夹具和试验装置的制作方法

本实用新型涉及试验设备领域，具体而言，涉及夹具和试验装置。

背景技术：

微波故障检测器在出厂前需要进行基本功能测试和老练试验，以保证优质的产品提供给客户。现有的对微波故障检测器进行基本功能测试或者老练试验时，多数需要通过外协定制测试夹具进行检测或试验。外协定制的夹具制作周期较长，单价较贵，且不能满足多只产品同时进行老练试验的需求，导致微波故障检测器不能按时完成研制，延误研发周期，浪费研发成本。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供夹具和试验装置，以改善上述问题。

本实用新型的实施例是这样实现的：

第一方面，本实用新型实施例提供的一种夹具，用于检测微波故障检测器的基本功能，所述夹具包括底座、压块和用于测试待测装置的测试模块，所述测试模块设置在所述底座上，所述压块将所述测试模块固定在所述底座上。

优选地，所述测试模块包括电路板、电源、信号源和检测设备，所述电源、所述信号源和所述检测设备设置在所述电路板上，所述电源、所述信号源和所述检测设备均与所述待测装置的输入端口和输出端口连接。

优选地，所述检测设备包括电位器、示波器和万用表，所述电位器与所述待测装置串联，所述示波器和所述万用表均与所述待测装置连接。

优选地，所述万用表包括电压表和电流表，所述电流表与所述待测装置串联，所述电压表与所述待测装置并联。

优选地，所述底座包括用于将支撑所述待测装置连接到所述测试模块的两个支撑结构，所述测试模块的所述电路板设置于所述两个支撑结构之间。

优选地，每个所述支撑结构均包括固定块和两个支撑块，所述支撑块的高度大于所述固定块的高度，每个所述支撑块上均设置有用于固定所述支撑块到试验台的第一通孔，所述固定块的两端分别与一个支撑块固定连接。

优选地，所述固定块上设置有第二主通孔，所述压块上设置有用于固定所述待测装置到所述底座上的与所述第二主通孔匹配的第二副通孔，所述第二主通孔和所述第二副通孔通过螺钉连接。

优选地，所述压块的底板上设置有方形通孔，所述方形通孔位于两个所述第二副通孔之间，所述方形通孔与所述底座的电路板连通。

优选地，所述压块靠近所述底座的侧面设置有用于围合所述电路板的两个凸块，两个所述凸块分别设置于所述压块侧边的两个边缘。

第二方面，本实用新型实施例提供的一种试验装置，用于对多个微波故障检测器同时进行老练试验，所述试验装置包括测试板和多个上述任一项所述的夹具，所述测试板上设置有多个测试区域，每个所述测试区域上设置一个夹具，多个所述夹具的所述测试模块并联后，连接到所述测试板的电源输入输出端口。

上述本实用新型提供的夹具，应用于本实用新型实施例提供的试验装置，所述夹具用于对单个微波故障检测器进行基本功能测试，所述试验装置用于对多个微波故障检测器同时进行老练试验。所述试验装置包括测试板和夹具，测试板上可以设置多个测试区域，每个所述测试区域可以设置一个夹具，对一个夹具上安装的微波故障检测器进行测试。多个所述夹具的所述测试模块均并联，并联后与所述测试板的电源输入输出端口连接，以便进行测试板上多个夹具内连接的微波故障检测器同时进行老练试验。所述夹具包括底座、压块和测试模块，底座起基本的支撑作用，测试模块设置在所述底座上，所述压块用于将所述测试模块固定在所述底座上，测试模块连接到需要进行基本功能测试或者老练试验的微波故障检测器，即可通过该夹具进行微波故障检测器的基本功能检测，以及多个微波故障检测器的同时老练试验。所述夹具使用简单，加工成本较低、加工流程短，能极大程度提高测试效率，降低测试设备成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本实用新型第一实施例提供的夹具的第一结构示意图；

图2是本实用新型第一实施例提供的夹具的三视图；

图3是本实用新型第一实施例提供的夹具的压块的结构示意图；

图4是本实用新型第二实施例提供的夹具的测试电路的电路连接示意图。

图标：100－夹具；120－底座；121－支撑结构；122－固定块；123－支撑块；124－第一通孔；125－第二主通孔；140－压块；142－第二副通孔；144－方形通孔；146－凸块；160－测试模块；161－信号源；162－电源；163－电路板；164－电位器；165－示波器；166－电压表；167－电流表。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参见图1至图3，图1为本实用新型第一实施例提供的夹具100的结构示意图，图2为本实用新型实施例提供的夹具100的底座120的三视图和电路板163，图3为本实用新型实施例提供的夹具100的压块140的投影视图。本实施例提供的夹具100用于检测微波故障检测器的基本功能。所述夹具100包括底座120、压块140和测试模块160，所述测试模块160设置在所述底座120上，所述压块140设置在所述底座120上，用于将待测装置固定到底座120上的测试模块160处。

所述夹具100的底座120可以包括两个支撑结构121，通过两个支撑结构121支撑所述待测装置连接到所述测试模块160。所述测试模块160设置于两个所述支撑结构121之间。

在上述实施例的基础上，每个所述支撑结构121均包括固定块122和两个支撑块123，所述支撑块123的高度大于所述固定块122的高度，每个所述支撑块123上均设置有用于固定所述支撑块123到试验台的第一通孔124，所述固定块122的两端分别于一个支撑块123固定连接。支撑块123的表面高度高于所述固定块122的高度，在所述固定块122上形成凹陷区域，以便放置所述待测装置。

在上述实施例的基础上，为了将待测装置固定到底座120上，还可以设置第二套固定结构。在所述底座120的固定块122上设置有第二主通孔125，在所述压块140上对应所述第二主通孔125的位置设置第二副通孔142，所述第二主通孔125与所述第二副通孔142匹配。所述第二主通孔125和所述第二副通孔142通过螺钉连接，用于将待测装置固定到底座120上。在需要进行微波故障检测器的基本功能检测时，先将所述待测装置放置到底座120上，将待测装置连接到测试模块160，再将压块140放置到待测装置上。将螺钉依次穿过所述压块140的第二副通孔142和所述底座120的第二主通孔125，将所述待测装置连接到所述底座120的测试模块160上，即可完成待测装置的基本功能测试。

在上述实施例的基础上，为了进一步减少微波故障检测器进行基本功能测试时的外界干扰，还可以在所述压块140的底板上设置有方形通孔144，设置所述方形通孔144位于两个所述第二副通孔142之间。所述方形通孔144与所述底座120的电路板163连通。

在上述实施例的基础上，为了进一步增强微波故障检测器进行基本功能测试时的稳定性，优选在所述压块140靠近所述底座120的侧面设置有用于围合所述电路板163的两个凸块146，两个所述凸块146分别设置于所述压块140侧边的两个边缘。

在上述实施例的基础上，用于进行基本功能测试的所述测试模块160可以包括电路板163、电源162、信号源161和检测设备，所述电源162、所述信号源161和所述检测设备均设置在所述电路板163上。所述电源162、所述信号源161和所述检测设备均与所述待测装置的输入端口和输出端口连接。所述电路板163起基本的电路承载功能，所述电源162为测试模块160提供电压，信号源161发射微波信号，并通过检测设备采集相关参数，即可完成微波故障检测器的基本功能检测。

综上所述，本实用新型实施例提供的夹具100，包括底座120、压块140和测试模块160，底座120起基本的支撑作用，测试模块160设置在所述底座120上，所述压块140用于将所述测试模块160固定在所述底座120上，测试模块160连接到需要进行基本功能测试或者老练试验的微波故障检测器，即可通过该夹具100进行微波故障检测器的基本功能检测，以及多个微波故障检测器的同时老练试验。所述夹具100使用简单，加工成本较低、加工流程短，能极大程度提高测试效率，降低测试设备成本。

请参见图1和图4，图1为本实用新型第二实施例提供的夹具100的结构示意图，图4为本实用新型实施例提供的夹具100的测试电路的结构示意图，本实施例提供的试验装置用于检测微波故障检测器的基本功能和对多个微波故障检测器同时进行老练试验。所谓老练试验，是一种让产品在应力下工作一段时间以稳定其特性的方法，对于可修理的产品，在规定的环境下执行着每个产品功能的硬件随着早期的每个失效不断地加以修复性维修，其可靠性得到提高的过程。对于不修理的产品，则是产品置于功能运行的一种筛选试验。在电气试验中，就是给新或检修过的设备通高压电，利用电流电压把设备内的一些毛刺、杂物烧掉。

所述夹具100包括底座120、压块140和测试模块160，所述测试模块160设置在所述底座120上，所述压块140设置在所述底座120上，用于将待测装置固定到底座120上的测试模块160处。

所述夹具100的底座120可以包括两个支撑结构121，通过两个支撑结构121支撑所述待测装置连接到所述测试模块160。所述测试模块160设置于两个所述支撑结构121之间。

在上述实施例的基础上，每个所述支撑结构121均包括固定块122和两个支撑块123，所述支撑块123的高度大于所述固定块122的高度，每个所述支撑块123上均设置有用于固定所述支撑块123的到试验台的第一通孔124，所述固定块122的两端分别于一个支撑块123固定连接。支撑块123的表面高度高于所述固定块122的高度，在所述固定块122上形成凹陷区域，以便放置所述待测装置。

在上述实施例的基础上，为了将待测装置固定到底座120上，还可以设置第二套固定结构。在所述底座120的固定块122上设置有第二主通孔125，在所述压块140上对应所述第二主通孔125的位置设置第二副通孔142，所述第二主通孔125与所述第二副通孔142匹配。所述第二主通孔125和所述第二副通孔142通过螺钉连接，用于将待测装置固定到底座120上。在需要进行微波故障检测器的基本功能检测时，先将所述待测装置放置到底座120上，将待测装置连接到测试模块160，再将压块140放置到待测装置上。将螺钉依次穿过所述压块140的第二副通孔142和所述底座120的第二主通孔125，将所述待测装置连接到所述底座120的测试模块160上，即可完成待测装置的基本功能测试。

在上述实施例的基础上，为了进一步减少微波故障检测器进行基本功能测试时的外界干扰，还可以在所述压块140的底板上设置有方形通孔144，设置所述方形通孔144位于两个所述第二副通孔142之间。所述方形通孔144与所述底座120的电路板163连通。

在上述实施例的基础上，为了进一步增强微波故障检测器进行基本功能测试时的稳定性，优选在所述压块140靠近所述底座120的侧面设置有用于围合所述电路板163的两个凸块146，两个所述凸块146分别设置于所述压块140侧边的两个边缘。

所述测试模块160包括电路板163、电源162、信号源161和检测设备，所述电源162、所述信号源161和所述检测设备设置在所述电路板163上，所述电源162、所述信号源161和所述检测设备均与所述待测装置的输入端口和输出端口连接。

在上述实施例的基础上，所述检测设备包括电位器164、示波器165和万用表，所述电位器164与所述待测装置串联，所述示波器165和所述万用表均与所述待测装置连接。

在上述实施例的基础上，所述万用表也可以包括电压表166和电流表167，所述电压表166与所述待测装置并联，所述电流表167与所述待测装置串联。通过必要电气元件，即可实现微波故障检测器的基本功能的无损测试，能满足产品要求，且缩短制造周期。

本实用新型第三实施例还提供了一种试验装置，所述试验装置用于对多个微波故障检测器同时进行老练试验。所述试验装置包括测试板和多个夹具100，所述测试板上设置有多个测试区域，每个所述测试区域上设置一个夹具100，多个所述夹具100的所述测试模块160并联后，连接到所述测试板的电源输入输出端口。可以对整个测试装置设置一套电源162设备，电源162设备可以同时向连接的多个夹具100的测试电路施加电压，进行老练试验。

所述夹具100包括底座120、压块140和测试模块160，所述测试模块160设置在所述底座120上，所述压块140设置在所述底座120上，用于将待测装置固定到底座120上的测试模块160处。

所述夹具100的底座120可以包括两个支撑结构121，通过两个支撑结构121支撑所述待测装置连接到所述测试模块160。所述测试模块160设置于两个所述支撑结构121之间。

所述测试模块160包括电路板163、电源162、信号源161和检测设备，所述电源162、所述信号源161和所述检测设备设置在所述电路板163上，所述电源162、所述信号源161和所述检测设备均与所述待测装置的输入端口和输出端口连接。

在上述实施例的基础上，所述检测设备包括电位器164、示波器165和万用表，所述电位器164与所述待测装置串联，所述示波器165和所述万用表均与所述待测装置连接。所述万用表也可以包括电压表166和电流表167，所述电压表166与所述待测装置并联，所述电流表167与所述待测装置串联。通过必要电气元件，即可实现微波故障检测器的基本功能的无损测试，能满足产品要求，且缩短制造周期。

本实用新型实施例提供的试验装置中，其单套夹具100的成本比外协定制的夹具低很多。一般地，单套夹具100总价：夹具100底座120(100元)+夹具100压块140(60元)+电位器164(3元)+多层电容器(1.2元)+电路板163(8元)+螺钉(0.8元)+SMA连接器(25元)+其他如焊料导线等(2元)＝200元，而外协定制的夹具100单套价格需3万元以上。而在需要对一批产品(100只)需同时进行老炼试验，采用外协定制的夹具100则需要100套＊3万＝300万元，而采用本套测试夹具100仅需100套＊200元＝2万元，直接节约298万元，极大程度地降低了试验成本。

本实用新型实施例提供的夹具100，能对产品进行无损测试，经与直接焊接测试进行测试结果比对，说明该测试夹具100及测试方式是能满足产品的测试要求的，同时由于外协定制夹具100的周期较长，无法满足产品当前迫切进行测试的需要，并且所研制的单套价格仅200元，相比外协定制的夹具100(单价3万元)要便宜很多，当需要对多个产品同时进行老炼试验的，所研制夹具100完全能够满足要求，并且节约了研制经费，更重要的是解决了微波故障检测器当前迫切需要进行基本功能测试的问题。

综上所述，本实用新型实施例提供的试验装置，包括测试板和多个夹具，测试板上可以设置多个测试区域，每个所述测试区域可以设置一个夹具，对一个夹具上安装的微波故障检测器进行测试。多个所述夹具的所述测试模块均并联，并联后与所述测试板的电源输入输出端口连接，以便对测试板上多个夹具内连接的微波故障检测器同时进行老练试验。所述夹具包括底座、压块和测试模块，底座起基本的支撑作用，测试模块设置在所述底座上，所述压块用于将所述测试模块固定在所述底座上，测试模块连接到需要进行基本功能测试或者老练试验的微波故障检测器，即可通过该夹具进行微波故障检测器的基本功能检测，以及多个微波故障检测器的同时老练试验。所述夹具使用简单，加工成本较低、加工流程短，能极大程度提高测试效率，降低测试设备成本。本实用新型实施例提供的试验装置的具体实施过程请参见上述夹具的具体实施过程，在此不再一一赘述。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。