液晶显示器及其检测方法
【专利摘要】一种液晶显示器及其检测方法，所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板包括M条扫描线和N条数据线，所述液晶显示器还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和M条扫描线。所述检测方法包括：施加控制信号至所述开关单元；施加数据信号至所述N条数据线；根据所述液晶显示器的当前亮度判断所述液晶显示器Mura来源；停止施加所述控制信号至所述开关单元。本发明技术方案提供的液晶显示器及其检测方法，能够缩短检测所述液晶显示器Mura来源的时间，降低检测成本。
【专利说明】液晶显示器及其检测方法【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶显示【技术领域】，特别涉及一种液晶显示器及其检测方法。【背景技术】
[0002]薄膜场效应晶体管液晶显不器(TFT-LCD,ThinFilm Transistor Liquid CrystalDisplay)是有源矩阵液晶显示器的典型代表，由于其具有性能优良、大规模生产特性好、自动化程度高等优点，被广泛应用于笔记本电脑、摄像机与数字照相机监视器等领域。
[0003]为了提高产品品质，在TFT-1XD生产过程中，需要及时检查出产品出现的各种不良现象。Mura (显示亮度不均)是TFT-1XD检查过程中常见的一类不良现象，引起Mura的原因有两种:生产TFT-1XD过程中的阵列工艺引起的Mura和成盒工艺引起的Mura。根据引起Mura现象的不同原因，可以对出现Mura的TFT-1XD进行不同的处理。但是’从Mura的现象上很难区分是哪种原因引起的，因此需要对Mura的来源进行检测。
[0004]申请号为201010223560.5、发明名称为“TFT阵列基板及其制造方法与检测方法”的中国专利申请公开了一种检测Mura来源的方法，然而，该申请提供的检测方法需要打孔焊接，检测时间较长。
【发明内容】
[0005]本发明解决的是检测液晶显示器Mura来源时耗时较长的问题。
[0006]为解决上述问题，本发明提供一种液晶显示器，所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板 包括M条扫描线和N条数据线，所述液晶显示器还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和M条扫描线。
[0007]基于上述液晶显示器，本发明技术方案还提供了一种液晶显示器的检测方法，所述检测方法包括:施加控制信号至所述开关单元；所述施加控制信号至所述开关单元之后，施加数据信号至所述N条数据线；所述施加数据信号至所述N条数据线之后，根据所述液晶显示器的当前亮度判断所述液晶显示器Mura来源；所述判断所述液晶显示器Mura来源之后，停止施加所述控制信号至所述开关单元。
[0008]与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下至少一个优点:
[0009]本发明提供的液晶显示器包括开关单元，所述开关单元连接驱动电源线和TFT基板上的所有扫描线。检测液晶显示器的Mura来源时，所述开关单元接收由控制信号产生单元提供的控制信号，所述控制信号控制所述开关单元导通，所有的扫描线同时由所述驱动电源线上的电压驱动。由于同时驱动所有的扫描线，消除了 TFT特性引起的Mura。若在检测时Mura仍然存在，则可以判断在正常驱动下产生的Mura是由成盒工艺引起，反之则是由阵列工艺引起。
[0010]检测所述液晶显示器的Mura来源时，所述开关单元只需要接收由所述控制信号产生单元提供的控制信号，而不需要进行打孔焊接，因此，不会增加额外的工艺，缩短了检测时间。[0011]进一步，现有技术中检测液晶显示器的Mura来源时，需要检测输入输出电压，因而需要增加检测设备，而本发明检测所述液晶显示器的Mura来源时，并不需要进行测量，因此，不需要额外的检测设备，降低了检测成本。
[0012]本发明的可选方案中，所述开关单元包括多个晶体管，所述液晶显示器还包括电熔丝，所述多个晶体管的栅极通过所述电熔丝接收所述控制信号。在判断出液晶显示器的Mura来源后，所述控制信号产生单元施加高电压熔断所述电熔丝，使所述开关单元失效，有效地确保不影响液晶显示器的其他功能。
[0013]本发明的可选方案中，所述开关单元包括多个晶体管，所述TFT基板还包括玻璃基板，所述多个晶体管的栅极连接所述玻璃基板上的柔性电路板的接地焊盘。在判断出液晶显示器的Mura来源后，在驱动芯片和柔性电路板焊接的工艺阶段，所述多个晶体管的栅极连接所述柔性电路板的接地焊盘，增加了静电放电的泄放途径，增强了液晶显示器抗静电放电能力。
【专利附图】
【附图说明】[0014]图1是现有的液晶显不器的结构不意图；
[0015]图2是本发明实施例1的液晶显示器的结构示意图；
[0016]图3是本发明实施例2的液晶显示器的结构示意图；
[0017]图4是本发明实施例3的液晶显示器的结构示意图；
[0018]图5是本发明实施例4的液晶显示器的结构示意图；
[0019]图6是本发明实施例5的液晶显示器的结构示意图；
[0020]图7是本发明实施例6的液晶显示器的结构示意图；
[0021]图8是本发明实施方式的液晶显示器的检测方法的流程示意图。
【具体实施方式】
[0022]正如【背景技术】中所描述的，在TFT-LCD生产过程中，需要对产品进行各项检测，发现产品存在的各种不良现象。在成盒工艺后、驱动芯片和柔性电路板焊接前，需要对液晶显不器进行画面检查(Visual Test)。
[0023]图1是现有的在成盒工艺后、驱动芯片和柔性电路板焊接前的液晶显示器的结构示意图。参考图1，所述液晶显示器包括TFT基板11、驱动电源线12和多个栅极驱动电路，所述TFT基板11包括M条扫描线和N条数据线。所述M条扫描线分别为扫描线G1、扫描线G2、扫描线G3、扫描线G4、…、扫描线GM_3、扫描线GM_2、扫描线Gih和扫描线Gm,所述N条数据线分别为数据线D1、数据线D2、…、数据线Dim和数据线Dn。所述驱动电源线12适于向所述多个栅极驱动电路提供驱动电源电压，每个栅极驱动电路适于向一条扫描线提供扫描电压。
[0024]对图1所示的液晶显示器进行画面检查时，观察所述液晶显示器在正常驱动下是否有Mura现象产生。具体地，给所述液晶显示器供电后，由IXD测试治具向所述多个栅极驱动电路提供使能信号及时钟信号，向所述N条数据线施加数据信号，所述液晶显示器进行隔行扫描。扫描过程中，观察所述液晶显示器是否出现Mura现象。
[0025]若所述液晶显示器出现Mura现象，根据引起Mura的不同原因，对所述液晶显示器进行不同的处理。因此，需要对所述液晶显示器的Mura来源进行检测。
[0026]本发明技术方案提供了一种液晶显示器。所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板包括M条扫描线和N条数据线，还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和所述M条扫描线。
[0027]具体地，检测所述液晶显示器的Mura来源时，由控制信号产生单元提供控制信号，所述控制信号控制所述开关单元导通，所述M条扫描线同时由所述驱动电源线上的驱动电源电压驱动。产生所述控制信号后，对所述N条数据线施加数据信号，观察所述液晶显示器在正常驱动下出现的Mura是否消失。
[0028]引起Mura的原因有两种:生产过程中的阵列工艺引起的Mura和成盒工艺引起的Mura。阵列工艺引起Mura现象是指TFT阵列中的开关管特性曲线漂移，引起像素充放电速度变慢，导致像素在开关管的开关过程中放电不完全，最终造成液晶显示器出现Mura现
象。
[0029]本发明技术方案提供的液晶显示器，在检测时由于同时驱动所述M条扫描线，所述TFT阵列中的所有开关管同时导通，使像素完全放电，消除了 TFT特性引起的Mura，即消除了由阵列工艺引起的Mura。若在检测时Mura仍然存在，则可以判断在正常驱动下产生的Mura是由成盒工艺引起；若在检测时Mura消失,贝U可以判断在正常驱动下产生的Mura是由阵列工艺引起。
[0030]本发明检测液晶显示器的Mura来源时，只需要由控制信号产生单元提供控制信号，而不需要进行打孔焊接，因此，不会增加额外的工艺，缩短了检测时间。
[0031]为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
[0032]需要说明的是，图1所示的M条扫描线中，奇数条扫描线的输入端和偶数条扫描线的输入端分别位于所述TFT基板11相对的两侧，即所述扫描线G1、扫描线匕、…、扫描线Gm_3和扫描线Gjh位于所述TFT基板11的左侧,所述扫描线G2、扫描线G4、…、扫描线Gm_2和扫描线Gm位于所述TFT基板11的右侧。在以下的实施例中，均是以M条扫描线中奇数条扫描线的输入端和偶数条扫描线的输入端分别位于TFT基板相对的两侧进行说明。在其他实施例中，M条扫描线的输入端也可以均位于TFT基板的同一侧，本发明对此不作限定。
[0033]实施例1
[0034]图2是本发明实施例1的液晶显示器的结构示意图。参考图2，所述液晶显示器包括TFT基板21、驱动电源线22和多个栅极驱动电路，还包括开关单元23。
[0035]所述TFT基板21包括M条扫描线和N条数据线。所述M条扫描线分别为扫描线G1、扫描线G2、扫描线G3、扫描线G4、…、扫描线GM_3、扫描线GM_2、扫描线Gltpi和扫描线Gm,所述N条数据线分别为数据线D1、数据线D2、…、数据线Dim和数据线Dn。所述驱动电源线22适于向所述多个栅极驱动电路提供驱动电源电压，每个栅极驱动电路适于向一条扫描线提供扫描电压。
[0036]所述开关单元23适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号Vc的控制下导通所述驱动电源线22和M条扫描线。
[0037]具体地，所述控制信号Vc由控制信号产生单元提供，适于控制所述开关单元23的导通。具体地，所述控制信号Vc为直流电压信号。在本实施例中，所述控制信号产生单元为LCD测试治具，所述直流电压信号由LCD测试治具提供。在其他实施例中，所述控制信号产生单元也可以为其他能够提供直流电压信号的电压源，本发明对此不作限制。
[0038]所述控制信号产生单元还适于在非检测所述液晶显示器Mura来源期间停止产生所述控制信号Vc，即在未检测所述液晶显示器的Mura来源期间，所述控制信号产生单元不会输出所述控制信号Vc。
[0039]所述开关单元23包括M个晶体管，每个晶体管的栅极相连并适于接收所述控制信号产生单元产生的控制信号Vc，每个晶体管的第一电极均连接所述驱动电源线22，每个晶体管的第二电极对应连接一条扫描线。
[0040]在本实施例中，所述M个晶体管均为NMOS管，所述晶体管的第一电极为NMOS管的漏极，所述晶体管的第二电极为NMOS管的源极。由于所述M个晶体管为NMOS管，因此，所述控制信号Vc为高电平信号，具体的电压幅值根据每个晶体管的阈值电压大小进行设定。[0041 ] 相应地，在其他实施例中，若所述M个晶体管均为PMOS管，则所述晶体管的第一电极为PMOS管的源极，所述晶体管的第二电极为PMOS管的漏极，所述控制信号Vc为低电平信号。同理，本领域技术人员可以根据本实施例的精神，在部分采用PMOS管、部分采用NMOS管的情况下，做相应的变换，以同样地达到所述开关单元22的效果，在此不再一一穷尽式列举。
[0042]在制作所述TFT阵列中的开关管时，将所述M个晶体管以及相关的连线一起制作在所述TFT基板的玻璃基板上，不需要增加额外的工艺。
[0043]检测本实施例的液晶显示器的Mura来源时，由所述控制信号产生单元施加控制信号Vc至所述开关单元23。具体地，在本实施例中，使用连接线连接所述M个晶体管的栅极与所述LCD测试治具。连接好之后，由所述LCD治具输出高电平的控制信号Vc。
[0044]在施加所述控制信号Vc至所述开关单元23之后，施加数据信号至所述N条数据线。所述开关单元23中的M个晶体管在所述控制信号Vc的控制下导通，所述M条扫描线同时被所述驱动电源线22上的驱动电源电压驱动。施加数据信号之后，观察所述液晶显示器的Mura现象是否依然存在。
[0045]由于同时驱动所述M条扫描线，所述TFT阵列中的所有开关管同时导通，使像素完全放电，消除了 TFT特性引起的Mura,即消除了由阵列工艺引起的Mura。若在检测时Mura仍然存在，则可以判断在正常驱动下产生的Mura是由成盒工艺引起；若在检测时Mura消失，则可以判断在正常驱动下产生的Mura是由阵列工艺引起。
[0046]判断出所述液晶显示器的Mura来源后，所述控制信号产生单元停止施加所述控制信号Vc至所述开关单元23。具体地，由所述IXD测试治具停止产生所述控制信号Vc，并断开所述IXD测试治具与开关单元23之间的连接线。
[0047]与现有技术相比，在检测所述液晶显示器的Mura来源时，所述开关单元23只需要接收由所述控制信号产生单元提供的控制信号Vc，而不需要进行打孔焊接，因此，不会增加额外的工艺，缩短了检测时间。
[0048]进一步，现有技术中检测液晶显示器的Mura来源时，需要检测输入输出电压，因而需要增加检测设备，而本实施例检测所述液晶显示器的Mura来源时，并不需要进行测量，并且所述控制信号产生单元采用已有的LCD测试治具，因此，不需要额外的检测设备，降低了检测成本。
[0049]实施例2
[0050]图3是本发明实施例2的液晶显示器的结构示意图。参考图3，所述液晶显示器包括TFT基板31、驱动电源线32、开关单元33以及多个栅极驱动电路，还包括电熔丝(E-fuse) F3。所述TFT基板31、驱动电源线32和开关单元33与实施例1类似，具体结构与功能可参考实施例1的描述。
[0051]本实施例中，所述开关单元33中的M个晶体管的栅极通过所述电熔丝F3接收控制信号产生单元产生的控制信号Vc。所述电熔丝F3在接收所述控制信号Vc时相当于导线，在接收高电压时熔断。
[0052]在制作所述TFT阵列中的开关管时，将所述M个晶体管、所述电熔丝F3以及相关的连线一起制作在所述TFT基板的玻璃基板上，不需要增加额外的工艺。
[0053]检测本实施例的液晶显示器的Mura来源的过程与实施例1类似，区别在于:判断出所述液晶显示器的Mura来源后，所述控制信号产生单元停止输出所述控制信号Vc，并且，施加高电压至所述电熔丝F3，使所述电熔丝F3熔断，从而使所述开关单元33失效。在所述电熔丝F3熔断后，即使再对所述液晶显示器施加所述控制信号Vc，所述开关单元33也无法再导通。
[0054]本实施例中，熔断所述电熔丝F3的高电压由所述控制信号产生单元提供，即由LCD测试治具提供，在其他实施例中，熔断所述电熔丝F3的高电压也可以由能够输出直流高电压的电压源提供，本实施例对此不作限定。
[0055]本实施例中，在判断出所述液晶显示器的Mura来源后，施加高电压熔断所述电熔丝F3，使所述开关单元33失效，防止误施加控制信号Vc时所述开关单元33导通而影响液晶显示器的其他功能。
[0056]实施例3
[0057]图4是本发明实施例3的液晶显示器的结构示意图。参考图4，所述液晶显示器包括TFT基板41、驱动电源线42、开关单元43以及多个栅极驱动电路。所述TFT基板41、驱动电源线42和开关单元43与实施例1类似，具体结构与功能可参考实施例1的描述，在此不再赘述。
[0058]本实施例与实施例1相比，区别在于:检测所述液晶显示器的Mura来源结束后，在驱动芯片和柔性电路板焊接的工艺阶段，将所述开关单元43中的M个晶体管的栅极与玻璃基板上的柔性电路板的接地焊盘连接。
[0059]具体地，检测出所述液晶显示器的Mura来源后，所述液晶显示器进入驱动芯片和柔性电路板焊接的工艺阶段。参考图4，柔性电路板44包括接地焊盘45。在焊接所述柔性电路板44至所述玻璃基板上时，将所述M个晶体管的栅极与所述接地焊盘45连接，形成到地的回路。所述到地的回路具有排走静电的作用，增强了所述液晶显示器抗静电放电能力。
[0060]实施例4
[0061]图5是本发明实施例4的液晶显示器的结构示意图。参考图5，所述液晶显示器包括TFT基板51、驱动电源线52、开关单元53以及多个栅极驱动电路。所述TFT基板51和驱动电源线52与实施例1类似，具体结构与功能可参考实施例1的描述。
[0062]所述开关单元53包括M个晶体管，每个晶体管的栅极相连并适于接收控制信号产生单元产生的控制信号Vc。本实施例中，所述M条扫描线中的奇数条扫描线的输入端和偶数条扫描线的输入端分别位于所述TFT基板51相对的两侧，因此，第m个晶体管的第一电极对应连接第m-2条扫描线,第m个晶体管的第二电极对应连接第m条扫描线,2 < m ^ M,第一个晶体管的第一电极和第二个晶体管的第一电极连接所述驱动电源线52。
[0063]在其他实施例中，若所述M条扫描线的输入端均位于所述TFT基板51的同一侧，则第m个晶体管的第一电极对应连接第m-Ι条扫描线，第m个晶体管的第二电极对应连接第m条扫描线，Km^ M，第一个晶体管的第一电极连接所述驱动电源线52。
[0064]在本实施例中，所述M个晶体管均为NMOS管，所述晶体管的第一电极为NMOS管的漏极，所述晶体管的第二电极为NMOS管的源极。由于所述M各晶体管为NMOS管，因此，所述控制信号Vc为高电平信号，具体的电压幅值根据每个晶体管的阈值电压大小进行设定。
[0065]相应地，在其他实施例中，若所述M个晶体管均为PMOS管，则所述晶体管的第一电极为PMOS管的源极，所述晶体管的第二电极为PMOS管的漏极，所述控制信号Vc为低电平信号。同理，本领域技术人员可以根据本实施例的精神，在部分采用PMOS管、部分采用NMOS管的情况下，做相应的变换，以同样地达到所述开关单元53的效果，在此不再一一穷尽式列举。
[0066]在制作所述TFT阵列中的开关管时，将所述M个晶体管以及相关的连线一起制作在所述TFT基板的玻璃基板上，不需要增加额外的工艺。
[0067]检测本实施例的液晶显示器的Mura来源的过程与实施例1类似，在此不再赘述。本实施例提供的液晶显示器，在检测所述液晶显示器的Mura来源时，缩短了检测时间，降低了检测成本。
[0068]实施例5
[0069]图6是本发明实施例5的液晶显示器的结构示意图。参考图6，所述液晶显示器包括TFT基板61、驱动电源线62、开关单元63以及多个栅极驱动电路，还包括电熔丝F6。所述TFT基板61、驱动电源线62和开关单元63与实施例4类似，具体结构与功能可参考实施例4的描述；所述电熔丝F6的功能可参考实施例2的描述，在此不再赘述。
[0070]检测本实施例的液晶显示器的Mura来源，在判断出所述液晶显示器的Mura来源后，施加高电压熔断所述电熔丝F6，使所述开关单元63失效，防止误施加控制信号Vc时所述开关单元33导通而影响液晶显示器的其他功能。
[0071]实施例6
[0072]图7是本发明实施例6的液晶显示器的结构示意图。参考图7，所述液晶显示器包括TFT基板71、驱动电源线72、开关单元73以及多个栅极驱动电路。所述控制TFT基板71、驱动电源线72和开关单元73与实施例4类似，具体结构与功能可参考实施例4的描述，在此不再赘述。
[0073]本实施例与实施例4相比，区别在于:检测所述液晶显示器的Mura来源结束后，在驱动芯片和柔性电路板焊接的工艺阶段，将所述开关单元73中的M个晶体管的栅极与玻璃基板上的柔性电路板的接地焊盘连接。
[0074]具体地，检测出所述液晶显示器的Mura来源后，所述液晶显示器进入驱动芯片和柔性电路板焊接的工艺阶段。参考图7，所述柔性电路板74包括接地焊盘75。在焊接所述柔性电路板74至所述玻璃基板上时，将所述M个晶体管的栅极与所述接地焊盘75连接，形成到地的回路。所述到地的回路具有排走静电的作用，增强了所述液晶显示器抗静电放电能力。
[0075]基于上述实施例，本发明技术方案还提供了一种检测液晶显示器的Mura来源的方法，所述液晶显示器的结构可以为图1至图6任一附图所示的液晶显示器结构。图8是本发明实施方式的液晶显示器的检测方法的流程示意图。参考图8，所述检测方法包括:
[0076]步骤S81:施加控制信号至所述开关单元；
[0077]施加控制信号至所述开关单元之后，执行步骤S82:施加数据信号至所述N条数据线.-^4 ，
[0078]施加数据信号至所述N条数据线之后，执行步骤S83:根据所述液晶显示器的当前亮度判断所述液晶显示器Mura来源；
[0079]判断所述液晶显示器Mura来源之后，执行步骤S84:停止施加所述控制信号至所述开关单元。
[0080]所述检测方法的具体操作可参考实施例1的描述，在此不再赘述。
[0081]综上所述，本发明技术方案提供的液晶显示器及其检测方法，能够缩短检测所述液晶显示器的Mura来源的时间，降低检测成本。
[0082]虽然本发明 披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。
【权利要求】
1.一种液晶显示器，所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板包括M条扫描线和N条数据线，其特征在于，所述液晶显示器还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和M条扫描线。
2.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述控制信号由控制信号产生单元提供。
3.根据权利要求2所述的液晶显示器，其特征在于，所述控制信号产生单元为液晶显示器测试治具。
4.根据权利要求2或3所述的液晶显示器，其特征在于，所述控制信号产生单元还适于在非检测所述液晶显示器Mura来源期间停止产生所述控制信号。
5.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述开关单元包括M个晶体管； 每个晶体管的栅极相连并适于接收所述控制信号，每个晶体管的第一电极均连接所述驱动电源线，每个晶体管的第二电极对应连接一条扫描线。
6.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述开关单元包括M个晶体管； 每个晶体管的栅极相连并适于接收所述控制信号，第m个晶体管的第一电极对应连接第m-Ι条扫描线，第m个晶体管的第二电极对应连接第m条扫描线，Km^M,第一个晶体管的第一电极连接所述驱动电源线。
7.根据权利要求5或6所述的液晶显示器，其特征在于，所述TFT基板还包括玻璃基板；所述M个晶体管的栅极连接所述玻璃基板上的柔性电路板的接地焊盘。
8.根据权利要求5或6所述的液晶显示器，其特征在于，还包括电熔丝，所述M个晶体管的栅极通过所述电熔丝接收所述控制信号。
9.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述M条扫描线中奇数条扫描线的输入端和偶数条扫描线的输入端分别位于所述TFT基板相对的两侧。
10.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述M条扫描线的输入端均位于所述TFT基板的同一侧。
11.一种如权利要求1至10任一项权利要求所述的液晶显示器的检测方法，其特征在于，包括: 施加控制信号至所述开关单元； 所述施加控制信号至所述开关单元之后，施加数据信号至所述N条数据线； 所述施加数据信号至所述N条数据线之后，根据所述液晶显示器的当前亮度判断所述液晶显示器Mura来源； 所述判断所述液晶显示器Mura来源之后，停止施加所述控制信号至所述开关单元。
【文档编号】G02F1/1362GK103926767SQ201310488181
【公开日】2014年7月16日 申请日期:2013年10月17日 优先权日:2013年10月17日
【发明者】马牟星, 吴勃, 邹志杰, 扈映茹 申请人:成都天马微电子有限公司, 天马微电子股份有限公司