专利名称：聚焦控制调整方法及光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于将信息复制或记录到诸如DVD(数字通用光盘)之类的记录媒体的光盘装置，并涉及用于在该装置中调整聚焦控制的方法。
背景技术：
众所周知，用于检测聚焦误差信号的常规方法包括刀口法(Foucault法)、斑点尺寸检测法和散光聚焦误差法等，其中聚焦误差信号表示光盘装置的光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差。由于使用了简化的光学系统且易于调整，所以散光聚焦误差法最为常用。在散光聚焦误差法中，当照射到记录媒体上的光束的会聚斑(以下称为光束斑)横切(traverse)记录媒体的磁道(track)时，聚焦误差信号中极易产生扰动。在诸如DVD-RAM之类的台阶/沟槽型记录媒体情况下，扰动所带来的影响尤为明显，这是由于记录媒体的引导沟槽(沟槽)的宽度与沟槽间间隔(台阶)的宽度基本上相等，且引导沟槽的深度被设置成一个相对于光束波长λ的大数值(λ/6～λ/7)，这些将导致由经过引导沟槽的衍射所产生的推挽信号的振幅增大。
专利文献1(公开号为2000-82226的未审日本专利申请，以下称为文献1)与专利文献2(公开号为H09-81942的未审日本专利申请，以下称为文献2)披露了一种光学结构和信号检测电路，它们用于在照射到记录媒体上的光束斑横切记录媒体的磁道时控制叠加(superpose)在聚焦误差信号上的扰动。
图16为文献1中列举的光学拾波器的光学结构的示意图。光源2-1是用于发射具有例如650nm的波长的光束的元件。从光源2-1发出的光束进入到衍射光栅2-2。衍射光栅2-2将光束分为至少三个光束，它们分别是以situ透过衍射光栅2-2的主光束(0阶光)，以及以预定衍射角从主光束分离出的两个副光束(正1阶衍射光和负1阶衍射光)。这三个光束经偏振分束器2-3进入到校准镜2-4，在校准镜2-4中转化为平行光，再通过启动镜2-10和物镜2-5在诸如DVD-RAM之类的记录媒体(以下，称为盘)的记录面会聚。会聚的光束形成光束斑100、101和102。光束被盘1反射成为返回光。反射光(返回光)经与照射光(出射光)相同的光路，并经物镜2-5、启动镜2-10和校准镜2-4被反射到偏振分束器2-3的反射面上。经偏振分束器2-3反射的反射光(返回光)通过聚光镜2-6会聚到光检测器2-7、2-8-1和2-8-2的预定光接收面上。
光源2-1、衍射光栅2-2、偏振分束器2-3，、校准镜2-4、物镜2-5、聚光镜2-6，光检测器2-7、2-8-1和2-8-2，二维执行器2-9-1、2-9-2，及启动镜2-10共同构成光学拾波器单元。
被一分为四的三个光接收面，基本上线性地排列于光检测器2-7、2-8-1和2-8-2中。组成反射光(返回光)的主光束和两个副光束(正1阶衍射光和负1阶衍射光)，分别会聚到大致位于光接收区域200、201和202的中心的位置上，即位于每个光接收区域中水平划分线及垂直划分线十字交叉的点的位置，也是各个光束基本上相互对应的强度中心。由于各个光束分别具有由聚光镜2-6带来的预定散光聚焦误差，所以对各个光接收区域基于散光聚焦误差方法的位置检测信号进行检测，并从这些位置检测信号中生成聚焦误差信号。
二维执行器2-9-1和2-9-2连接到物镜2-5上。由于二维执行器2-9-1和2-9-2进行自动位置调整，即基于聚焦误差信号对物镜2-5的聚焦控制，所以照射光(光束斑100、101和102)能够稳定、精确地照射到盘1的记录面上。
但是，在基于返回光(反射光)生成聚焦误差信号的情况下，在聚焦误差信号中极易产生扰动，这是由于在盘1中的引导沟槽的衍射影响下，反射光的强度分布图周期性地变化，并且因此产生推挽信号成分漏入。
进一步，叠加在一个位置检测信号上的扰动成分的相位和叠加在另一个位置检测信号上的扰动成分的相位并非完全反相，这些相位中包括了在从同相成分到反相成分的范围之内的多种相位成分，其原因在于光学拾波器中的光学组件的安装精度、用于使光束斑沿横切盘1的磁道的方向任意运动的传送机构(磁道横切机构)的安装精度，以及盘中的沟槽的深度都会产生变化。结果，聚焦控制中实际采用的聚焦误差信号中不利地含有扰动成分，这将降低聚焦控制的性能。另外一个缺点是，在上述常规示例进行的抵消处理中，除了可设置与位置检测信号相乘的不同系数之外没有其它选择，这也导致产生聚焦控制中实际采用的聚焦误差信号中不利地含有扰动成分的情况。结果，出现聚焦控制性能降低的情况。
由前述可知，在以前有确定的方法用以在位置检测信号互相累加时确定与位置检测信号相乘的系数。在常规控制方法中，作为聚焦控制信号施加到执行器2-9-1和2-9-2上的驱动电流非常之大，这不利地增加了执行器2-9-1和2-9-2上的负载。
发明内容
因此，本发明的主要目的在于提供一种聚焦控制调整方法，用于在光束斑横切光盘装置的磁道时控制叠加在聚焦误差信号上的扰动成分，该光盘装置用于利用聚焦误差信号进行聚焦控制，该聚焦误差信号用以显示光束和由主反射光的位置检测信号和副反射光的位置检测信号所代表的记录媒体的记录面之间的位置偏差。
根据本发明的聚焦控制调整方法包括第一步骤，检测通过将光束会聚和照射到旋转的记录媒体所获取的聚焦误差信号；和第二步骤，基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号，设置用于对光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差进行控制的聚焦控制增益；以及第三步骤，基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整，其中在第一步骤中，在通过将包含主光束和两个副光束的光束会聚和照射到旋转记录媒体从而在的记录媒体上形成三个光束会聚斑之后，基于通过主光束在记录媒体上的反射所获取的主反射光，产生表示主光束中的光束会聚斑的位置的主光束位置检测信号，并基于通过副光束在记录媒体上的反射所获取的且相位不同于主反射光的相位的两个副反射光，产生表示副光束中的光束会聚斑的位置的副光束位置检测信号，并且在第一步骤中，将副光束位置检测信号与预设的系数相乘得到的结果与主光束位置检测信号相加，且检测相加的结果作为聚焦误差信号，并且在第一步骤中，根据聚焦误差信号设置系数。
根据本发明的光盘装置，包括光检测器，其在通过将包含主光束和两个副光束的光束会聚和照射到旋转的记录媒体从而在记录媒体上形成三个光束会聚斑之后，分别接收主反射光和两个副反射光，其中主反射光通过主光束在记录媒体上的反射获取，副反射光通过副光束在记录媒体上的反射获取且相位不同于主反射光的相位；聚焦误差检测器，其在基于主反射光产生表示主光束中的光束会聚斑的位置的主光束位置检测信号，并基于副反射光产生表示副光束中的光束会聚斑的位置的副光束位置检测信号之后，将副光束位置检测信号与预设的系数相乘得到的结果与主光束位置检测信号相加，并检测相加的结果作为光束的聚焦误差信号；聚焦控制器，其基于聚焦误差信号，控制光束会聚斑和记录媒体的记录面之间的位置偏差；以及用于控制记录媒体的电机，其中聚焦误差检测器根据通过聚焦控制器的位置偏差控制的结果设置系数。
在前述结构中，主光束位置检测信号的振幅假设地设置为A，副光束位置检测信号的振幅设置为B，提供给副光束位置检测信号的系数为k，聚焦误差信号的振幅为FE，则可得到以下等式。
FE＝A+k×B因此，即使在聚焦误差信号中包含扰动成分的情况下，无需过分增大聚焦控制输出即可以稳定的方式实现聚焦控制。
本发明的特征在于，系数k并不像常规技术中那样设置为固定值，而是根据聚焦误差信号的振幅变化，动态调整系数k的幅度。因此，即使在光学拾波器中的光学组件的安装精度、用于使光束斑沿横切方向在记录媒介的磁道上任意运动的传送机构的安装精度，以及盘的沟槽的深度都会产生变化的情况下，也动态控制由漏入推挽信号产生的叠加在聚焦误差信号中的扰动成分。因此，能够以高精度实现聚焦控制。
根据本发明，当主光束位置检测信号和副光束位置检测信号相加时，可根据聚焦误差信号的振幅变化动态调整作为副光束位置检测信号的乘数的系数。因此，叠加在聚焦误差信号中的扰动得以控制，即使在光学组件和传送机构的安装精度以及盘的沟槽的深度发生变化的情况下，也可以实现稳定的聚焦控制操作。
进一步，当根据扰动的程度动态调整聚焦控制增益和记录媒体的旋转速度时，聚焦控制输出能够得以控制。
进一步，当根据扰动的程度动态调整传送机构的移动速度时，在光束斑沿磁道横切方向移动的间隔中，聚焦控制输出也能够得以控制。
根据本发明的技术，有助于提高用于向诸如DVD之类的记录媒体中记录或复制信息的光盘装置的性能，并有助于提高安装有任何该类型光盘装置的仪器的性能。
通过以下对本发明优选实施例的描述，本发明的其他目的将变得清楚。本领域技术人员可通过实现本发明，注意到说明书中未提及的诸多优点。
图1是本发明优选实施例1中安装有聚焦控制调整方法的光盘装置的第一框图。
图2A～2C是优选实施例1中光束斑的照射位置和盘记录面之间的相对位置与聚焦误差信号的关系图。
图3是根据优选实施例1的第一聚焦控制调整方法的流程图。
图4是根据优选实施例1的安装有聚焦控制调整方法的光盘装置的第二框图。
图5是根据优选实施例1的第二聚焦控制调整方法的流程图。
图6是根据优选实施例1的第三聚焦控制调整方法的流程图。
图7是根据优选实施例1的第四聚焦控制调整方法的流程图。
图8是根据优选实施例1的第五聚焦控制调整方法的流程图。
图9是根据优选实施例1的第六聚焦控制调整方法的流程图。
图10是根据优选实施例1的安装有根据聚焦控制调整方法光盘装置的第三框图。
图11是根据本发明优选实施例2的安装有聚焦控制调整方法的光盘装置的第一框图。
图12是根据优选实施例2的传送机构中从当前位置到目标位置的相对位置与由微计算机控制的传送机构的移动速度之间的关系图。
图13是根据优选实施例2的聚焦控制调整方法的流程图。
图14是根据优选实施例2的安装有聚焦控制调整方法的光盘装置的第二框图。
图15是根据优选实施例2的安装有聚焦控制调整方法的光盘装置的第三框图。
图16是根据常规技术的光学拾波器的组件结构的图。
具体实施例方式
下面参照附图对根据本发明的光盘装置和聚焦控制调整方法的优选实施例进行详细说明。
实施例1图1是示出其中执行根据本发明优选实施例1的聚焦控制调整方法的光盘装置相关的结构示例的框图。在光盘装置中安装有作为记录媒体的示例的DVD-RAM盘(以下，称为盘)1。电机3使盘3旋转。电机3根据从微计算机9输出的旋转速度控制信号S1进行控制。光源2-1是用于发射例如650nm的光束的元件。从光源2-1发出的光束进入到衍射光栅2-2以便在其中被分为至少三个光束，这三个光束是透过衍射光栅2-2的主光束(0阶光)，以及以预定衍射角从主光束分离出的两个副光束(正1阶衍射光和负1阶衍射光)。这三个光束经偏振分束器2-3进入到校准镜2-4，在校准镜2-4中转化为平行光，并且通过物镜2-5会聚到诸如DVD-RAM之类的记录媒体(以下，称为盘)1的记录面上。会聚的光束在记录面上形成三个光束斑。会聚的光束在盘1上被反射，并返回经与照射光(出射光)相同的光路的反射光(返回光)，并通过物镜2-5和校准镜2-4反射到偏振分束器2-3的反射面上。反射光通过聚光镜2-6会聚到光检测器2-7、2-8-1和2-8-2的预定光接收面上。
反射光的主光束在光检测器2-7上会聚，并且反射光的两个副光束(正1阶衍射光和负1阶衍射光)在光检测器2-8-1和2-8-2上会聚。主光束基本上会聚到光接收区域的中心位置。副光束(正1阶衍射光和负1阶衍射光)分别会聚到与它们的强度中心基本上相同的位置。由于聚光镜2-6为反射光带来预定散光聚焦误差，所以在光检测器2-7、2-8-1和2-8-2中对基于散光聚焦误差检测的聚焦误差信号进行检测。物镜2-5具有二维执行器2-9-1和2-9-2。
光学拾波器2包括光源2-1、衍射光栅2-2、偏振分束器2-3、校准镜2-4、物镜2-5、聚光镜2-6，光检测器2-7、2-8-1和2-8-2，以及二维执行器2-9-1和2-9-2。
从光检测器2-7、2-8-1和2-8-2的输出，被输入到第一差分电路4-1、第一加法电路4-2-1和第二加法电路4-2-2。第一差分电路4-1检测主光束(反射光)的强度差，并基于主光束生成主光束位置检测信号。以下，主光束位置检测信号被称为主聚焦误差信号MFE。主聚焦误差信号MFE被输入到第三加法电路4-5。
第一加法电路4-2-1和第二加法电路4-2-2分别将光检测器2-8-1和光检测器2-8-2的输出相加，并输出至第二差分电路4-3。第一加法电路4-2-1和第二加法电路4-2-2执行加法的目的在于，检测各个副光束(反射光)的强度差。第二差分电路4-3基于第一加法电路4-2-1和第二加法电路4-2-2的输出检测副光束(反射光)的强度差，并基于来自检测结果的副光束生成副光束位置检测信号。以下，副光束位置检测信号被称为副聚焦误差信号SFE。副聚焦误差信号SFE被输入到乘法电路4-4，在乘法电路4-4中副聚焦误差信号SFE与预定系数k相乘。
乘以系数k的副聚焦误差信号SFE，被输入到第三加法电路4-5。第三加法电路4-5把第一差分电路4-1的输出和乘法电路4-4的输出相加，以产生聚焦误差信号FE。聚焦误差信号FE可用下述等式表示。
FE＝MFE+k×SFE …(1)在当前优选实施例中，聚焦误差检测器4包括第一差分电路4-1、第一加法电路4-2-1、第二加法电路4-2-2、第二差分电路4-3、乘法电路4-4和第三加法电路4-5。
在利用散光聚焦误差方法从反射光中检测聚焦误差信号FE时，极易产生扰动，这是由于在引导沟槽的衍射影响下，反射光的强度分布图会周期性地变化，并且因此产生推挽信号成分漏入。以下参照附图2A～2C对此进行说明。
图2A-2C分别示出了从光束斑100、101和102的反射光检测到的聚焦误差信号，其中信号振幅显示在纵轴上，照射位置和盘1的记录面之间的相对位置显示在横坐标上。如图2A和图2B所示，在对从主光束斑的反射光获取的位置检测信号MFE和从两个副光束(正1阶衍射光和负1阶衍射光)的反射光获取的位置检测信号SFE进行互相比较时，这两个信号是同相的，而产生在这两个信号中的扰动成分的相位是相反的。因此，使通过在位置检测信号SFE上乘以预定系数获取的结果(或信号的和)与位置检测信号MFE在第三加法电路4-5中相加，从而如图2C所示近乎彻底的消除叠加在从第三加法电路4-5输出的聚焦误差信号FE上的扰动成分。
聚焦控制器5执行自动位置调整，即基于由第三加法电路4-5提供的聚焦误差信号FE对物镜2-5进行聚焦控制，并使光束斑精确的照射到盘1的记录面上。在优选实施例1中，聚焦控制器5包括相位延迟补偿电路5-1和相位预先补偿电路5-2，其中各个电路的增益都是可变的。
聚焦误差信号FE还输入到用于聚焦误差振幅的第一测量器件6、用于聚焦误差振幅的第二测量器件7、用于聚焦误差周期的第一测量器件8。用于聚焦误差振幅的第一测量器件6和用于聚焦误差振幅的第二测量器件7，在预定的间隔内根据聚焦误差信号FE的最大值和最小值测量聚焦误差信号FE的振幅，并将测量结果输出到微计算机9。用于聚焦误差周期的第一测量器件8在预定的间隔内测量聚焦误差信号FE的最大周期和最小周期，并计算周期的平均值，并将计算结果输出到微计算机9。
微计算机9根据用于聚焦误差振幅的第一测量器件6的测量结果，确定乘法电路4-4的增益，亦即等式(1)中的系数k，并设置乘法电路4-4中的确定系数(增益)k。
微计算机9根据用于聚焦误差振幅的第二测量器件7的测量结果，确定聚焦控制增益，并设置聚焦控制器5中的确定聚焦控制增益。进一步，微计算机9根据用于聚焦误差周期的第一测量器件8的测量结果，确定并设置电机3的旋转速度。
后面将说明确定乘法电路4-4的增益(系数)k、聚焦控制器15的增益和电机3的旋转速度控制信号S1的方法。
下面参照图3说明根据优选实施例1的聚焦控制调整方法。图3是根据优选实施例1的聚焦控制调整方法的示例的流程图。
1)关于第一步骤在第一步骤中，调整乘法电路4-4中的增益k，以便最有效地控制叠加在聚焦误差信号FE中的漏入推挽信号所产生的扰动的影响。以下进行详细地说明。
首先，在任意值被设置为乘法电路4-4中的系数k的状态下，闭合聚焦控制环(步骤1-1)。随后，用于聚焦误差振幅的第一测量器件6根据聚焦误差信号FE的最大值和最小值测量其振幅，并将所测量的振幅输出到微计算机9(步骤1-2)。微计算机9存储用于聚焦误差振幅的第一测量器件6的测量结果并更新乘法电路4-4的系数k(步骤1-3)。
重复步骤1-2到步骤1-3的操作，以便调整作为乘法电路4-4的增益的系数k，从而使用于聚焦误差振幅的第一测量器件6的输出能够被最小化。
理想地，通过重复步骤1-2到步骤1-3的操作，可使由叠加到聚焦误差信号FE中的漏入推挽信号所导致的扰动为零。但是，由于光学拾波器2的光学组件的安装精度、用于使光束沿横切盘的磁道的方向任意运动的传送机构(未示出)的安装精度以及盘中的沟槽的深度都可能发生变化，所以在某些情况下无法使由叠加在聚焦误差信号FE中的漏入推挽信号所导致的扰动为零。
执行下列步骤以便控制聚焦控制性能的恶化，即使当由漏入推挽信号引起扰动叠加在聚焦误差信号FE上时。
2)关于第二2-1步骤在实施步骤1-1到步骤1-3的操作之后，用于聚焦误差振幅的第二测量器件7基于聚焦误差信号FE的最大值和最小值测量其振幅，并将所测量的结果输出到微计算机9(步骤2-1)。微计算机9根据用于聚焦误差振幅的第二测量器件7的测量结果，调整聚焦控制器5的增益FCG(步骤2-2)。举例来说，假设用于聚焦误差振幅的第二测量器件7的输出为Amp2，聚焦控制器5的初始增益值为FCG0，基于以下等式(2)对聚焦控制增益FCG进行调整。
FCG＝FCG0×(α/Amp2) …(2)在等式(2)中，α是任意系数，且聚焦控制增益FCG被调整为与用于聚焦误差振幅的第二测量器件7的输出Amp2成反比。尽管由于步骤2-1和步骤2-2的实施，使得无需向二维执行器2-9-1和2-9-2提供任何过大的驱动信号即可使聚焦控制稳定，但是，在聚焦控制增益FCG被调整为等于或者小于适当的值的任意值的情况下，存在聚焦控制的残值抑制性能恶化的危险。为避免这种情况，有必要为设置预定限制值，作为待由步骤2-1和步骤2-2调整的聚焦控制增益FCG。因此，当在根据等式(2)利用所测量的Amp2计算聚焦控制增益FCG中聚焦控制增益小于预定限制值时，该限制值可被设置为聚焦控制增益FCG。
本优选实施例中描述的用于聚焦控制器5的增益调整方法仅为示例。作为另一示例，在步骤2-2中，微计算机9可留存至少两组设置值作为待在聚焦控制器5中设置的聚焦控制增益FCG，其中一组设置值可被设置为根据用于聚焦误差振幅的第二测量器件7的输出电平在它们之间进行切换。
聚焦控制器5可包括相位延迟补偿电路5-1和相位预先补偿电路5-2，微计算机9可仅调整相位预先补偿电路5-2的增益。
在步骤2-1中，用于聚焦误差周期的第一测量器件8可测量聚焦误差信号FE的周期，并根据所测量的周期的最小值、平均值或最大值调整聚焦控制器5或相位预先补偿电路5-2的增益。例如，微计算机9可存储聚焦控制器5周期中每个周期的增益特性，并调整增益特性以使用于聚焦误差周期的第一测量器件8所测量的聚焦误差信号FE的周期的最小值、平均值或最大值与存储在微计算机9中的增益特性相对应。在步骤1-2中，基于用于聚焦误差振幅的第一测量器件6所测量的聚焦误差信号FE的振幅，调整增益特性。
增益特性可更具体地进行调整，例如以下所示。假设使用于聚焦误差周期的第一测量器件8所测量的聚焦误差信号FE的周期的最小值、平均值或最大值处的增益为FCGref，且使在步骤2-1实施时的聚焦控制增益FCG为FCG0，根据下述等式(3)获取等式(2)中的系数α。
α＝FCGref×Amp2/FCG0 …(3)而后，将在等式(3)中得到的系数α带入到等式(2)以设置聚焦控制增益FCG。
通过执行前述步骤2-1和步骤2-2，可对聚焦控制增益FCG进行适当地调整，即便是在由漏入推挽信号带来的扰动叠加到聚焦误差信号FE上的情况下。因此，无需供应任何过大的驱动信号到二维执行器2-9-1和2-9-2即可实现稳定的聚焦控制。
3)关于2-2步骤在实施第一步骤和2-1步骤时，无需供应任何过大的驱动信号到二维执行器2-9-1和2-9-2即可实现稳定的聚焦控制。但是，在漏入推挽信号带来的扰动很大的情况下，执行这些步骤并不足以获得充分的效果。因此，在根据等式(2)对聚焦控制增益FCG进行计算并调整之后，用于聚焦误差振幅的第二测量器件7再次基于聚焦误差信号FE的最大值和最小值对其振幅进行测量，并将测量结果输出到微计算机9(步骤2-3)。
微计算机9将用于聚焦误差振幅的第二测量器件7的测量结果与由微计算机9预先留存的预定值进行比较，根据比较结果确定电机3的旋转速度(倍速)，并输出表示确定的旋转速度的旋转速度控制信号S1到电机3。电机3根据旋转速度控制信号S1控制盘1的旋转使其以预定的旋转频率旋转(步骤2-4)。
如以下等式(4)所示，由漏入推挽信号引起的叠加在聚焦误差信号FE中的扰动频率df与盘1的离心率Xdec和电机3的旋转速度Vmt成正比。
df∝(Xdec，Vmt) …(4)聚焦控制器5包括相位延迟补偿电路5-1和相位预先补偿电路5-2。相位预先补偿电路5-2根据扰动频率df放大由漏入推挽信号引起的叠加在聚焦误差信号FE上的扰动，这大幅增加了聚焦控制器5的输出。
为解决这些缺点，通过执行通过步骤2-3和步骤2-4，电机3的旋转速度可进行适当地调整，即使是在由漏入推挽信号引起的扰动叠加在聚焦误差信号FE上的情况下。因此，无需大幅增加聚焦控制器5的输出即可实现稳定的聚焦控制。
图1所示结构可变为图4所示结构，并且图3所示流程图中的操作也可变为图5所示流程图中的操作。图4示出了对根据图1所示优选实施例1的光盘装置的变形实施例。在该光盘装置中，图1结构中用于聚焦误差振幅的第一测量器件6被聚焦控制驱动测量器件14所代替。被输入有聚焦控制器5的输出的聚焦控制驱动测量器件14，具有在预定的间隔测量给二维执行器2-9-1和2-9-2的驱动信号的功能。聚焦控制驱动测量器件14的输出连接到微计算机9。微计算机9根据聚焦控制驱动测量器件14的测量结果确定乘法电路4-4的增益，即等式(1)中的系数k，并将所确定的系数k设置到乘法电路4-4中。
图5是通过偏差根据优选实施例1的聚焦控制调整方法(图3的流程图)中第一步骤中的步骤1-2所得到的流程图。更具体地，在图3的第一步骤中，用于聚焦误差振幅的第一测量器件6基于聚焦误差信号FE的最大值和最小值测量其振幅，并将测量结果输出到微计算机9。微计算机9存储用于聚焦误差振幅的第一测量器件6的测量结果，并根据通过比较测量器件6的前一测量结果与测量器件6的当前测量结果所获取的结果，更新乘法电路4-4的系数k。更新处理被重复地执行。
在图5所示第一步骤的步骤1-2′中，聚焦控制器5的输出，即聚焦控制驱动信号，被测量并输出到微计算机9。微计算机9根据由聚焦控制驱动测量器件14测量的聚焦控制驱动信号，重复地更新乘法电路4-4的系数k，直至聚焦控制驱动信号降至最低。
根据当前结构，由漏入推挽信号带来的叠加在聚焦误差信号FE上的扰动对聚焦控制驱动信号的影响能够被最低。
在实施例1中，第一步骤、2-1步骤和2-2步骤参照图1和图3的顺序执行。但是，即便如替换图3的图6所示在第一步骤执行之后顺序执行2-2步骤和2-1步骤的情况下，显而易见地也可实现类似的效果。
在优选实施例1中，第一步骤、2-1步骤和2-2步骤均被执行。然而，可如替换图3的图7所示，在第一步骤执行之后仅执行2-1步骤。这种情况下，无需大幅增加聚焦控制器5的输出即可实现稳定的聚焦控制。
可选的，可如替换图3的图8所示，在第一步骤执行之后仅执行2-2步骤。这种情况下，无需大幅增加聚焦控制器5的输出即可实现稳定的聚焦控制。
如图9所示，尽管在第一步骤中将乘法电路4-4的系数k设置为预设的固定值，但是通过执行2-1步骤和/或2-2步骤，无需大幅增加聚焦控制器5的输出即可实现稳定的聚焦控制。进一步，可缩短用于执行第一步骤的处理时间。
当用于控制盘1的磁道1-1与光束斑之间的位置偏差的磁道控制环(未示出)在从第一步骤到2-2步骤的执行中为打开时(处理期间)，光束斑确定地横切磁道1-1。因此，当磁道控制环为打开时，一旦执行步骤1-2、步骤2-1和步骤2-3，即可大幅提高这些步骤的测量精度。这样以来，可进一步提高根据本发明的聚焦控制调整方法中的调整精度。
进一步，如图10所示，可提供开关10-1和10-2，以使聚焦误差信号FE、位置检测信号MFE和位置检测信号SFE中的任意一个信号，都可被选择为用于聚焦误差振幅的第二测量器件7和用于聚焦误差周期的第一测量器件8的输入信号。在步骤2-1和步骤2-3中检测到的聚焦误差信号FE的振幅或周期，可对应于位置检测信号MFE的振幅或周期和位置检测信号SFE的振幅或周期，在这种情况下可取得类似的效果。
在2-1步骤和2-2步骤中调整的聚焦控制增益FCG和电机3的转速，可仅在磁道控制环为打开时被施加，以便提高光盘装置的聚焦控制性能。
当磁道控制环因向盘1复制或写入信息而闭合时，漏入推挽信号引起的扰动不会影响聚焦误差信号FE，因为光束斑被控制在磁道1-1上。
当在复制或者记录与盘1有关的信息的情况下磁道控制环被闭合时，由于光束斑被控制在磁道1-1上，所以由漏入推挽信号引起的扰动不影响聚焦控制信号FE。因此，当磁道控制环被闭合时，并不施加在2-1步骤和2-2步骤中确定的聚焦控制增益FCG和电机3的旋转速度，但可增大聚焦控制增益以控制盘1的面摆动成分，或增大电机3的旋转速度以便以更高的速度复制或写入信息。这样以来，光盘装置的性能得以提高。
电机3的旋转速度可基于用于聚焦误差周期的第一测量器件8的测量结果来确定。
实施例2图11是示出其中安装有根据本发明优选实施例2的聚焦控制调整方法的光盘装置的示例的框图。由于图11中与图1中相同的附图标记表示相同的组件，所以下面不再详细描述。在图11中，附图标记11表示用于使光学拾波器2沿横切盘1的磁道1-1的方向移动到任意位置的传送机构。传送机构11可以使作为光学拾波器2的组件的物镜2-5沿横切磁道1-1的方向移动到任意位置。因此，传送机构11还可使光束斑沿横切磁道1-1的方向移动到任意位置。传送机构11基于由微计算机9提供的传送机构控制信号S2进行位置控制。附图标记12表示用于聚焦误差振幅的第三测量器件，其用于根据聚焦误差信号FE的最大值和最小值测量其振幅，并将测量结果输出到微计算机9作为Amp3。
参照附图12说明从微计算机9输出到传送机构11的传送机构控制信号S2。附图12示出了从微计算机9输出到传送机构11的传送机构控制信号S2的特性，其中传送机构11的移动速度绘制在纵轴上，且传送机构11的位置绘制在横轴上。微计算机9基于传送机构11的当前位置和目标位置，根据图12中示出的曲线输出传送机构控制信号S2。例如，当光束会聚斑从位置x0运动到目标位置xref时，微计算机9对传送机构控制信号S2的值进行调整，以便提高光束斑的移动速度。传送机构控制信号S2的值被调整为，使光束会聚斑到达位置x1时，移动速度v达到作为均匀速率的最大值vmax。当光束会聚斑到达位置x3时，对传送机构控制信号S2的值进行调整以降低传送机构11的移动速度。当光束会聚斑到达位置X4时，传送机构控制信号S2的值被调整为使移动速度进一步降低。当传送机构11的初始位置变为图12中所示x1时，以类似的方式采用这种控制模式。在作为示例的传送机构11的初始位置位于位置x2的情况下，当传送机构11的移动速度v未能在传送机构11的移动速度增加的区间内达到最大速度vmax的情况下，可调整传送机构控制信号S2的值以降低移动速度。
优选实施例2的特征在于，可通过进一步执行根据优选实施例1的结构中的步骤1-1和步骤1-2，以便微计算机9在扰动被调整的状态下根据由叠加在聚焦误差信号FE上的漏入推挽信号所引起的扰动的振幅或周期，对输出到传送机构11的传送机构控制信号S2的最大速度vmax进行限定。
参照图13更具体地说明上述聚焦控制调整方法。图13是根据优选实施例1的聚焦控制调整方法的示例的流程图。
以类似于优选实施例1的方式，将乘法电路4-4的增益(系数)k调整为这样一个值，该值可使由叠加在聚焦误差信号FE上的漏入推挽信号所引起的扰动的影响被控制在最低级别。
首先，在任意值被设置为乘法电路4-4的增益(系数)k的状态下，闭合聚焦控制环(步骤1-1)。在该环闭合的情况下，用于聚焦误差振幅的第一测量器件6根据聚焦误差信号FE的最大值和最小值测量其振幅，并将测量结果输出到微计算机9(步骤1-2)。微计算机9存储用于聚焦误差振幅的第一测量器件6的测量结果，并基于通过比较测量器件6的前一测量结果和测量器件6的当前测量结果所获取的比较结果，更新乘法电路4-4的系数k。重复地执行更新处理从而以使用于聚焦误差振幅的第一测量器件6的输出被最小化的方式来调整乘法电路4-4的系数k。
理想的，通过重复步骤1-1至步骤1-3，可使由叠加在聚焦误差信号FE上的漏入推挽信号导致的扰动为零。但是，由于包括光学拾波器2和传送机构(未示出)11在内的光学组件的安装精度及盘上沟槽的深度可能会发生变化，所以在某些情况下无法使由叠加在聚焦误差信号FE上的漏入推挽信号所带来的扰动为零。因此，在本优选实施例中，通过执行下述步骤2-1＇，使得当光束斑根据传送机构11的操作移动时，不会有任何过大的驱动信号施加到二维执行器2-9-1和2-9-2上，同时对传送机构控制信号S2的最大速度vmax进行调整。
下面详细说明步骤2-1＇。用于聚焦误差振幅的第三测量器件12根据测量聚焦误差信号FE得最大值和最小值测量其振幅，并将测量结果Amp3输出到微计算机9(步骤2-1＇)。随后，微计算机9根据下面的等式(5)利用测量结果Amp3计算传送机构控制信号S2的最大速度vmax。
vmax＝vmax0×(β/Amp3) …(5)β是任意的系数，传送机构控制信号S2的最大速度vmax被调整与测量结果Amp3成反比(步骤2-2＇)。因此，即使在执行步骤1-1和步骤1-2之后由漏入推挽信号带来的扰动的影响仍留在聚焦误差信号FE中的情况下，传送机构11的移动速度的最大值也可在2-1步骤′中进行调整，以便无需向二维执行器2-9-1和2-9-2施加任何过大的驱动信号即可实现稳定的聚焦控制。
如图14中所示，在采用用于聚焦误差周期的第二测量器件13以代替用于聚焦误差振幅的第三测量器件13的情况下，可执行类似于前述调整处理的调整处理。下面说明使用用于聚焦误差周期的第二测量器件13的控制方法。
用于聚焦误差周期的第二测量器件13测量聚焦误差信号FE的周期，并将测得的周期输出到微计算机9。微计算机9存储用于聚焦误差周期的第二测量器件13的测量结果，并基于通过比较测量器件13的前一测量结果与测量器件13的当前测量结果所获取的结果，更新乘法电路4-4的系数k。重复地执行更新处理，从而以使用于聚焦误差振幅的第一测量器件6的输出最小化的方式调整乘法电路4-4的系数k。
在执行步骤1-1至步骤1-3之后，测量到聚焦误差信号FE的最大值、最小值或平均值，并将它们输出到微计算机9。例如，微计算机9检测作为用于聚焦误差周期的第二测量器件13的输出的聚焦误差信号FE的周期的最小值，以检测盘1的最大离心速度。微计算机9控制传送机构11的速度以使盘1的离心速度和光束横切磁道1-1的速度的和对应于预定速度。
如图15所示，微计算机9可基于用于聚焦误差振幅的第三测量器件12的输出和用于聚焦误差周期的第二测量器件13的输出，调整传送机构11的移动速度从而进一步提高控制精度。
更具体地，仅当用于聚焦误差振幅的第三测量器件12的测量结果等于或大于预定值时，如所述那样根据用于聚焦误差周期的第二测量器件13的测量结果调整传送机构11的移动速度。结果，不仅可减少用于向盘1复制或写入信息的访问时间，还可使聚焦控制稳定。
在优选实施例2中，尽管在执行第一步骤(步骤1-1～步骤1-3)之后才执行2-1步骤＇(步骤2-1＇～步骤2-2＇)，但是，可以如实施例1那样在执行第一步骤之后执行2-1步骤和2-2步骤中的一个步骤，而后再执行2-1步骤′，即使在这种情况下也能取得类似效果。
在优选实施例2中，尽管总是在执行第一步骤之后才执行2-1步骤′，但是在执行步骤2-1＇之后，根据用于聚焦误差振幅的第三测量器件12的测量结果或用于聚焦误差周期的第二测量器件13的测量结果，可省略步骤2-2＇及后续步骤。
在优选实施例2中，如图11、图14和图15所示，聚焦误差信号FE输入到用于聚焦误差振幅的第三测量器件12和用于聚焦误差周期的第二测量器件13，尽管未示出，但是位置检测信号MFE和位置检测信号SFE也可输入到检测器件12和检测器件13，在这种情况下仍可取得类似的效果。
在优选实施例2中，如图10、图11、图14和图15所示，用于聚焦误差振幅的第一测量器件6对聚焦误差信号FE的振幅进行测量以确定乘法电路4-4的系数k。但是，尽管未具体地示出，但是用于驱动聚焦控制的测量器件14可测量聚焦控制器5的输出(参见图4)，并可根据所获取的测量结果确定乘法电路4-4的系数k，在这种情况下可取得类似的效果。
虽然已经阐述了本发明在当前被认为是优选的的实施例，但是应理解，可以对本发明进行各种修改，并且本发明试图将落入本发明的真正精神和范围之内的所有这些修改都纳入所附权利要求中。
权利要求
1.一种聚焦控制调整方法，包括第一步骤，检测通过将光束会聚和照射到旋转的记录媒体所获取的聚焦误差信号；和第二步骤，基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号，设置用于对光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差进行控制的聚焦控制增益；其中在第一步骤中，通过将包含主光束和两个副光束的光束会聚和照射到旋转的记录媒体，在记录媒体上形成三个光束会聚斑，基于通过主光束在记录媒体上的反射所获取的主反射光，产生表示主光束中的光束会聚斑的位置的主光束位置检测信号，并基于在记录媒体上反射的且相位不同于主反射光的相位的两个副反射光，产生表示副光束中的光束会聚斑的位置的副光束位置检测信号，并且在第一步骤中，将副光束位置检测信号与预设的系数相乘得到的结果与主光束位置检测信号相加，且检测相加的结果作为聚焦误差信号，并且在第一步骤中，根据聚焦误差信号设置系数。
2.根据权利要求1所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据聚焦误差信号、主光束位置检测信号或副光束位置检测信号设置聚焦控制增益。
3.根据权利要求2所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，将聚焦控制增益设置为基本上与聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅成反比。
4.根据权利要求3所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开期间的振幅，作为聚焦误差信号的振幅。
5.根据权利要求2所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据当光束会聚斑横切记录媒体的磁道时聚焦误差信号的周期、主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期设置聚焦控制增益。
6.根据权利要求2所述的聚焦控制调整方法，其中当基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整时，利用相位延迟补偿和相位预先补偿对光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差进行控制，并且在第二步骤中，相位预先补偿中的增益被设置为聚焦控制增益。
7.根据权利要求2所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益的光束的聚焦调整中，仅在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环为打开的时候，采用聚焦控制增益。
8.根据权利要求1所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据聚焦误差信号、主光束位置检测信号或副光束位置检测信号设置记录媒体的旋转速度，以代替设置聚焦控制增益。
9.根据权利要求8所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅设置记录媒体的旋转速度。
10.根据权利要求9所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开期间的振幅，作为聚焦误差信号的振幅。
11.根据权利要求8所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据当光束会聚斑横切记录媒体的磁道时聚焦误差信号的周期、主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期设置记录媒体的旋转速度。
12.根据权利要求8所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，仅在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环为打开的时候，采用所设置的记录媒体的旋转速度。
13.根据权利要求1所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，在设置聚焦控制增益之后进一步根据聚焦误差信号、主光束位置检测信号或副光束位置检测信号设置记录媒体的旋转速度。
14.根据权利要求13所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅设置记录媒体的旋转速度。
15.根据权利要求14所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，将聚焦控制增益确定为基本上与聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅成反比。
16.根据权利要求14所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开期间的振幅，作为聚焦误差信号的振幅。
17.根据权利要求13所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据当光束会聚斑横切记录媒体的磁道时聚焦误差信号的周期、主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期设置聚焦控制增益。
18.根据权利要求13所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据当光束会聚斑横切记录媒体的磁道时聚焦误差信号的周期、主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期确定记录媒体的旋转速度。
19.根据权利要求13所述的聚焦控制调整方法，其中当基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整时，利用相位延迟补偿和相位预先补偿对光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差进行控制，并且在第二步骤中，相位预先补偿中的增益被设置为聚焦控制增益。
20.根据权利要求13所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，仅在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环为打开的时候，采用聚焦控制增益。
21.根据权利要求13所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，仅在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环为打开的时候，采用所设置的记录媒体的旋转速度。
22.根据权利要求1所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，在根据聚焦误差信号、主光束位置检测信号或副光束位置检测信号设置记录媒体的旋转速度之后，设置聚焦控制增益。
23.根据权利要求22所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，将聚焦控制增益设置为基本上与聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅成反比。
24.根据权利要求23所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开期间的振幅，作为聚焦误差信号的振幅。
25.根据权利要求22所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅设置记录媒体的旋转速度，以代替设置聚焦控制增益。
26.根据权利要求25所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开期间的振幅，作为聚焦误差信号的振幅。
27.根据权利要求22所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据在光束会聚斑横切记录媒体的磁道时的聚焦误差信号的周期、或主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期设置聚焦控制增益。
28.根据权利要求22所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据在光束会聚斑横切记录媒体的磁道时的聚焦误差信号的周期、或主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期设置记录媒体的旋转速度。
29.根据权利要求22所述的聚焦控制调整方法，其中当基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整时，利用相位延迟补偿和相位预先补偿对光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差进行控制，并且在第二步骤中，相位预先补偿中的增益被设置为聚焦控制增益。
30.根据权利要求22所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，仅在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环为打开的时候，采用聚焦控制增益。
31.根据权利要求22所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，仅在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环为打开的时候，采用所设置的记录媒体的旋转速度。
32.根据权利要求1所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据聚焦误差信号、主光束位置检测信号或副光束位置检测信号进一步设置沿横切记录媒体的磁道的方向移动光束会聚斑的移动速度。
33.根据权利要求32所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据聚焦误差信号、主光束位置检测信号或副光束位置检测信号设置移动速度，以代替设置聚焦控制增益。
34.根据权利要求32所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据聚焦误差信号的周期、主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期设置移动速度，以代替设置聚焦控制增益。
35.根据权利要求32所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，将移动速度的最大值设置为基本上与聚焦误差信号的振幅成反比。
36.根据权利要求32所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，将移动速度设置为使移动速度与从聚焦误差信号的周期检测到的记录媒体的离心速度的和与预定值相对应。
37.根据权利要求32所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，在聚焦误差信号的振幅大于预定值的情况下，将移动速度确定为使移动速度与从聚焦误差信号的周期检测到的记录媒体的离心速度的和与预定值相对应。
38.根据权利要求32所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，在设置移动速度之前设置聚焦控制增益。
39.根据权利要求38所述的聚焦控制调整方法，其中与第二步骤中，将聚焦控制增益设置为基本上与聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅成反比。
40.根据权利要求39所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开期间的振幅，作为聚焦误差信号的振幅。
41.根据权利要求38所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据在光束会聚斑横切记录媒体的磁道时的聚焦误差信号的周期、或主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期设置聚焦控制增益。
42.根据权利要求38所述的聚焦控制调整方法，其中当基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整时，利用相位延迟补偿和相位预先补偿对光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差进行控制，并且在第二步骤中，相位预先补偿中的增益被设置为聚焦控制增益。
43.根据权利要求38所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，仅在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环为打开的时候，采用聚焦控制增益。
44.根据权利要求32所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，在确定移动速度之前，根据聚焦误差信号、主光束位置检测信号或副光束位置检测信号设置记录媒体的旋转速度。
45.根据权利要求44所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅设置记录媒体的旋转速度。
46.根据权利要求45所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开期间的振幅，作为聚焦误差信号的振幅。
47.根据权利要求44所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据在光束会聚斑横切记录媒体的磁道时的聚焦误差信号的周期、或主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期设置记录媒体的旋转速度。
48.根据权利要求44所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，仅在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环为打开的时候，采用所设置的记录媒体的旋转速度。
49.根据权利要求32所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，在根据聚焦误差信号、主光束位置检测信号或副光束位置检测信号设置聚焦控制增益之后，设置记录媒体的旋转速度，并且此后在聚焦控制增益和旋转速度被设置完成之后再设置移动速度。
50.根据权利要求49所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，将聚焦控制增益设置为基本上与聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅成反比。
51.根据权利要求50所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开期间的振幅，作为聚焦误差信号的振幅。
52.根据权利要求49所述的聚焦控制调整方法，其中在第二步骤中，根据在光束会聚斑横切记录媒体的磁道时的聚焦误差信号的周期、或主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期设置聚焦控制增益。
53.根据权利要求49所述的聚焦控制调整方法，其中当基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，利用相位延迟补偿和相位预先补偿对光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差进行控制，并且在第二步骤中，相位预先补偿中的增益被设置为聚焦控制增益。
54.根据权利要求49所述的聚焦控制调整方法，其中在基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号和在第二步骤中设置的聚焦控制增益进行光束的聚焦调整中，仅在用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环为打开的时候，采用聚焦控制增益。
55.根据权利要求1所述的聚焦控制调整方法，其中在第一步骤中，使所设置的系数为固定值。
56.根据权利要求1所述的聚焦控制调整方法，其中在第一步骤中，系数被设置为使聚焦误差信号的振幅被最小化。
57.根据权利要求56所述的聚焦控制调整方法，其中在第一步骤中，用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开期间的振幅，作为聚焦误差信号的振幅。
58.根据权利要求1所述的聚焦控制调整方法，其中在第一步骤中，系数被确定为使聚焦控制的输出被最小化。
59.根据权利要求58所述的聚焦控制调整方法，其中在第一步骤中，用于控制光束和记录媒体的磁道之间的位置偏差的磁道控制环被打开时的聚焦控制的输出，作为聚焦控制输出。
60.一种光盘装置，包括光检测器，其在通过将包含主光束和两个副光束的光束会聚和照射到旋转的记录媒体从而在记录媒体上形成三个光束会聚斑之后，接收主反射光和两个副反射光，其中主反射光通过主光束在记录媒体上的反射获取，副反射光通过副光束在记录媒体上的反射获取且相位不同于主反射光的相位，聚焦误差检测器，其在基于主反射光产生表示主光束中的光束会聚斑的位置的主光束位置检测信号，并基于副反射光产生表示副光束中的光束会聚斑的位置的副光束位置检测信号之后，将副光束位置检测信号与预设的系数相乘得到的结果与主光束位置检测信号相加，并检测相加的结果作为光束的聚焦误差信号；聚焦控制器，其基于聚焦误差信号控制光束会聚斑和记录媒体的记录面之间的位置偏差；以及用于使记录媒体旋转的电机，其中聚焦误差检测器根据通过聚焦控制器的位置偏差控制的结果设置系数。
61.根据权利要求60所述的光盘装置，进一步包括用于聚焦误差振幅的第一测量器件，其测量聚焦误差信号的振幅，其中聚焦误差检测器根据用于聚焦误差振幅的第一测量器件的测量结果设置系数。
62.根据权利要求61所述的光盘装置，进一步包括用于聚焦误差振幅的第二测量器件，其测量聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的的振幅，其中聚焦控制器根据用于聚焦误差振幅的第二测量器件的测量结果，设置用于控制光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差的聚焦控制增益。
63.根据权利要求61所述的光盘装置，进一步包括用于聚焦误差振幅的第二测量器件，其测量聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅，其中聚焦控制器根据用于聚焦误差振幅的第二测量器件的测量结果设置电机的旋转速度。
64.根据权利要求61所述的光盘装置，进一步包括用于聚焦误差周期的测量器件，其测量聚焦误差信号的周期、主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期，其中聚焦控制器根据用于聚焦误差周期的测量器件的测量结果，设置用于控制光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差的聚焦控制增益。
65.根据权利要求61所述的光盘装置，进一步包括用于聚焦误差周期的测量器件，其测量聚焦误差信号的周期、主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期，其中聚焦控制器根据用于聚焦误差周期的测量器件的测量结果设置电机的旋转速度。
66.根据权利要求60所述的光盘装置，进一步包括用于驱动聚焦控制的测量器件，其测量聚焦控制器的输出，其中聚焦误差检测器根据用于驱动聚焦控制的测量器件的测量结果设置系数。
67.根据权利要求66所述的光盘装置，进一步包括用于聚焦误差振幅的第二测量器件，其测量聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅，其中聚焦控制器根据用于聚焦误差振幅的第二测量器件的测量结果，设置用于控制光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差的聚焦控制增益。
68.根据权利要求66所述的光盘装置，进一步包括用于聚焦误差振幅的第二测量器件，其测量聚焦误差信号的振幅、主光束位置检测信号的振幅或副光束位置检测信号的振幅，其中聚焦控制器根据用于聚焦误差振幅的第二测量器件的测量结果设置电机的旋转速度。
69.根据权利要求66所述的光盘装置，进一步包括用于聚焦误差周期的测量器件，其测量聚焦误差信号的周期、主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期，其中聚焦控制器根据用于聚焦误差周期的测量器件的输出，设置用于控制光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差的聚焦控制增益。
70.根据权利要求66所述的光盘装置，进一步包括用于聚焦误差周期的测量器件，其测量聚焦误差信号的周期、主光束位置检测信号的周期或副光束位置检测信号的周期，其中聚焦控制器根据用于聚焦误差周期的测量器件的测量结果设置电机的旋转速度。
71.根据权利要求60所述的光盘装置，进一步包括传送机构，用于沿横切记录媒体的磁道的方向移动光束会聚斑；用于聚焦误差振幅的测量器件，其在设置系数之前测量聚焦误差信号的振幅；以及用于聚焦误差振幅的测量器件，其在设置系数之后测量聚焦误差信号的振幅，其中根据在设置系数之前测量振幅的用于聚焦误差振幅的测量器件的测量结果确定系数，并且根据在设置系数之后测量振幅的用于聚焦误差振幅的测量器件的测量结果设置由传送机构引起的光束会聚斑的移动速度。
72.根据权利要求60所述的光盘装置，进一步包括传送机构，用于沿横切记录媒体的磁道的方向移动光束会聚斑；用于驱动聚焦控制的测量器件，其测量聚焦控制器的输出；以及用于聚焦误差振幅的测量器件，其测量聚焦误差信号的振幅，其中根据用于驱动聚焦控制的测量器件的测量结果设置系数，并且根据用于聚焦误差振幅的测量器件的测量结果设置由传送机构引起的光束会聚斑的移动速度。
73.根据权利要求60所述的光盘装置，进一步包括传送机构，用于沿横切记录媒体的磁道的方向任意地移动光束会聚斑；用于聚焦误差振幅的测量器件，其测量聚焦误差信号的振幅；以及用于聚焦误差周期的测量器件，其测量聚焦误差信号的周期，其中根据用于聚焦误差振幅的测量器件的测量结果设置系数，并且根据用于聚焦误差周期的测量器件的测量结果设置由传送机构引起的光束会聚斑的移动速度。
74.根据权利要求60所述的光盘装置，进一步包括传送机构，用于沿横切记录媒体的磁道的方向任意地移动光束会聚斑；用于驱动聚焦控制的测量器件，其测量聚焦控制器的输出；以及用于聚焦控制周期的测量器件，其测量聚焦误差信号的周期，其中根据用于驱动聚焦控制的测量器件的测量结果设置系数，并且根据用于聚焦误差周期的测量器件的测量结果设置由传送机构引起的光束会聚斑的移动速度。
全文摘要
根据本发明的聚焦控制调整方法包括用于检测通过将光束会聚和照射到旋转的记录媒体所获取的聚焦误差信号的第一步骤，和用于基于在第一步骤中检测到的聚焦误差信号设置用于对光束和记录媒体的记录面之间的位置偏差进行控制的聚焦控制增益的第二步骤，其中在第一步骤中将副光束位置检测信号与预设的系数相乘得到的结果与主光束位置检测信号相加，且检测相加的结果作为聚焦误差信号，并且在第一步骤中根据聚焦误差信号设置系数。
文档编号G11B7/09GK1855252SQ20061007819
公开日2006年11月1日 申请日期2006年4月28日 优先权日2005年4月28日
发明者桑原雅弥 申请人:松下电器产业株式会社