片式组件弹性测试工装的制作方法

文档序号:10105392阅读:453来源:国知局
片式组件弹性测试工装的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及片式组件测试工装,具体涉及一种片式组件弹性测试工装。
【背景技术】
[0002]传统的微波组件主要采用多芯连接器、绝缘子等实现加电、逻辑控制;随着系统的进步,对微波组件轻型化、小型化提出了越来越高的要求,但是微波组件运行所需的连接器、环行器等器件本身体积大,极大地占用了组件的装配空间,限制了组件的进一步小型化。采用连接器外置的方式可以有效解决上述问题,这样片式微波组件应运而生。而外置连接器与片式组件的连接方式便成为需要解决的关键问题。在现有技术中,片式组件对外提供的接口形式是平面的点状金属焊盘,如果采用将微矩形连接器引针直接焊接到组件焊盘的方式,不但焊接质量难以保证,而且这种刚性连接的长期可靠性也难以保证,返修过程中还有损伤焊盘的风险。
【实用新型内容】
[0003]针对现有技术的不足,本实用新型公开了一种片式组件弹性测试工装。
[0004]本实用新型的技术方案如下:
[0005]一种片式组件弹性测试工装,包括:
[0006]一测试基座,所述测试基座包括基座底板,所述基座底板上固定有支撑立柱;所述支撑立柱顶端固定有支撑块;
[0007]—片式组件;所述片式组件的正面设置有第一电学连接端口,片式组件的正面和背面都设置有测试端口;
[0008]一毛纽扣电连接器;所述毛纽扣电连接器包括第二电学连接端口 ;
[0009]—压块组合,所述压块组合包括第一压块和固定在第一压块之上的第二压块;
[0010]多根测试电缆;所述测试电缆的连接端口上连接有SSMP连接器;
[0011]所述片式组件固定在所述支撑块之上;所述毛纽扣电连接器放置在所述片式组件上方,所述第一电学连接端口和第二电学连接端口相接触;所述第一压块固定在所述毛纽扣电连接器上方,且第一压块和所述支撑块通过限位螺钉相固定,第一压块和所述支撑块之间的距离可通过限位螺钉调整;所述测试电缆通过SSMP连接器与所述测试端口相连接。
[0012]本实用新型的有益技术效果是:
[0013]1、本实用新型损耗小、驻波好。由于本实用新型通过基座将测试电缆、SSMP连接器、毛纽扣三者连接在一起,由于三者之间匹配良好,所以端口驻波好、损耗小。
[0014]2、本实用新型使用了毛纽扣电连接器,毛纽扣电连接器为弹性结构形式,通过调节压块上的限位螺钉,既可以实现与组件的可靠接触,也可以避免其与组件表面接触时压力过大造成组件损伤,可靠性较好。
[0015]3、本实用新型可实现体积较小的片式组件的固定,能准确测试在高低温、振动等环境条件下产品的性能指标。
[0016]4、损耗测试方便:使用本实用新型所述的工装,可方便的使用工装损耗测试工具对工装损耗以及其他相关数据进行测试,不仅测试方便,而且测试精度高,数据可靠性好。
【附图说明】
[0017]图1是本实用新型的示意图。
[0018]图2是本使用新型的结构分解图。
[0019]图3是毛纽扣电连接器的示意图。
[0020]图4是工装损耗测试工具的示意图。
【具体实施方式】
[0021]图1是本实用新型的示意图。图2是本实用新型的结构分解图。如图1和图2所示,本实用新型包括如下部件:
[0022]—测试基座,用于支撑固定整个工装。测试基座包括基座底板31,基座底板31上固定有支撑立柱32。支撑立柱32的顶端固定有支撑块33。支撑块33上设置有多个孔洞。
[0023]一片式组件21。片式组件21的正面设置有第一电学连接端口 23。片式组件21的正面和背面都设置有测试端口 22,其中片式组件的正面设置有一个测试端口 22,背面设置有多个测试端口 22。
[0024]一毛纽扣电连接器11。图3是毛纽扣电连接器的示意图。毛纽扣电连接器11上设置有第二电学连接端口 12。
[0025]一压块组合,压块组合包括第一压块41和固定在第一压块41之上的第二压块42。
[0026]多根测试电缆5。测试电缆5的连接端口连接有SSMP连接器。测试电缆5通过SSMP连接器与片式组件21相连接。SSMP连接器即射频同轴连接器。
[0027]片式组件21固定在支撑块33之上,且片式组件21背面的多个测试端口 22的位置与支撑块33上的多个孔洞相对应。毛纽扣电连接器11放置在片式组件21上方,且第一电学连接端口 23和第二电学连接端口 12相接触。第一压块41固定在毛纽扣电连接器11的上方,将毛纽扣电连接器11和片式组件21共同固定在测试基座上。第一压块41和支撑块33之间通过限位螺钉相连接,且第一压块41和支撑块33之间的距离可通过调整限位螺钉而改变。
[0028]测试电缆5有多根,通过SSMP连接器与片式组件21上的测试端口 22相连接。其中一根测试电缆5穿过第一压块41和第二压块42,与片式组件21正面的一个测试端口 22相连接,其余测试电缆5穿过支撑块33上的孔洞,与片式组件21背面的多个测试端口 22相连接。
[0029]毛纽扣电连接器11上的第二电学连接端口 12为弹性材料制成。由于第一压块41和支撑块33之间的距离可通过调整限位螺钉而改变,所以可根据需要将第一电学连接端口 23和第二电学连接端口 12之间的压力调整到合适的数值,既可以实现毛纽扣电连接器11和片式组件21之间的可靠点连接,又避免了毛纽扣电连接器11与片式组件21表面接触时压力过大而造成片式组件21的损伤。
[0030]图4是工装损耗测试工具的示意图。可使用图4所述的装置对本实用新型中除片式组件外的其余结构的损耗进行测试,如可测试毛纽扣电连接器中的毛纽扣部件,或者测试电缆中上的SSMP连接器等部件的损耗。在测试时,通过电缆7将需要测试的部分与外部电源与测试信号相连接。在图4中,工装损耗测试工具分别连接了毛纽扣8和SSMP连接器
9。电缆7为SMA接头形式,使用此形式的接头测试方便,测试精度高。图4所示的工装损耗测试工具可结合本实用新型所述的测试工装,共同对微波片式组件的损耗进行测试。
[0031]以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式,本实用新型不限于以上实施例。可以理解,本领域技术人员在不脱离本实用新型的精神和构思的前提下直接导出或联想到的其他改进和变化,均应认为包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种片式组件弹性测试工装,其特征在于,包括: 一测试基座,所述测试基座包括基座底板(31),所述基座底板(31)上固定有支撑立柱(32);所述支撑立柱(32)顶端固定有支撑块(33); 一片式组件(21);所述片式组件(21)的正面设置有第一电学连接端口(23),片式组件(21)的正面和背面都设置有测试端口(22); 一毛纽扣电连接器(11);所述毛纽扣电连接器(11)包括第二电学连接端口(12);一压块组合,所述压块组合包括第一压块(41)和固定在第一压块(41)之上的第二压块(42); 多根测试电缆(5);所述测试电缆(5)的连接端口上连接有SSMP连接器; 所述片式组件(21)固定在所述支撑块(33)之上;所述毛纽扣电连接器(11)放置在所述片式组件(21)上方,所述第一电学连接端口(23)和第二电学连接端口(12)相接触;所述第一压块(41)固定在所述毛纽扣电连接器(11)上方,且第一压块(41)和所述支撑块(33)通过限位螺钉相固定;第一压块(41)和所述支撑块(33)之间的距离可通过限位螺钉调整;所述测试电缆(5)通过SSMP连接器与所述测试端口(22)相连接。
【专利摘要】本实用新型公开了一种片式组件弹性测试工装,包括:测试基座、片式组件、毛纽扣电连接器、压块组合、多根测试电缆。所述片式组件固定在测试基座上的支撑块之上;所述毛纽扣电连接器放置在所述片式组件上方,且二者电学连接;所述压块组合固定在所述毛纽扣电连接器上方。所述测试电缆通过SSMP连接器与压块组合相连接。本实用新型损耗小、驻波好,既可以实现与组件的可靠接触,也可以避免其与组件表面接触时压力过大造成组件损伤,可靠性较好,且损耗测试方便。
【IPC分类】G01R1/04
【公开号】CN205015372
【申请号】CN201520798757
【发明人】王德发, 翟东梅
【申请人】无锡华测电子系统有限公司
【公开日】2016年2月3日
【申请日】2015年10月14日
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