液晶显示补偿膜面内相位差值测量方法及装置与流程

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示补偿膜面内相位差值测量方法及装置。

背景技术：

随着液晶显示器的观察角度增大，画面的对比度不断降低，画面的清晰度下降。这是液晶层中液晶分子的双折射率随观察角度变化发生改变的结果，采用宽视角补偿膜进行补偿，可以有效降低暗态画面的漏光，在一定视角内能大幅度提高画面的对比度。

补偿膜具有面内相位差值Ro和厚度方向的面外相位差值Rth，补偿膜的Ro会影响到液晶面板的暗态漏光和品味，所以在显示器制作过程中对补偿膜的Ro量测是很有必要。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种测量简单成本较低的液晶显示补偿膜面内相位差值测量方法。

本发明还提供一种液晶显示补偿膜面内相位差值测量装置。

为了实现上述目的，本发明实施方式提供如下技术方案：

所述液晶显示补偿膜面内相位差值测量方法，包括，

模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化；

根据所述模拟的漏光变化选择补偿膜面内相位差值作为基准，获取不同补偿膜面内相位差值与所述基准补偿膜面内相位差值的比值倍数；

通过所述比值倍数拟合出补偿膜面内相位差值与漏光倍数关系式；

以已知补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜作为基准测量该液晶显示器的补偿膜的漏光值；以及

测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值；

获取测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值与基准测量该液晶显示器的补偿膜面的漏光值的漏光比值；

把所述漏光比值带入所述拟合出的所述补偿膜面内相位差值与漏光倍数关系中计算出待测液晶显示补偿膜面内相位差值。

其中，所述模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化是在补偿膜的光轴与液晶显示器的偏光片的光轴呈45度角的条件下进行。

其中，所述步骤模拟液晶显示补偿膜面内相位差值的漏光变化包括，两个相邻的不同面内相位差值按照一定比例进行选取。

其中，步骤已知补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜作为基准测量该液晶显示补偿膜的漏光值；以及测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值，是选取同一背光。

其中，所述步骤模拟液晶显示补偿膜面内相位差值的漏光变化包括，对低于液晶显示补偿膜使用标准范围的补偿膜面内相位差值进行模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化。

其中，在模拟的补偿膜面内相位差值48nm时，拟合模拟面内相位差值与亮度关系式为Y＝7.5553X³-34.003X²+68.327X+7.14，其中，X为获取测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值与基准测量该液晶显示器的补偿膜面的漏光值的漏光比值；Y为需要测量待测补偿膜面内相位差值。

本发明所述的液晶显示补偿膜面内相位差值测量装置，包括，

模拟模块，用于模拟液晶显示补偿膜面内相位差值的漏光变化，以选取不同补偿膜面内相位差值作为基准；

第一获取模块，用于根据所述模拟的漏光变化选择补偿膜面内相位差值作为基准，获取不同补偿膜面内相位差值与所述基准补偿膜面内相位差值的比值倍数；

拟合模块，用于根据所述比值倍数拟合出补偿膜面内相位差值与漏光倍数关系式；

第一测量模块，用于以已知补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜作为基准测量该液晶显示器的补偿膜的漏光值；

第二测量模块，用于测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值；

第二获取模块，用于获取测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值与基准测量该液晶显示器的补偿膜面的漏光值的漏光比值；

计算模块，把所述漏光比值带入所述拟合出的所述补偿膜面内相位差值与漏光倍数关系中计算出待测液晶显示补偿膜面内相位差值。

其中，通过LCD模拟仿真软件模拟补偿膜不同面内相位差值的漏光变化。

其中，还包括测量旋转台，所述已知补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的基准边以及测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的基准变均与所述旋转台基准边对其，在旋转台45度角情况下通过所述第一测量模块与所述第二测量模块。

其中，所述第一测量模块与所述第二测量模块是在同一背光下进行测量。

本发明实施例具有如下优点或有益效果：

本发明的补偿膜不同面内相位差值Ro的量测设备和量测方法。量测成本低，快捷，方便而准确。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明液晶显示补偿膜面内相位差值测量方法流程图；

图2是本发明液晶显示补偿膜面内相位差值测量方法中模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化图；

图3是以图2所述模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化关中R0＝12nm为基准的补偿膜面内相位差值与倍数关系图；

图4是以图2所述模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化关中R0＝48nm为基准的补偿膜面内相位差值与倍数关系图；

图5是以图2所述模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化关中R0＝84nm为基准的补偿膜面内相位差值与倍数关系图；

图6是以图2所述模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化关中R0＝120nm为基准的补偿膜面内相位差值与倍数关系图；

图7是以图2所述模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化关中R0＝180nm为基准的补偿膜面内相位差值与倍数关系图；

图8是本发明液晶显示补偿膜面内相位差值测量方法中，根据常用标准R0值在R0小范围内模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化图；

图9是以图8所述模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化关中R0＝48nm为基准的补偿膜面内相位差值与倍数关系图；

图10是本发明的液晶显示器液晶量测装置模块图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸地连接，或者一体地连接；可以是机械连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

请参阅图1，本发明第一实施例提供所述液晶显示补偿膜面内相位差值测量方法，包括，

参阅图图2，步骤S1，模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化；本步骤得到不同补偿膜面内相位差值与漏光(亮度)的关系曲线，其中横坐标中补偿膜面内相位差值之间以按照一定比例进行选取模拟的；本实施例中，优选的，该模拟步骤是在补偿膜的光轴与液晶显示器的偏光片的光轴呈45度角的条件下进行，以得到不同面内相位差值对应的亮度值。在其它实施方式中，该模拟步骤是在补偿膜的光轴与液晶显示器的偏光片的光轴可以是其他夹角。

步骤S2，根据所述模拟的漏光变化选择补偿膜面内相位差值作为基准，获取不同补偿膜面内相位差值与所述基准补偿膜面内相位差值的比值倍数；参阅图3，以面内相位差值R0＝12nm为基准，确定比值倍数，如图3横坐标。可以参照图2的横坐标，在其它实施例中，面内相位差值R0的值可以为24nm、48nm、84nm、120nm及180nm。

如图3，步骤S3，通过所述比值倍数拟合出补偿膜面内相位差值与漏光倍数关系式；本实施例以R0＝12nm为基准，拟合公式为Y＝0.00003561X³-0.01137048X²+1.95339053X+16.4。其中Y为补偿膜面内相位差值，X为比值倍数。

步骤S4，以已知补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜作为基准测量该液晶显示补偿膜的漏光值Lv1。

步骤S5，测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值Lv2。其中，步骤已知补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜作为基准测量该液晶显示器的补偿膜面的漏光值；以及测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值，是选取同一背光。

在步骤S4与步骤S5中使用测量设备包括旋转台、设有基准边的载物台及亮度测量仪，已知补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜与测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜分别放于基准边的载物台上并与基准边对其，光线通过载物台穿过所述补偿膜后进入所述亮度测量仪。

步骤S6，获取测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值与基准测量该液晶显示器的补偿膜面的漏光值的漏光比值；也就是Lv2与Lv1的比值。

步骤S7，把所述漏光比值带入所述拟合出的所述补偿膜面内相位差值与漏光倍数关系式中计算出待测液晶显示补偿膜面内相位差值。关系式为所述的Y＝0.00003561X³-0.01137048X²+1.95339053X+16.4。

在本实施例步骤S2的基础上，分别以面内相位差值R0的值为48nm、84nm、120nm及180nm进行拟合得到补偿膜面内相位差值与漏光倍数关系式。具体如下：

如图4所示，当R0的值为48nm时，拟合得到的对应的补偿膜面内相位差值公式为：Y＝0.13405X³-2.75169X²+30.38781X+16.4。

如图5所示，当R0的值为84nm时，拟合得到的对应的补偿膜面内相位差值公式为：Y＝3.3009X³-23.29X²+88.407X+16.4。

如图6所示，当R0的值为120nm时，拟合得到的对应的补偿膜面内相位差值公式为：Y＝21.69366X³-81.71592X²+165.59725X+16.4。

如图7所示，当R0的值为180nm时，拟合得到的对应的补偿膜面内相位差值公式为：Y＝134.831X³-276.235X²+304.466X+16.4。其中，其中Y为补偿膜面内相位差值，X为比值倍数。

请参阅图8，进一步的，所述步骤模拟液晶显示补偿膜面内相位差值的漏光变化包括，对低于液晶显示补偿膜使用标准范围的补偿膜面内相位差值进行模拟液晶显示不同补偿膜面内相位差值的漏光变化。常见的补偿膜面内相位差值一般在50nm，本方法中以50nm为参照对于小范围内的面内相位差值的补偿膜面内相位差值进行测量。

请参阅图9具体的，在模拟的补偿膜面内相位差值48nm为基准，通过上述方法得到补偿膜面内相位差值48nm与不同面内相位差值比值倍数。然后拟合模拟面内相位差值与亮度关系式为Y＝7.5553X³-34.003X²+68.327X+7.14，其中，X为获取测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值与基准测量该液晶显示器的补偿膜面的漏光值的漏光比值；Y为低于标准范围的补偿膜面内相位差值的待测补偿膜面内相位差值。本实施例中，补偿膜面内相位差值48nm为基准的横坐标上不同补偿膜面内相位差值的比例较小，如4.8、9.6。

请参阅图10，本发明所述的液晶显示补偿膜面内相位差值测量装置，包括，

模拟模10，用于模拟液晶显示补偿膜面内相位差值的漏光变化，以选取不同补偿膜面内相位差值作为基准；

第一获取模块20，用于根据所述模拟的漏光变化选择补偿膜面内相位差值作为基准，获取不同补偿膜面内相位差值与所述基准补偿膜面内相位差值的比值倍数；

拟合模块30，用于根据所述比值倍数拟合出补偿膜面内相位差值与漏光倍数关系式；

第一测量模块40，用于以已知补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜作为基准测量该液晶显示器的补偿膜的漏光值；

第二测量模块50，用于测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值；

第二获取模块60，用于获取测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的漏光值与基准测量该液晶显示器的补偿膜面的漏光值的漏光比值；

计算模块70，把所述漏光比值带入所述拟合出的所述补偿膜面内相位差值与漏光倍数关系中计算出待测液晶显示补偿膜面内相位差值。

其中，通过LCD模拟仿真软件模拟补偿膜不同面内相位差值的漏光变化。

其中，还包括测量旋转台，所述已知补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的基准边以及测量待测补偿膜面内相位差值的液晶显示补偿膜的基准变均与所述旋转台基准边对其，在旋转台45度角情况下通过所述第一测量模块与所述第二测量模块。

其中，所述第一测量模块与所述第二测量模块是在同一背光下进行测量。

本实施例中，通过LCD模拟仿真软件模拟不同补偿膜面内相位差值的漏光变化。具体为LCD Master。

本发明的补偿膜不同面内相位差值Ro的量测设备和量测方法。量测成本低，快捷，方便而准确。

以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。