测试装置的制作方法

技术总结
一种测试装置包含第一测试座、第二测试座及电路板。所述第一测试座具有多个第一顶针。所述第二测试座具有多个第二顶针。所述电路板位于所述第一顶针与所述第二顶针之间，且接触所述第一顶针及所述第二顶针。

技术研发人员：杨焘境;黄国峰;粘为裕
受保护的技术使用者：日月光半导体制造股份有限公司
文档号码：201621401196
技术研发日：2016.12.20
技术公布日：2017.09.29