AD转换电路和微控制器以及采样时间调整方法与流程

技术特征：
1.一种AD转换电路，包括：采样保持电路，将从输入端子输入的模拟输入电压施加到由多个电容构成的电容阵列，蓄积电荷直到所设定的采样时间为止；比较器电路，将所述电容阵列的各电容的电压依次从各电容读出，与预先设定的基准电压比较而生成数字信号；以及采样时间调整电路，测量与从所述输入端子所连接的外部装置输入的调整用电压相应地在所述采样保持电路的输入侧进行上升的电压达到相对于所述基准电压而预定的阈值为止的时间，将基于该测量的时间而求出的时间设定为所述采样时间。2.如权利要求1所述的AD转换电路，其中，所述采样时间调整电路将所述测量的时间乘以与预定精度对应的值而得的值设定为所述采样时间。3.如权利要求1或权利要求2所述的AD转换电路，其中，以所述调整用电压对于所述基准电压的小于1的比来规定所述阈值。4.如权利要求1或权利要求2所述的AD转换电路，其中，包括存储用所述采样时间调整电路测量的时间或设定的采样时间的存储单元。5.如权利要求1所述的AD转换电路，其中，所述采样时间调整电路包括：比较单元，比较所述调整用电压与所述阈值并输出表示所述调整用电压达到所述阈值的信号；测量单元，测量从所述调整用电压对所述采样保持电路的输入开始到从所述比较单元输出所述信号为止的时间；以及导出单元，使用由所述测量单元测量的时间来导出所述采样保持时间。6.如权利要求5所述的AD转换电路，其中，所述采样时间调整电路包括将所述基准电压分压并作为所述阈值输入至所述比较单元的第1电阻和第2电阻，所述第1电阻的电阻值和第2电阻的电阻值以如下方式设定：与连接有所述外部装置时的输入阻抗与所述电容阵列的时间常数τ相应地上升的所述调整用电压小于所述基准电压的100％而从所述比较单元输出所述信号。7.如权利要求5所述的AD转换电路，其中，所述采样时间调整电路包括将所述基准电压分压并作为所述阈值输入至所述比较单元的第1电阻和第2电阻，所述第1电阻的电阻值和第2电阻的电阻值以被分压并输入至所述比较单元的电压为所述基准电压的63.2％的方式设定。8.如权利要求6或权利要求7所述的AD转换电路，其中，所述第1电阻和所述第2电阻是可变电阻。9.一种微控制器，包括：权利要求1至8的任一项所述的AD转换电路；以及中央处理装置，进行基于包含该AD转换电路的动作控制的程序的处理。10.一种采样时间调整方法，设置AD转换电路中的采样时间，所述AD转换电路包括：采样保持电路，将从输入端子输入的模拟输入电压施加到由多个电容构成的电容阵列，蓄积电荷直到所设定的采样时间为止；以及比较器电路，将所述电容阵列的各电容的电压从各电容依次读出，与预先设定的基准电压比较而生成数字信号，所述方法包含：第1步骤，测量与从所述输入端子所连接的外部装置输入的调整用电压相应地在所述采样保持电路的输入侧进行上升的电压达到相对于所述基准电压而预定的阈值为止的时间；以及第2步骤，将基于在所述第1步骤测量的时间而求出的时间设定为所述采样时间。11.如权利要求10所述的采样时间调整方法，在所述第2步骤中，将在所述第1步骤测量的时间乘以与预定精度对应的值而得的值设定为所述采样时间。