在设定可编程器件的判断值时，可对IGBT器件在脱落不同根数的键合引线检测，从而确定IGBT器件能够正常工作时所需最少根数的键合引线的数量。
[0030]S2.待IGBT器件的栅极电压达到阈值电压时，IGBT器件开通。IGBT器件开通后，测量IGBT器件的栅极电压值，将栅极电压值输入到若干比较器中与比较器中的比较值进行比较，若测量的栅极电压值大于或等于相应的预设值，则相应的比较器反馈第一信号给可编程器件，若测量的栅极电压值小于相应的预设值，则相应的比较器反馈第二信号给可编程器件。
[0031]其中，由于比较器中的比较值为相应的脱落一定根数的键合引线时IGBT器件的栅极电压值，当实时测量的栅极电压值大于或等于所述比较值时，则说明IGBT器件中的键合引线发生一定的脱落，脱落的数量大于或等于比较值所对应的键合引线脱落的数量。此时，比较器反馈第一信号给可编程器件，所述第一信号可以记为I。
[0032]从而，当实时测量的栅极电压值小于所述比较值时，则说明IGBT器件中键合引线未出现脱落现象，或脱落的键合引线的数量小于比较值所对应的键合引线脱落的数量。此时，比较器反馈第二信号给可编程器件，所述第二信号可以记为O。
[0033]此外，所述S2中可编程器件在IGBT器件开通后，经过预设时间，可编程器件接收第二次信号，所述预设时间小于所述IGBT器件的米勒平台电压持续的时间。如此设置的目的在于，当IGBT器件中出现键合引线脱落的现象时，IGBT器件的米勒平台电压持续时间减小，并逐渐退化甚至消失。从而，当经过预设时间进行对IGBT器件进行采样分析时，测量的栅极电压可很好的反应所述米勒平台电压的变化，从而便于判断键合引线是否发生脱落。
[0034]S3.可编程器件将若干比较器的反馈结果进行输出，生成输出信号，当可编程器件接收到第一信号时，则可编程器件生成的输出信号代表IGBT器件的键合引线出现脱落；当可编程器件只接收到第二信号时，则可编程器件生成的输出信号代表IGBT器件的键合引线运行正常。
[0035]具体地，作为一种实施方式，当设置η个比较器时，若干比较器的比较值分别为％、V2>……\。相应地，若干比较器反馈信号给CPLD时，CPLD生成的输出信号为00……O时，表示IGBT器件的键合引线运行正常。当任一比较器反馈I信号时，表示IGBT器件的键合引线存在脱落现象。
[0036]进一步地，所述S3还包括:所述可编程器件将测量的栅极电压下导通的键合引线的根数与判断值比较，当小于该判断值时，可编程器件关断IGBT器件；当大于或等于该判断值时，可编程器件保证IGBT器件处于工作状态。如此设置，可发挥IGBT器件的最大工作效率。
[0037]此外，本发明还提供一种用于实现如上所述IGBT器件的故障检测方法的检测电路100，其中所述IGBT器件包括芯片、及与所述芯片电性连接的若干键合引线。
[0038]所述检测电路100包括若干相互并联的比较器10、及与所述若干比较器10相串联的可编程器件20，所述比较器10的数量与所述键合引线的数量相对应，所述若干比较器10具有相应的比较值，所述比较值为脱落相应数量的键合引线时IGBT器件的栅极电压值。
[0039]所述可编程器件20具有判断值，所述判断值为保证IGBT器件正常运行时所需导通的键合引线的最少根数。所述可编程器件20为CPLD或FPGA。
[0040]综上所述，本发明的IGBT器件的故障检测方法无需拆解IGBT器件即可对其键合引线是否存在脱落现象、以及脱落的根数提前做出判断，避免因一根引线脱落而导致其它引线脱落，最终造成IGBT器件的故障，甚至系统瘫痪。该方法易于操作，且成本较低。
[0041]对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
[0042]此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
【主权项】
1.一种IGBT器件的故障检测方法，所述IGBT器件包括芯片、及与所述芯片电性连接的若干键合弓I线，其特征在于，所述故障检测方法包括如下步骤: 51.设置与所述若干键合引线数量相对应的比较器，预设若干比较器中的比较值，所述比较值为脱落相应数量的键合引线时IGBT器件的栅极电压值，设置与所述若干比较器电性连接的可编程器件； 52.待IGBT器件开通后，测量IGBT器件的栅极电压值，将栅极电压值输入到若干比较器中与比较器中的比较值进行比较，若测量的栅极电压值大于或等于相应的预设值，则相应的比较器反馈第一信号给可编程器件，若测量的栅极电压值小于相应的预设值，则相应的比较器反馈第二信号给可编程器件； 53.可编程器件将若干比较器的反馈结果进行输出，生成输出信号，当可编程器件接收到第一信号时，则可编程器件生成的输出信号代表IGBT器件的键合引线出现脱落；当可编程器件只接收到第二信号时，则可编程器件生成的输出信号代表IGBT器件的键合引线运行正常。
2.根据权利要求1所述的IGBT器件的故障检测方法，其特征在于，所述SI还包括:设定所述可编程器件中的判断值，所述判断值为保证IGBT器件正常运行时所需导通的键合引线的最少根数； 所述S3还包括:所述可编程器件将测量的栅极电压下导通的键合引线的根数与判断值比较，当小于该判断值时，可编程器件关断IGBT器件；当大于或等于该判断值时，可编程器件保证IGBT器件处于工作状态。
3.根据权利要求1所述的IGBT器件的故障检测方法，其特征在于，所述S2中可编程器件在IGBT器件开通后，经过预设时间，可编程器件接收第二次信号，所述预设时间小于所述IGBT器件的米勒平台电压持续的时间。
4.根据权利要求1所述的IGBT器件的故障检测方法，其特征在于，所述可编程器件为CPLD 或 FPGA。
5.一种用于实现权利要求1所述IGBT器件的故障检测方法的检测电路，所述IGBT器件包括芯片、及与所述芯片电性连接的若干键合引线，其特征在于，所述检测电路包括若干相互并联的比较器、及与所述若干比较器相串联的可编程器件，所述比较器的数量与所述键合引线的数量相对应，所述若干比较器具有相应的比较值，所述比较值为脱落相应数量的键合引线时IGBT器件的栅极电压值。
6.根据权利要求5所述的IGBT器件的故障检测方法，其特征在于，所述可编程器件具有判断值，所述判断值为保证IGBT器件正常运行时所需导通的键合引线的最少根数。
7.根据权利要求5所述的IGBT器件的故障检测方法，其特征在于，所述可编程器件为CPLD 或 FPGA。
【专利摘要】本发明公开了一种IGBT器件的故障检测方法及相应的检测电路，其中故障检测方法包括如下步骤：S1.设置与所述若干键合引线数量相对应的比较器，预设若干比较器中的比较值，设置与所述若干比较器电性连接的可编程器件；S2.待IGBT器件开通后，测量IGBT器件的栅极电压值，将栅极电压值输入到若干比较器中与比较器中的比较值进行比较，比较器相应地反馈第一信号和第二信号；S3.可编程器件将若干比较器的反馈结果进行输出，生成输出信号。本发明的IGBT器件的故障检测方法无需拆解IGBT器件即可对其键合引线是否存在脱落现象、以及脱落的根数提前做出判断，避免因一根引线脱落而导致其它引线脱落，最终造成IGBT器件的故障，甚至系统瘫痪。
【IPC分类】G01R31-26
【公开号】CN104880657
【申请号】CN201410072990
【发明人】曹琳
【申请人】西安永电电气有限责任公司
【公开日】2015年9月2日
【申请日】2014年2月28日