电子元件包装载带检测方法及装置与流程

本发明是有关于一种检测方法及装置，尤指一种用以在将电子元件置入包装用载带后，对载带中待包装的电子元件进行合格产品或不合格产品检测的电子元件包装载带检测方法及装置。

背景技术：

一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，且为取得加工定位的准确性，常将电子元件在检测后以具有连续排列的多个载槽的包装用载带进行包装；电子元件在进行检测的流路中要被置入载带的搬送流路中，一般通常具有许多不同的方式，例如在检测的流路与载带的搬送流路间设通道并以气压吹送，或在检测的流路与载带的搬送流路间设可位移于两个流路间进行搬送的搬送机构；这些被置入包装用载带的电子元件为了避免仍有瑕疵未受检出，通常会在载带输送过程中以检测装置如CCD对载带的搬送流路中一开放性的检测区间中电子元件进行检测，经检出该电子元件仍为不合格产品时，则予以移出载带并对遗留的空载槽进行补料。

现有技术在进行对移出不合格品后遗留的空载槽进行补料时，常采用一移载机构进行，其先移至不合格产品检出的载带处将不合格产品取出并置入卸料口予以排出，再位移至检测流路入料于载带搬送流路的入料口处，将电子元件取出，再将其搬运至载带的搬送流路中缺料的载槽进行补料。

然而，现有技术在载带输送过程中以检测装置如CCD对载带的搬送流路中一开放性的检测区间中电子元件进行检测，由于被载带搬送的待包装电子元件通常极微细，在包装机台经年累月的操作下，灰尘容易沾附在机台表面上，而自开放性的检测区间中飘入载带盛载电子元件的置纳槽中，使其中的待包装电子元件同时积有粉尘，另一方面，因该检测区间为开放性，待包装电子元件输送到该处时容易弹跳发生落料情况；惟若在开放性的检测区间上设置盖板以遮覆该开放性的检测区间，则因遇到被搬送到检测区间的待包装电子元件为不合格产品时，将因被盖板遮覆而无法以检测装置进行检测，且移载机构无法自该被遮覆的检测区间将不合格产品检出并补料。

技术实现要素：

因此，本发明的目的在于提供一种在可防尘、防落料的考量下，适于检测装置在该检测区间进行检测，并适于移载装置在该检测区间进行不合格的待包装元件检出及补料的电子元件包装载带检测方法。

本发明的另一目的，在于提供一种在可防尘、防落料的考量下，适于检测装置在该检测区间进行检测，并适于移载装置在该检测区间进行不合格的待包装元件检出及补料的电子元件包装载带检测装置。

本发明的又一目的，在于提供一种用以执行前述电子元件包装载带检测方法的装置。

依据本发明目的的电子元件包装载带检测方法，包括：使待包装元件由一间歇旋转流路被搬送，并经由一入料口进入一形成直线的间歇搬送流路的载带的置纳槽中；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，并在该检测区间设有检测装置；该检测装置设有检测件及可上、下位移的压盖；压盖在正常状态下保持覆盖该检测区间，当所述检测装置的检测件在检测区间检出不合格的待包装元件时，压盖被驱动上移与检测区间保持一适当高度，使一移载装置可将该不合格的待包装元件检出，并补料至该检测区间中载带的置纳槽。

依据本发明另一目的的电子元件包装载带检测装置，包括：一检测件，设于一载带装置中，该载带装置上以设有置纳槽的载带提供直线的间歇搬送流路，并以所述置纳槽搬送待包装元件；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，所述检测件对该检测区间进行检测；一压盖，其上设有透明材质遮罩所构成的视窗，其位于该检测件下方，并恰对应于该检测区间上方；压盖被一驱动件驱动可作上、下位移；检测件可经由压盖上视窗对该检测区间进行检测。

依据本发明又一目的的电子元件包装载带检测装置，包括用以执行前述电子元件包装载带检测方法的装置。

本发明实施例的电子元件包装载带检测方法及装置，由于在正常状态下，压盖是随移载座被驱动件驱动下移而覆罩在镂空的检测区间处，故检测区间中载带的置纳槽内待包装元件可以防止被粉尘沾染，而检测件的CCD镜头亦可经由压盖上透明材质遮罩所构成的视窗对该检测区间中的载带的置纳槽内待包装元件进行检测；当检测出该检测区间中载带的置纳槽中具有不合格的待包装元件时，压盖可以被驱动上移以提供足够供移载机构的操作臂及吸嘴进行不合格的待包装元件检出，及将供补料用的待包装元件植入置纳槽中；使在防尘、防落料的考量下，又适于检测装置在该检测区间进行检测，并适于移载装置在该检测区间进行不合格的待包装元件检出及补料。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1是本发明实施例中各机构装置在检测台面上配置的立体示意图。

图2是本发明实施例中入料口处强排机构设置的立体示意图。

图3是本发明实施例中移载机构的立体示意图。

图4是本发明实施例中检测装置前侧的立体示意图。

图5是本发明实施例中检测装置后侧的立体示意图。

图6是本发明实施例中移载机构进行检出步骤的示意图。

图7是本发明实施例中移载机构进行卸料步骤的示意图。

图8是本发明实施例中移载机构进行取料步骤的示意图。

图9是本发明实施例中检测装置的压盖覆罩在检测区间的示意图。

图10是本发明实施例中检测装置的压盖上移的示意图。

符号说明：

A 工作台面 A1 卸料口

A2 座架 B 转盘

B1 载槽 B2 上盖片

B21 检料区 C 载带装置

C1 载带 C11 置纳槽

C2 盖件 C21 检测区间

C3 检测装置 C31 检测座架

C32 载座 C33 检测件

C34 承载座 C341 滑轨

C35 移载座 C36 驱动件

C361 连动件 C37 压盖架

C371 长槽孔 C372 螺固件

C373 压盖 C374 视窗

C38 照明架 C381 长槽孔

C382 螺固件 C383 照明座

C384 LED光源 C4 入料口

D 强排机构 D1 排出构件

E 移载机构 E1 第一驱动件

E11 驱动座 E12 第一连动件

E13 第一滑轨 E131 滑座

E132 固定座 E14 第一位移止动部

E15 第二位移止动部 E2 Z轴向第二驱动件

E21 第二滑轨 E22 第二连动件

E3 旋转驱动件 E4 操作臂

E41 定位件 E42 第一旋转止动部

E43 第二旋转止动部 E44 转轴

E45 固定臂 E451 第三滑轨

E452 弹性元件 E46 延伸臂

E461 吸嘴 θ 扇形角度

α 弧形路径 L 水平直线路径

具体实施方式

请参阅图1、2，本发明实施例的电子元件包装载带检测方法及装置可以如图所示的使用在以LED发光二极管的电子元件为受测及待包装元件的装置来作说明，该装置包括：

一工作台面A，呈水平设置；其上设有卸料口A1；一转盘B，设于该工作台面A上，并以一间歇旋转流路进行搬送待包装元件，其周缘环列布设等间距且设有朝外开口的载槽B1，环列布设的载槽B1上方设有弧形上盖片B2压盖环列布设的载槽B1，以防止旋转搬送的受测元件被抛出，上盖片B2上设有一镂空的捡料区B21，恰可在下方转盘B间歇旋转时与一载槽B1对应，并使该载槽B1中的待包装元件显露于该镂空的捡料区B21中；该转盘B可承收自前一设有电性检测单元的间歇旋转流路传送来的待包装元件进搬送，或本身的间歇旋转流路即设有电性检测单元对待包装元件进行检测；

一载带装置C，设于该工作台面A上，包括一可被驱动进行直线间歇位移的载带C1，其提供呈X轴向直线的间歇搬送流路，载带C1上设有多个连续排列的等间距凹设置纳槽C11，载带C1上并覆设有盖件C2以防止置纳槽C11中的待包装元件落出，盖件C2在该直线的间歇搬送流路中形成一镂空的检测区间C21，并在该检测区间C21上方设有例如CCD的检测装置C3；该直线的间歇搬送流路与转盘B的间歇旋转流路形成交汇，该入料口处并至少有一载带C1上的凹设置纳槽C11与转盘B的载槽B1相对应而位于载槽B1下方，该交汇处形成一入料口C4；所述转盘B的上盖片B2上镂空的捡料区B21位于转盘B的间歇旋转流路顺向到达该入料口C4的前数个(图2中为前第六个)载槽B1位置处；

一强排机构D，设于该工作台面A的该载带C1所形成的直线间歇搬送流路与转盘B的间歇旋转流路形成交汇的入料口C4处，其于入料口C4上方设有电磁驱动的排出构件D1，用以将转盘B上载槽B1中搬送至该入料口C4处的待包装元件强制排入下方对应交汇的载带C1的凹设置纳槽C11中；

一移载机构E，设于该工作台面A前侧一座架A2上，请同时配合参阅图1、3，其包括：一X轴向第一驱动件E1、一Z轴向第二驱动件E2；该Z轴向第二驱动件E2与一第一连动件E12固设并连动，X轴向第一驱动件E1借一驱动座E11与该Z轴向第二驱动件E2间的第一连动件E12，及一设于X轴向第一滑轨E13上滑座E131并以一侧与第一连动件E12螺设固定的固定座E132，使Z轴向第二驱动件E2可被X轴向第一驱动件E1驱动，而在一X轴向第一滑轨E13上作X轴向滑动位移，其位移区间受分设X轴向两侧的一第一位移止动部E14、一第二位移止动部E15所限位；该Z轴向第二驱动件E2借一第二连动件E22与一旋转驱动件E3连动，而驱动旋转驱动件E3可在固定座E132另一侧所设的一Z轴向第二滑轨21作Z轴向滑动位移；该旋转驱动件E3驱动一操作臂E4可在X、Y平面摆动，其摆动角度通过一定位件E41触及相隔间距及角度的一第一旋转止动部E42及第二旋转止动部E43而规范限制其角度范围，操作臂E4包括一与旋转驱动件E3的转轴E44固设连动的固定臂E45及与固定臂E45接设延伸的延伸臂E46；其中，该固定臂E45与延伸臂E46接设处设有一Z轴向第三滑轨E451，延伸臂E46可在上方受一弹簧构成的弹性元件E452作用下，于该第三滑轨E451上作Z轴向上、下滑移；另，延伸臂E46末端设有朝下的吸嘴E461，可通以正压或负压气体；

该卸料口A1则位于相对于移载机构E的载带C1另一侧，且当Z轴向第二驱动件E2作X轴向滑动位移至第一连动件E12触及第二位移止动部E15时，旋转驱动件E3的转轴E44的旋转中心至该吸嘴E461中的距离，等于旋转驱动件E3的转轴E44的旋转中心至该检测区间C21的检测装置C3对应检测的该置纳槽C11的距离，亦等于旋转驱动件E3的转轴E44的旋转中心至该卸料口A1的距离；同时卸料口A1至载带C1所提供的X轴向直线的间歇搬送流路的距离，与转盘B的上盖片B2上镂空的捡料区B21至载带C1所提供的X轴向直线的间歇搬送流路的距离相等；且卸料口A1至捡料区B21的直线位移路径与载带C1所提供的X轴向直线的间歇搬送流路相隔间距并平行。

请参阅图4、5，该检测装置C3包括一检测座架C31，其上方设有一横设的载座C32，并在载座C32一端载设有一检测件C33，其可为CCD镜头；在载座C32下方位于检测件C33与检测座架C31间设有一承载座C34，承载座C34朝检测件C33一侧设有移载座C35，其与承载座C34座间设有滑轨C341，承载座C34朝检测座架C31一侧设有移载座驱动件C36，可借一连动件C361伸经承载座C34两侧长槽孔C341而连动地驱动移载座C35在滑轨C341上作上、下滑移；移载座C35上设有一压盖架C37，压盖架C37以长槽孔C371受螺固件C372固设在移载座C35上，并可以该长槽孔C371作上、下微调，压盖架C37下方设一水平设置的压盖C373，其上设有一透明材质遮罩所构成的视窗C374恰对应于该检测区间C21上方；压盖架C37两侧各设有一照明架C38，其分别各以长槽孔C381受螺固件C382固设在移载座C35两侧，并可以该长槽孔C381作上、下微调，各照明架C38下方分别各枢设有一照明座C383，其可作旋转拨摆的角度调整，其上各于一侧设有LED光源C384，两侧的照明座C383上LED光源C384可调整斜向相向设在视窗C374上方并对视窗C374投射；压盖架C37与两侧的照明架C38相互平行，压盖C373、照明座C383上LED光源C384随移载座C35被驱动件C37驱动在滑轨C341上位移而同步上、下位移。

请参阅图1，本发明实施例在实施上，当检测装置C3自镂空的检测区间C21检测出载带C1的置纳槽C11中具有不合格的待包装元件时，将执行：

一检出步骤：请参阅图3、6，在第一连动件E12触及第二位移止动部E15的位置状态下，使移载机构E的旋转驱动件E3驱动操作臂E4在X、Y轴水平面旋转摆动至定位件E41触及第一旋转止动部E42，而使延伸臂E46末端朝下的吸嘴E461恰位移至检测区间C21的该具有不合格的待包装元件的置纳槽C11处上方；再使Z轴向第二驱动件E2驱动并借第二连动件E22连动旋转驱动件E3在Z轴向第二滑轨21作Z轴向滑动向下位移，而使延伸臂E46被连动向下位移，并以末端朝下的吸嘴E461将置纳槽C11中的该具有不合格的待包装元件吸附；当吸嘴E461下移触及该待包装元件时，借由该弹性元件E452的缓冲，使延伸臂E46可在该第三滑轨E451上作Z轴向上、下微动滑移，以降低吸嘴E461下移触及该待包装元件所造成对其的压抵损伤；吸附完成后，然后Z轴向第二驱动件E2驱动并借第二连动件E22连动旋转驱动件E3在Z轴向第二滑轨21作Z轴向滑动向上位移，而使延伸臂E46被连动向上位移，并以末端朝下的吸嘴E461以负压将置纳槽C11中的该具有不合格的待包装元件吸附并移出至检测区间C21上方外部；

一卸料步骤：请参阅图7，使移载机构E的旋转驱动件E3驱动操作臂E4在X、Y轴水平面旋转摆动至定位件E41触及第二旋转止动部E43，而使延伸臂E46末端朝下的吸嘴E461在吸附该具有不合格的待包装元件下，使该待包装元件执行一弧形路径α的位移而移至恰位于卸料口A1处上方，再使吸嘴E461停止负压或改以正压将原吸附的不合格的待包装元件卸放，使其落入卸料口A1排出；该弧形路径α的位移所形成的扇形角度θ以小于九十度为卸料口A1最佳设置位置；

一取料步骤：请参阅图3、8，使移载机构E的X轴向第一驱动件E1驱动驱动座E11作X轴向滑动位移，而以第一连动件E12连动Z轴向第二驱动件E2在X轴向第一滑轨E13上作X轴向滑动位移，并以第二连动件E22与旋转驱动件E3连动，使旋转驱动件E3连动操作臂E4在X、Y轴水平面作平行载带C1X轴向直线的间歇搬送流路的直线位移，至第一连动件E12触及第一位移止动部E14，而使延伸臂E46末端朝下的吸嘴E461在未吸附任何元件下，执行一水平直线路径L且在X、Y轴水平面作平行载带C1X轴向直线的间歇搬送流路的的位移，而自卸料口A1移至恰位于间歇旋转流路的转盘B环列布设的载槽B1上方的弧形上盖片B2镂空的捡料区B21处上方；再使Z轴向第二驱动件E2驱动并借第二连动件E22连动旋转驱动件E3在Z轴向第二滑轨21作Z轴向滑动向下位移，而使延伸臂E46被连动向下位移，并以末端朝下的吸嘴E461借负压将捡料区B21中转盘B的载槽B1内待包装元件吸附拾取；当吸嘴E461下移触及该待包装元件时，借由该弹性元件E452的缓冲，使延伸臂E46可在该第三滑轨E451上作Z轴向上、下微动滑移，以降低吸嘴E461下移触及该待包装元件所造成对其的压抵损伤；吸附完成后，然后Z轴向第二驱动件E2驱动并借第二连动件E22连动旋转驱动件E3在Z轴向第二滑轨21作Z轴向滑动向上位移，而使延伸臂E46被连动向上位移，并以末端朝下的吸嘴E461以负压将捡料区B21中转盘B的载槽B 1内待包装元件吸附并移出至捡料区B21上方外部；

一补料步骤：请参阅图3、7，使移载机构E的X轴向第一驱动件E1驱动驱动座E11作X轴向滑动位移，而以第一连动件E12连动Z轴向第二驱动件E2在X轴向第一滑轨E13上作X轴向滑动位移，并以第二连动件E22与旋转驱动件E3连动，使旋转驱动件E3连动操作臂E4在X、Y轴水平面作平行载带C1X轴向直线的间歇搬送流路的直线位移，至第一连动件E12触及第二位移止动部E15，而使延伸臂E46末端朝下的吸嘴E461在吸附该供补料用的待包装元件下，执行一水平直线路径L且在X、Y轴水平面作平行载带C1X轴向直线的间歇搬送流路的的位移，而移至恰位于卸料口A1处上方；请参阅图3、6，再使旋转驱动件E3驱动操作臂E4在X、Y轴水平面旋转摆动至定位件E41触及第一旋转止动部E42，而使延伸臂E46末端朝下的吸嘴E461使该待包装元件执行一弧形路径α的位移而恰位移至检测区间C21的该具有不合格的待包装元件的置纳槽C11处上方；再使Z轴向第二驱动件E2驱动并通过第二连动件E22连动旋转驱动件E3在Z轴向第二滑轨21作Z轴向滑动向下位移，而使延伸臂E46被连动向下位移，并以末端朝下的吸嘴E461将供补料用的待包装元件植入置纳槽C11中，以完成补料；当吸嘴E461所吸附供补料用的待包装元件下移触及该置纳槽C11底部时，借由该弹性元件E452的缓冲，使延伸臂E46可在该第三滑轨E451上作Z轴向上、下滑移，以降低吸嘴E461吸附供补料用的待包装元件下移触及该置纳槽C11底部所造成对该供补料用的待包装元件的压抵损伤。

请参阅图9，该检测装置C3在正常状态下，压盖C373、照明座C383是随移载座C35被驱动件C37驱动在滑轨C341上同步下移至压盖C373覆罩在镂空的检测区间C21处的状态，检测件C33的CCD镜头是经由压盖C373上透明材质遮罩所构成的视窗C374对该检测区间C21进行检测；请参阅图10，当检测出该检测区间C21中载带C1的置纳槽C11中具有不合格的待包装元件时，压盖C373、照明座C383将随移载座C35被驱动件C37驱动在滑轨C341上同步上移至压盖C373与镂空的检测区间C21保持一适当高度，该高度可供移载机构E的操作臂E4移入，并以操作臂E4末端朝下的吸嘴E461以负压将置纳槽C11中的该具有不合格的待包装元件吸附并移出至检测区间C21上方外部，或将供补料用的待包装元件植入置纳槽C11中，以完成补料；完成补料后，压盖C373、照明座C383将再随移载座C35被驱动件C37驱动在滑轨C341上同步下移至压盖C373覆罩在镂空的检测区间C21处的状态。

本发明实施例的电子元件包装载带检测方法及装置，由于在正常状态下，压盖C373是随移载座C35被驱动件C37驱动下移而覆罩在镂空的检测区间C21处，故检测区间C21中载带C1的置纳槽C11内待包装元件可以防止被粉尘沾染，而检测件C33的CCD镜头亦可经由压盖C373上透明材质遮罩所构成的视窗C374对该检测区间C21中的载带C1的置纳槽C11内待包装元件进行检测；当检测出该检测区间C21中载带C1的置纳槽C11中具有不合格的待包装元件时，压盖C373可以被驱动上移以提供足够供移载机构E的操作臂E4及吸嘴E461进行不合格的待包装元件检出，及将供补料用的待包装元件植入置纳槽C11中；使在防尘、防落料的考量下，又适于检测装置在该检测区间进行检测，并适于移载装置在该检测区间进行不合格的待包装元件检出及补料。

虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。