始于602以接收来自晶体管器件的电流用于在接口处检测，接口被配置为接收来自晶体管器件的电流。在604中，所述方法包括用传感器元件产生传感器电压，传感器电压响应于来自晶体管器件的电流。在606中，所述方法包括用检测控制电路控制传感器元件的占空比。
[0049]例如，栅极驱动器214可能驱动在栅极节点108处的电压，使得电流IS_E从电池接口 220流经主晶体管102到源极节点110，如602所示。在一个实施例中，检测晶体管104可能同时传送检测电流Is到检测电流节点114。于是检测电流1^_可能流经检测电流接口 228到OPAMP 204的反相端并流过传感器晶体管218。在一个实施例中，当在K端224和检测电流接口 228处的势能相等时，检测电流只流过传感器晶体管218。在这样的实施例中，电流流经传感器晶体管218到传感器元件302，其中在一个或多个传感器电阻器216a-n (Rsensel,...η)上建立电压。然后电压被ADC 210转换和作为数字传感器数据提供给外部元件。
[0050]在另一个实施例中，检测可能被根据参考图4的描述设置占空比。例如，由检测控制电路310的占空比设定控制的电压可能只在检测周期410的ton部分408期间被检测。还是在另一个实施例中，多个电流可能流过多个晶体管100a-d并由如图5所示的多通道电流传感器器件502检测。
[0051]图7示出了用于使用占空比的大范围电流测量的方法的另一个实施例700。在一个实施例中，方法700起始于702以接收来自晶体管器件的电流用于在接口处检测，接口被配置为接收来自传感器器件的电流。在704中，所述方法包括用传感器元件产生响应的传感器电压，该传感器元件包括可调电阻元件。方法700还包括响应于在接口处所接收的电流水平选择可调电阻元件的值，如706所示。
[0052]应该注意的是至少一些用于本申请所描述的方法的操作可以使用固件或存储在可读存储介质上的软件指令来实施用于被可编程逻辑器件执行，如专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、可编程逻辑芯片(PLC)、处理器等等。作为示例，程序产品的一个实施例包括存储在闪存器件上的固件封装和被配置为使FPGA执行本申请所描述的操作。
[0053]在以上描述中，提供了各个实施例的具体内容。然而，一些实施例可能用小于这些细节的内容实施。在其它例子中，某些方法、程序、元件、结构、和/或功能为了简明清楚的缘故没有详细介绍，只是能实施各个实施例。
[0054]虽然本文集在和示出的方法以特定的顺序运行，但是可能改变方法运行的顺序从而某些运行可以以相反的顺序执行或从而某些运行可能至少部分地与其它运行一致地执行。在另一个实施例中，特定运算的命令或子运算可能已间断的和/或交互的方式执行。
[0055]此外，虽然已经描述和描写了本发明具体的实施例，但本发明不限于所描述和描写的特定的形式或部分的布置。因此，本发明的范围由权利要求限定。
【主权项】
1.一种用于检测通过晶体管器件的电流的装置，其特征在于，包括: 接口，所述接口被配置为接收来自晶体管器件的电流用于检测； 传感器元件，所述传感器耦合到所述接口，并被配置为接收来自晶体管器件的电流和产生响应的传感器电压；和 检测控制电路，所述检测控制电路被配置为控制传感器元件的占空比。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，传感器元件包括可调电阻元件，响应于在接口处接收的电流水平，可调电阻元件的电阻值是可选的。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，检测控制电路还包括自动量程器件，所述自动量程器件被配置为响应于电流的幅值自动缩放电阻。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述自动量程器件被配置为根据传感器元件的占空比来导通和关断到传感器元件中的电阻器的电流。5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述检测控制电路还包括比较器，所述比较器被配置为响应于传感器元件的输出电压跨过由基准电压设定的阈值，触发可调电阻元件的调整。6.—种用于检测通过晶体管器件的电流的集成电路，其特征在于，所述集成电路包括: 接口，所述接口被配置为接收来自晶体管器件的电流用于检测； 传感器元件，所述传感器元件耦合到接口，并被配置为接收来自晶体管器件的电流和产生响应的传感器电压；和 检测控制电路，所述检测控制电路被配置为控制传感器元件的占空比。7.根据权利要求6所述的集成电路，其特征在于，检测控制电路还包括自动量程器件，所述自动量程器件被配置为响应于电流的幅值自动缩放电阻。8.根据权利要求7所述的集成电路，其特征在于，所述自动量程器件被配置为根据传感器元件的占空比来导通和关断到传感器元件中的电阻器的电流。9.根据权利要求7所述的集成电路，其特征在于，检测控制电路还包括比较器，所述比较器被配置为响应于传感器元件的输出电压跨过由基准电压设定的阈值，触发可调电阻元件的调整。10.根据权利要求6所述的集成电路，其特征在于，所述接口包括: 栅极节点接口，被配置为与晶体管器件的栅极节点连接； 漏极节点接口，被配置为与晶体管器件的漏极节点连接； 源极节点接口，被配置为与晶体管器件的源极节点连接； Kelvin节点接口，被配置为与晶体管器件的Kelvin节点连接； 检测电流节点接口，被配置为接收来自晶体管器件的检测电流节点的电流，该电流为检测电流，该检测电流按预定比率小于流经晶体管器件的主电流。11.根据权利要求10所述的集成电路，其特征在于，还包括运算放大器(OPAMP)，所述运算放大器(OPAMP)耦合到检测节点接口和Kelvin节点接口，并被配置为使检测节点接口和Kelvin节点接口处的电压值相等。12.根据权利要求11所述的集成电路，其特征在于，还包括耦合到运算放大器的电流检测晶体管，所述电流检测晶体管被配置为驱动电流到传感器元件用于产生电流传感器元件两端的传感器电压。13.根据权利要求6所述的集成电路，其特征在于，所述集成电流还包括: 多个接口，每个接口被配置为接收来自多个晶体管器件中的一个的电流用于检测； 多个传感器元件，每个传感器元件耦合到多个接口中的一个；和 共享的模拟数字转换器(ADC)，被配置为耦合到多个传感器元件中的每一个，ADC被配置为将模拟传感器数据转换为数字传感器数据。14.根据权利要求14所述的集成电路，其特征在于，还包括数字格式转换器，所述数字格式转换器被配置为将数字传感器数据重新格式化为能被外部数据处理器件读取的数字数据格式。15.一种用于检测通过晶体管器件的电流的方法，其特征在于，所述方法包括: 接收来自晶体管器件的电流用于在接口处检测，所述接口被配置为接收来自晶体管器件的电流； 用传感器元件产生传感器电压，传感器电压响应于来自晶体管器件的电流；和 用检测控制电路来控制传感器元件的占空比。16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，还包括响应于在接口处接收的电流水平选择可调电阻元件的电阻值，传感器元件包括可调电阻元件。17.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，还包括响应于电流的幅值自动缩放电阻，其中检测控制电路还包括配置为控制自动缩放的自动量程器件。18.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，还包括根据使用自动量程器件的传感器元件的占空比导通和关断到传感器元件中的电阻器的电流。19.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，还包括响应于传感器元件的输出电压跨过由基准电压设定的阈值，触发可调电阻元件的调整。
【专利摘要】本发明披露了用于使用占空比的大范围电流测量的装置、方法和集成电路。用于检测通过晶体管器件的电流的装置可能包括接口，被配置为接收来自晶体管器件的电流用于检测。另外，实施例可能包括耦合到接口的传感器元件，所述传感器元件被配置为接收来自晶体管器件的电流和产生响应的传感器电压。实施例可能包括被配置为控制传感器元件的占空比的检测控制电路。
【IPC分类】G01R19/25
【公开号】CN105137159
【申请号】CN201510190518
【发明人】鲁克·范戴克, 沃登伯格·科内利斯·克拉斯
【申请人】恩智浦有限公司
【公开日】2015年12月9日
【申请日】2015年4月21日
【公告号】EP2950110A1, US20150346239