专利名称：一种伺服驱动器老化测试方法及系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及伺服驱动器领域，尤其涉及一种伺服驱动器老化测试方法及系统。
背景技术：
伺服驱动器属于伺服系统的一部分，是用来控制伺服电机的一种控制器，其作用类似于变频器作用于普通交流马达。伺服驱动器一般可以采用位置、速度和力矩三种控制方式，主要应用于高精度的定位系统。随着伺服系统的大规模应用，对伺服驱动器的可靠性和稳定性要求也越来越高。为了保证伺服驱动器的可靠与稳定，达到满意的合格率，避免在使用早期发生故障，需要对出产前的每一个伺服驱动器都进行老化测试，以使有问题的伺服驱动器在出厂前暴露出问题，防止其流入市场。老化测试是指让被测品进行超负荷工作而使其缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。对伺服驱动器的老化测试需要对待测的伺服驱动器施加一定的环境应力， 让伺服驱动器在这种环境下上电持续工作一段时间，检测其是否出现故障。目前的伺服驱动器进行老化测试的方法主要有两种一种方法是以被测伺服驱动器控制伺服电机以一定速度空载运行进行老化测试(如图1所示)。另一种是被测伺服驱动器带负载运行进行老化测试(如图2所示)，其负载可以是变频器带动的电机，或用机械装置。但是，上述两种老化测试方法都存在明显的缺陷第一种方法由于是空载，无法达到被测品的高负荷运行，老化测试效果并不明显。第二种方法虽然带有负载，但负载也需要成本，特别是在进行大规模的老化测试时，需要配备大量的负载，造成成本的增加。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种伺服驱动器老化测试方法及系统，对待测的伺服驱动器进行带负载的老化测试，且不需要为其配备专门的负载，以节约成本。为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种伺服驱动器老化测试方法，包括
将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接；
第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载；
检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在预置的测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格。其中，所述将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接，包括
将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，且将第一、第二伺服驱动器置于高温环境内；
将所述第一伺服电机与第二伺服电机通过轮轴连接，使所述第一伺服电机与第二伺服电机同步。其中，所述第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载，包括
第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，第一伺服电机带动作为其负载的第二伺服电机同步转动；
第二伺服驱动器处于上电状态，收集所述第二伺服电机转动产生的电量，并循环利用。其中，所述第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载之后，检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在预置的测试时长内是否出现故障之前，还包括
第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，所述第一伺服电机作为所述第二伺服电机的负载。其中，所述第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，所述第一伺服电机作为所述第二伺服电机的负载包括
第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，第二伺服电机带动作为其负载的第一伺服电机同步转动；
第一伺服驱动器处于上电状态，收集所述第一伺服电机转动产生的电量，并循环利用。相应的，本发明实施例还提供一种伺服驱动器老化测试系统，包括
装配模块，用于将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接；
控制模块，用于控制第一或第二伺服驱动器驱动其对应的伺服电机转动，另一伺服电机作为转动的伺服电机的负载；
检测模块，用于检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格。其中，所述装配模块包括
装配台，用于将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，并将所述第一伺服电机与第二伺服电机通过轮轴连接，使所述第一伺服电机与第二伺服电机同
止
少；
高温箱，用于放置所述第一、第二伺服驱动器，为所述第一、第二伺服驱动器提供高温测试环境。其中，所述控制模块包括
计时单元，用于预置对伺服驱动器进行老化测试的测试时长并计时； 控制单元，用于在测试时长的前半段控制第一伺服驱动器驱动第一伺服电机转动，使第一伺服电机带动第二伺服电机同步转动，且控制第二伺服驱动器处于上电状态；在测试时长的后半段控制第二伺服驱动器驱动第二伺服电机转动，使第二伺服电机带动第一伺服电机同步转动，且控制第一伺服驱动器处于上电状态。其中，所述伺服驱动器老化测试系统还包括
能量回馈模块，用于收集所述第一伺服电机或第二伺服电机作为负载时转动产生的电量，并循环利用为所述第一伺服驱动器和第二伺服驱动器的电源的补充。其中，所述检测模块包括
检测单元，用于检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在其测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格； 人机接口，用于输出所述检测单元的检测结果。本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法及系统，被测伺服驱动器的负载由另一伺服驱动器带动电机产生，两台伺服驱动器在测试中互为负载，因而在测试过程中不必再为被测伺服驱动器配备专门的负载。进一步的，本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法及系统，在对一组(两台)伺服驱动器完成老化测试后才需要安装新的待测伺服驱动器，相比现有技术中每测试完一台伺服驱动器就需要安装新的待测伺服驱动器，本实施提供的方法及系统减少了测试过程中装卸待测伺服驱动器的次数，测试效率更高。进一步的，本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法及系统中，作为负载的伺服电机可以输出电量，起到发电机的作用，而本发明实施例提供的方法及系统可以收集伺服电机输出的电量并循环利用，节约能源。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是现有的对伺服驱动器进行老化测试的示意图； 图2是现有的另一种对伺服驱动器进行老化测试的示意图3为本发明提供的伺服驱动器老化测试方法第一实施例流程示意图； 图4为本发明提供的伺服驱动器老化测试方法第二实施例流程示意图； 图5为本发明提供的伺服驱动器老化测试方法第三实施例流程示意图； 图6为本发明提供的伺服驱动器老化测试系统第一实施例结构示意图； 图7为本发明提供的伺服驱动器老化测试系统第二实施例结构示意图； 图8为对两个伺服驱动器进行同步测试的示意图； 图9为对两个伺服驱动器进行异步测试的示意图； 图10为同时对多组伺服驱动器进行老化测试的示意图。
具体实施例方式本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种伺服驱动器老化测试方法及系统，对待测的伺服驱动器进行带负载的老化测试，又不需要为其配备专门的负载，以节约成
6本。下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。参见图3，为本发明提供的伺服驱动器老化测试方法第一实施例流程示意图，该方法如图3所示
步骤S100，将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机通过轮轴进行机械连接实现同步转动。步骤S101，第一伺服驱动器驱动并控制所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载。此步骤不仅是对第一伺服驱动器的老化测试，也是对第二伺服驱动器的老化测试。步骤S102，检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在预置的测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则执行步骤S103 ；若出现故障，则执行步骤S104。步骤S103，判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格。步骤S104，判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格。本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法，被测伺服驱动器的负载由另一待测的伺服驱动器带动电机产生，因而在测试过程中不必再为被测伺服驱动器配备专门的负载，以节约成本。参见图4，为本发明提供的伺服驱动器老化测试方法第二实施例流程示意图，该方法如图4所示
步骤S200，将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接。步骤S201，第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载，且第二伺服驱动器处于上电状态。在此过程中，不仅是对第一伺服驱动器的老化测试，同时也是对第二伺服驱动器的老化测试。步骤S202，第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，所述第一伺服电机作为所述第二伺服电机的负载，且第一伺服驱动器处于上电状态。在此过程中，不仅是对第二伺服驱动器的老化测试，同时也是对第一伺服驱动器的老化测试。步骤S203，检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在预置的测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述对应的伺服驱动器合格；若出现故障，则判定对应的伺服驱动器不合格。本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法，被测伺服驱动器的负载由另一伺服驱动器带动电机产生，两台伺服驱动器在测试中互为负载，因而在测试过程中不必再为被测伺服驱动器配备专门的负载。进一步的，本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法，在对一组(两台)伺服驱动器完成老化测试后才需要安装新的待测伺服驱动器，相比现有技术中每测试完一台伺服驱动器就需要安装新的待测伺服驱动器，本实施提供的方法减少了测试过程中装卸伺服驱动器的次数，测试效率更高。
参见图5，为本发明提供的伺服驱动器老化测试方法第三实施例流程示意图，在本实施例中，将更为详细的描述该伺服驱动器老化测试方法的具体流程。在实施本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法前，需要设定对伺服驱动器进行老化测试的时长，在本实施例中假设该老化测试时长为2t。该方法如图5所示
步骤S300，将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接。更为具体的，第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接后，第一、第二伺服驱动器可以分别对第一、第二伺服电机进行驱动和控制。第一伺服电机与第二伺服电机通过轮轴连接，使两台伺服电机的转动同步。进一步的，可以将第一、第二伺服驱动器置于高温环境或者模拟工业现场的温度环境内，以达到更好的老化测试效果。步骤S301，在老化测试时长2t的前半段，时长t内，第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机。此时第二伺服驱动器并不驱动第二伺服电机，第二伺服电机仅作为第一伺服电机的负载。进一步的，在此过程中第二伺服驱动器处于上电状态，只是不驱动第二伺服电机。 对第二伺服驱动器上电也是对第二伺服驱动器的老化测试过程，类似于电脑测试中的烧机。步骤S302，收集所述第二伺服电机转动产生的电量，并循环利用。更为具体的，在老化测试时长2t的前半段，时长t内，第二伺服电机被第一伺服电机带动转动，成为发电机，可以对外输出电量，在本步骤中将第二伺服电机输出电量收集，通过变压调幅后循环利用。本步骤为优选步骤，在实际应用中可以省略。步骤S303，在老化测试时长2t的后半段，时长为t的时间段内，测试方式与步骤 S301中老化测试时长2t的前半段的测试方式类似，只是测试对象互换。具体为，第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机。此时第一伺服驱动器并不驱动第一伺服电机旋转，第一伺服电机作为第二伺服电机的负载。进一步的，在此过程中第一伺服驱动器也处于上电状态，只是不驱动第一伺服电机。对第一伺服驱动器上电也是对第一伺服驱动器的老化测试过程。步骤S304，与步骤S302类似，在老化测试时长2t的后半段，时长为t的时间段内， 第一伺服电机被第二伺服电机带动转动，成为发电机，可以对外输出电量，在本步骤中将第一伺服电机输出电量收集，通过变压调幅后循环利用。本步骤为优选步骤，在实际应用中可以省略。步骤S305，检测所述第一伺服驱动器和第二伺服驱动器在整个预置的测试时长 2t内是否出现故障；若未出现故障，则判定第一伺服驱动器和第二伺服驱动器合格；若第一伺服驱动器和/或第二伺服驱动器出现故障，则判定对应的伺服驱动器不合格。本领域技术人员可以理解的是，本实施例提供的伺服驱动器老化测试方法既可以将两个伺服驱动器同步测试，也可以异步测试。为描述方便，现假设有6台待测试的伺服驱动器，命名为1飞号伺服驱动器，其测试流程可以如图8所示，两个伺服驱动器同步测试；也可以如图9所示进行异步测试。本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法，被测伺服驱动器的负载由另一伺服驱动器带动电机产生，两台伺服驱动器在测试中互为负载，因而在测试过程中不必再为被测伺服驱动器配备专门的负载。进一步的，本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法，在对一组(两台)伺服驱动器完成老化测试后才需要安装新的待测伺服驱动器，相比现有技术中每测试完一台伺服驱动器就需要安装新的待测伺服驱动器，本实施提供的方法减少了待测伺服驱动器装卸的次数，测试效率更高。进一步的，本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试方法中，作为负载的伺服电机起到了发电机的作用，而本发明实施例提供的方法可以收集伺服电机产生的电量并循环利用，节约能源。参见图6，为本发明提供的伺服驱动器老化测试系统第一实施例结构示意图，本实施例提供的伺服驱动器老化测试系统可以实施本发明伺服驱动器老化测试方法第一、第二实施例中提供的流程。该系统如图6所示，包括
装配模块1，用于将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接。控制模块2，用于控制第一或第二伺服驱动器驱动其对应的伺服电机转动，另一伺服电机作为转动的伺服电机的负载。检测模块3，用于检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在其测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格。本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试系统，被测伺服驱动器的负载由另一待测的伺服驱动器带动电机产生，因而在测试过程中不必再为被测伺服驱动器配备专门的负载，以节约成本。参见图7，为本发明提供的伺服驱动器老化测试系统第二实施例结构示意图，如图所示，该系统包括
装配模块，用于将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接。更为具体的，该装配模块包括装配台11和高温箱12 装配台11，用于将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，并将所述第一伺服电机与第二伺服电机通过轮轴连接。更为具体的，第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接后，第一、第二伺服驱动器可以分别对第一、第二伺服电机进行控制。第一伺服电机与第二伺服电机通过轮轴连接，使所述第一伺服电机与第二伺服电机同步，使两台伺服电机的转动同步。高温箱12，用于放置所述第一、第二伺服驱动器，为所述第一、第二伺服驱动器提供高温工作环境，以达到更好的老化测试的效果。高温箱根据大小的不同，可以一次性放置一定数量的伺服驱动器。控制模块2，用于控制第一或第二伺服驱动器驱动其对应的伺服电机转动，另一伺服电机作为转动的伺服电机的负载。更为具体的，该控制模块2包括计时单元21和控制单元22
计时单元21，用于预置对伺服驱动器进行老化测试的测试时长并计时。在本实施例中假设该老化测试时长为2t。控制单元22，用于在老化测试时长2t的前半段，时长为t的时间段内，控制第一伺
9服驱动器驱动第一伺服电机转动，使第一伺服电机带动第二伺服电机同步转动，且控制第二伺服驱动器处于上电状态；在老化测试时长2t的后半段，时长为t的时间段内，控制第二伺服驱动器驱动第二伺服电机转动，使第二伺服电机带动第一伺服电机同步转动，且控制第一伺服驱动器处于上电状态。更为具体的，在老化测试时长2t的前半段，控制单元22控制第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机。此时第二伺服驱动器并不驱动第二伺服电机旋转，第二伺服电机作为第一伺服电机的负载。进一步的，在此过程中控制单元22使第二伺服驱动器处于上电状态，只是不驱动第二伺服电机。对第二伺服驱动器上电也是对第二伺服驱动器的老化测试过程，类似于电脑测试中的烧机。在下一个测试时长t内(即老化测试时长2t的后半段，时长为t的时间段内)，控制单元22使第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机。此时第一伺服驱动器并不驱动第一伺服电机旋转，第一伺服电机作为第二伺服电机的负载。类似的，在此过程中控制单元22 使第一伺服驱动器也处于上电状态。本领域技术人员可以理解的，一台待测伺服驱动器实际上需要经历时长为2t的老化测试。检测模块3，用于检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在其测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格。更为具体的，该检测模块3包括
检测单元31，用于检测所述第一伺服驱动器和/或第二伺服驱动器在2t的测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述第一伺服驱动器和第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定对应伺服驱动器不合格。人机接口 32，用于输出所述检测单元31的检测判定结果。进一步的，本发明提供的伺服驱动器老化测试系统还包括能量回馈模块4，用于收集所述第一伺服电机或第二伺服电机作为负载时转动产生的电量，并循环利用为所述第一伺服驱动器和第二伺服驱动器的电源的补充。更为具体的，在老化测试时长2t的前1/2时间内，第二伺服电机被第一伺服电机带动转动，成为发电机，可以对外输出电量，能量回馈模块4将第二伺服电机输出电量收集，通过变压调幅后循环利用。在老化测试时长2t的后1/2时间内的情况与此类似，第一伺服电机被第二伺服电机带动转动，成为发电机，可以对外输出电量，能量回馈模块4将第一伺服电机输出电量收集，通过变压调幅后循环利用。进一步的，本发明各实施例提供的伺服驱动器老化测试方法及系统可以同时对多组伺服驱动器进行老化测试(如图10所示)，而不是一次只能测试两台伺服驱动器。本领域技术人员可以理解的是，本实施例提供的伺服驱动器老化测试系统既可以将两个伺服驱动器同步测试，也可以异步测试。为描述方便，现假设有6台待测试的伺服驱动器，命名为1飞号伺服驱动器，其测试流程可以如图8所示，两个伺服驱动器同步测试；也可以如图9所示进行异步测试。本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试系统，被测伺服驱动器的负载由另一伺服驱动器带动电机产生，两台伺服驱动器在测试中互为负载，因而在测试过程中不必再为被测伺服驱动器配备专门的负载。进一步的，本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试系统，在对一组(两台)伺服驱动器完成老化测试后才需要安装新的待测伺服驱动器，相比现有技术中每测试完一台伺服驱动器就需要安装新的待测伺服驱动器，本实施提供的系统减少了待测伺服驱动器装卸的次数，测试效率更高。进一步的，本发明实施例提供的伺服驱动器老化测试系统中，作为负载的伺服电机起到了发电机的作用，而本发明实施例提供的方法可以收集伺服电机产生的电量并循环利用，节约能源。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory, ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory, RAM)等。以上所揭露的仅为本发明一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。
权利要求
1.一种伺服驱动器老化测试方法，其特征在于，包括将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接；第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载；检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在预置的测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格。
2.如权利要求1所述的伺服驱动器老化测试方法，其特征在于，所述将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接，包括将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，且将第一、第二伺服驱动器置于高温环境内；将所述第一伺服电机与第二伺服电机通过轮轴连接，使所述第一伺服电机与第二伺服电机同步。
3.如权利要求1所述的伺服驱动器老化测试方法，其特征在于，所述第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载，包括第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，第一伺服电机带动作为其负载的第二伺服电机同步转动；第二伺服驱动器处于上电状态，收集所述第二伺服电机转动产生的电量，并循环利用。
4.如权利要求1所述的伺服驱动器老化测试方法，其特征在于，所述第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载之后，检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在预置的测试时长内是否出现故障之前，还包括第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，所述第一伺服电机作为所述第二伺服电机的负载。
5.如权利要求4所述的伺服驱动器老化测试方法，其特征在于，所述第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，所述第一伺服电机作为所述第二伺服电机的负载括第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，第二伺服电机带动作为其负载的第一伺服电机同步转动；第一伺服驱动器处于上电状态，收集所述第一伺服电机转动产生的电量，并循环利用。
6.一种伺服驱动器老化测试系统，其特征在于，包括装配模块，用于将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接；控制模块，用于控制第一或第二伺服驱动器驱动其对应的伺服电机转动，另一伺服电机作为转动的伺服电机的负载；检测模块，用于检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格。
7.如权利要求6所述的伺服驱动器老化测试系统，其特征在于，所述装配模块包括装配台，用于将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，并将所述第一伺服电机与第二伺服电机通过轮轴连接，使所述第一伺服电机与第二伺服电机同止少；高温箱，用于放置所述第一、第二伺服驱动器，为所述第一、第二伺服驱动器提供高温测试环境。
8.如权利要求6所述的伺服驱动器老化测试系统，其特征在于，所述控制模块包括 计时单元，用于预置对伺服驱动器进行老化测试的测试时长并计时；控制单元，用于在测试时长的前半段控制第一伺服驱动器驱动第一伺服电机转动，使第一伺服电机带动第二伺服电机同步转动，且控制第二伺服驱动器处于上电状态；在测试时长的后半段控制第二伺服驱动器驱动第二伺服电机转动，使第二伺服电机带动第一伺服电机同步转动，且控制第一伺服驱动器处于上电状态。
9.如权利要求6所述的伺服驱动器老化测试系统，其特征在于，所述伺服驱动器老化测试系统还包括能量回馈模块，用于收集所述第一伺服电机或第二伺服电机作为负载时转动产生的电量，并循环利用为所述第一伺服驱动器和第二伺服驱动器的电源的补充。
10.如权利要求6所述的伺服驱动器老化测试系统，其特征在于，所述检测模块包括 检测单元，用于检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在其测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格； 人机接口，用于输出所述检测单元的检测结果。
全文摘要
本发明实施例公开了一种伺服驱动器老化测试方法及系统，该方法包括将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接；第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载；检测所述第一伺服驱动器在预置的测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述第一伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器不合格。本发明实施例所提供的伺服驱动器老化测试方法及系统，对待测的伺服驱动器进行带负载的老化测试，且不需要为其配备专门的负载，以节约成本。
文档编号G05B23/02GK102508484SQ201110341318
公开日2012年6月20日 申请日期2011年11月2日 优先权日2011年11月2日
发明者王精 申请人:深圳市合信自动化技术有限公司