的，从行电极Ca至行电极Cb的差值超过了该第一临界值h。相似的，从列电极Ra至列电极Rb的差值也超过了该第一临界值h。因此，该处理器300定义一个区域为一弯曲区域50，在该区域中该第一电容变化值超过该第一临界值^ (如图5所示，从列电极Ra至列电极Rb)以及定义其余区域为非弯曲区域。该处理器330执行该第二操作以提升该弯曲区域50的该第二临界值(互感临界值)。换句话说，该弯曲区域50采用了较高的临界值，以及相反的非弯曲区域采用较低的临界值。
[0065]在上述本发明的示范性实施例中，当弯曲现象发生时，自感电容的电容值变化较为敏感，以及较大于互感电容的电容值变化，因此自感电容的电容值变化作为主要的原则来决定是否进入弯曲模式。然而，上述内容仅用来示范本发明，并非限定于此。
[0066]图6是显示根据本发明一实施例所述的如何进入弯曲模式以及提升互感临界值的流程图。在步骤SI中，该处理器330判断该第一数量NI是否大于一第一预设量Pl。如果“是”，则该程序进入到步骤S2，否则回到步骤S0。在步骤S2中，该处理器330判断该第二数量NI是否大于一第二预设量P2。如果“是”，则该程序进入到步骤S3，否则回到步骤S0。在步骤S3中，该处理器330判断该第三数量N3是否小于该第一数量NI。如果“是”，则该程序进入到步骤S4，否则回到步骤S0。在步骤S4中，该处理器330判断该第一数量N4是否大于一第三预设量P3。如果“是”，则该处理器330使该触控感测显示装置300进入该弯曲模式，步骤S5。在该处理器330使该触控感测显示装置300进入该弯曲模式后，该处理器330禁能防误触及再校正功能。接着，在步骤S7中，该处理器330提升互感临界值，如图3所示。需注意到，步骤S1-S4的顺序可任意排列，而重新排列并不会影响本发明所预期的功效。相似的，步骤S6-S7的顺序也能够随机排列。
[0067]基于以上所述，能了解本发明提出的触控感测显示装置300，具有提升互感临界值的功能，以预防当弯曲现象发生时的触控感测显示装置误报点的情况。
[0068]前述内容概略描述了几种实施例的特性，使得本领域内的技艺人士能更好得了解本发明的概念。本领域内的技艺人士应能领悟到他们能立即的使用本发明的揭露作为基准以进行设计或修正其他程序及结构，来完成相同用途及/或达到于此所介绍实施例的相同优点。本领域内的技艺人士应能了解类似等效的结构并不脱离本发明的精神与范畴，以及于此他们能有多种改变、替换以及选择而没有脱离本发明的精神与范畴。
【主权项】
1.一种触控感测显示装置，其特征在于，包括: 多个行电极及多个列电极； 一电容值侦测器，侦测每一列电极对一参考接地的一第一电容变化值以及每一行电极对该参考接地的一第二电容变化值，以及侦测所述行电极及所述列电极的每一交叉处的一第三电容变化值；以及 一处理器，执行一第一操作，以根据该第一电容变化值、该第二电容变化值及该第三电容变化值，决定进入一弯曲模式； 在该第一操作中，该处理器计算所述第一电容变化值及所述第二电容变化值超过一第一临界值的一第一数量，计算所述第一电容变化值及所述第二电容变化值达到一最大电容变化值的一第二数量，以及计算所述第三电容变化值超过一第二临界值的一第三数量；当该第一数量及该第二数量分别超过一第一预设量及一第二预设量以及该第三数量小于该第一数量时，该处理器使该触控感测显示装置进入该弯曲模式； 当该触控感测显示装置在该弯曲模式时，该处理器执行一第二操作，以提升该第二临界值。
2.根据权利要求1所述的触控感测显示装置，其特征在于， 在该第一操作中，该处理器还计算所述第三电容变化值到达该最大电容变化值的一第四数量； 当该第一数量及该第二数量分别超过该第一预设量及该第二预设量、该第三数量小于该第一数量以及该第四数量超过一第三预设量时，该处理器使该触控感测显示装置进入该弯曲模式。
3.根据权利要求1所述的触控感测显示装置，其特征在于，该触控感测显示装置还具有防误触及再校正功能； 当该处理器使该触控感测显示装置进入该弯曲模式时，该处理器禁能该防误触及该再校正功能。
4.根据权利要求1所述的触控感测显示装置，其特征在于，该电容值侦测装置还包括: 一自感通道，侦测所述第一电容变化值及所述第二电容变化值并传送侦测结果至该处理器；以及 一互感通道，侦测所述第三电容变化值以及传送侦测结果至该处理器。
5.根据权利要求1所述的触控感测显示装置，其特征在于，该处理器定义一区域为一弯曲区域，在该区域中，所述列电极的该第一电容变化值超过该第一临界值以及所述行电极的该第二电容变化值超过该第一临界值，并且定义其余的该区域为非弯曲区域，该处理器执行该第二操作以提升该弯曲区域的该第二临界值。
6.一种减少触控感测显示装置误报触控点的方法，其特征在于，包括: 提供多个列电极及多个行电极； 侦测每一列电极对一参考接地的一第一电容变化值以及每一行电极对该参考接地的一第二电容变化值，以及侦测所述行电极及所述列电极的每一交叉处的一第三电容变化值； 执行一第一操作，以根据所述第一电容变化值、所述第二电容变化值及所述第三电容变化值，决定进入一弯曲模式； 在该第一操作中，计算所述第一电容变化值及所述第二电容变化值超过一第一临界值的一第一数量，计算所述第一电容变化值及所述第二电容变化值达到一最大电容变化值的一第二数量，以及计算所述第三电容变化值超过一第二临界值的一第三数量； 当该第一数量及该第二数量分别超过一第一预设量及一第二预设量以及该第三数量小于该第一数量时，使该触控感测显示装置进入该弯曲模式； 当该触控感测显示装置在该弯曲模式时，执行一第二操作，以提升该第二临界值。
7.根据权利要求6所述的减少触控感测显示装置误报触控点的方法，其特征在于，还包括: 计算所述第三电容变化值到达该最大电容变化值的一第四数量； 当该第一数量及该第二数量分别超过该第一预设量及该第二预设量、该第三数量小于该第一数量且该第四数量超过一第三预设量时，该触控感测显示装置进入该弯曲模式。
8.根据权利要求6所述的减少触控感测显示装置误报触控点的方法，其特征在于，该触控感测显示装置还具有防误触及再校正功能； 当该触控感测显示装置进入该弯曲模式时，禁能该防误触及该再校正功能。
9.根据权利要求6所述的减少触控感测显示装置误报触控点的方法，其特征在于，还包括: 定义一区域为一弯曲区域，在该区域中，所述列电极的该第一电容变化值超过该第一临界值以及所述行电极的该第二电容变化值超过该第一临界值，并且定义其余的该区域为非弯曲区域，透过执行该第二操作提升该弯曲区域的该第二临界值。
【专利摘要】本发明揭露一种触控感测显示装置及减少所述装置误报触控点的方法。触控感测显示装置包括多个行电极及列电极、电容值侦测器，侦测每一列电极对参考接地的第一电容变化值以及每一行电极对参考接地的第二电容变化值以及侦测行电极及列电极的每一交叉处的第三电容变化值、以及处理器，计算第一及第二电容变化值超过第一临界值的第一数量，计算第一及第二电容变化值达到最大电容变化值的第二数量，以及计算第三电容变化值超过第二临界值的第三数量。当第一及第二数量分别超过第一、第二预设量及第三数量小于第一数量时，处理器使触控感测显示装置进入弯曲模式，以提升第二临界值。
【IPC分类】G02F1-1333, G06F3-044
【公开号】CN104714704
【申请号】CN201310680723
【发明人】刘叡明, 刘立林, 张仲文, 戴绅峰
【申请人】奇景光电股份有限公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2013年12月12日...