专利名称：验证装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关于一种验证装置，且特别是有关于一种可微调影像光线的光程的验证装置。
背景技术：
一般的光学检索影像设备，常见的有光学扫描器(optical scanner)、影印机(photostat)或是具有高解析度扫描功能的传真机(fax machine)等，这些光学检索影像设备其检索影像的原理大致是利用一灯源(lamp)发出光线并照射一文件，其光线经过文件的反射或透射以后，再经由一透镜的聚焦，最后成像于一影像检索装置上。
承上所述，为了使投射至文件后的影像光线，在经过透镜距焦后可成像于影像撷取装置上，会根据光学定律(1/p)+(1/q)＝(1/f)，以计算出理想的物距及像距，而决定文件、透镜与影像撷取装置三者的相对位置。以光学扫描器为例，透镜与影像撷取装置通常配置于一光学系统(chassis)中，且影像检索装置并位于透镜之后的光路径上。其投射至文件后的影像光线可由光学系统上的狭缝入射至光学系统中，并经过透镜的聚焦成像于影像检索装置上。值得注意的是，透镜可能会受到本身制造公差的影响，而使文件与影像撷取装置并未真正位于透镜的像距及物距上，进而导致影像撷取装置无法接收到最清晰的影像光线。
所以已知光学系统于验证阶段时，会将文件、透镜与影像检索装置架设至一微调治具上，并调整文件、影像检索装置与透镜之间的相对位置，以微调影像光线的光程，使影像检索装置能够撷取到最清晰的影像光线。然而，值得注意的是，由于是将文件、透镜与影像检索装置另行架设至微调治具上，来进行微调的动作，其并未在实际光学系统的架构下进行微调，其微调的精密度显然较差，故提出一种模拟光学系统的架构的验证装置，以对影像撷取装置上的成像品质做更精确的微调动作。
实用新型内容因此，本实用新型的目的就是在提供一种验证装置，是模拟光学系统的架构，并可在验证装置上调整透镜或影像检索装置的位置，进而微调影像光线的光程，使影像检索装置能够撷取到最清晰的影像光线，以作为光学系统中的透镜及影像检索装置摆放的依据。
基于上述的目的，本实用新型提出一种验证装置，适于微调一影像光线的光程，其特征在于，该验证装置至少包括一本体；一微调元件，配置于该本体上；一传动机构，枢设于该本体上，且与该微调元件连接；一载具，配置于该本体内，该载具具有一受动构件，该受动构件与该传动机构连接；一透镜，配置于该载具上；以及一影像检索装置，配置于该载具上，且位于该透镜之后的光路径上。
其中该微调元件为一螺杆，而该传动机构为一齿轮组，该螺杆并与该齿轮组相啮合。
其中该受动构件为一对齿条，且该齿条的延伸方向是对应平行于该微调元件的轴线方向，该齿条并与该齿轮组相啮合。
其中还包括复数个反射镜片，该些反射镜片配置于该本体内，且位于该透镜的前的光路径上。
其中还包括一轴套及一轴棒，该轴套及该轴棒配置于该本体及该载具上，且该轴套是对应套接该轴棒。
其中还包括一分厘卡，该分厘卡是与该微调元件连接。
其中该影像检索装置包括一电荷耦合元件及一电荷耦合元件板，该电荷耦合元件配置于该电荷耦合元件板上，而该电荷耦合元件板配置于该载具上。
本实用新型一种验证装置，适于微调一影像光线的光程，其特征在于，该验证装置至少包括一本体；一第一微调元件，配置于该本体上；一第一传动机构，枢设于该本体上，且与该第一微调元件连接；一第一载具，配置于该本体内，该第一载具具有一第一受动构件，该第一受动构件与该第一传动机构连接；一透镜，配置于该第一载具上；一第二微调元件，配置于该本体上；一第二传动机构，枢设于该本体上，且与该第二微调元件连接；一第二载具，配置于该本体内，该第二载具具有一第二受动构件，该第二受动构件与该第二传动机构连接；以及一影像检索装置，配置于该第二载具上，且位于该透镜之后的光路径上。
其中该第一微调元件为一螺杆，而该第一传动机构为一齿轮组，该螺杆并与该齿轮组相啮合。
其中该第一受动构件为一对齿条，且该齿条的延伸方向是对应平行于该第一微调元件的轴线方向，该齿条并与该齿轮组相啮合。
其中还包括复数个反射镜片，该些反射镜片配置于该本体内，且位于该透镜之前的光路径上。
其中还包括一第一轴套及一第一轴棒，该第一轴套及该第一轴棒配置于该本体及该第一载具上，且该第一轴套是对应套接该第一轴棒。
其中该第二微调元件为一螺杆，而该第二传动机构为一齿轮组，该螺杆并与该齿轮组相啮合。
其中该第二受动构件为一对齿条，且该齿条的延伸方向是对应平行于该第二微调元件的轴线方向，该齿条并与该齿轮组相啮合。
其中还包括一第二轴套及一第二轴棒，该第二轴套及该第二轴棒配置于该本体及该第二载具上，且该第二轴套是对应套接该第二轴棒。
其中还包括一第一分厘卡及一第二分厘卡，其中该第一分厘卡是与该第一微调元件连接，而该第二分厘卡是与第二微调元件连接。
其中该影像检索取装置包括一电荷耦合元件及一电荷耦合元件板，该电荷耦合元件配置于该电荷耦合元件板上，而该电荷耦合元件板配置于该第二载具上。
为让本实用新型的上述和其他目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下，其中图1是绘示依照本实用新型一较佳实施例的验证装置的分解图；图2是绘示依照本实用新型一较佳实施例的验证装置的组合图；以及图3是绘示依照本实用新型一较佳实施例的验证装置作动示意图。
具体实施方式
图1绘示依照本实用新型一较佳实施例的验证装置的分解图。图2绘示依照本实用新型一较佳实施例的验证装置的组合图。请共同参照图1及图2，验证装置100主要是由一本体110、一微调元件120、一传动机构130、一载具140、一透镜150及一影像检索装置160所构成。微调元件120配置于一盖体112上，而传动机构130枢设于此盖体112的底面，微调元件120例如是一螺杆，传动机构130例如是多个齿轮所构成的齿轮组，此齿轮组并与涡杆相啮合。而上述的盖体112例如藉由一固定组件170以螺锁或嵌合等方式固定于本体110上。
如图1及图2所示，载具140配置于本体110内，且部分暴露于本体110外，此载具140具有一受动构件142，此受动构件142例如是一对齿条，其齿条的延伸方向是对应平行于微调元件120的轴线方向，且此齿条并与齿轮组相啮合。上述的传动机构(即齿轮组)130与受动构件(即齿条)142适于受微调元件(即螺杆)120的控制，而带动载具140沿微调元件(即螺杆)120的轴线方向作线性移动。此外，为了使载具140的线性移动能够更为平稳，其在本体110内配置一对轴套114，及于载具140内配置一对轴棒144，其轴套114是可对应套接于轴棒144上，并沿着轴棒144的轴线方向作线性移动。当然，轴套114与轴棒144两者配置的位置亦可替换。换言之，轴套114与轴棒144可选择性的配置在本体110或载具140上。
请继续参阅图1及图2，透镜150配置于载具140上，影像检索装置160例如是由一电荷耦合元件162(charge-coupled device，CCD)及一电荷耦合元件板164(CCD/Board)所构成。其中，电荷耦合元件162配置在电荷耦合元件板164上，且位于透镜150之后的光路径上，而电荷耦合元件板164例如以螺锁的方式锁固于载具140上。故由上述可得知，本实施例中的透镜150与电荷耦合元件162之间的距离(即像距)是固定不变。
图3绘示依照本实用新型一较佳实施例的验证装置的作动示意图。请参阅图3，为了更清楚表达验证装置100的作动情形，图中并未将前述的盖体112绘出。由本图可得知，由拨转微调元件120(即螺杆)的深浅位置，控制传动机构130(即齿轮组)朝顺时针或逆时针方向转动，使得与传动机构130(即齿轮组)相啮合的受动构件142(即线性齿条)是可带动载具140沿着微调元件120的轴线方向作线性移动，以相对调整载具140上的透镜150的位置，进而微调验证装置100所接收的影像光线的光程(即微调物距)。此外，可于微调元件120上连接一分厘卡(图未示)，用以方便计算微调元件120的微调量。另外，更可进一步于本体110内配置多个反射镜片(图未绘示)，且这些反射镜片并配置于透镜150的前的光路径上，以使本实用新型的验证装置100更符合实际光学系统的架构。
承上所述，由于本实施例中的透镜150与影像检索装置160皆配置于载具140上，即代表透镜150的像距已固定，由拨转微调元件110，以控制传动机构130与受对构件142之间的相对运动，并带动载具140作线性移动，以调整透镜150的位置，进而达到微调影像光线的光程的目的，使影像检索装置160能够检索到最清晰的影像光线。由于本实用新型的验证装置100是模拟光学系统的架构，当验证装置100中的透镜150及影像检索装置160调整至最佳位置时，即可作为光学系统中的透镜及影像检索装置的摆放依据。
在本较佳实施例中，上述的透镜与影像检索装置皆配置于一载具上，即代表透镜的像距已固定，并由调整透镜的位置，进而微调影像光线的光程(即物距)。然而，熟悉该项技术者应可推知，本实用新型并非仅局限于调整透镜的位置，而微调影像光线的光程(即物距)，是可将透镜与影像检索装置分别配置于两载具上，并提供两组微调元件、传动机构以分别调整透镜以及影像检索装置的位置，而微调影像光线的光程(即可同时微调物距及像距)，使得影像检索装置能够检索到最清晰的影像光线。
综合以上所述，本实用新型的验证装置至少具有下列优点(1)本实用新型的验证装置，由拨转微调元件控制传动机构与受对构件之间的相对运动，而带动载具作线性移动，以调整透镜或影像检索装置的位置，进而达到微调影像光线的光程的目的，使得影像检索装置能够检索到最清晰的影像光线。
(2)本实用新型的微调装置不需将透镜与影像检索装置另行架设至一微调治具上进行微调的动作，且微调装置是模拟光学系统的架构，当验证装置中的透镜及影像检索装置调整至最佳位置时，即可作为光学系统中的透镜及影像检索装置摆放位置的依据，如此可提高微调的精密度。
虽然本实用新型已以一较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何熟习此技术者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本实用新型的保护范围当视后附的申请专利范围所界定的为准。
权利要求1.一种验证装置，适于微调一影像光线的光程，其特征在于，该验证装置至少包括一本体；一微调元件，配置于该本体上；一传动机构，枢设于该本体上，且与该微调元件连接；一载具，配置于该本体内，该载具具有一受动构件，该受动构件与该传动机构连接；一透镜，配置于该载具上；以及一影像检索装置，配置于该载具上，且位于该透镜之后的光路径上。
2.如权利要求1所述的验证装置，其特征在于，其中该微调元件为一螺杆，而该传动机构为一齿轮组，该螺杆并与该齿轮组相啮合。
3.如权利要求2所述的验证装置，其特征在于，其中该受动构件为一对齿条，且该齿条的延伸方向是对应平行于该微调元件的轴线方向，该齿条并与该齿轮组相啮合。
4.如权利要求1所述的验证装置，其特征在于，其中还包括复数个反射镜片，该些反射镜片配置于该本体内，且位于该透镜的前的光路径上。
5.如权利要求1所述的验证装置，其特征在于，其中还包括一轴套及一轴棒，该轴套及该轴棒配置于该本体及该载具上，且该轴套是对应套接该轴棒。
6.如权利要求1所述的验证装置，其特征在于，其中还包括一分厘卡，该分厘卡是与该微调元件连接。
7.如权利要求1所述的验证装置，其特征在于，其中该影像检索装置包括一电荷耦合元件及一电荷耦合元件板，该电荷耦合元件配置于该电荷耦合元件板上，而该电荷耦合元件板配置于该载具上。
8.一种验证装置，适于微调一影像光线的光程，其特征在于，该验证装置至少包括一本体；一第一微调元件，配置于该本体上；一第一传动机构，枢设于该本体上，且与该第一微调元件连接；一第一载具，配置于该本体内，该第一载具具有一第一受动构件，该第一受动构件与该第一传动机构连接；一透镜，配置于该第一载具上；一第二微调元件，配置于该本体上；一第二传动机构，枢设于该本体上，且与该第二微调元件连接；一第二载具，配置于该本体内，该第二载具具有一第二受动构件，该第二受动构件与该第二传动机构连接；以及一影像检索装置，配置于该第二载具上，且位于该透镜之后的光路径上。
9.如权利要求8所述的验证装置，其特征在于，其中该第一微调元件为一螺杆，而该第一传动机构为一齿轮组，该螺杆并与该齿轮组相啮合。
10.如权利要求9所述的验证装置，其特征在于，其中该第一受动构件为一对齿条，且该齿条的延伸方向是对应平行于该第一微调元件的轴线方向，该齿条并与该齿轮组相啮合。
11.如权利要求8所述的验证装置，其特征在于，其中还包括复数个反射镜片，该些反射镜片配置于该本体内，且位于该透镜之前的光路径上。
12.如权利要求8所述的验证装置，其特征在于，其中还包括一第一轴套及一第一轴棒，该第一轴套及该第一轴棒配置于该本体及该第一载具上，且该第一轴套是对应套接该第一轴棒。
13.如权利要求8所述的验证装置，其特征在于，其中该第二微调元件为一螺杆，而该第二传动机构为一齿轮组，该螺杆并与该齿轮组相啮合。
14.如权利要求13所述的验证装置，其特征在于，其中该第二受动构件为一对齿条，且该齿条的延伸方向是对应平行于该第二微调元件的轴线方向，该齿条并与该齿轮组相啮合。
15.如权利要求8所述的验证装置，其特征在于，其中还包括一第二轴套及一第二轴棒，该第二轴套及该第二轴棒配置于该本体及该第二载具上，且该第二轴套是对应套接该第二轴棒。
16.如权利要求8所述的验证装置，其特征在于，其中还包括一第一分厘卡及一第二分厘卡，其中该第一分厘卡是与该第一微调元件连接，而该第二分厘卡是与第二微调元件连接。
17.如权利要求8所述的验证装置，其特征在于，其中该影像检索取装置包括一电荷耦合元件及一电荷耦合元件板，该电荷耦合元件配置于该电荷耦合元件板上，而该电荷耦合元件板配置于该第二载具上。
专利摘要一种验证装置，主要是由一本体、一微调元件、一传动机构、一载具、一透镜及一影像检索装置所构成。微调元件配置于本体上，而传动机构枢设于本体上，且与微调元件连接。载具配置于本体内，且载具具有一受动构件，并与传动机构连接。透镜及影像检索装置皆配置于载具上，且影像检索装置位于透镜之后的光路径上。由微调元件控制传动机构以及受动构件，而带动载具作线性移动以调整透镜的位置，进而微调影像光线的光程。
文档编号G06K9/20GK2610411SQ0326120
公开日2004年4月7日 申请日期2003年5月14日 优先权日2003年5月14日
发明者黄玮祥, 黄志文 申请人:力捷电脑股份有限公司