一种测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于测试电子设备中的多合一卡槽的测试装置。
【背景技术】
[0002]在笔记本电脑以及其他电子设备生产过程中，为了提高产品的生产良率，需要剔除不合格及隐藏潜在风险的产品，以达到对生产成本及后期维修成本的管控。通常对电子设备的信赖性及功能性进行测试为目前采用的一种用于剔除不良产品的方法，而对笔记本电脑和其他一些电子设备中的多合一卡槽的功能进行测试是其中一个重要环节。
[0003]笔记本电脑主板测试和笔记本电脑整体测试(整体组装完成后测试)均包括多合一^^槽的功能测试。在现有笔记本电脑测试流程中，针对笔记本电脑主板的多合一^^槽测试和笔记本电脑整体的多合一卡槽测试均采用手工插拔实体卡(存储卡)的方式进行，具体测试流程如图1所示。在该测试流程中，当笔记本电脑的测试程序启动运行后，会对插入笔记本电脑的多合一^^槽中的实体卡进行自动测试，如果当前实体卡测试成功，笔记本电脑的显示端会提示当前测试结果为通过，并告知测试人员插入下一张实体卡进行测试。如此反复进行，直到整个多合一卡槽测试流程完成。如果在测试中有一张实体卡的测试结果为失败，测试程序会自动暂停并锁定整个测试流程，同时提供出测试失败的原因，修护人员根据该原因对测试失败的实体卡进行维修，然后重新测试。
[0004]而上述测试方式的缺点如下:
[0005]多合一^槽功能性测试主要通过人员手工切换不同种类的实体卡来完成所有测试，而由于人员手工频繁热插拔实体卡，不仅费时费力，且极大缩短了实体卡的使用寿命(如出现接口磨损、电子件损坏等现象)，也就是上述测试方式的缺点为:
[0006]a.人力成本较高；
[0007]b.严重影响实体卡的使用寿命，增加了生产成本；
[0008]c.完成整个测试流程耗时较长，一般需要10-12秒，导致生产效率低。
【发明内容】
[0009]本发明所要解决的问题是，提供一种人工成本低，无需作业人员通过插拔实体卡便可自动切换测试对象的测试装置。
[0010]为了解决上述问题，本发明提供一种测试装置，用于对电子设备上的多合一卡槽的功能进行测试，所述测试装置包括:
[0011]基体；
[0012]多个插卡器，均设于所述基体上并各对应不同种类的存储卡；
[0013]设于所述基体上用于和所述多合一卡槽相连的测试接头，所述测试接头具有能够同时与所述多合一卡槽的各电接口电连接的连接端;及
[0014]设于所述基体上并分别与所述电子设备的信号接口和所述测试接头电连接的调控部，所述调控部配置为根据从所述电子设备的信号接口接收的选择指令而切换为与所述多个插卡器中对应的一个插卡器电连接，以使所述对应的一个插卡器通过所述调控部与所述测试接头电连接。
[0015]作为优选，所述调控部包括电子开关芯片和分别与所述电子设备的信号接口及电子开关芯片电连接的信号处理器，所述信号处理器配置为根据所述选择指令而向所述电子开关芯片输出切换指令。
[0016]作为优选，所述测试装置还包括设于所述基体上的单步按键、第一切换开关和由第一切换开关进行切换的手动测试部和自动测试部，所述单步按键和第一切换开关均与所述信号处理器电连接；
[0017]所述单步按键配置为仅能够在所述手动测试部运行时启动，并在启动期间能够在用户的触发动作下向所述信号处理器发送单步选择指令；
[0018]所述信号处理器还配置为在接收到所述单步选择指令时相应地向所述电子开关芯片输出切换指令，并配置为在所述自动测试部运行时根据预设的测试顺序向所述电子开关芯片输出切换指令。
[0019]作为优选，所述测试器还包括设于所述基体上并由第二切换开关进行开关控制的顺序测试部和中断测试部，所述第二切换开关与所述信号处理器电连接；
[0020]所述顺序测试部配置为当在所述手动测试部运行期间启动时向所述信号处理器传送顺序测试信号；
[0021]所述中断测试部配置为当在所述手动测试部运行期间启动时基于用户对所述单步按键的触发动作而断开当前处于连通中的所述插卡器；
[0022]所述信号处理器还配置为在所述中断测试部启动时，其或按预设的测试顺序重新向所述电子开关芯片依次输出切换指令，或根据所述单步按键向其发送的单步选择指令而相应地向所述电子开关芯片输出切换指令。
[0023]作为优选，所述测试器还包括设于所述基体上的多个指示灯，所述多个指示灯与所述插卡器一一对应以指示当前处于测试中的存储卡。
[0024]作为优选，所述测试器还包括设于所述基体上并与所述信号处理器电连接的USB转串接口，所述USB转串接口上连有用于连接所述电子设备的信号接口的数据线。
[0025]作为优选，所述基体为一板体。
[0026]作为优选，所述电子设备为笔记本电脑。
[0027]本发明的测试装置的有益效果在于:
[0028]a.缩短了多合一卡槽的测试时间，提高了生产线测试效率。
[0029]b.减少了参与测试的人力成本，实现了多合一卡槽测试的自动化。
[0030]c.有效避免了由于频繁插拔存储卡而导致存储卡损坏的现象，延长了存储卡的使用寿命，降低了生产测试成本。
【附图说明】
[0031]图1为本现有技术中多合一卡槽的测试流程图。
[0032]图2为本发明的测试装置中测试器的结构示意图。
[0033]图3为本发明的测试装置中的测试接头的结构示意图。
[0034]图4为本发明的测试装置的结构关系图。
[0035]图5为本发明的测试装置的使用流程图。
[0036]附图标记:
[0037]1-基体;2-插卡器;3-USB转串接口 ； 4_数据线；5_测试接头;6_存储卡;7_第一切换开关;8-第二切换开关;9-单步按键;10-调控部;11-指示灯;12-连接端。
【具体实施方式】
[0038]以下结合附图对本发明进行详细描述。
[0039]如图2所示，本发明公开一种测试装置，用于对电子设备上的多合一卡槽的功能进行测试。本实施例中的电子设备为笔记本电脑，笔记本电脑的系统端中集成有处理系统，测试装置与电子设备间通过数据线4连接，具体可在测试装置上装设USB转串接口 3，接着将数据线4的两端分别与笔记本电脑的信号接口和测试装置上的USB转串接口 3连接即可。当电子设备为其他电子产品时，可独立设置一台集成有处理系统的笔记本电脑或台式电脑等作为处理机构。
[0040]如图2所示，测试装置包括基体I和均设于基体I上的插卡器2、测试接头5和调控部10。具体地:本实施例中的基体I为一板体，当然也可采用其他具有不同结构的部件作为基体I，如安装框。
[0041]插卡器2为多个，该多个插卡器2能够分别读取不同种类的存储卡6的信息，例如多个插卡器2能够分别读取SD卡、mmc卡、XD卡、MS卡的数据，且该多个插卡器2所能读取的存储卡6的种类与能够配合插入多合--槽中的存储卡6的种类相同，即，适配多合--槽的所有存储卡6均有一插卡器2与其对应，也就是该多个插卡器2分别为多合--槽中各子卡槽的延伸端，使该存储卡6在插入与其适配的插卡器2中时笔记本电脑同样可以输出该存储卡
6中所存储的信息(本实施例中适配多合--^槽的存储卡6与插卡器2--对应，当然，插卡器2的适配类型也可多于上述存储卡6的种类，S卩，插卡器2在测试时可留有空槽)。
[0042]测试接头5通过一导线连接至基体I上。如图3所示，该测试接头5具有能够同时与多合一卡槽中的各子卡槽的电接口同时电连接的连接端12，S卩，连接端12具有分别与这些电接口电连接的多个接触端子，以使该测试接头5能够与多合一卡槽配合连接，同时能够实现各存储卡6的数据输出。
[0043]如图4和图5所示，调控部10与测试接头5电连接，同时还与电子设备的信号接口电连接，以使其能够根据从电子设备的信号接口接收的用于选择测试对象的选择指令切换至与对应的插卡器2电连接。也就是使测试接头5与插在该对应的插卡器2内的存储卡6的连接线路电连接，以测试多合—^槽中与该插卡器2对应的子卡槽是否能够成功读取该存储卡6的数据。本实施例中该调控部10包括电子开关芯片和分别与电子开关芯片及电子设备的信号接口电连接的信号处理器。其中测试接头5及插卡器2均与电子开关芯片电连接。当电子设备在检测完成多合一卡槽的其中一个子卡槽的功能后要对下一子卡槽进行功能检测时，会向测试装置的信号处理器发送选择指令，信号处理器接收选择指令后便按照该指令的内容向电子开关芯片输出对应的切换指令，使测试接头5与插设在指定插卡器2中的存储卡6的连接线路电连接，进而实现测试对象的自动切换。