一种低辐射镀膜玻璃的制作方法

文档序号:11482295阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种低辐射镀膜玻璃,包括玻璃基片(1),自所述玻璃基片(1)的表面向外依次沉积形成第一电介质层(2)、低辐射层(4)、第二电介质层(5)及保护层(6),其特征在于:在第一电介质层(2)与低辐射层(4)之间还设有稳定电介质层(3),所述稳定电介质层(3)为ZnO或NiCr膜层结构,ZnO膜层厚度为7-11nm,NiCr膜层为3-9nm;所述低辐射层(4)为AgTi膜层结构,AgTi膜层厚度为12-20nm。

2.根据权利要求1所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述第一电介质层(2)为TiO2或SnO2膜层结构,TiO2膜层厚度为2-5nm,SnO2膜层厚度为6-10nm。

3.根据权利要求2所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述第二电介质层(5)为ZnO膜层结构,ZnO膜层厚度为15-28nm。

4.根据权利要求3所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述保护层(6)为TiO2或SnO2膜层结构,TiO2膜层厚度为8-15nm,SnO2膜层厚度为5-12nm。

5.根据权利要求1-4任一项所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述玻璃基片(1)为浮法玻璃,且在与低辐射层(4)相对的表面上设有一层透明隔热薄膜(7)。

6.根据权利要求1-4任一项所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述玻璃基片(1)为中空玻璃。

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