专利名称：陶瓷电容器测试探头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子测试设备技术领域，特指一种陶瓷电容器 测试探头。
技术背景
由于陶瓷电容器的损耗因子小、谐振频率高等特点，被广泛应 用于各种电子产品中。 一般陶瓷电容器在出厂之前，都要测试其容 量、介质损耗和耐电压等参数，以确定该陶瓷电容器的性能是否达 到要求。现在，许多厂家是采用测试仪器配合测试模板的方式测试 陶瓷电容器的参数，在测试的过程中，陶瓷电容器的两个引线放置 在测试模板上，再由测试仪器引出的两根测试探头压住陶瓷电容器 的两个引线，从而测试出陶瓷电容器各个参数。其中的测试探头为 单根的探针，而探针的软硬度不好控制，如果探针过软，容易变形， 会导致测试的数据不准确；如果探针过硬，会压坏或压歪陶瓷电容 器的引线，影响产品的质量。 实用新型内容
本实用新型的目的就是针对现有技术存在的不足而提供一种软 硬度合适的陶瓷电容器测试探头。
为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是它包括固 定块、穿设在固定块中的探针，探针的下端向一侧弯折，探针的上
端绕成圆环状，在探针上环绕有弹簧状的加强部，加强部位于固定 块的下方。
所述的加强部是由探针的上端由上至下穿过固定块环绕而成。
本实用新型有益效果在于本实用新型包括固定块、穿设在固 定块中的探针，探针的下端向一侧弯折，探针的上端绕成圆环状， 在探针上环绕有弹簧状的加强部，加强部位于固定块的下方，由于 增加了加强部，本实用新型探针的软硬度合适、弹性适中，可准确 地测试出陶瓷电容器的参数，而且不会压坏或压歪陶瓷电容器的引 线，本实用新结构简单、设计合理。
图1是本实用新型的结构示意图2是本实用新型的侧视图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步的说明，见图l、 2所示， 陶瓷电容器测试探头，它包括固定块1、穿设在固定块1中的探针2， 探针2的下端向一侧弯折，探针2的上端绕成圆环状，在探针2上 环绕有弹簧状的加强部3，加强部3位于固定块1的下方，所述的加 强部3是由探针2的上端由上至下穿过固定块1环绕而成。本实用 新型使用时是由探针2的下端压住陶瓷电容器的引线，再配合测试 仪器的具体测试功能，就能测试出该陶瓷电容器的容量、介质损耗 和耐电压等参数，这样的测试探头可准确地测试出陶瓷电容器的参 数，而且不会压坏或压歪陶瓷电容器的引线。
当然，以上所述仅是本实用新型的较佳实施例，故凡依本实用 新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰， 均包括于本实用新型专利申请范围内。
权利要求1、陶瓷电容器测试探头，它包括固定块(1)、穿设在固定块(1)中的探针(2)，探针(2)的下端向一侧弯折，探针(2)的上端绕成圆环状，其特征在于在探针(2)上环绕有弹簧状的加强部(3)，加强部(3)位于固定块(1)的下方。
2、 根据权利要求1所述的陶瓷电容器测试探头，其特征在于 所述的加强部(3)是由探针(2)的上端由上至下穿过固定块(1) 环绕而成。
专利摘要本实用新型涉及电子测试设备技术领域，特指一种陶瓷电容器测试探头，其包括固定块、穿设在固定块中的探针，探针的下端向一侧弯折，探针的上端绕成圆环状，在探针上环绕有弹簧状的加强部，加强部位于固定块的下方，由于增加了加强部，本实用新型探针的软硬度合适、弹性适中，可准确地测试出陶瓷电容器的参数，而且不会压坏或压歪陶瓷电容器的引线，本实用新型结构简单、设计合理。
文档编号G01R1/02GK201191297SQ20082004369
公开日2009年2月4日 申请日期2008年1月31日 优先权日2008年1月31日
发明者辉 于, 强 李, 炳 李, 苑 梅, 赵红飚 申请人:东莞市易利嘉电子有限公司