一种防伪检测装置及防伪层的制作方法

本发明涉及一种防伪检测装置，具体涉及一种防伪检测装置及防伪层，属于光学防伪技术领域。

背景技术：

传统防伪技术大规模利用植入产品的特殊材料的荧光、变色等光学性质进行物品的真假识别。

由于可以直接使用肉眼检测，荧光防伪技术广受欢迎。但是，随着制假产业的发展，传统技术以肉眼检测的便利性反而变向提醒了制假者在仿冒真品时需要特别注意的要点。随着以往限制供应的特种防伪荧光材料被不断仿制出来，传统荧光防伪技术遭到了极大的挑战。

技术实现要素：

为解决现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种对比观察到的荧光强度，即可判断真伪的防伪层及防伪检测装置。

为了实现上述目标，本发明采用如下的技术方案：

一种防伪检测装置，包括检测盒、紫外灯及检测镜片；

所述检测盒一侧敞口，另一侧设有观测窗口，且检测镜片设于观测窗口处；

所述检测镜片涂覆荧光层；

紫外灯内置于检测盒内，由电源模块供电。

上述紫外灯与检测镜片之间设有阻块，隔断紫外灯与检测镜片之间的直射光线。

进一步的，上述电源模块设于阻块内。

上述检测盒的敞口端设有橡胶圈。

适用于上述的一种防伪检测装置的防伪层，包括镀覆于基材表面的反射紫外光的透明薄膜。

进一步的，上述薄膜包括若干层堆叠的反射层；所述反射层包括叠合的氧化钽薄膜和氧化硅薄膜；且氧化钽薄膜和氧化硅薄膜的厚度为纳米级。

更进一步的，上述反射层堆叠后，氧化钽薄膜和氧化硅薄膜依次交替叠合。

更进一步的，上述反射层堆叠后，于基材界面为氧化钽薄膜，于空气界面为氧化硅薄膜。

更进一步的，上述氧化钽薄膜的厚度为10-40纳米；所述氧化硅薄膜的厚度为40-80纳米。

更进一步的，上述反射层的层数为10-20层。

本发明的有益之处在于：

本发明的一种防伪检测装置，通过紫外灯产生紫外光，通过组块隔断直射的紫外光，利用检测镜片上的荧光层接收防伪层的反射的紫外光，即通过检测镜片检验反射的紫外光来验证真伪。匹配该防伪检测装置的防伪层，于自然光照射下呈透明状，与无防伪层、仅涂有清漆的基材无差异。

本发明提供的新型的防伪识别技术，通过使用特殊透明的紫外线高反射率薄膜对产品进行隐蔽的标记，然后利用紫外光源和相应的荧光材料对产品表面进行检测。通过检测结果，比较反射光的强弱，检测者可以判断被检测物表面是否存在该薄膜，进而判断被检测物的真假。其解决了以往防伪技术中防伪材料（荧光物质）易被发现从而防伪设计遭到破解的问题，检测步骤简单、易操作，检测及防伪成本低，具有很强的实用性和广泛的适用性。

附图说明

图1为本发明的一种防伪检测装置的结构示意图。

图2为本发明的一种防伪层的结构示意图。

附图中标记的含义如下：1、检测盒，2、紫外灯，3、观测窗口，4、检测镜片，5、基材，6、橡胶圈，7、防伪层，8、阻块；

a、氧化钽薄膜，b、氧化硅薄膜。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本发明作具体的介绍。

一种防伪检测装置，由检测盒、紫外灯及检测镜片组成；

检测盒的一侧敞口，敞口端设有橡胶圈；另一侧设有带检测镜片的观测窗口，检测镜片涂覆荧光层；紫外灯内置于检测盒内，紫外灯与检测镜片之间设有隔断紫外灯直射光线的阻块，为紫外灯供电的电源模块设于阻块内。电源模块优选为电池。

一种防伪层，为能反射紫外光的透明薄膜，镀覆于基材的表面。

优选的，该透明薄膜由若干层堆叠的反射层组成；反射层包括叠合的氧化钽薄膜和氧化硅薄膜；且氧化钽薄膜的厚度为10-40纳米，氧化硅薄膜的厚度为40-80纳米，反射层的层数为10-20层。

优选的，氧化钽薄膜的厚度为30纳米，氧化硅薄膜的厚度为60纳米，反射层的层数为20层。

反射层堆叠后，氧化钽薄膜和氧化硅薄膜依次交替叠合，于基材界面为氧化钽薄膜，于空气界面为氧化硅薄膜。

使用时，由于防伪镀层本身透明，故在自然光照射下，镀覆防伪层的基材表面的颜色、纹理等外观与无防伪层、仅涂有清漆的基材毫无差异。

检测时，将检测盒的敞口端紧贴基材表面的防伪层；打开紫外灯，紫外线照射到基材表面。

对于有防伪层的物品，防伪层能够接近完全反射紫外线；反射的紫外线会点亮检测镜片上的荧光材料；检测者能够通过观察窗口看到强烈的荧光。

对于没有防伪涂层标记的物品，其表面的清漆会吸收紫外线；此时，透过观察窗口看不到荧光。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，上述实施例不以任何形式限制本发明，凡采用等同替换或等效变换的方式所获得的技术方案，均落在本发明的保护范围内。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种防伪检测装置，包括检测盒、紫外灯及检测镜片；检测盒一侧敞口，另一侧设有观测窗口，且检测镜片设于观测窗口处；检测镜片涂覆荧光层；紫外灯内置于检测盒内，由电源模块供电。防伪层包括镀覆于基材表面的反射紫外光的透明薄膜，该薄膜包括若干层堆叠的反射层；反射层包括叠合的氧化钽薄膜和氧化硅薄膜；且氧化钽薄膜和氧化硅薄膜的厚度为纳米级。通过使用特殊透明的紫外线高反射率薄膜对产品进行隐蔽的标记，然后利用紫外光源和相应的荧光材料对产品表面进行检测，通过检测结果，检测者可以判断被检测物表面是否存在该薄膜，进而判断被检测物的真假。检测步骤简单、易操作，检测及防伪成本低，具有很强的实用性和广泛的适用性。

技术研发人员：王建华;王斑;王超
受保护的技术使用者：南京前海有芯信息技术有限公司
技术研发日：2019.02.28
技术公布日：2019.05.24