内存模组ecc功能验证方法、装置及其产品的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及计算机领域，特别是涉及一种计算机内存模组ECC功能验证方法、装置及其产品。
【背景技术】
[0002]ECC (Error Checking and Correct1n,错误检查和修正)，是一种能够实现“错误检查和纠正”的技术，ECC内存就是应用了这种技术的内存条，ECC内存能够容许错误，并可以将错误更正，使系统得以持续正常的操作，不致因错误而中断，ECC内存具有的自动更正能力，提闻了系统的可罪性。
[0003]工业计算机在很多应用场合下需要24小时X 365天不间断的运行，因此对工业计算机的可靠性和稳定性的要求极为苛刻，在高负载、长时间不间断运行的状态下，数据出错就在所难免了。因此对工业计算机来说，内存模组拥有ECC功能是必不可少的。
[0004]ECC有如此强大的错误检查和纠正的能力，因此，提供一种错误产生机制来验证内存模组的ECC功能是否正常就变的十分必要。现有技术针对内存模组ECC功能的验证，主要是通过外部将内存的数据线与地连接，强制模拟产生逻辑O数据输入ECC内存，然而当此时数据本就是逻辑O时，此方法并不能产生错误数据而激发ECC纠错功能。
【发明内容】
[0005]基于此，有必要针对目前采用通过外部将内存的数据线与地连接，强制模拟产生逻辑O数据输入ECC内存来验证内存模组ECC功能的方法在数据本就是逻辑O时，会导致错误发生率低、验证失效的问题，提供一种错误发生率闻、验证精准、验证效率闻的内存丰旲组ECC功能验证方法。
[0006]此外，还有必要提供一种基于此内存模组ECC功能验证方法的内存模组ECC功能验证装置及其产品
[0007]一种内存模组ECC功能验证方法，包括以下步骤:
[0008]获取内存控制器输出的正确数据；
[0009]将所述正确数据转换成错误数据；
[0010]所述错误数据存入内存芯片后经由内存控制器进行ECC校验；将所述经过ECC校验后的数据传至系统CPU;
[0011]判断所述系统是否正常工作，若是，则内存模组ECC功能正常，反之，内存模组ECC功能失效。
[0012]在其中一个实施例中，所述将所述正确数据转换成错误数据的步骤包括:将所述正确数据中的一位或多位转换成与之相反的错误数据。。
[0013]在其中一个实施例中，所述系统工作不正常的表现为:错误报警、蓝屏、宕机中的一种。
[0014]一种内存模组ECC功能验证装置，包括:
[0015]输入模块，用于获取内存控制器输出的正确数据；
[0016]转换模块，用于将所述正确数据转换成错误数据；
[0017]校验模块，用于将所述错误数据存入内存芯片后经由内存控制器进行ECC校验；
[0018]输出模块，用于将所述经过ECC校验后的数据传至系统CPU ；
[0019]判断模块，用于判断所述系统是否正常工作，若是，则内存模组ECC功能正常，反之，内存模组ECC功能失效。
[0020]在其中一个实施例中，所述转换模块包括反向电路，用于将所述正确数据中的一位或多位转换成与之相反的错误数据。
[0021]在其中一个实施例中，所述系统工作不正常的表现为:错误报警、蓝屏、宕机中的一种。
[0022]一种包含所述内存模组ECC功能验证装置的产品，所述产品还包含一个开关，当不需要进行内存模组ECC功能验证时，将所述开关闭合，提供一个数据通路；当需要进行内存模组ECC功能验证时，将所述开关断开，正确的数据通过所述反向电路可变成与之相反的错误数据，存入内存芯片后经由内存控制器进行ECC校验，以进行内存模组ECC功能验证。
[0023]上述内存模组ECC功能验证方法、装置及其产品，通过将正确数据转换成错误数据，确保了错误数据的发生率，以便精准的验证内存模组ECC的纠错能力，提高了内存模组ECC功能的验证效率。
【附图说明】
[0024]图1是一个实施例中内存模组ECC功能验证方法的流程图；
[0025]图2是一个实施例中内存模组ECC功能验证装置的结构框图；
[0026]图3是一个实施例中包含内存模组ECC功能验证装置的产品框图；
[0027]图4是另一个实施例中包含内存模组ECC功能验证装置的产品框图。
【具体实施方式】
[0028]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0029]图1为一个实施例中内存模组ECC功能验证方法的流程图。该内存模组ECC功能验证方法，包括以下步骤:
[0030]步骤102，获取内存控制器输出的正确数据。
[0031]具体的，所述获取内存控制器输出的正确数据可为:由外界输入I个Ibit的数据“O”至内存芯片的一个数据引脚，内存控制器读取所述数据引脚的所述数据“0”，并将所述数据“O”输出。
[0032]步骤104，将所述正确数据转换成错误数据。
[0033]具体的，可将所述正确数据“O”转换成错误数据“ I ”。
[0034]步骤106，所述错误数据存入内存芯片后经由内存控制器进行ECC校验；
[0035]具体的，ECC校验可产生两种结果:若ECC校验成功，则所述错误数据“I”被校验回正确数据“O” ;若ECC校验失败，则所述错误数据“I”仍是一位错误数据。
[0036]步骤108，将所述经过ECC校验后的数据传至系统CPU。
[0037]具体的，此时若ECC校验成功，则是将正确数据“O”传至系统CPU ;若ECC校验失败，则是将错误数据“O”传至系统CPU。
[0038]步骤110，判断所述系统是否正常工作，若是，则执行步骤112，反之，则执行步骤114。
[0039]步骤112，内存模组ECC功能正常。
[0040]具体的，若传至系统CPU的数据为正确数据“0”，则内存模组ECC功能为正常。
[0041]步骤114，内存模组ECC功能失效。
[0042]具体的，若传至系统CPU的数据为错误数据“ I ”，则内存模组ECC功能为失效。
[0043]具体的，判断所述系统是否正常工作为判断所述系统是否出现错误报警、蓝屏、宕机中的一种，若是，则判定系统工作不正常，则内存模组ECC功能是失效的。
[0044]上述内存模组ECC功能验证方法，通过将正确数据转换成错误数据，确保了错误数据的发生率，以便精准的验证内存模组ECC的纠错能力，提高了内存模组ECC功能的验证效率。
[0045]以上仅以校验Ibit数据为例进行内存模组ECC功能验证方法的说明，同理，可实现多bit数据的校验。
[0046]在一个优选的实施例中，
[0047]步骤102，获取内存控制器输出的正确数据。
[0048]具体的，所述获取内存控制器输出的正确数据可为:由外界输入5bit的数据“10110”至内存芯片的一个数据引脚，内存控制器读取所述数据引脚的所述数据“10110”，并将所述数据“10110”输出。
[0049]步骤104，将所述正确数据转换成错误数据的步骤包括:将所述正确数据中的一位或多位转换成与之相反的错误数据。
[0050]具体的，可将正确数据“10110”转换为错误数据“01100”。
[0051]步骤106，所述错误数据存入内存芯片后经由内存控制器进行ECC校验。
[0052]具体的，ECC校验可产生两种结果:若ECC校验成功，则所述错误数据“01100”被校验回正确数据“10110”；若ECC校验失败，则所述错误数据“01100”仍是错误数据。
[0053]步骤108，将所述经过ECC校验后的数据传至系统CPU。
[0054]具体的，此时若ECC校验成功，则是将正确数据“10110”传至系统CPU ;gECC校验失败，则是将错误数据“01100”传至系统CPU。
[0055]步骤110，判断所述系统是否正常工作，若是，则执行步骤112，反之，则执行步骤114。
[0056]步骤112，内存模组ECC功能正常。
[0057]具体的，若传至系统CPU的数据为正确数据“ 10110”，则内存模组ECC功能为正常。
[0058]步骤114，内存模组ECC功能失效。
[0059]具体的，若传至系统(PU的数据为错误数据“01100”，则内存模组ECC功能为失效。
[0060]具体的，判断所述系统是否正常工作为判断所述系统是否出现内存错误报警、蓝屏、宕机中的一种，若是，则判定系统工作不正常，则内存模组ECC功能是失效的。
[0061]上述内存模组ECC功能验证方法，通过将正确数据转换成错误数据，确保了错误数据的发生率，以便精准的验证内存模组ECC的纠错能力，提高了内存模组ECC功能的验证效率。
[0062]图2为一个实施例中内存模组ECC功能验证装置的结构框图。该内存模组ECC功能验证装置20包括以下部分:
[0063]输入模块202,用于获取内存控制器输出的正确数据；
[0064]具体的，所述获取内存控制器输出的正确数据可为:由外界输入I个Ibit的数据“O”至内存芯片的一个数据引脚，内存控制器读取所述数据引脚的搜书数据“0”，并将所述数据“O”输出。
[0065]转换模块204，用于将所述正确数据转换成错误数据；
[0066]具体的，所述转换模块可包含一个反向电路，该反向电路可由任意能够实现反向功能的元器件组成，可将所述正确数据“O”转换成错误数据“ I ”。
[0067]校验模块206，用于将所述错误数据存入内存芯片后经由内存控制器进行ECC校验;
[0068]具体的，ECC校验可产生两种结果:若ECC校验成功，则所述错误数据“I”被校验回正确数据“O