本发明涉及太阳能组件测试技术领域,具体涉及一种太阳能组件测试系统。
背景技术：
太阳能组件长期在一定温湿度和高电压环境下工作时，因高强度偏压不断通过组件，导致组件封装材料之间存在漏电流，而使组件产生腐蚀和衰退的现象称之为电势诱导衰减(pid)效应。这种效应表现在玻璃、封装材料之间存在漏电流，封装材料、背板、玻璃和边框之间形成漏电流通道。大量电荷聚集在电池片表面，导致电池片的钝化，致使开路电压、短路电流和填充因子降低，el拍摄图像显示黑斑等不良现象。
目前，测试太阳能电池组件电势诱导衰减的方法为直接采用正高压电源加至边框处，此方法对于操作人员的危险性较高，且测试效率较低。
因此，亟需开发一款安全性能高、价格低廉的太阳能电池组件测试系统。
技术实现要素：
本发明所要解决的技术问题在于针对现有技术中存在的上述缺陷，提出一种太阳能组件测试系统，待测太阳能组件的一端接地，另一端施加高压，提高测试的安全性，保护测试过程中测试人员的人身安全。
本发明是采用以下技术方案实现的：
一种太阳能组件测试系统，包括：测试箱：用以模拟特定温度和湿度的测试环境，测试时将待测组件放置在测试箱内；测试仪：所述测试仪采用绝缘耐压测试仪，用来测试组件的绝缘性能；高压电源：用以提供-2000v—+2000v的电压，待测太阳能组件输出端的一端和铝框与高压电源的正负极相连，且铝框接地；电压控制器：与高压电源相连，用以检测所提供电压的稳定性，保证测试的准确性。
进一步的，所述测试箱的温度范围设定范围为55℃-95℃，湿度控制范围为25%-90%。
进一步的，所述测试系统还包括用于太阳能电池组件el测试的el测试仪。
与现有技术相比，本发明的优点和积极效果在于：
本发明所述测试系统用于太阳能组件电势诱导衰减的测试，用来评估太阳能组件承受系统偏压的能力，在合理的成本和时间内，测试太阳能组件承受系统电压、湿度、温度等各种环境因素能力，待测太阳能组件的一端接地，另一端施加高压，提高测试的安全性，保护测试过程中测试人员的人身安全。
附图说明
图1是本发明实施例所述的太阳能组件测试系统结构示意图。
具体实施方式
为了能够更加清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图及实施例对本发明做进一步说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明并不限于下面公开的具体实施例。
参考图1，本实施例提出一种太阳能组件测试系统，包括：测试箱：用以模拟特定温度和湿度的测试环境，测试时将待测组件放置在测试箱内；测试仪：所述测试仪采用绝缘耐压测试仪，用来测试组件的绝缘性能；高压电源：用以提供-2000v—+2000v的电压，待测太阳能组件输出端的一端和铝框与高压电源的正负极相连，且铝框接地；电压控制器：与高压电源相连，用以检测所提供电压的稳定性，保证测试的准确性。
本实施例主要采用的仪器是测试箱、测试仪、高压电源、电压表、电压控制器，测试箱用来模拟一定温度和湿度的试验环境，所述测试箱的温度范围设定范围为55℃-95℃，湿度控制范围为25%-90%，本实施例可选温度65℃，湿度85，也可以选择温度55℃，湿度75%；绝缘耐压测试仪用来测试组件的绝缘性能；高压电源用来提供一定数值的电压值-2000v～+2000v；电压控制器用来检测所提供电压的稳定性，保证测试的准确性。
测试场景主要是模拟一定温度、湿度和偏压值环境下太阳能组件的电势诱导衰减状况，并且所述测试系统还包括用于太阳能电池组件el测试的el测试仪，所述el测试仪用于检测太阳能组件的内部缺陷、隐裂、碎片、虚焊、断栅以及不同转换效率单片电池异常现象。
本实施例选取待测太阳能组件，所述太阳能组件包括层压件、设置于层压件两端的铝框以及与层压件连接的接线盒；将太阳能组件的接线盒与高压电源连接，对太阳能组件施加-2000v～+2000v的偏压，偏压值根据测试需要设置，具体不作限定，任一端铝框与接地端连接进行接地处理；然后将太阳能组件测试箱中并利用测试仪测试其绝缘性能。
本发明所述测试系统用于太阳能组件电势诱导衰减的测试，用来评估太阳能组件承受系统偏压的能力，在合理的成本和时间内，测试太阳能组件承受系统电压、湿度、温度等各种环境因素能力，待测太阳能组件的一端接地，另一端施加高压，提高测试的安全性，保护测试过程中测试人员的人身安全。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非是对本发明作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本发明技术方案的保护范围。