一种微波收发组件测试工装的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及微波组件测试技术领域，尤其涉及一种微波收发组件测试工装。
【背景技术】
[0002]有源相控阵雷达是近年来发展迅速的雷达技术。该技术能够满足雷达的探测距离、数据更新率、多目标跟踪及测量精度等众多需求。收发组件是构成有源相控阵雷达天线的基础，是有源相控阵雷达的核心部件，其性能指标直接影响到雷达系统相应的整机指标。尤其是用于机载、星载等雷达中的收发组件，更是对各个电参数指标和可靠性提出了更苛刻的要求。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型提供了一种微波收发组件测试工装，可以辅助完成微波收发组件电性能的测试，装配方法简单，可以大大提高组件测试效率。
[0004]为解决以上技术问题，本实用新型提供了一种微波收发组件测试工装，包括底座、公共口支架、天线口支架、盖板、第一微波转接器、第二微波转接器、第三微波转接器，其中，所述底座上方设有凹槽，所述凹槽用于放置待测微波收发组件，所述盖板盖住安装有待测微波收发组件的凹槽，所述公共口支架固定于所述底座的第一侧，所述天线口支架固定于所述底座的第二侧，所述第一微波转接器通过所述公共口支架上设置的孔连接至所述微波收发组件的公共口，所述第二微波转接器和所述第三微波转接器分别通过所述天线口支架上设置的两个孔连接至所述微波收发组件的第一天线口和第二天线口。
[0005]进一步的，所述底座的第一侧设有两个螺纹孔，所述公共口支架上设置有两个通孔，两个螺钉分别穿过所述通孔连接至所述螺纹孔中，从而将所述公共口支架固定于所述底座的第一侧。
[0006]进一步的，本发明还包括压块，其中，所述压块上设置有一个通孔，所述天线口支架上设置有两个通孔，所述底座的第二侧设有三个螺纹孔，一个螺钉穿过所述压块的通孔连接至所述底座第二侧的一个螺纹孔中，两个螺钉分别穿过所述天线口支架的通孔连接至所述底座第二侧的两个螺纹孔中，从而将所述天线口支架固定于所述底座的第二侧。
[0007]进一步的，所述底座的第三侧和第四侧分别设置两个通孔，用于将所述测试工装安装于测试台上。
[0008]进一步的，所述底座的第一侧和所述第二侧为对立面，所述第三侧和所述第四侧为对立面。
[0009]进一步的，所述底座的凹槽上设置有四个螺纹孔，所述盖板上设置有四个通孔，四个螺钉分别穿过所述盖板上的通孔连接至所述凹槽上的四个螺纹孔中，从而将盖板固定于所述底座的凹槽之上。
[0010]进一步的，所述第一微波转接器、第二微波转接器和第三微波转接器为SMP/SMA微波连接器。
[0011]进一步的，所述底座为硬铝制作而成的底座。
[0012]进一步的，所述公共口支架和所述天线口支架为硬铝制作而成的支架。
[0013]进一步的，所述压块为硬铝制作而成的压块。
[0014]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:该测试工装与组件之间的装配方法简单，可以大大提高组件测试效率；该测试工装与组件之间有着很好的匹配，引入插损小，测试准确度高；该测试工装可辅助进行常温、高低温、振动、冲击等不同环境条件下的指标测试，通用性强；该测试工装结构简单、加工方便、用料廉价。
【附图说明】
[0015]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是本实用新型实施例提供的没有盖板且已安装待测微波收发组件的微波收发组件测试工装的结构示意图；
[0017]图2-1、图2-2和图2-3分别是本实用新型实施例提供的带有盖板且已安装待测微波收发组件的微波收发组件测试工装的俯视图、左视图和右视图；
[0018]图3-1、图3-2和图3-3分别是图1和图2中底座的俯视图、左视图和右视图；
[0019]图4是图1和图2中公共口支架的结构示意图；
[0020]图5是图1和图2中天线口支架的结构示意图；
[0021]图6是图2中盖板的结构示意图。
【具体实施方式】
[0022]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0023]本实用新型实施例提供了一种微波收发组件测试工装，如图1、图2-1、图2-2和图
2-3所示，包括底座1、公共口支架2、天线口支架3、盖板4、第一微波转接器51、第二微波转接器52、第三微波转接器53。
[0024]参照图1、图3-1、图3-2和图3_3，底座I上方设有凹槽101，凹槽101用于放置待测微波收发组件6。参考图1，图2-2、图3-2和图4，公共口支架2固定于底座I的第一侧，第一微波转接器51通过公共口支架2上设置的孔201连接至待测微波收发组件6的公共口 601，具体的，参考图3-2和图4，底座I的第一侧设有两个螺纹孔102，公共口支架2上设置有两个通孔202，两个螺钉分别穿过通孔202连接至螺纹孔102中，从而将公共口支架2固定于底座I的第一侧。
[0025]参考图1，图2-3、图3-3和图5，天线口支架3固定于底座I的第二侧，第二微波转接器52和第三微波转接器53分别通过天线口支架3上设置的两个孔301连接至待测微波收发组件6的第一天线口 602和第二天线口 603。其中，参考图2-3，本工装还包括压块7，其中，压块7上设置有一个通孔，参考图5，天线口支架3上设置有两个通孔302，参考图
3-3，底座I的第二侧设有三个螺纹孔103，一个螺钉穿过压块7的通孔连接至底座I第二侧的一个螺纹孔103中，两个螺钉分别穿过天线口支架3的通孔302连接至底座I第二侧的两个螺纹孔103中，从而将天线口支架3固定于底座I的第二侧。底座I的第一侧和第二侧为对立面。
[0026]参考图3-1，底座I的第三侧和第四侧分别设置两个通孔，用于将测试工装安装于测试台上。其中，第三侧和第四侧为对立面。底座I的凹槽101上设置有四个螺纹孔105，参考图6，盖板4上设置有四个通，401，四个螺钉分别穿过盖板4上的通孔401连接至凹槽101上的四个螺纹孔105中，从而将盖板4固定于底座I的凹槽101之上。
[0027]其中，第一微波转接器51、第二微波转接器52和第三微波转接器53为SMP/SMA微波连接器。底座I为硬铝制作而成的底座。公共口支架2和天线口支架3为硬铝制作而成的支架。压块7为硬铝制作而成的压块。
[0028]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:该测试工装与组件之间的装配方法简单，可以大大提高组件测试效率；该测试工装与组件之间有着很好的匹配，引入插损小，测试准确度高；该测试工装可辅助进行常温、高低温、振动、冲击等不同环境条件下的指标测试，通用性强；该测试工装结构简单、加工方便、用料廉价。本实用新型适用于微波收发组件的测试，例如X波段的收发组件的测试。
[0029]以上所揭露的仅为本实用新型一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本实用新型之权利范围，因此依本实用新型权利要求所作的等同变化，仍属本实用新型所涵盖的范围。
【主权项】
1.一种微波收发组件测试工装，其特征在于，包括底座、公共口支架、天线口支架、盖板、第一微波转接器、第二微波转接器、第三微波转接器，其中，所述底座上方设有凹槽，所述凹槽用于放置待测微波收发组件，所述盖板盖住安装有待测微波收发组件的凹槽，所述公共口支架固定于所述底座的第一侧，所述天线口支架固定于所述底座的第二侧，所述第一微波转接器通过所述公共口支架上设置的孔连接至所述微波收发组件的公共口，所述第二微波转接器和所述第三微波转接器分别通过所述天线口支架上设置的两个孔连接至所述微波收发组件的第一天线口和第二天线口。
2.如权利要求1所述的微波收发组件测试工装，其特征在于，所述底座的第一侧设有两个螺纹孔，所述公共口支架上设置有两个通孔，两个螺钉分别穿过所述通孔连接至所述螺纹孔中，从而将所述公共口支架固定于所述底座的第一侧。
3.如权利要求1所述的微波收发组件测试工装，其特征在于，还包括压块，其中，所述压块上设置有一个通孔，所述天线口支架上设置有两个通孔，所述底座的第二侧设有三个螺纹孔，一个螺钉穿过所述压块的通孔连接至所述底座第二侧的一个螺纹孔中，两个螺钉分别穿过所述天线口支架的通孔连接至所述底座第二侧的两个螺纹孔中，从而将所述天线口支架固定于所述底座的第二侧。
4.如权利要求1?3中任意一项所述的微波收发组件测试工装，其特征在于，所述底座的第三侧和第四侧分别设置两个通孔，用于将所述测试工装安装于测试台上。
5.如权利要求4所述的微波收发组件测试工装，其特征在于，所述底座的第一侧和所述第二侧为对立面，所述第三侧和所述第四侧为对立面。
6.如权利要求1所述的微波收发组件测试工装，其特征在于，所述底座的凹槽上设置有四个螺纹孔，所述盖板上设置有四个通孔，四个螺钉分别穿过所述盖板上的通孔连接至所述凹槽上的四个螺纹孔中，从而将盖板固定于所述底座的凹槽之上。
7.如权利要求1所述的微波收发组件测试工装，其特征在于，所述第一微波转接器、第二微波转接器和第三微波转接器为SMP/SMA微波连接器。
8.如权利要求1?3中任意一项所述的微波收发组件测试工装，其特征在于，所述底座为硬铝制作而成的底座。
9.如权利要求1?3中任意一项所述的微波收发组件测试工装，其特征在于，所述公共口支架和所述天线口支架为硬铝制作而成的支架。
10.如权利要求3所述的微波收发组件测试工装，其特征在于，所述压块为硬铝制作而成的压块。
【专利摘要】本实用新型公开了一种微波收发组件测试工装，包括底座、公共口支架、天线口支架、盖板、第一微波转接器、第二微波转接器、第三微波转接器，其中，所述底座上方设有凹槽，所述凹槽用于放置待测微波收发组件，所述盖板盖住安装有待测微波收发组件的凹槽，所述公共口支架固定于所述底座的第一侧，所述天线口支架固定于所述底座的第二侧，所述第一微波转接器通过所述公共口支架上设置的孔连接至所述微波收发组件的公共口，所述第二微波转接器和所述第三微波转接器分别通过所述天线口支架上设置的两个孔连接至所述微波收发组件的第一天线口和第二天线口。本实用新型可以辅助完成微波收发组件电性能的测试，装配方法简单，组件测试效率高。
【IPC分类】G01S7-40
【公开号】CN204462378
【申请号】CN201420814282
【发明人】窦增昌, 陈吉安, 汪伦源, 蔡庆刚
【申请人】安徽华东光电技术研究所
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2014年12月19日