1.一种电子元件包装载带检测方法，包括：
使待包装元件由一间歇旋转流路被搬送，并经由一入料口进入一形成直线的间歇搬送流路的载带的置纳槽中；
该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，并在该检测区间设有检测装置；该检测装置设有检测件及可上、下位移的压盖；该压盖在正常状态下保持覆盖该检测区间，当该检测装置的检测件在检测区间检出不合格的待包装元件时，该压盖被驱动上移与该检测区间保持一适当高度，使一移载装置可将该不合格的待包装元件检出，并补料至该检测区间中载带的置纳槽。
2.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该压盖与设有LED光源的一照明座同步上、下位移。
3.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该检测件经该压盖上一透明材质遮罩所构成的视窗对该检测区间进行检测。
4.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该入料口由直线的间歇搬送流路与该间歇旋转流路交汇而形成；移载装置自位于间歇旋转流路顺向到达该入料口的前的一捡料区取出待包装元件，并移送至该检测区间进行补料。
5.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该移载装置将不合格的待包装元件检出后，使该待包装元件执行一弧形路径的位移而移至一卸料口处卸除该不合格的待包装元件。
6.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该移载机构将不合格的待包装元件检出并至捡料区取料的位移路径，与完成取料自捡料区返回至检测区间补料的位移路径相同、方向相反。
7.一种电子元件包装载带检测装置，包括：
一检测件，设于一载带装置中，该载带装置上以设有置纳槽的载带提供直线的间歇搬送流路，并以该置纳槽搬送待包装元件；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，该检测件对该检测区间进行检测；
一压盖，其上设有透明材质遮罩所构成的视窗，其位于该检测件下方，并恰对应于该检测区间上方；该压盖被一驱动件驱动可作上、下位移；该检测件可经由该压盖上视窗对该检测区间进行检测。
8.如权利要求7所述的电子元件包装载带检测装置，其特征在于，该检测装置包括一检测座架，其上方设有一横设的载座，并在该载座一端载设该检测件；在该载座下方位于该检测件与检测座架间设有一承载座，该承载座朝该检测件一侧设有移载座，其与承载座间设有滑轨，该移载座受一移载座驱动件驱动可在滑轨上作上、下滑移；该移载座上设有一压盖架，该压盖架下方设置该压盖。
9.如权利要求8所述的电子元件包装载带检测装置，其特征在于，该压盖架两侧各设有一照明架，该压盖架与两侧的该照明架相互平行，该照明架上各设有照明座及LED光源，两侧的该照明座上LED光源可调整斜向相向设在视窗上方并对该视窗投射。
10.如权利要求7所述的电子元件包装载带检测装置，其特征在于，该压盖上方设有照明座，其设有LED光源，该压盖与照明座同时设于一移载座上并同步上、下位移。
11.如权利要求7所述的电子元件包装载带检测装置，其特征在于，该压盖被驱动件驱动上移时与检测区间保持一高度，该高度可供进行该置纳槽中待包装元件检出及补料的一移载机构的一操作臂移入。
12.如权利要求11所述的电子元件包装载带检测装置，其特征在于，该移载机构包括：一X轴向第一驱动件，其驱动一Z轴向第二驱动件在一X轴向第一滑轨上作X轴向滑动位移；该Z轴向第二驱动件驱动一旋转驱动件在一Z轴向第二滑轨作Z轴向滑动位移；该旋转驱动件驱动该操作臂在X、Y平面摆动。
13.如权利要求12所述的电子元件包装载带检测装置，其特征在于，该旋转驱动件驱动的操作臂的摆动角度通过一定位件触及相隔间距及角度的一第一旋转止动部及第二旋转止动部而规范限制其角度范围。
14.如权利要求12所述的电子元件包装载带检测装置，其特征在于，该旋转驱动件驱动的操作臂包括一与旋转驱动件的转轴固设连动的固定臂及与该固定臂接设延伸的延伸臂。
15.如权利要求14所述的电子元件包装载带检测装置，其特征在于，该固定臂与延伸臂接设处设有一Z轴向第三滑轨，该延伸臂能够在上方受一弹簧构成的弹性元件作用下，于该第三滑轨上作Z轴向上、下滑移。
16.一种电子元件包装载带检测装置，包括：用以执行权利要求1至6任一项所述的电子元件包装载带检测方法的装置。