2上的第一导电件41与设置在收光组件31的上的第二导电件42接触导通，然后反馈给控制中心，控制中心能及时控制载片台2停止移动，防止载片台2对收光组件31的的撞伤，从而具有在收光组件31的与载片台2发生异常接触的情况时，控制器控制载片台2停止移动以对收光组件31的进行保护的优点。

需要进行说明的是，载片台2与控制中心连接并受控制中心控制，当第一导电件41及第二导电件42接触导通时，控制中心收到导通信息后，可即刻控制载片台2停止移动，从而对光参数测试装置3进行有效地保护。

如图10所示，第一导电件41设置有安装结构43，安装结构43一端设置有可拆卸连接于载片台2上的安装板44，安装结构43远离安装板44的一端设置有用于夹持第一导电件41的夹持块45。

安装板44的设置，便于安装结构43的安装和拆卸，从而便于第一导电件41的安装和拆卸；夹持块45用于夹持第一导电件41，而且夹持块45设置于安装结构43上远离安装板44的一端，使得载片台2在靠近光参数测试装置3的过程中，载片台2上的第二导电件42与第一导电件41会先接触，避免了载片台2直接接触到光参数测试装置3上，从而进一步对光参数测试装置3起到了保护作用。

夹持块45设置有与第一导电件41卡嵌配合的卡槽46，卡槽46对第一导电件41具有限制作用，从而第一导电件41与第二导电件42接触时不易松动。

安装结构43设置为4个且在载片台2上间隔布置，使第一导电件41的安装较为稳定，便于第一导电件41与第二导电件42的接触。

安装板44上设置有用于安装板44安装拆卸的第一锁孔47，第一锁孔47的设置，便于安装板44的安装与拆卸，从而便于第一导电件41的安装拆卸。

夹持块45设置有用于锁紧第一导电件41的第二锁孔48，第二锁孔48的设置，可将第一导电件41锁紧在夹持块45上，进一步增加了第一导电件41安装的稳定性。

第一导电件41及第二导电件42均为导电圈，导电圈相比其它形式的导电件，更容易相互接触到，从而可以及时导通并反馈给控制器以停止载片台2的移动。

第一导电件41及第二导电件42由铜制成，铜的导电性较好，从而在第一导电件41与第二导电件42接触时，能够较为及时地反馈给控制中心。

工作原理：在发光器件测试系统进行测试时，将被测发光器件置于承载台21上，可以很方便地通过第一传输机构23及第二传输机构24将承载台21向测试位置移动并进行调整至测试位置，然后通过旋转机构22对承载台21的位置进行进一步的调整，使承载台21准确地到达测试位置以使测量数据较为准确；测试完后，通过第一传输机构23及第二传输机构24将承载台21退出，以便取下被测发光器件；从而载片台2具有在输送和调节过程中较为方便的优点。

驱动机构32驱动收光组件31向载片台2的方向移动，使收光组件31靠近载片台2中被测发光器件的位置，以便收光组件31准确地收集并测试光参数；测试完成后，驱动机构32驱动收光组件31远离载片台2的位置，便于载片台2的移动，从而便于载片台2移动至退片位置以取下被测元器件；从而具有收光组件31不易对载片台2的活动造成干扰的优点。

在载片台2在水平方向移动以调节载片台2位置的过程中，当载片台2在移动过程中在要接触到光参数测试装置3时，设置在载片台2上的第一导电件41与设置在光参数测试装置3上的第二导电件42接触导通，然后反馈给控制中心，控制中心能及时控制载片台2停止移动，防止载片台2对光参数测试装置3的撞伤，从而具有在光参数测试装置3与载片台2发生异常接触的情况时，控制器控制载片台2停止移动以对光参数测试装置3进行保护的优点。

实施例2：与实施例1不同之处在于，如图11所示，丝杠323设置于第二导轨242背离让位缺口6的一侧，可以较大限度地避免丝杠323的布置对光参数测试装置3的干涉。

本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。