一种测试工装的制作方法

本实用新型涉及产品测试技术领域，尤其涉及一种测试工装。

背景技术：

随着科技的进步和人们需求的增加，智能电子产品，如智能手表，智能手环，无人机，VR等产品的功能也在不断完善，大部分产品已具备蓝牙功能，GPS功能，震动提醒功能，G-sensor，P-sensor，检测心率功能等，有的产品也已实现了2G/3G通信，ECG测量和WiFi等功能。为了保证产品质量，产品出厂前都会对上述功能进行测试。

目前，大部分功能的测试工装是通过单一焊盘与对应的单PI N针通过点接触来通信的，其中PI N针是能够完成电(信号)的导电(传输)的一种金属物质。而焊盘与对应PI N针之间点接触的稳定性，直接影响通信的稳定性，如果通信不稳定，在产品测试过程中就会发生中断的情况，影响测试结果，甚至影响产线的测试效率。

目前，测试工装上的PI N针位置一般是固定的，理想情况下，PI N针与产品线路板上标准焊盘的中心位置相接触导通，如图1所示，此时PI N针到焊盘补强的垂直距离为L/2，L为标准焊盘的宽度。但是，由于结构物料的单体来料公差，以及产品组装过程中不同结构物料所累积的公差，导致PI N针与焊盘之间接触点偏离焊盘的中心。当上述公差小于L/2时，PI N针与焊盘的接触点仍可焊盘上，仍可以正常通信，一旦公差大于L/2时，PI N针与焊盘的接触点可能在焊盘补强与焊盘的连接处，或完全落在焊盘补强上。由于焊盘补强高度与焊盘面高度不一致，当PI N针与焊盘的接触点在焊盘补强与焊盘连接处时，会使PI N针与焊盘接触不良，导致通信不稳定；当PI N针与焊盘的接触点完全落在焊盘补强上时，就会导致无法通信。

技术实现要素：

针对上述不足，本实用新型的目的是提供一种利用PI N针与焊盘之间的点接触来实现通信的测试工装，该工装提高了产线测试中一次直通率、生产效率以及测试准确率。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案是：

一种测试工装，包括通信接口，所述通信接口的各管脚均设有与其电连接的测试探头，所述测试探头至少包括两根P I N针，每根所述P I N针分别与对应的所述通信接口管脚电连接，任意相邻两所述P I N针之间均设置有间隙；每根所述P I N针的针尖均位于同一平面上，所有所述P I N针均与同一标准焊盘对应设置。

优选方式为，所述测试探头包括三根所述P I N针，三根所述P I N针呈三角形排列设置。

优选方式为，三根所述P I N针均匀排列设置。

优选方式为，每根所述P I N针均与所述标准焊盘的边缘对应设置。

优选方式为，所述标准焊盘为矩形焊盘，每个所述测试探头中的任意两根所述P I N针对应所述标准焊盘的同一侧边缘设置。

优选方式为，各所述P I N针位于所述通信接口的一端均设置有与其连接的伸缩弹簧。

优选方式为，所述通信接口为USB接口，所述USB接口包括四个管脚，所述测试工装包括四个所述测试探头。

采用上述技术方案后，本实用新型的有益效果是：

由于本实用新型的测试工装，包括通信接口，该通信接口的各管脚均设置有与其电连接的测试探头，该测试探头至少包括两根P I N针，每根P I N针分别与对应的通信接口管脚电连接，任意相邻两根P I N针之间均设置有间隙，各P I N针的针尖位于同一平面上，且所有P I N针的针尖均与同一标准焊盘对应设置。因测试探头的每根P I N针均位于同一平面上，与同一标准焊盘对应设置，使每根P I N针均可与焊盘之间通过点接触来实现通信；又因测试探头至少包括两根P I N针，本实用新型可通过调整各P I N针之间的间隙，扩大最大允许公差的范围，使测试探头中至少有一根P I N针可与焊盘实现点接触，从而提高了一次直通率，保证测试过程能够良好通信，进而提高了生产效率以及测试准确率。

由于测试探头包括三根P I N针，三根P I N针呈三角形排列设置；三根PI N针在保证测试工装的精度的前提下，进一步提高了一次直通率。

由于每根P I N针均与标准焊盘的边缘对应设置；使测试工装的最大能允许的公差尽量大，进一步提高了一次直通率。

由于标准焊盘为矩形焊盘，每个测试探头中的任意两根PIN针对应标准焊盘的同一侧边缘设置；使测试工装最大能允许的公差范围为

由于各PIN针位于通信接口的一端均设置有与其连接的伸缩弹簧，使PIN针可伸缩，保证了与焊盘之间的点接触。

综上所述，本实用新型的测试工装与现有技术相比，解决了现有技术中与单PIN针的测试工装，在测试产品时，容易发生PIN针与焊盘点接触不稳定的技术问题，而本实用新型的测试工装，其测试探头包括至少两根PIN针，扩大了最大允许公差范围，提高了产线测试的一次直通率，避免了因PIN针通信不良引起的复测，操作简便，有效的提高了实际生产效率和准确率。

附图说明

图1是现有技术中单PIN针与标准焊盘点接触时的示意图；

图2是本实用新型中三根PIN针与标准焊盘点接触时的示意图；

图3是本实用新型中三根PIN针与带公差焊盘点接触时的示意图；

图4是本实用新型中三根PIN针与另一种带公差焊盘点接触时的示意图；

图中：1-焊盘，10-补强，2-PIN针，3-伸缩弹簧，4-通信接口。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图2、图3和图4所示，一种测试工装，包括通信接口4，通信接口4的各管脚均设置有与其电连接的测试探头，测试探头至少包括两根PIN针2，每根PIN针2分别与对应的通信接口管脚电连接，任意两根PIN针2之间均设置有间隙，各PIN针2的针尖位于同一平面上，且所有PIN针2的针尖均与同一标准焊盘1对应设置。

本实用新型的测试工装，通过PIN针2通信的电子产品测试。本测试工装每个测试探头均至少包括两根PIN针，在测试过程中，当一根PIN针2接触在焊盘1之外时，还有另外一根或多根PIN针2可与焊盘1实现点接触，使测试工装的最大允许公差范围扩大。此时，允许焊盘1点偏移量，从而降低了组装公差、物料结构公差等，对测试过程中通信可靠性的影响，降低了生产制造过程中，产品功能测试的误测率，提高了测试效率。而且结构简单，操作方便，使用方便。

如图2、图3和图4所示，本实施例中，每个测试探头均包括三根PIN针2，三根PIN针2呈三角形排列设置，使任意两根PIN针2之间的垂直距离在之间，也就是焊盘1点偏移量在范围内。

当焊盘1公差大于时，测试探头也能够与焊盘1实现点接触。

如图2、图3和图4所示，本实施例中的三根PIN针2可均匀排列设置，排列成等边三角形。使焊盘1在三个方向上均设有可与其点接触的PIN针2，即便焊盘1公差大于时，测试探头也能够与焊盘1实现点接触。

如图2、图3和图4所示，每根PIN针2均与标准焊盘1同一侧的边缘对应设置，当标准焊盘1为矩形焊盘时，可使两根PIN针2与标准焊盘1同一侧边的边缘对应设置，使第三根PIN针2与标准焊盘1的另一侧边的边缘对应设置，这样三根PIN针2的最大允许的公差范围为

如图1、图2、图3和图4所示，每根PIN针2内均设置有伸缩弹簧3，该伸缩弹簧3的一端PIN针2靠近通信接口4的一端连接，使PIN针2可伸缩。当PIN针2落在焊盘补强10上时，其可压缩伸缩弹簧3处于缩的状态，因焊盘补强10高于焊盘1，而其他PIN针2还是保持原来的高度，去与焊盘1可靠的点接触，进一步保证了点接触的可靠性，让测试工装与待测产品可靠通信，准确的完成测试。

如图1、图2、图3和图4所示，本实施例中，测试工装上的通信接口为USB接口，USB接口包括四个管脚，四个管脚分别为：GND、DATA+、DATA-和VBUS，对应的测试工装包括四个测试探头，四个测试探头分别通过导线与GND、DATA+、DATA-和VBUS管脚电连接，每根导线再分出几股导电线分别与PIN针2电连接。本实施例的测试工装可用于测试利用USB接口通信的电子产品，对应的电子产品的线路板上分别设置有四个焊盘1，四个焊盘1分别为GND、DATA+、DATA-和VBUS。另外本实施例中的焊盘1为矩形，标准焊盘1的边长为L，相邻两标准焊盘1之间的距离为d。

如图1所示，实际用于测试时，当结构物料公差和组装公差导致焊盘1的中心偏斜时，那么焊盘1与PIN针2点接触的位置也会随之变化。根据设计要求，公差变化范围小于相邻焊盘1间的距离d。点接触的位置偏差有如下两种极限情形：

如图3所示，当L大于d时，三PIN针2使测试工装最大能允许的公差为d，因d大于也就是大于现有技术中单PIN针2测试工装的最大允许公差。也就是当L大于d时，本实施例的测试工装，每个测试探头可有两根PIN针与焊盘2点接触。

如图4所示，当L小于d时，三PIN针2测试工装最大允许公差为L，大于也就是，当L大于d时，本实施例的测试工装，每个测试探头仅有一根PIN针不与焊盘2点接触。

当点接触的位置偏差，在上述两种情形之间时，直接推出测试探头也能够与焊盘实现点接触。

三个PIN针2在伸缩弹簧3的作用下均可伸缩，即使有PIN针2超出与焊盘1点接触的范围，接触在焊盘补强10位置，其余的PIN针2也可以正常与焊盘1之间实现点接触。不会因为焊盘补强10与焊盘1之间的高度差，而影响整体的通信效果。

以上所述本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同一种测试工装结构的改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。