航天电磁密封圈快速检测工装的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种航天电磁密封圈快速检测工装，包括底板，在底板上设有方形的凹槽，在凹槽内设有通孔，所述通孔包括位于中部的定位孔和位于定位孔四个角上的圆孔，定位孔和圆孔之间光滑过渡；所述定位孔的横向尺寸和纵向尺寸均等于被检测密封圈的外径，被检测密封圈与定位孔之间通过上、下、左、右四个点接触。本实用新型所述检测工装能够快速的对航天电磁密封圈内、外径的测量，挑拣方便；使用本实用新型检测工装对电磁密封圈进行检测，实现了自动化的工件测量，提高了检测效率，且挑拣不合格和装取工件都快揭、方便，不会对工件造成变形的影响。
【专利说明】航天电磁密封圈快速检测工装
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种航天电磁密封圈快速检测工装，属于密封圈检测【技术领域】。
【背景技术】
[0002]目前，航天电磁密封圈的结构如图1所示，该密封圈的圈体截面为工字型，圈体的厚度Η为0.8_，其内圈的直径L为3.3_，内圈倒角处理，外圈直径Μ为4.3_，圈体工字型凹陷处的外直径Ν为3.6mm。
[0003]对于该电磁密封圈的检测，主要是针对内圈直径L和外圈直径Μ的检测。目前，通常采用人工使用游标卡尺的方式进行抽检，这种检测方式要与工件接触，效率慢，容易对电磁密封圈造成变形的伤害；并且，这类检测的精度较低，无法测得真实值，检查的效果不佳。
[0004]为了测量内圈直径L和外圈直径Μ，且不让工件产生变形，只有用非接触的方法测量，对图1所示的航天电磁密封圈，采用如图2所示的测量工装进行检测。由于对于航天电磁密封圈的检测主要是针对内圈直径L和外圈直径Μ的检测。因此，图2所示的测量工装材料必须要求具有较好的透光性，因此，选用有机玻璃板材料，其具体技术方案如下:
[0005]1、下工装料101并加工尺寸到:300mmx300mmxl0mm，并且在其上表面上加工深3mm的凹腔201，底面平面度小于0.05。
[0006]2、根据航天电磁密封圈的尺寸，在深3mm的凹腔里均布加工Φ4.3mm、深1.2mm的盲孔301，将工件放入该盲孔中，通过透光的原理，从底部测量工件的内圈直径L和外圈直径Μ。
[0007]实际测量中发现，由于测量工装加工的是盲孔，用底光测量孔径时，产生了干涉，无法测量孔的外径。另外，航天电磁密封圈放置于凹腔内，挑拣不合格和装取工件时很不方便。
实用新型内容
[0008]本实用新型的目的在于:提供一种航天电磁密封圈快速检测工装，解决现有盲孔测量工装在用底光测量孔径时，产生干涉，无法测量孔外径，挑拣不合格和装取工件时非常不方便的技术问题，从而能有效的解决上述现有技术中存在的问题。
[0009]本实用新型目的通过下述技术方案来实现:一种航天电磁密封圈快速检测工装，包括底板，在底板上设有方形的凹槽，在凹槽内设有通孔，所述通孔包括位于中部的定位孔和位于定位孔四个角上的圆孔，定位孔和圆孔之间光滑过渡；所述定位孔的横向尺寸和纵向尺寸均等于被检测密封圈的外径，被检测密封圈与定位孔之间通过上、下、左、右四个点接触。
[0010]由于放置被检测密封圈的孔为通孔，因此，不会存在盲孔那样的光线折射而引起检测误差等，被检测密封圈与定位孔之间通过上、下、左、右四个点接触，便于平稳放置被检测密封圈，以及对其外径的检测。
[0011]在本实用新型中，作为一种优选方式，所述凹槽的深度为3mm。
[0012]在本实用新型中，作为一种优选方式，圆孔与定位孔过渡处为圆弧段，所述圆孔的半径Rl等于圆弧段的半径R2。
[0013]在本实用新型中，作为一种优选方式，所述通孔成矩阵排列，且其横向间隔的尺寸与竖向间隔的尺寸相同。
[0014]现有盲孔形式的检测工装只能测量内径，外径无法测量，且由于每次检测的电磁密封圈数量很多，在挑拣不合格工件时容易弄错；因此，检测和挑拣都很不方便。
[0015]与现有技术相比，本实用新型的有益效果为:本实用新型所述检测工装能够快速的对航天电磁密封圈内、外径的测量，一次装的数量不多，挑拣方便；使用本实用新型检测工装对电磁密封圈进行检测，实现了自动化的工件测量，提高了检测效率，且挑拣不合格和装取工件都快揭、方便，不会对工件造成变形的影响。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]图1是被检测航天电磁密封圈的结构示意图。
[0017]图2是现有检测工装的结构示意图。
[0018]图3是本实用新型所述快速检测工装的结构示意图。
[0019]图4是本实用新型检测工装中通孔的结构示意图。
[0020]其中:1-底板，2-凹槽，3-通孔，21-定位孔，22-圆孔，4_被检测密封圈。
【具体实施方式】
[0021]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0022]本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了相互排斥的特质和/或步骤以外，均可以以任何方式组合，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换，即，除非特别叙述，每个特征之一系列等效或类似特征中的一个实施例而已。
[0023]实施例1
[0024]如图3、4所示，一种航天电磁密封圈快速检测工装，包括底板1，在底板I上设有方形的凹槽2，所述凹槽2的深度为3mm。凹槽2的设置是为了防止被检测电磁密封圈在底板上滚动，落到底板外。在凹槽2内设有通孔3，所述通孔3成矩阵排列，且其横向间隔的尺寸与竖向间隔的尺寸相同，即通孔在凹槽2内均匀间隔的设置。所述通孔3包括位于中部的定位孔21和位于定位孔21四个角上的圆孔22，定位孔21和圆孔22之间光滑过渡；圆孔22与定位孔21过渡处为圆弧段，所述圆孔22的半径Rl等于圆弧段的半径R2。所述定位孔21的横向尺寸和纵向尺寸均等于被检测密封圈4的外径，被检测密封圈4与定位孔21之间通过上、下、左、右四个点接触。
[0025]一种使用所述快速检测工装的检测方法，包括如下步骤:
[0026]第一步，在OGP影像测量仪固定位置处固定一限位板，将快速检测工装放在限位板上。该处，限位板起到固定工装的作用，使每次摆放工装时基本在同一位置，方便OGP的找正并建立坐标系。
[0027]第二步，将被检测密封圈放在于通孔上，并且被检测密封圈与通孔四点接触，平放，用手抹平，不能让工件翘起。
[0028]第三步，用OGP影像测量仪对快速检测工装进行找正。OGP光学仪器(OGP是Optical Gaging Products的英文缩写)是一种专门的三次元影像测量仪，利用光学成像，把物件外型数据导入电脑，然后进行物件的测量。具体过程为:左上角建好xyz坐标系，把光标移到第一件被检测密封圈的内径处，Z轴放大到400倍的倍数(该倍数为Z轴能够放大的最大倍数)进行自动聚焦，采集一个聚焦点，再把Z轴调到40倍的倍数(该倍数为Z轴能够缩小的最小倍数)，对内孔进行两段的分段自动测量，然后对这两半圆进行拟合，形成一个整圆。由于0GP最小倍数为40倍，所以其采集视窗就比较小，只能采集到工件的局部，只能通过分段测量再进行拟合，才能得到个完整的圆。内孔测量完成后，把光标移到外径处，把Z轴放大到400倍的倍数进行自动聚焦，采集一个聚焦点，再把Z轴调到40倍的倍数，对外圆进行四段分段自动测量，然后对这四段圆弧进行拟合，形成一个整圆。由于0GP最小倍数为40倍，所以其采集视窗就比较小，只能采集到工件的局部，只能通过分段测量再进行拟合，才能得到个完整的圆。
[0029]分段测得的几段圆弧通过拟合功能，生产一个完整的圆后，在0GP软件视窗中有个“标称值”的标注，把圆的理论直径值和公差带输入，测量完后如果在公差带内就显示为绿色，判定为合格，如果超出公差带显示为红色，判定为不合格。
[0030]至此，第一件被检测密封圈的内圈直径和外圈直径检测完毕，重复上述步骤检测其他被检测密封圈。
[0031]第四步，待0GP影像测量仪的检测测量完成时，在显示窗口处，超差的电磁密封圈会显示为红色，合格的电磁密封圈显示为绿色，再通过人工的方式用镊子把超差的电磁密封圈挨个的挑拣出来，挑完之后，把工装拿起，合格的工件就留在了工作台面上，然后把合格的电磁密封圈用口袋装好。
[0032]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种航天电磁密封圈快速检测工装，包括底板(1)，在底板(I)上设有方形的凹槽(2)，其特征在于:在凹槽(2)内设有通孔(3)，所述通孔(3)包括位于中部的定位孔(21)和位于定位孔(21)四个角上的圆孔(22)，定位孔(21)和圆孔(22)之间光滑过渡；所述定位孔(21)的横向尺寸和纵向尺寸均等于被检测密封圈的外径，被检测密封圈与定位孔(21)之间通过上、下、左、右四个点接触。
2.如权利要求1所述的航天电磁密封圈快速检测工装，其特征在于:所述凹槽(2)的深度为3mm。
3.如权利要求1所述的航天电磁密封圈快速检测工装，其特征在于:圆孔(22)与定位孔(21)过渡处为圆弧段，所述圆孔(22)的半径Rl等于圆弧段的半径R2。
4.如权利要求1所述的航天电磁密封圈快速检测工装，其特征在于:所述通孔(3)成矩阵排列，且其横向间隔的尺寸与竖向间隔的尺寸相同。
【文档编号】G01B11/12GK204240953SQ201420762316
【公开日】2015年4月1日 申请日期:2014年12月8日 优先权日:2014年12月8日
【发明者】黄明 申请人:成都四威高科技产业园有限公司