低温箱，充分利用加热能量。
[0047]202、对连接高低温的设备串口初始化。
[0048]203、发送指令给高低温设备，设定温度I。
[0049]204、等待温度稳定，通常，温度到底指定的温度点后30秒才确认为稳定。
[0050]205、触发 ATE 测试。
[0051]206、ATE对DUT进行测试(结合图3所示，为ATE对存储器芯片进行测试的流程示例)。
[0052]207、测试结束后，ATE发送消息给上位机。
[0053]208、对测试数据进行检查，如有异常，通知相关人员。
[0054]209、重复203-208过程，直到所有的温度点都测试完成。
[0055]在测试过程中，可以增大温度变量的采样点，例如可以设置每隔5度进行性能测试。可以绘制平滑精准的温度曲线，以准确地反应芯片的特性。
[0056]如果发现异常，通知相关人员，会用邮件的方式，或者告警的方式通知。
[0057]在201步骤中，上位机控制端会根据用户输入的所需测试的温度点进行排序，温度点由低到高排列，从而避免一会高温一会低温的情况，用户在设定时不需考虑先后顺序，只进行单纯的输入即可。而且，上位机控制端会提供一组默认的的温度点，该组温度点通常为常用的，所述温度点显示于界面上，以便于用户在输入时参照，减少用户每次都需要进行繁琐的输入过程。上位机控制端会在用户输入的时候对用户输入所需测试点的合法性进行检测，以避免在系统启动后对高低温设备调温时发送一些非法字符或是超出不正常的温度值(例如1000度)。
[0058]合法性检测包括:
[0059]-检测用户输入字符必须为可视字符，即其ASCII码值必须位于[48，57]区间中。
[0060]-如果用户输入为整型数据，则自动补充2位小数部分，以匹配高低温设备精度。
[0061]-如果用户输入浮点型数据，则检测必须为有效数据，即有且只有一个小数点、小数点前必须有数值等。
[0062]-如果用户输入浮点型数据，同时要自动删减或补充数据位，以匹配高低温设备的精度。
[0063]-检测用户输入必须为10进制。
[0064]-检测用户输入数据位于高低温设备允许设定的有效区间。(如-40至150摄氏度之间)。
[0065]如有违背以上任何规则，控制软件将提示错误，要求用户重新输入。
[0066]ATE开始对待测芯片进行测试，具体操作时通过对ATE进行编程，控制ATE设备触发所需的测试激励(不同种类的芯片有较大差别，这里不做详细描述)，控制ATE设备对待测芯片进行测量，并且存储相关数据。
[0067]测试完成后，上位机对测试项的测试数据范围进行分析，如该参量有设计阈值，则要求实测数据位于阈值区间内；如该参量只有典型值，则要求实测数据位与典型值小于5%,否则系统视为异常数据。
[0068]同时，上位机对测试数据的健全性进行分析，检测存档数据中是否包括所有测试项目的数据，如果丢失视为异常；检测每一项测试数据的crc4结尾标志(每一个数据文档都以文档所有数据的crc4校验值结尾)，如果丢失该crc4结尾标志；视为数据丢失。
[0069]结合分析结果，上位机根据既定规则决定是否有必要进行通知或提示。
[0070]本发明将环境温度供给设备与芯片测试设备有机地结合在一起，在进行芯片测试的时候能够结合温度进行多项测试，能够在多个温度环境下实现芯片自动测试。从而解决芯片在进行全温度环境(汽车级，-40-125度)测试时，所一直面临的繁杂的人工操作问题，从而提高待测芯片在不同温度点的测试数据量。并且根据预设对所测试数据进行备份，智能分析，同时以邮件的形式实时的通知相关人员。
[0071]且该方法能够自动调整高低温设备温度、自己触发各种测试用例、自己进行数据存储、分析，简便快捷。以极大的提高数据量，缩短测试周期。
[0072]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种用于多温度测试的芯片自动测试方法，其特征在于选用ATE作为主要的测试激励施加和测量设备，选用高低温箱作为环境温度供给设备，采用上位机软件对ATE和高低温箱进行主控，实现定时调温，定时测试；测试后上位机软件负责对ATE传回的测试数据进行整理，备份，分析；具体地说，其具体的测试步骤为: 101、上位机对ATE进行通信检查； 102、上位机对高低温箱进行串口初始化； 103、上位机对用户预设的复数个温度点进行智能排序，所述的温度点由低到高排列； 104、上位机对根据排序的温度设定高低温箱的供给温度； 105、温度稳定后，上位机触发ATE进行芯片测试； 106、ATE开始对待测芯片进行测试； 107、ATE发送测试结束的消息给上位机，然后上位机对测试数据进行整理、分析以确定数据是否异常、是否进行通知或提示。2.如权利要求1所述的用于多温度测试的芯片自动测试方法，其特征在于所述的方法中，一个温度点的测试完成后，上位机通过串口进行再次调温，重复104-106的步骤，直到所有设定的温度点都完成了测试。3.如权利要求1所述的用于多温度测试的芯片自动测试方法，其特征在于所述103步骤中，进一步包括有， 1031、所述上位机控制端会提供一组默认的的温度点，该组温度点显示于界面上； 1032、输入检测；上位机控制端会在用户输入的时候对用户输入所需测试点的合法性进行检测，以避免在系统启动后对高低温设备调温时发送一些非法字符或是超出不正常的温度值。4.如权利要求3所述的用于多温度测试的芯片自动测试方法，其特征在于所述合法性检测包括: 10321、检测用户输入字符必须为可视字符，即其ASCII码值必须位于[48，57]区间中； 10322、如果用户输入为整型数据，则自动补充2位小数部分，以匹配高低温设备精度； 10323、如果用户输入浮点型数据，则检测必须为有效数据，即有且只有一个小数点、小数点前必须有数值等； 10324、如果用户输入浮点型数据，同时要自动删减或补充数据位，以匹配高低温设备的精度； 10325、检测用户输入必须为10进制； 10325、检测用户输入数据位于高低温设备允许设定的有效区间； 10326、如有违背以上任何规则，控制软件将提示错误，要求用户重新输入。5.如权利要求1所述的用于多温度测试的芯片自动测试方法，其特征在于所述107步骤中，进一步包括有，. . 1071、上位机对测试项的测试数据范围进行分析，如该参量有设计阈值，则要求实测数据位于阈值区间内；如该参量只有典型值，则要求实测数据位与典型值小于5%，否则系统视为异常数据； . 1072、上位机对测试数据的健全性进行分析，检测存档数据中是否包括所有测试项目的数据，如果丢失视为异常；检测每一项测试数据的crc4结尾标志，如果丢失该crc4结尾标志；视为数据丢失； .1073、上位机根据既定规则决定是否有必要进行通知或提示。
【专利摘要】本发明公开了一种用于多温度测试的芯片自动测试方法，该方法选用ATE作为主要的测试激励施加和测量设备，选用高低温箱作为环境温度供给设备，采用上位机软件对ATE和高低温箱进行主控，实现定时调温，定时测试；测试后上位机软件负责对ATE传回的测试数据进行整理、备份、分析；从而解决芯片在进行全温度环境测试时，所一直面临的繁杂的人工操作问题，从而提高待测芯片在不同温度点的测试数据量。
【IPC分类】G01R31/28
【公开号】CN105004985
【申请号】CN201510385990
【发明人】宋恩琳
【申请人】深圳市芯海科技有限公司
【公开日】2015年10月28日
【申请日】2015年6月30日