专利名称：：提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法
技术领域：
：本发明有关一种瑕疵存储器元件应用方法，特别是有关一种瑕疵存储器元件于图像处理系统的应用方法。(2)
背景技术：
参照图1，它是一现有扫描器10的截面示意图。扫描器10包括一主体11及一扫描头13。此主体11具有一顶部透明平台12，供置放一待扫描文件。此扫描头13是可移动地装设于此顶部透明平台12下方，供扫描一置放于此顶部透明平台工2上的文件。通过一传动装置(未示出)带动扫描头13于皮带14上滑动。扫描头13通常包括一壳体15，一光源16、包含一镜片组17及一透镜18的一光学系统、一光感测器19及一驱动装置20装设于其中。光感测器19，如一电耦合装置，是用于检测经文件反射并由此光学系统导引聚焦至光感测器19上的文件图像。参照图3，驱动装置20包含三个晶体管，用于驱动装设于主板22上的一信号处理单元。参照图2，此信号处理单元包括一模拟数字转换器23、一控制电路24，例如是一特殊应用集成电路、一存储器25、一界面控制电路26及一马达控制电路27。参照图3，光感测器19的模拟信号及驱动装置20的驱动信号是通过一电缆21传输至此信号处理单元。模拟数字转换器23用于将光感测器输出的模拟信号转换成数字信号，并将此数字信号输出至控制电路24。存储器25用于存取控制电路24的数据。界面控制电路26将控制电路24的数据通过一界面28输送至一主机。于存储器元件制造过程中，往往因工艺不良产生瑕疵存储器元件。这些瑕疵存储器元件会影响存储器电路的操作性能，而不被使用于图像处理系统中供作其图像数据储存装置。因此，由于工艺不良产生的瑕疵存储器元件往往无用，同时浪费了此瑕疵存储器元件上的功能性存储胞。于图像处理系统中，例如扫描器，存储器元件较其它电子元件的制造费用高。由于目前未见有将瑕疵存储器元件应用于如扫描器的图像处理系统中，使得图像处理系统的制造成本仍无法降低。据此，亟待提出一种瑕疵存储器元件于图像处理系统的应用方法，以解决现有瑕疵存储器元件的低利用性及其功能性存储胞的浪费的问题。(3)
发明内容本发明的主要目的是提供一种提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法，其可有效率及经济地使用瑕疵存储器元件，以达到降低制造费用的目的。本发明的另一目的是提供一种提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法，其可增加使用于图像处理系统的存储器元件的储存容量。为实现上述目的，根据本发明一方面的一种提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法，其特点是，包括写入一预定测试数据模式于使用于该图像处理系统的一存储器元件的存储胞阵列中；根据该预定测试数据模式以检测瑕疵存储胞；储存该瑕疵存储胞于该存储胞阵列的位置；及选择该存储胞阵列上至少一包含数个连续的功能性存储胞的区块，以储存该图像处理系统的一图像读取装置所撷取的图像数据。根据本发明另一方面的一种提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法，其特点是，包括写入一预定测试数据模式于使用于该图像处理系统的一存储器元件的存储胞阵列中；根据该预定测试数据模式以检测瑕疵存储胞；建立该瑕疵存储胞相应在该存储胞阵列的位置的一对照表以及根据该对照表，使用该存储胞阵列上的功能性存储胞储存该图像处理系统的一图像读取装置所撷取的图像数据，而跳过该瑕疵存储胞。根据本发明又一方面的一种提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法，其特点是，包括写入一预定测试数据模式于使用于该图像处理系统的一存储器元件的存储胞阵列中；根据该预定测试数据模式以检测瑕疵存储胞；储存该瑕疵存储胞于该存储胞阵列的位置；使用该瑕疵存储器元件以储存该图像处理系统的一图像读取装置所撷取的图像数据；以及以内差法重新估算相应每一该瑕疵存储胞的一像素图像值。为进一步说明本发明的目的、结构特点和效果，以下将结合附图对本发明进行详细的描述。(4)图1是一现有扫描器的截面示意日；图2是图1的现有扫描器的一信号处理单元的功能方块示意圄；图3是图1的现有扫描器的信号处理单元与一扫描头之间的信号传输示意图；图4是本发明执行瑕疵存储胞的检测的电路示意图；图5是本发明第一具体实施例的步骤流程图；图6是本发明第二具体实施例的步骤流程图；及图7是本发明第三具体实拖例的步骤流程图。(5)具体实施方式如本发明技术背景所述，使用一图像处理系统，例如是一扫描器，进行图像数据撷取时，以图像读取装置从一文件上撷取的图像数据是被送至一图像处理单元。此图像处理单元包括一模拟数字转换器、一控制电路、一存储器元件及一输出界面。首先，此模拟数字转换器将来自图像读取装置的图像数据转换成数字化图像数据，并输出至控制电路，例如是特殊应用集成电路。存储器元件供作来自控制电路的数字化图像数据的暂时储存装置。使用于图像处理系统如扫描器的存储器元件主要由数列及数行存储胞排列构成的一存储胞阵列组成。通常使用于图像处理系统的存储器元件的所有存储胞皆为功能性存储胞。当一存储器元件具有瑕疵存储胞时通常不会被使用作为图像处理系统的图像数据储存装置，因此往往造成瑕疵存储器元件上的功能性存储胞的浪费。据此，本发明提供一种可有效率及经济地应用瑕疵存储器元件于图像处理系统的方法。本发明的提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法可通过以下的具体实施例施行。图5是本发明第一具体实施例的流程图。当图像处理系统一开机後，即执行瑕疵存储器胞的检测。在步骤52，是将一预定测试数据模式写入图像处理系统的瑕疵存储器元件的存储胞阵列中。参照图4，可以图像处理单元中的控制电路41执行瑕疵存储胞的检测。此预定测试数据模式即可由控制电路41写入存储胞42。例如，当瑕疵存储器元件为包含8位元存储胞阵列，及每一存储胞具有一位元时，可将一(55，AA)测试数据模式写入存储胞阵列，以进行瑕疵存储胞检测；其中55＝OX0101，OX0101；AA＝OX1010，OXI010。当55写入存储胞阵列时，代表检测位元0、位元2、位元4及位元6。当AA写入存储胞阵列时，代表检测位元1、位元3、位元5及位元7。在步骤53，即根据此预定测试数据模式检测瑕疵存储胞。接着，在步骤54，储存瑕疵存储胞在存储胞阵列上的位置。在步骤55，当图像处理系统进行图像撷取时，图像处理系统即选择在存储胞阵列上包含数个连续的功能性存储胞的至少一存储器区块以储存图像读取装置所撷取的图像数据。根据第一具体实施例，可使用此瑕疵存储元件储存图像数据，而不受到其本身具有的瑕疵存储胞的影响。图6是本发明第二具体实施例的步统流程图。步骤61至63相同于第一具体实施例的步骤51至53。本发明第二具体实施例中，在步骤64，即建立瑕疵存储胞相应在存储胞阵列上位置的对照表(mappingtable)。之後，在步骤65，当图像处理系统进行图像撷取时，即根据所建立的对照表，跳过瑕疵存储胞，使用功能性存储胞储存图像读取装置撷取的图像数据。图7是本发明第三具体实施例的步骤流程图。步骤71至74相同于第一具体实施例的步骤51至54。本发明第三具体实施例中，在步骤75，当图像处理系统进行图像数据撷取时，使用此瑕疵存储器元件的所有存储胞储存图像读取装置撷取的图像数据。在步骤76，根据每一瑕疵存储胞相应像素(pixel)的相邻像素图像值(imagevalue)，以内差法重新估算此瑕疵存储胞相应像素的图像值。根据本发明方法，可将工艺不良产生的瑕疵存储器元件单一个或多个组合使用于图像处理系统中，供作其图像数据储存装置。图像处理系统的制造费用即可明显降低，同时又可提高图像储存装置的储存容量。当然，本
技术领域：
中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变型都将落在本发明权利要求书的范围内。权利要求1.一种提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法，其特征在于，包括写入一预定测试数据模式于使用于该图像处理系统的一存储器元件的存储胞阵列中；根据该预定测试数据模式以检测瑕疵存储胞；储存该瑕疵存储胞于该存储胞阵列的位置；及选择该存储胞阵列上至少一包含数个连续的功能性存储胞的区块，以储存该图像处理系统的一图像读取装置所撷取的图像数据。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的存储器元件包含一8位元阵列时，该预定测试数据模式为一(55，AA)模式。3.一种提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法，其特征在于，包括写入一预定测试数据模式于使用于该图像处理系统的一存储器元件的存储胞阵列中；根据该预定测试数据模式以检测瑕疵存储胞；建立该瑕疵存储胞相应在该存储胞阵列的位置的一对照表以及根据该对照表，使用该存储胞阵列上的功能性存储胞储存该图像处理系统的一图像读取装置所撷取的图像数据，而跳过该瑕疵存储胞。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述的存储器元件包含一8位元阵列时，该预定测试数据模式为一(55，AA)模式。5.一种提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法，其特征在于，包括写入一预定测试数据模式于使用于该图像处理系统的一存储器元件的存储胞阵列中；根据该预定测试数据模式以检测瑕疵存储胞；储存该瑕疵存储胞于该存储胞阵列的位置；使用该瑕疵存储器元件以储存该图像处理系统的一图像读取装置所撷取的图像数据；以及以内差法重新估算相应每一该瑕疵存储胞的一像素图像值。6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述的存储器元件包含一8位元阵列时，该预定测试数据模式为一(55，AA)模式。全文摘要一种提升瑕疵存储器元件于图像处理系统利用性的方法。本发明提供应用瑕疵存储器元件于图像处理系统以供作图像数据储存装置的三种方法。第一种方法是选择包含数个连续的功能性存储胞的至少一存储器区块以储存图像数据。第二种方法是建立瑕疵存储胞相应其在存储胞阵列上位置的对照表，于储存图像数据时，根据此对照表跳过瑕疵存储胞，而使用功能性存储胞。第三种方法是使用瑕疵存储器元件储存图像数据，再以内差法重新估算瑕疵存储胞的图像值。文档编号H04N1/04GK1434627SQ02102838公开日2003年8月6日申请日期2002年1月24日优先权日2002年1月24日发明者陈世煌,黄英俊申请人:力捷电脑股份有限公司