专利名称：光盘用偏移量调整电路及调整方法、集成电路、光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及光盘用偏移量调整电路、集成电路、光盘装置和偏移量调整方法。
背景技术：
一般在光盘的再生(和记录)装置(以下，称光盘装置)中，例如，放大光拾器的四个输出信号之后，在加法运算电路中，加法运算的方法来获得合成的RF信号(例如，参照专利文献1特开平10-105997号公报(图1))。
具体地，如图6所示，光盘装置向光盘105照射一个光点的光束。光拾器200的光探测器组接受该从光盘105的反射光。根据所接收的反射光，光拾器200向RF信号处理电路110供给各种输出信号。RF信号处理电路110，根据这些输出信号生成RF信号或各种错误信号。根据该错误信号，伺服信号处理电路140执行伺服控制，消除光拾器200的物镜的焦点伺服或跟踪伺服的精度的恶化。另外，众所周知记录系统Rec是可以如图5的符号112至118中所示的构成要素来实现。
对该光盘装置的再生系统PB进行说明。RF信号处理电路110是把作为合成信号的RF信号供给译码器120。译码器120对RF信号进行衰减交叉存取(die interleave)处理、错误修正用恢复信号化处理或EFM解调处理等的处理，把再生数据供给在存储器121。
通过系统控制器(微型电脑，以下称微型电脑)150来控制存储器121的写入和读出，由译码器120写入再生数据。另外，该存储器121以一定的比特率连续读出再生数据。由存储器121连续读出的再生数据供给在译码器122。如果再生数据为压缩数据时，该译码器122例如把数据展开4倍。从该译码器122的数字数据供给在D/A转换部123而转换为模拟信号，从输出接头124引出到外部。
这里，说明输出RF信号的RF信号处理电路110。如图7所示，在电阻R10a里输入从光拾器200所获得的输出信号A，同时，在电阻R10B里，输入从光拾器所获得的输出信号B。另外，在电阻R10c里，输入从光拾器所获得的输出信号C，同时，在电阻R10d里，输入从光拾器所获得的输出信号D。另外，众所周知这些输出信号A至D是从光拾器200中所获得的输出信号的一部分，例如，记载在文献「图解微型光盘读本」(株式会社欧母社，平成14年6月20修订第三版第一次印刷)的第218页。
在偏移量调整用差动运算放大器OP1中，在其反向输入接头里，通过电阻R10a和电阻R10b输入输出信号A和输出信号B的合成信号AB，同时，固定的基准电压Vref0施加在反向输入接头。该偏移量调整用差动运算放大器OP1是对加法运算电路SUM输出以R20ab*(1/R10a+1/R10b+1/R20ab)*{Vref-(输出信号A的电压值/R10a+输出信号B的电压值/R10b)/(1/R10a+1//R10b+1/R20ab)}的运算式来所获得的放大信号A′B′。
另一方面，在偏移量调整用差动运算放大器OP2中，在其反向输入接头里，通过电阻R10c和电阻R10d输入输出信号C和输出信号D的合成信号CD，同时，固定的基准电压Vref0施加在非反向输入接头。该偏移量调整用差动运算放大器OP2是对加法运算电路SUM输出以R20cd*(1/R10c+1/R10d+1/R20cd)*{Vref-(输出信号C的电压值/R10c+输出信号D的电压值/R10d)/(1/R10c+1//R10d+1/R20cd)}的运算式来所获得的放大信号C′D′。
在加法运算电路SUM中，输出加法运算被输入的放大信号A′B′和放大信号C′D′的合成信号ABCD。该被输出的合成信号ABCD是通过第一接头T1输入在外附加的电容器C0，而删除直流成分的只是交流成分，通过第二接头T2，返回到RF信号处理电路110内部。返回来的交流成分通过电阻R40重叠在固定的基准电压Vref0之后，输入在缓冲放大器BA0。从该缓冲放大器BA0输出RF信号。该RF信号通过另一个缓冲放大器BA1供给在图6的译码器120而进行再生处理，同时，供给在伤痕检测电路DET。
该伤痕检测电路DET根据加法运算电路SUM所输出的RF信号检测出作为光拾器200的信号的读取对象的光盘的伤痕。即，伤痕检测电路DET具有在非反向输入接头上输入基准电压Vref0的比较器；在该比较器的非反向输入接头上，输入从缓冲放大器BAO的RF信号。如果该RF信号的强度(电压值)低于基准电压Vref1，则认定光拾器200照射激光的部分为有伤痕的部分，对伺服信号处理电路140输出“H”的信号，作为伤痕检测信号。接收该伤痕检测信号的伺服信号处理电路140执行例如防止由于受到伤痕影响的错误工作的处理。
专利文献1特开平10-105997号公报(图1)在上述的图7所示的以往的技术中，对加法运算电路SUM所输出的合成信号ABCD，在外附加电容器C0中除去直流成分部分，通过电阻R40重新强制性地加在固定的直流电压Vref0上。这样，对加法运算电路SUM试图尽量消除其DC偏移量。
然而，只是加在固定的直流电压Vref0上是不能随机应变地调整DC偏移量。即，因为没有调整DC偏移量的功能，会产生种种不合理的现象。即，如果光拾器的规格不同、光盘的种类不同而产生反射光的强度不均匀，则不能高精度进行对光拾器的输出信号的偏移量的调整。其结果，根据没有高精度调整的偏移量的输出信号来生成RF信号。
因此，为了生成RF信号，利用差动运算放大器，在生成光拾器的输出信号A至D的合成信号阶段中，由于没有充分调整偏移量而引起每一个输出信号A至D偏离包含差动运算放大器在内的处理系统的动态范围，其波形有歪曲的可能。特别是，在低电压中工作的电路系统中，其动态范围比较窄而没有余地、波形歪曲的可能性高。
这样，不能生成精密的RF信号，其结果，导致再生处理系统和伤痕检测电路的处理精度的恶化。特别是在伤痕检测电路DET中，不能提高伤痕检测的电平设定的精度，导致伤痕检测精度的降低。
发明内容
涉及本发明的光盘用偏移量调整电路，是具有光拾器的输出信号输入在一方的输入接头，同时，控制电压施加在另一方的输入接头的多个偏移量调整用差动运算放大器，和加法运算所述多个的偏移量调整用差动运算放大器的输出信号的加法运算电路的光盘用偏移量调整电路，其中包括根据所述运算放大器输出数字信号的A/D转换器；根据所述数字信号，可以变更应该消除偏移量的、施加在所述偏移量调整用差动运算放大器的所述控制电压的控制电压调整部。
即，通过变更输入光拾器的输出信号的偏移量调整用差动运算放大器的控制电压的方法，调整加法运算电路的输出信号的偏移量。从而，首先，可以调整由于光拾器引起的偏移量。同时，可以总括调整由于偏移量调整用差动运算放大器、和包括加法运算电路在内的处理系统所引起的偏移量。因此，加法运算电路的输出信号变为已经调整包括光拾器在内的上流一侧处理系统所引起的偏移量的输出信号。其结果，根据该已经调整偏移量的输出信号来进行信号处理的下流一侧的处理系统，例如，根据检测光盘伤痕的伤痕检测电路或加法运算电路所输出的RF信号来进行再生处理的系统中，也可以限制RF信号在其动态范围的范围内。
从而，对处理已经调整偏移量的RF信号的每一个电路，可以谋求有效活用其动态范围。特别是在低电压中工作的规格电路系统中，动态范围的范围变窄，但是，利用本发明调整偏移量的方法，能够把RF信号限制在该范围内。因此，在伤痕检测电路或再生处理系统等的信号处理中，可以防止波形的歪曲，并能够进行高精度的伤痕检测处理和再生处理。
并且，由于可以调整光拾器所引起的输出信号的偏移量，对光盘用偏移量调整电路，即使连接输出信号的强度等种种规格的光拾器，也可以适当调整偏移量。另外，对反射光的强度不同的种种类型的光盘也可以进行光拾器所引起的偏移量而可以适当调整偏移量。
再有，在实现偏移量调整电路时，根据偏移量已经调整的RF信号来进行信号处理的下流一侧的处理系统，例如，伤痕检测电路或再生处理系统，没有必要更改其设计而可以利用现有的电路。
另外，还可以包括根据上述的加法运算电路的输出信号检测出作为所述光拾器的信号读出对象的光盘伤痕的伤痕检测电路。
即，因为可以调整包括光拾器在内的上流的处理系统所引起的偏移量，其结果，在伤痕检测电路的信号处理中，可以防止波形的歪曲等的精度的降低；可以高精度地进行伤痕检测处理。另外，伤痕检测电路的伤痕检测电平的设定也变为容易。
再有，所述的控制电压调整部可以变更所述加法运算电路的所述输出信号和目标电压一致的、所述的控制电压。
还有，所述加法运算电路的所述输出信号是可以使所述目标电压设定而限制在根据该输出信号执行信号处理的电路的动态范围的范围内可能的值。
即，加法运算电路的输出信号是在根据该输出信号执行信号处理的电路，例如，在检测光盘伤痕的伤痕检测电路或再生处理系统中，也可以限制该输出信号在其动态范围的范围内。因此，高精度的调整偏移量成为可能，其结果，可以防止伤痕检测电路或再生处理系统等的信号处理中的波形的歪曲，能够进行高精度的伤痕检测处理和再生处理。
除此之外，将加法运算电路的输出信号可以限制在构成AD转换部的A/D转换器等的动态范围的范围内。由此，作为AD转换部并不需要分解能力高的A/D转换器，可以谋求降低成本和低电力消耗。
并且，还包括直流成分输出电路，该直流成分输出电路对所述A/D转换部输出所述加法运算电路的所述输出信号的直流成分。
即，根据加法运算电路的输出信号的直流成分的数字信号可以变更应该消除偏移量的、施加在该偏移量调整用差动运算放大器的控制电压。即，调整偏移量时，根据输出信号的直流成分的方法，在根据已经调整偏移量的输出信号来进行信号处理的电路，例如检测光盘伤痕的伤痕检测电路或在根据作为加法运算电路的输出信号的RF信号来进行再生处理系统中，也可靠地限制RF信号在其动态范围的范围内。因此，可以进行高精度的偏移量调整，其结果，由于获得高精度的RF信号，可以进行高精度的伤痕检测处理和再生处理。
本发明的集成电路是至少包含所述的光盘用偏移量调整电路。
本发明的光盘装置包括所述的光盘用偏移量调整电路。
在本发明的光盘装置的偏移量调整方法包括光盘装置的光拾器的输出信号输入在一方的输入接头，同时，加法运算施加在另一方输入接头的多个偏移量调整用差动运算放大器的输出信号；将所述加法运算的结果转换为数字信号化；根据所述数字信号变更应该消除偏移量的、施加在所述偏移量调整用差动运算放大器的所述控制电压。
图1是表示包含有关本发明的光盘用偏移量调整电路的光盘再生装置的主要部分的框图。
图2是表示有关本发明的光盘用偏移量调整电路的框图。
图3是表示有关本发明的偏移量调整方法的程序框图。
图4是表示有关本发明的偏移量调整方法的控制形态的曲线图，(a)是表示RF信号的直流成分RFD和目标电压不一致时的情况，(b)是表示RF信号的直流成分RFD和目标电压一致时的情况。
图5是表示有关本发明的偏移量调整方法的控制形态，表示比较存在光盘伤痕的区间和不存在光盘伤痕的区间的曲线图。
图6是表示以往的光盘再生装置的框图。
图7是表示以往的RF信号处理电路的框图。图中100-光盘用模拟信号生成电路，110-RF信号处理电路，115-错误信号处理电路，140-伺服信号处理电路，AD-A/D转换器(A/D转换部)，BA1-缓冲放大器，C1-外附加电容器(直流成分输出电路的一部分)，DA-D/A转换器，LO-逻辑电路(控制电压调整部)，OP1、OP2-偏移量调整用差动运算放大器(差动放大电路)，R10a、R10b、R10c、R10d-电阻(直流成分生成电路的一部分)，R20ab、R20cd-反馈电阻，R30-电阻(直流成分输出电路的一部分)，SH-抽样保持电路，SUM-加法运算电路。
具体实施例方式
—全体概略—例如，对上述的如图6所示的、适用在光盘装置的光盘用模拟信号生成电路进行说明。如图1所示，光盘用模拟信号生成电路100是根据从光拾器200的输出信号A至D信号，生成应该消除或减少DC偏移量(信号的直流成分的偏移量)的已调整的RF信号。该光盘用模拟信号生成电路100是由单芯片型的集成电路来构成。或该集成电路是作为光盘再生处理用LSI的一部分，可以利用CMOS工艺来制造。另外，光盘用模拟信号生成电路100包括生成叫做跟踪错误信号TE和焦点错误信号FE等的错误信号的错误信号处理电路115或在背景技术中所说明的生成RF信号的RF信号处理电路(光盘用偏移量调整电路)110。对伺服信号处理电路140输出从错误信号的错误信号处理电路115的跟踪错误信号TE和焦点错误信号FE。
RF信号处理电路110是在生成RF信号时，进行应该消除将其DC偏移量的工作。该已调整DC偏移量的RF信号供给在背景技术中所说明的伤痕检测电路。
—实施例—对RF信号处理电路110，关于生成RF信号的电路系统，结合图1至图5说明消除或减少DC偏移量的方式(编排)。另外，省略和背景技术中结合图7所说明的内容相同的部分，只说明不同的部分。
—构成—如图2所示，RF信号处理电路110是包括由电阻R10a、R10b、R10c、R10d、多个偏移量调整用差动运算放大器(差动放大电路)OP1、OP2、反馈电阻R20ab、R20cd、加法运算电路SUM、缓冲放大器BA1、电阻(直流成分输出电路的一部分)R30、A/D转换器(A/D转换部)AD、微型计算机等所构成的逻辑电路(控制电压调整部)LO；D/A转换器DA；和取样保持电路SH。另外，在RF信号处理电路110上连接外附加电容器C1(直流成分输出电路的一部分)。
每一个电阻R10a、R10b的一端分别连接在RF信号处理电路110的外部输入接头A、B，输入光拾器中获得的输出信号A、B。这些电阻R10a、R10b的另一端连接在互相连接的偏移量调整用差动运算放大器OP1的反向输入接头。在该偏移量调整用差动运算放大器OP1的输出接头上，连接有反馈电阻R20ab的一端。该反馈电阻R20ab的另一端连接在偏移量调整用差动运算放大器OP1的反向输入接头。在该偏移量调整用差动运算放大器OP1的非反向输入接头上，连接有取样保持电路SH的输出。另外，偏移量调整用差动运算放大器OP1的输出接头连接在众所周知的加法运算电路SUM上。
另一方面，每一个电阻R10c、R10d的一端分别连接在RF信号处理电路110的外部接头C、D，输入光拾器中获得的输出信号C、D。这些电阻R10c、R10d的另一端连接互相连接的偏移量调整用差动运算放大器OP2的反向输入接头。在该偏移量调整用差动运算放大器OP2的输出接头上，连接着反馈电阻R20cd的一端。该反馈电阻R20cd的另一端连接在偏移量调整用差动运算放大器OP2的反向输入接头。在该偏移量调整用差动运算放大器OP2的非反向输入接头上，连接其取样保持电路SH的输出。另外，偏移量调整用差动运算放大器OP2的输出接头连接在加法运算电路SUM上。
加法运算电路SUM的输出接头连接在电阻R30的一端、缓冲放大器BA1的输入接头、和伤痕检测电路DET的比较器的反向输入接头T1。电阻R30的另一端连接在外部连接接头T1和A/D转换器AD的输入接头。该外部连接接头T1连接在外附加电容器C1的一端。该外附加电容器C1的另一端是接地的。通过该电路构成，构成由电阻R30与电容器C1之间的串联电路的平滑(滤波)电路(直流成分输出电路)。A/D转换器AD的输出接头连接在逻辑电路LO输入接头。该逻辑电路LO一侧的输出接头连接在D/A转换器DA的输入接头。该D/A转换器DA的输出接头连接在抽样保持电路SH的输入接头。该抽样保持电路SH的输出接头连接在每一个偏移量调整用差动运算放大器OP1、OP2的非反向输入接头。另外，逻辑电路LO的一方的输出接头连接在外部连接接头T4。该外部连接接头T4最终连接在图1的微型电脑150。
并且，在伤痕检测电路DET的非反向输入接头上，连接设定检测光盘伤痕的电平的基准电压Vref1。该比较器的输出接头连接在外部连接接头T3。另外，伤痕检测电路DET可以利用如特开平8-96361号公报中所记载的、各种众所周知的构成。
另外，在图7所示的以往的电路的情况中，为了连接外附加电容器C0，需要两个(T1、T2)外部连接接头，但是，本实施例的图2所示的电路的情况中，为了连接外附加电容器C1，需要一个(T1)外部连接接头。
—偏移量调整工作—如图3的程序框图所示，按照微型电脑150的指令，伺服信号处理电路140旋转光盘(S100)。此时，使光拾器200执行所谓叫做线程突跳、透镜加振的、光拾器横穿光盘径向方向的工作。由此，可以获得接近实际的再生处理的输出信号A至D。
即，按照微型电脑150的指令，在逻辑电路LO中，由于DC偏移量调整用控制程序的工作，执行DC偏移量的调整。首先，如果开始偏移量调整工作，如背景技术中所说明，从加法运算电路SUM输出光拾器的作为输出信号A至D的合成信号的RF信号。从电阻R30获得该RF信号的直流成分，并输入在A/D转换器AD。
其次，逻辑电路LO从A/D转换器AD获取RF信号(图中A点)的直流成分EDC的数字信号(S200)。然后，根据该数字信号，逻辑电路LO变更应该消除DC偏移量的、施加在偏移量调整用差动运算放大器OP1、OP2的控制电压VC。即，逻辑电路LO根据从A/D转换器AD的数字信号，判断RF信号的直流成分RFDC是否和目标电压一致(S300)。如果不一致时(S300的否)，变更应该使直流成分RFDC等于目标电压的、控制电压VC的设定用数字数据(S400)。该控制电压VC设定用数字数据是在D/A转换器DA中被转换为模拟信号，并保持在抽样保持电路SHe，作为控制电压VC，供给在偏移量调整用差动运算放大器OP1、OP2。
这样的控制理论是在例如，预先制作的控制表来表现，参考可能地存储在逻辑电路LO内的存储器里。另外，该目标电压值是几乎等于供给在对图2中的A地点的RF信号执行信号处理的电路的电源电压的1/2(最好是电源电压的正确的1/2)；参考可能地预先存储在逻辑电路LO内的存储器里。即，RF信号的直流成分RFDC可以调整为供给在根据该RF信号执行信号处理的电路的电源电压Vdd的近似1/2。其结果，可以把RF信号限制在根据已调整的RF信号来执行信号处理的电路、比如，在伤痕检测电路DET或再生处理系统为主的A/D转换器AD和逻辑电路LO等的动态范围的范围内。
在RF信号的直流成分RFDC和目标电压不一致时，如图4(a)曲线所示，对目标电压(波线)产生直流成分RFDC(实线)+ΔV(也可以是极性相反的-ΔV)的电压差。此时，在电路的各部，处理以直流成分RFDC为中心的RF信号的模拟波形信号。因此，其模拟波形不能限制在电源电压(Vdd)与接地电压之间(动态范围的范围)，不能限制其上下端，而导致歪曲的情况。
然而，如果结束上述的偏移量的调整，则如图4(b)曲线所示，进行提高控制电压VC(极性相反的-ΔV时是降低)的控制，其结果，RF信号的直流成分RFDC和目标电压一致(ΔV为0)。因此，其模拟波形限制在电源电压(Vdd)与接地电压之间(动态范围的范围)，可以有效利用其动态范围，可以防止波形的歪曲现象。
另外，目标电压值不限于电源电压Vdd的1/2，也可以设定为作为加法运算电路SUM的输出信号的RF信号，可以限制根据该RF信号执行信号处理电路的动态范围的范围内的值。
这样的S400处理之后，返回到上述的S300的处理，数字信号RFDC和目标电压(相当的数字数据)一致(相当)时(S300是)，作为DC偏移量调整结束，在抽样保持电路SH中保持该一致的控制电压VC(S500)，并作为实际的光盘的再生处理的设定值来利用。
—实际的再生工作时的伤痕检测工作—如果结束了上述DC偏移量，就立即开始实际的光盘的再生工作。如上所述，利用在该再生时的控制电压VC的值是保持在已经结束DC偏移量调整状态的抽样保持电路SH内的设定值。即，在图2的A点中，可以管理RF信号的DC偏移量，其结果，已经调整DC偏移量的精密的RF信号输入在伤痕检测电路DET的比较器。其结果，可以提高光盘伤痕的检测精度。即，例如，如光盘中对比存在伤痕的区间和不存在伤痕的区间的图5曲线所示，将输入在伤痕检测电路DET的比较器的基准电压Vref设定成目标电压Vdd/2(或稍微低于目标电压)。由此，可以把RF信号限制在伤痕检测电路DET的比较器的动态范围的范围内。此时，在曲线中的左右区域的正常区间中，因为RF信号的直流成分RFDC和基准电压Vrefl一致，所以RF信号的振幅中包含基准电压Vref1形态，不会变为稳定的“H”(交替输出“H”和“L”)。另一方面，在曲线的中央区域的伤痕区域中，因为RF信号的振幅全体低于基准电压Vref1，比较器的输出变为稳定的“H”。伺服信号处理电路140利用该稳定的“H”的输出来判断伤痕的存在。这样，可以控制输入在伤痕检测电路DET的RF信号的DC偏移量，其结果，容易设定伤痕检测的电平。
如上，对本发明的实施方式，根据其实施例进行了具体的说明，但是，不限于这些，在不超出其宗旨的范围内，可以进行种种变更。
例如，作为输入在伤痕检测电路DET的比较器的反向输入接头的信号，其直流成分RFDC来替代加法运算电路SUM的模拟波形的RF信号，也是可以的。把该直流成分RFDC作为基准电压Vref1的比较对象的方法，可以输出可靠的比较结果。
另外，进行实际的再生工作，也可以一面进行伤痕检测工作，同时进行上述的偏移量调整工作。
本实施例可以获得如下的效果。
可以变更光拾器输出信号被输入的偏移量调整用差动运算放大器的控制电压的方法，调整加法运算电路的输出信号的偏移量。从而，首先，可以调整由于光拾器所引起的输出信号的偏移量。同时，可以总括调整由于偏移量调整用差动运算放大器和加法运算电路在内的处理系统所引起的偏移量。因此，加法运算电路的输出信号变为已调整包含光拾器在内的上流处理系统所引起的偏移量的信号。其结果，根据已调整偏移量的输出信号来进行信号处理的下流的处理系统，例如，检测光盘伤痕的伤痕检测电路或作为加法运算电路的输出信号的RF信号的再生处理系统中，也可以把RF信号限制在其动态范围的范围内。
从而，处理已调整偏移量的RF信号的每一个电路中，可以谋求有效活用其动态范围。特别是在低电源电压中工作的规格电路系统中，动态范围的范围变窄，但是，根据本发明的偏移量的调整，可以把RF信号限制在该范围内。因此，伤痕检测电路或再生处理系统等的信号处理中，可以防止其波形的歪曲等的精度恶化，可以进行高精度的伤痕检测处理和再生处理。
另外，由于可以调整光拾器所引起的输出信号的偏移量，对光盘用偏移量调整电路，即使连接输出信号的强度等种种规格的光拾器，可以适当调整偏移量。另外，对反射光的强度不同的种种类型的光拾器，可以适当调整光拾器所引起的偏移量，可以适当调整偏移量。
再有，实现调整偏移量的电路时，对根据已调整偏移量的RF信号来进行信号处理的下流一侧的处理系统例如伤痕检测电路或再生处理系统，没有必要变更其设计而可以利用现有的系统。
因为可以调整包括光拾器的上流的处理系统所引起的偏移量，其结果，伤痕检测电路的信号处理中，可以防止波形歪曲等的精度的恶化，高精度的伤痕检测成为可能。另外，容易设定伤痕检测电路的伤痕检测电平。
加法运算电路的输出信号是在根据该输出信号执行信号处理的电路，例如在检测光盘伤痕的伤痕检测电路或再生处理系统中，也可以把该输出信号限制在其动态范围的范围内。因此，可以进行高精度的偏移量调整，其结果，在伤痕检测电路或再生处理系统的信号处理中，可以防止波形的歪曲等的精度的恶化，可以进行高精度的伤痕检测处理或再生处理。
除此之外，还可以把加法运算电路的输出信号限制在构成AD转换部的A/D转换器等的动态范围的范围内。由此，作为AD转换部不需要分解能力高的A/D转换器，可以谋求低成本化和低消耗电力化。
根据加法运算电路的输出信号的直流成分，可以变更应该消除偏移量的、施加在该偏移量调整用差动运算放大器的控制电压。即，调整偏移量时，根据输出信号的直流成分的方法，在根据已经调整偏移量的输出信号来进行信号处理的电路中，例如，在检测光盘伤痕的伤痕检测电路或根据作为加法运算电路输出信号的RF信号来进行再生处理的系统中，也可以把RF信号可靠限制在其动态范围的范围内。因此，可以高精度调整偏移量，其结果，可以获得高精度的RF信号，从而可以进行高精度的伤痕检测处理和再生处理。
—发明的效果—具有偏移量的调整功能。因此，对每一个处理已经调整偏移量的信号的电路，可以谋求有效活用其动态范围。特别是在伤痕检测电路中，利用已经调整偏移量的信号时，在伤痕检测电路的信号处理中，可以防止波形的歪曲等的精度的恶化，可以进行高精度的伤痕处理。另外，容易设定伤痕检测电路的伤痕检测电平。
权利要求
1.一种光盘用偏移量调整电路，具有使光拾器的输出信号输入一方的输入接头的同时，使控制电压施加在另一方的输入接头的多个偏移量调整用差动运算放大器；和加法运算所述多个的偏移量调整用差动运算放大器的输出信号的加法运算电路，其特征在于还包括A/D转换部，根据所述加法运算电路的输出信号输出数字信号；和控制电压调整部，根据所述数字信号可以变化应消除偏移量的、施加在所述偏移量调整用差动运算放大器的所述控制电压。
2.根据权利要求1所述的光盘用偏移量调整电路，其特征在于还包括根据所述加法运算电路的输出信号，检测出作为所述光拾器的读取对象的光盘伤痕的伤痕检测电路。
3.根据权利要求1或2所述的光盘用偏移量调整电路，其特征在于所述的控制电压调整部变更所述的控制电压，应使所述加法运算电路的所述输出信号和目标电压一致。
4.根据权利要求3所述的光盘用偏移量调整电路，其特征在于所述加法运算电路的所述输出信号，是在所述目标电压设定在根据该输出信号执行信号处理的电路的动态范围的范围内限制可能的值后形成。
5.根据权利要求1至4的任1项所述的光盘用偏移量调整电路，其特征在于还包括直流成分输出电路，而该直流成分输出电路是把所述加法运算电路的所述输出信号的直流成分输出在A/D转换部。
6.一种集成电路，其特征在于至少包含权利要求1至5中的任1项所述的一种光盘用偏移量调整电路。
7.一种光盘装置，其特征在于至少包含权利要求1至5中的任1项所述的一种光盘用偏移量调整电路。
8.一种光盘装置的偏移量调整方法，其特征在于使光盘装置的光拾器的输出信号输入在一方的输入接头，同时，加法运算使控制电压施加在另一方输入接头的多个偏移量调整用差动运算放大器的输出信号；将所述加法运算的结果转换为数字信号化；根据所述数字信号可以变更应消除偏移量的、施加在所述偏移量调整用差动运算放大器的所述控制电压。
全文摘要
本发明的光盘用偏移量调整电路是包括光拾器的输出信号输入在一方的输入接头，同时，控制电压施加在另一方的输入接头的多个偏移量调整用差动运算放大器；和加法运算所述多个偏移量调整用差动运算放大器的输出信号；的光盘用偏移量调整电路。它还包括根据所述加法运算电路的输出信号输出数字信号的A/D转换器；根据所述数字信号，可以变更应该消除偏移量的、施加在所述偏移量调整用差动运算放大器的所述控制电压的控制电压调整部。
文档编号G11B7/005GK1573964SQ200410032819
公开日2005年2月2日 申请日期2004年4月12日 优先权日2003年5月26日
发明者佐佐木英昭 申请人:三洋电机株式会社